原子光譜分析

原子光譜分析§1概論§1-1光學(xué)分析法及其分類〔包括從γ射線到無線電波的整個電磁波譜方法。全部的光學(xué)分析法可以分為兩大類：非光譜法：基于當電磁波和物質(zhì)相互作用時，電磁波只轉(zhuǎn)變了方向和物理性質(zhì)，如：折射、反射、散射、干預(yù)、衍射和偏振等現(xiàn)象。非光譜技術(shù)包括折射法、干預(yù)法、旋光測定法，濁度法，X-射線衍射法等。§1-2電磁波譜試驗證明，光是一種電磁波〔或稱電磁輻射，電磁波具有波動性和粒子性。全部的電磁波在真空中的傳播速度都等于3×1010cm/s，但在波長或頻率上有差異，依據(jù)它們的波長或頻率次序排列成譜，稱為電磁波譜。波長800nm波長800nm0.01nm 10nm 200nm 400nm近 可見3μm中500μm25μm3cm光譜γ射 X射遠近遠無線電波區(qū)線線紫外紅外微波射頻量子核能內(nèi)層原子和分子外層電子能分子振動能級躍遷分子核自躍遷級躍電子級躍遷轉(zhuǎn)動旋能類型遷能級能級級躍光學(xué)γ射躍遷X射紫外光譜法 比色紅外分光光度法躍遷微波遷核磁方法線光線光法和譜順共振譜法可見磁共光譜氏堡分光振光法爾光光度譜法譜法高能輻射：包括γ射線和X射線，高能輻射的粒子性比較突出。中間局部：包括紫外區(qū)、可見區(qū)和紅外區(qū)，統(tǒng)稱為光學(xué)光譜區(qū)。長波局部：包括微波和射頻，通常稱為波譜?！?-3光譜和光譜分析法的分類電磁波和物質(zhì)相互作用〔即交換能量〕型的光譜。放射光譜物質(zhì)從能量較高的激發(fā)態(tài)M*過渡到能量較低的狀態(tài)M，多余的能量以光的形式放射出來：M*→M+hν通過測量物質(zhì)的放射光譜的波長和強度來進展定性和定量分析的方法叫做放射光譜分析法。依據(jù)放射光譜所在的光譜區(qū)和激發(fā)方式的不同，放射光譜分析法有：γ射線光譜法熒光X射線光譜法原子放射光譜分析法原子熒光分析法分子熒光法吸取光譜入射的電磁波和物質(zhì)中的電荷或磁矩相互作用，就產(chǎn)生吸取光譜。M+hν→M*要產(chǎn)生吸取光譜，入電磁波的能量hν應(yīng)當正好等于原子核、原子或分子的兩個能級躍遷的能量差值，即hν=E2-E1利用物質(zhì)的特征吸取光譜進展分析的方法叫做吸取光譜分析法。依據(jù)所在的光譜區(qū)不同，吸取光譜分析法有：穆氏堡爾光譜法紫外和可見分光光度法原子吸取光譜法紅外分光光度法順磁共振光譜法核磁共振光譜法聯(lián)合散射光譜：主要用于爭論分子構(gòu)造〔和紅外光譜相補充定。§2原子放射光譜分析§2-1原理測元素含量的分析方法，就是原子放射光譜分析法?！?-2激發(fā)光源光源一般應(yīng)當符合以下條件：分析確實定靈敏度高；激發(fā)過程中，光源應(yīng)有；良好的穩(wěn)定性及再現(xiàn)性。要求獲得的光譜沒有背景或背景小。光源要有足夠的亮度，曝光時間便可縮短，以加快分析速度。§2-2-1常用的激發(fā)光源目前常用的激發(fā)光源，按其特性分類可概括為：熱激發(fā)光源2000-3000K發(fā)源的優(yōu)點是設(shè)備簡潔，穩(wěn)定性好，在測定譜線強度時可以讀取瞬時強度，分析速度快。但火焰溫度低，只能激發(fā)有低激發(fā)能譜線的元素，因此能夠分析的元素有限，而且簡潔產(chǎn)生化學(xué)干擾和背景干擾〔帶狀光譜。電弧：無論是低壓或常壓下的自激放電，當電路中功率比較大，能供給較大電流時，稱為電弧放電。電弧放電分為直流電弧和溝通電弧兩種。電弧放電有以下特點：激發(fā)溫度高，僅次于火花放電；蒸發(fā)力量強，檢出限較低，因電極溫度高，電弧不易低熔點的金屬和合金試樣；由于穩(wěn)定性較差，故分析精度差?；鸹ǚ烹姡弘姌O間部連續(xù)的氣體放電叫火花放電，火花放電的電流是由周期性充電的電容供給?；鸹ǚ烹姺譃楦邏夯鸹?、掌握火花、高頻火花和低壓火花四種。火花放電的特點是：與電弧相比有比較大的穩(wěn)定性，其分析精度好；對于能激發(fā)具有高激發(fā)電位的譜線；電極頭不簡潔發(fā)熱，可以分析低熔點的輕金屬及合金。但火花放電的檢出限較差，不宜分析微量元素?！睤C其外形類似火焰。這種光源穩(wěn)定性好，相對標準偏差可達2%以內(nèi)，而且儀器設(shè)備費用簡潔，操作便利，也比較安全。非局部熱力學(xué)平衡光源包括一些低壓氣體放電管光源、空心陰極光源、輝光光源、以及一些射頻等離子體光源〔通常是小功率的ICP、MIP、CMP〕等。光子碰撞光源：主要是激光光源。§2-2-2§2-2-3電感耦合射頻等離子體〔ICP〕§2-2-3-1原理目前原子放射光譜中最常用的光源是ICP光源，它是利用高頻感應(yīng)電流產(chǎn)生的類似火焰的激發(fā)光源。ICP25cm的石英管，放在一個連接于高頻發(fā)生器的線圈里。〔~50Hz〕試樣接近等離子體時，有圍繞外外表的趨勢，對分析不利/中心通道，使試樣更有效地被激發(fā)。并且不因試樣的引入而破壞等離子矩的穩(wěn)定性。§2-2-3-2裝置ICP分析系統(tǒng)由高頻發(fā)生器、燈具和霧化器三局部組成。高頻功率發(fā)生器高頻功率發(fā)生器的作用是產(chǎn)生高頻感應(yīng)電流。一般有兩種：27.12MHz，振蕩功率大于2.5KW。缺點是振蕩頻率不穩(wěn)定。石英晶體振蕩器，利用石英晶體的壓電效應(yīng)，產(chǎn)生高頻感應(yīng)電流，固有頻率是13.56MHz27.12MHz。燈具等離子體的燈具的主體是一個直徑為18~25cm的石英管，放在高頻發(fā)生器的感應(yīng)線圈里。整個燈具由三個同心石英管組成。霧化器試樣的霧化可承受氣動霧化器或超聲霧化器方式將氣溶膠引入等離子炬。§2-2-3-3特性高頻等離子體有以下特性激發(fā)溫度高，有利于難激發(fā)元素的激發(fā)，離子線強度大，有利于靈敏線為離子線的元素測定。樣品在中心通道受熱而原子化，原子化溫度高，原子在等離子體中停留的時間長，原子化完全，化學(xué)干擾小，譜線強度大，檢出限低。因激發(fā)和原子化溫度高，基體效應(yīng)小。樣品集中在中間通道，外圍沒有低溫的吸取層，因此自吸和自蝕效應(yīng)小，分析校正4~6個數(shù)量級。在惰性氣氛中激發(fā)，光譜背景小?！?-3光譜儀§2-3-1概述試樣經(jīng)過激發(fā)光源的激發(fā)，可以放射特征放射光譜，放射光譜分析就是利用測量特征放射光譜的波長和強度進展定性和定量分析的譜是一種復(fù)合光，檢測器無法檢測復(fù)合光的波長和強度，因此必需把復(fù)合光分解為單色光?！?-3-1-1光譜儀的種類光譜儀的種類很多，依據(jù)其分光原理，常用的光譜儀可分為以下幾類：棱鏡光譜儀它的分光原理是利用棱鏡介質(zhì)對不同波長光線的折射率不同而分光質(zhì)不同有玻璃、水晶、螢石、氯化鈉和氯化鉀等棱鏡光譜儀。光柵光譜儀它是利用光的衍射和干預(yù)現(xiàn)象來分光的。常分為平面光柵光譜儀和凹面光柵光譜儀。晶體X衍射光譜儀對于波長較短的X射線，一般光柵不能起衍射作用，須用晶體做為衍射光柵，由于晶體內(nèi)的原子是等間隔排列的，而且某些晶體內(nèi)的原子間隔和X射線在一個數(shù)量級。傅立葉干預(yù)光譜儀的光譜分布。依據(jù)光譜儀的色散率的大小可將光譜儀分為小型、中型和大型光譜儀?！膊ㄩL的單色光的儀器、攝譜儀〔以照相法攝取光譜〕和光電直讀光譜儀?！?-3-1-2光譜儀的根本構(gòu)造光譜儀的根本構(gòu)造分為三個局部：平行光管色散元件〔棱鏡或光柵〕是光譜儀的主要局部，當平行復(fù)合光經(jīng)過色散元件后，就被分解為按波長挨次排列的平行單色光。暗箱§2-3-1-2成像系統(tǒng)成像系統(tǒng)在光譜儀中的作用是使發(fā)散光束變成平行光束，平行光束成為會聚光束并使§2-3-2平面光柵及其裝置平面光柵光柵是一種多狹縫體系，光線通過光柵，就要產(chǎn)生干預(yù)和衍射。由物理光學(xué)得知，光柵光譜的產(chǎn)生是多狹縫干預(yù)和單狹縫衍射二者聯(lián)合作用的結(jié)果。多狹縫干預(yù)打算光譜線消滅的位置，單縫衍射打算譜線的強度分布，單縫衍射的強度分布曲線成為干預(yù)圖樣的色跡，使各級譜線有強度大小的分布。平面閃耀光柵零級光譜移到某一級光譜上去了。閃耀角和閃耀波長：刻槽面與光柵平面的夾角i稱為光柵的閃耀角。相應(yīng)于閃耀角的第n級最強的波長λb(n)稱為ni波長作為光柵的閃耀波長，在說明書中給出。平面閃耀光柵的裝置所謂光柵裝置，是指將光柵、狹逢、成像系統(tǒng)和暗盒〔或出射狹縫〕裝置成光柵光譜儀的型式。立特魯型裝置〔自準式〕 用統(tǒng)一塊凹球面反射鏡既做準直鏡，又做成像物鏡。艾伯特-法斯〔Ebert-Fastic〕型裝置 它是用一塊大凹面反射鏡的兩局部分別作為準直鏡和成像物鏡。有水平對稱和垂直對稱兩種。卻尼-特爾納〔Czcrny-Turner〕型裝置 它用兩塊凹面反射鏡代替了艾伯特型裝置的一塊大反射鏡，而且狹縫在主光軸的左右并對稱于主光軸，稱為水平對稱式?！?-3-3其它光柵凹面光柵：假設(shè)光柵不是刻在平面上而是刻在反射鏡上，就叫做凹面光柵。中階梯光柵階梯光柵階梯光柵是排列得像階梯那樣的光柵。階梯光柵可到達比一般光柵更高直到現(xiàn)在還沒有被廣泛應(yīng)用。中階梯光柵〔Echlles〕介于階梯光柵和一般平面閃耀光柵之間的一種刻線數(shù)較少的鋸齒狀光柵。全息光柵：用全息照相法制造的光柵，就是全息光柵，它是將兩束相干光束所產(chǎn)生的干預(yù)條紋用用全息照相法記錄下來而制成的，因而消退了機刻光柵刻劃所固有的缺點?！?-3-4光柵的區(qū)分率光柵的區(qū)分率定義為：R=λ/dλ，dλ為依據(jù)瑞利準則剛剛能區(qū)分開的兩條譜線的波長差。能分開的兩條譜線的波長差越小則區(qū)分率越大。區(qū)分率的計算公式為R=n×N，即光柵的區(qū)分率等于光譜級次和總刻線數(shù)的乘積。以上爭論的是理論區(qū)分率，實際區(qū)分率總是比理論區(qū)分率計算的要小。光柵的實際區(qū)分力量是用一些波長靠得很近的譜線來衡量或計算出來?！?-3-5光柵的色散率角色散率：定義為dθ/dλ=n/cosθ，式中dθ/dλ為衍射角對波長的變化率，稱為光柵的角色散率，它在數(shù)值上等于波長差為一個單位的兩光波經(jīng)光柵色散后，在空間所分開的角度差。線色散率；在實際工作中，我們常常用到的不是角色散率，而是波長相差為dλ的兩條譜線在焦面上被分開的距離dldl/dλ成為光譜儀的線色散率。dl/dλ在數(shù)值dl/dλ的值越大，表示光柵光譜儀的色散力量越大。平面光柵光譜儀的線色散率：dl/dλ=nf/dcosθ〔n：光譜級次；f：焦距〕在實際工作中往往是用倒線色散率dλ/dl〔nm〕來表示儀器的色散力量，dλ/dl每單位長度的焦面內(nèi)，含有光譜的納米數(shù)，這個值越小，儀器的線色散率越大。凹面光柵光譜儀的線色散率：dl/dλ=nR/dcosθ§2-4譜線強度的測量噪音低、線性響應(yīng)范圍寬?！?-4-1照相檢測法照相檢測法是用照相的方法來記錄待測試樣的光譜進展定性和定量解釋。與光電檢測法比較，照相檢測法有以下優(yōu)點相板可以同時記錄很多不同波長的譜線，有利于多元素同時分析。并可依據(jù)譜線干擾狀況來選用不同的分析線，應(yīng)用起來比較敏捷。強度，削減了分餾效應(yīng)的影響。照相乳劑在紫外、可見光區(qū)，特別是可見光區(qū)靈敏度很高。照相檢測法放射光譜儀價格低廉。§2-4-2光電檢測器和照相檢測法相比，光電檢測器有以下優(yōu)點：光電檢測器免去了處理感光板和測量譜線強度等操作手續(xù)，直接讀出分析結(jié)果，使光譜分析速度更加提高。光電轉(zhuǎn)換和測量的誤差比較小，周密度比較好。線性范圍寬。2-4-3固態(tài)檢測器Solid-stateIntegratingMultichannelPhoton-detector?！睤etecorElement〕-氧化物半導(dǎo)體經(jīng)過特別加工制成，用于儲存由于光子照耀而產(chǎn)生的電荷?！?-4-4數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)目前光譜儀的數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)承受計算機需要的形式，并且計算機還起著掌握儀器作用。§2-5光譜定量分析§2-5-1光譜定量分析根本關(guān)系式元素譜線強度是該元素含量的函數(shù)，假設(shè)設(shè)I為某分析元素的譜線強度，C為該元素的含量，試驗證明，在大多數(shù)狀況下，IC的函數(shù)。即：I=aCb或 logI=loga+blogC這就是光譜定量分析的根本關(guān)系式。式中a、b在肯定條件下為常數(shù)?！?-5-2定量分析方法依據(jù)定量分析根本關(guān)系式，在光譜分析中常用的定量分析方法有：標準試樣法：配制一系列的標準試樣，測定它們的強度，繪制工作曲線。在同樣的條件下，對待測樣品的放射譜線進展測定，依據(jù)工作曲線計算出元素的含量。在這種狀況下可承受標準參加法來測定試樣中的微量元素。§2-5-3光譜干擾及其扣除光譜干擾分為背景干擾和譜線重疊兩種。背景干擾的來源及其扣除在線狀光譜上常常疊加者著由連續(xù)輻射形成的光譜背景背景輻射的來源。主要有以下幾個方面：電子-離子復(fù)合輻射軔致輻射分子的輻射譜儀的缺陷引起。另一類雜散光是由儀器內(nèi)部的光學(xué)器件的外表對強放射線的反射所引起。譜線重疊干擾〔和儀器的色散缺乏所造成的。在分析中，必需對譜線重疊干擾進展校正，校正的方法是預(yù)先測定干擾系數(shù)。§2-5-4光譜定量分析的準確度和準確度光譜定量分析的準確度準確度是指同一試樣屢次測定的結(jié)果相互符合的程度準偏差或波動系數(shù)〔即相對標準偏差〕來表示。光譜定量分析的準確度R準確度是指測定值l〔應(yīng)為屢次測定的平均值〕與真實值L相符合的程度，分析方法的準確度用確定誤差εa和ε；來表示：Rεa=l–L εR=(l–L)/L×100%屢次測定的平均值l與真實值L不符合是由系統(tǒng)誤差引起。在光譜分析中系統(tǒng)誤差引起校許有肯定隨機誤差存在，但不允許有系統(tǒng)誤差存在，如有系統(tǒng)誤差，應(yīng)找出緣由并消退?！?-5-５光譜定量分析的靈敏度和檢出限１.光譜定量分析的靈敏度s校正函數(shù)I=g〔C〕中的dI/dC。dI/dC越大，即一個很小的濃度變化所引起的測量值的變化越大，那么這個方法的靈敏度越高。２.光譜定量分析的檢出限和測定下限〔通常用空白溶液或接近空白溶液進展n次測定〕檢出限是可以檢出的最低濃度，但這精度很差RSD很大，所以往往以６－１０倍的背景波動的標準偏差作為測定下限，這時測定能保證肯定的精度?！?-5-６標準試樣的制備§３原子吸取光譜分析高激發(fā)態(tài)，產(chǎn)生吸取光譜。§３-１原理、特點、分析概況１.原理：測量自由原子對其特征光譜的吸取程度，來推斷樣品中待測元素含量的方法，稱為原子吸取光譜法。２.特點：靈敏度高；干擾??；分析速度快；周密度高；儀器構(gòu)造簡潔、用途廣、簡潔組裝；在通常狀況下，分析一個元素，就要用該元素的空心陰極燈作為光源。３.分析概況§３-2原子吸取光譜根底假定頻率為ν，強度為I0的平行光束入射在l厘米長的原子蒸氣，則被氣態(tài)原子吸取后的透射光強為Iν，定義吸光度A為：A=logI0/Iνc，即A=Kc，這就是原子吸取光譜分析的根本關(guān)系式?！欤?3儀器原子吸取分光光度計由光源、原子扮裝置、分光系統(tǒng)和檢測系統(tǒng)四局部組成?！欤?3-1光源光源的作用是放射待測元素的特征譜線〔一般是共振線。原子吸取中的光源應(yīng)具備以〔光源放射線窄，即譜線的半寬度窄，有利于提高分析靈敏度和改善標準曲線的線性關(guān)系、譜線強度大，背景小〔有利于提高信噪比，改善檢出限、譜線強度穩(wěn)定、構(gòu)造牢靠，壽命長。極燈目前是應(yīng)用最廣泛的光源。１.空心陰極燈２.無極放電燈§３-3-1原子扮裝置原子吸取光譜的本質(zhì)是基態(tài)自由原子對光的吸取。原子扮裝置的作用是使試樣離解出基態(tài)自由原子?；鹧嬖影缪b置火焰原子扮裝置包括噴霧器、霧化室和燃燒器。噴霧器是火焰原子扮裝置的核心部件，應(yīng)當具有霧化效率高、霧滴細、噴霧穩(wěn)定。霧化室是為了進一步細化霧滴得到一個平穩(wěn)的火焰，在噴霧器和燃燒器之間裝置一個霧化室。燃燒器的用途是通過火焰的作用使試樣原子化，一共性能良好的燃燒器，應(yīng)到達原子化程度高，噪音小、火焰穩(wěn)定度和測量周密度。原子吸取光譜分析測定的是基態(tài)原子，它所要求的火焰溫度與測定激發(fā)態(tài)原子的放射法有所不同。火焰分為貧燃性火焰〔氧化性強、化學(xué)計量焰和富燃性〔復(fù)原性強〕火焰。目前使用最多的是空氣―乙炔火焰，能測定三十多種元素。氧化亞氮―乙炔火焰由于溫度高，可達2900C，使很多離解能較高的難熔元素氧化物原子化，所以氧化亞氮―乙炔火焰擴大了火3070焰和氬―氫火焰。試樣導(dǎo)入火焰的方法在火焰原子吸取分析中。將試液噴入火焰進展原子化的方法，是目前普遍承受的引入試子化：樣品舟法、懸浮液噴霧法、粉末試樣導(dǎo)入法?！欤?3-3光學(xué)系統(tǒng)單色器通常利用單色器將待測元素的共振線與其鄰近線分開部件，它應(yīng)當具備亮度大，區(qū)分率〔或色散率〕高，波長范圍寬等特點。色散率：單色器的色散元件可用棱鏡或光柵，目前商用原子吸取儀大多承受光柵作為色散元件。原子吸取光譜儀所用的光柵，每毫米有600－2880條刻線，大多為一千多條。區(qū)分率：單色器的區(qū)分率和光強度取決于狹縫寬度。對于光柵單色器，其通帶可用下式表示：W=DS實際上，往往是通過試驗來選擇適宜的通帶〔即狹縫〕外光路系統(tǒng)原子吸取的分光光度計的外光路系統(tǒng)，是保證光束能正確地通過原子蒸氣并投射到單單色器狹縫。§３-3-4檢測系統(tǒng)器的。§３-3-5原子吸取分光光度計按光學(xué)系統(tǒng)分類，目前原子吸取分光光度計可分為單光束型、雙光束型和雙通道型三種，實際應(yīng)用的主要是前兩種類型。單光束型：一般簡易的原子吸取分光光度計根本上都是單光束型。它由空心陰極燈、反射鏡、原子化器、光柵和光電倍增管組成。雙光束型：用一旋轉(zhuǎn)鏡把來自空心陰極燈的光束分為兩束。其中一束通過火焰作為測量光束，另一束從火焰旁通過作為參比光束，然后用切光器把兩個光束合并，交替進入單色器，到達檢測器?！欤?4原子吸取光譜分析操作技術(shù)§３-4-1儀器的安裝和調(diào)試§３-4-2主要技術(shù)指標的測試§３-4-2-1波長精度的測試§３-4-2-2區(qū)分率測試§３-4-2-3零吸取穩(wěn)定度亦稱基線穩(wěn)定度，是儀器的重要技術(shù)指標，它反映儀器整機工作性能的穩(wěn)定性?！欤?4-2-4靈敏度定義：原子吸取光譜分析的靈敏度，慣用1%吸取靈敏度來表示。其定義為在給定1%吸取〔0.0044〕的濃度。通常μg/ml/1%表示。可用下式計算：S=C?0.0044/A〔μg/ml/1%)S為靈敏度 C為測試溶液的濃度 A為測試溶液的吸光度用非火焰法〔如高溫石墨爐法等〕測定中，常用確定靈敏度表示。其定義為在給定1吸取時的質(zhì)量。以g/1表示。其計算公式為S=C?V?0.0044/AV為溶液的體積ml由公式便可算出其靈敏度。還可以配制一標準系列，在選定試驗條件下，測定吸光度，繪制標準曲線，從標準曲線上查出吸光度為0.044時對應(yīng)的濃度C0，則靈敏度S=C0/10。必需留意，在測定靈敏度時，應(yīng)在最正確工作條件下進展，這種條件下測得的結(jié)果才有代表性。靈敏度的用途估算最適宜的測量濃度和取樣量：由于不同元素靈敏度不同，所以其最適宜的測量濃度也不同。影響靈敏度的因素吸取線的波長；光源；霧化系統(tǒng)；燃氣和助燃氣；在火焰中的測定位置；光程長度；單色器的區(qū)分率；檢測器；光學(xué)系統(tǒng)的排列等。提高靈敏度的方法化學(xué)濃縮；延長有效吸取光程；參加有機溶劑§３-4-2-5檢出限定義：檢出限是原子吸取分光光度計最重要的技術(shù)指標。它說明儀器的穩(wěn)定性和靈敏度。檢出限好的儀器，其穩(wěn)定性和靈敏度一般較好。檢出限可定義為，在給定的試驗條件下，某元素的水溶液，其信號等于空白溶液〔或接近空白溶液〕的測量標3μg/ml表示。檢出限可用下式計算：D=C?3σ/AmD為元素的檢出限C為測試溶液的濃度Am為測試溶液的平均吸光度Σ為吸光度的標準偏差測試方法：具體測量檢出限時，可取一濃度的稀溶液，進展屢次測量，依據(jù)公式求出檢出限。有時也爭論確定檢出限。其定義是，在給定的試驗條件下，某元素的水溶液，其信號等于空白溶液〔或接近空白溶液〕的測量標準偏差的3倍時的重量，用g表示。§３-4-2-6周密度周密度反映測量結(jié)果的再現(xiàn)性。依據(jù)誤差理論，標準偏差能較好地反映測量周密度。因此，在原子吸取分析中，測量結(jié)果的周密度是用相對標準偏差來表示。計算如下R%=σ/A?100R%為相對標準偏差，又稱變異系數(shù)，它表示周密度 σ為n次測量吸光度時的標準偏差 A為測試溶液的吸光度的算術(shù)平均值§３-4-3原子吸取測量條件的選擇在進展原子吸取測定時，嚴格掌握和選擇儀器工作條件是個很重要的問題?！欤?4-3-1吸取線在原子吸取分析中，一般應(yīng)依據(jù)以下幾方面來選擇適宜的吸取線：試樣的組成和待測元素的含量。由于原子吸取分析常用來解決低含量分析任務(wù)，因此，一般要選擇最靈敏的共振吸取線。當要測定高含量的元素時，為了避開溶液的過度稀釋和削減污染等問題，就要選擇用次靈敏線。干擾。所選擇的吸取線，應(yīng)盡可能不存在干擾?！欤?4-3-2燈電流在原子吸取分析中，為了得到較高的靈敏度和周密度，就要適當?shù)剡x擇燈電流。對大多數(shù)元素而言，選用的燈電流是其額定電流的40－60%為宜。在這樣的的燈電流條件下，既能到達較高的靈敏度，又能保證測定結(jié)果的周密度。§３-4-3-3火焰應(yīng)選用不同類型的火焰。§３-4-3-4燃燒器高度燃燒器高度〔即吸取高度〕子濃度分布也會轉(zhuǎn)變?！欤?4-3-5狹逢寬度單色器的通帶，取決于儀器的色散和狹逢寬度。在實際工作中，往往是通過轉(zhuǎn)變狹縫寬度來選擇不同的通帶寬度。通帶寬度以能將吸取線與接近線分開為原則?！欤?5原子吸取光譜分析中的干擾與放射光譜法及分光光度法比較，原子吸取分析法受到的干擾雖然較少，并且較宜抑制，但在某些狀況下應(yīng)引起充分的留意。原子吸取分析中的干擾可以分為兩類：第一類包括光譜干擾和背景吸取。它引起待測元素表觀吸光度發(fā)生變化，導(dǎo)致測定誤差；其次類包括物理干擾、化學(xué)干擾和電離干擾等。這些作用與火焰光度學(xué)的物理化學(xué)過程有親熱關(guān)系。§3-5-1光譜干擾與放射光譜法相比，原子吸取中的光譜干擾要小得多。光譜干擾主要與儀器的區(qū)分率和光源有關(guān)，有時也受共存元素的影響。光譜干擾有以下兩種：吸取線與鄰近譜線不能完全分開所造成的光譜干擾。待測元素的分析線與共存元素的吸取線相重疊引起的干擾，這種干擾使吸光度增加，造成正誤差?！?-5-2背景吸取背景吸取包括分子吸取、光散射和火焰氣體的吸取，一般說背景吸取都是使吸取值增加而產(chǎn)生正誤差。分子吸取是指在原子化過程中生成的氣體分子、氧化物、氫氧化物和鹽類這類分子對輻射的吸取引起的干擾。分子吸取是一種寬帶吸取。光散射光散射是在原子化過程中產(chǎn)生的固體微粒對入射光產(chǎn)生散射作用，造成一種“假吸取”效應(yīng)，使待測元素的吸光度增加?？鄢尘暗姆椒ǚ俏【€扣除背景用其它元素的吸取線扣除背景配制不含待測元素的基體溶液，在測量試樣的工作條件下測定背景吸取，然后從待測元素的總吸取中減去背景吸取。用連續(xù)光源扣除背景－氘燈背景校正器。使用待測元素本身的兩條鄰近的靈敏度不同的吸取線扣除背景。在非火焰法中〔如石墨爐〕常用選擇揮發(fā)除去背景干擾；利用塞曼效應(yīng)扣除背景。塞曼效應(yīng)在原子吸取分析中的應(yīng)用這個現(xiàn)象，可以進展背景校正。利用塞曼效應(yīng)進展背景校正，有光源調(diào)制法〔將磁場加于光源〕和吸取線調(diào)制法〔將磁場加于原子化器不存在基線漂移，儀器格外穩(wěn)定。§３-5-3化學(xué)干擾化學(xué)干擾的產(chǎn)生及其影響化學(xué)干擾是指待測元素在火焰中發(fā)生的化學(xué)反響引起的一種干擾。消退化學(xué)干擾的方法用參加抑制劑〔釋放劑、保護劑、緩沖劑或幾種試劑聯(lián)合使用分別法都可以消退化學(xué)干擾?！欤?5-4電離干擾電離干擾的產(chǎn)生及其影響因素66電子伏特的元素，在火焰中簡潔電離。電離的結(jié)果是使火焰中參與吸取的基態(tài)原子濃度數(shù)削減，因而使原子吸取靈敏度降低，這種現(xiàn)象在堿金屬和堿土金屬中特別顯著。電離干擾的利用和消退方法參加消電離劑和承受標準參加法都可以消退電離干擾?！欤?5-5物理干擾當溶液的物理性質(zhì)〔如外表張力、粘度、比重、溫度等〕發(fā)生變化時，都將引起噴霧效率或火焰試樣量的轉(zhuǎn)變，因而影響吸取強度，導(dǎo)致測定誤差。此外，溶液的溫度、吸入試樣用的用的毛細管半徑和長度及其浸入溶液中的深度也影響溶液的提升量，因而影響吸取強度。稀釋高濃度試樣的方法消退物理干擾?！欤?6原子吸取光譜分析法§３-6-1標準曲線法§３-6-2標準參加法§３-6-3內(nèi)標法內(nèi)標法是標準溶液和試樣溶液中分別參加肯定量的某元素〔內(nèi)標元素元素和內(nèi)標元素的吸光度分別為A和Ao，繪制其吸取強度之比值A(chǔ)/Ao與標準溶液濃度C的關(guān)系曲線〔A/Ao－C曲線〕為標準曲線，試樣溶液的濃度可由標準曲線查得。§３-6-4間接分析法68種元素，其中大局部元素的靈敏度較高。但是，有很多接測定法。5或幾種其它離子反響，然后測定反響產(chǎn)物的濃度，或測定沒有反響的過量試劑濃度。§３-6-5其它分析方法1. 高精度分析法：Cx=C1+(Ax–A1)(Cx–C1)/(A2–A1)痕量測定法：Cx=Ax?Cs/As§３-7非火焰原子吸取光譜法來，非火焰原子吸取法得到了快速進展墨坩堝、石墨棒、金屬舟、陰極濺射、等離子噴焰、高頻感應(yīng)、激光原子化器等等?！?/p>