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半導(dǎo)體常有氣體的用途1、硅烷(SiH4):有毒。硅烷在半導(dǎo)體工業(yè)中主要用于制作高純多晶硅、經(jīng)過(guò)氣相淀積制作二氧化硅薄膜、氮化硅薄膜、多晶硅隔絕層、多晶硅歐姆接觸層和異質(zhì)或同質(zhì)硅外延生長(zhǎng)原料、以及離子注入源和激光介質(zhì)等,還可用于制作太陽(yáng)能電池、光導(dǎo)纖維和光電傳感器等。2、鍺烷(GeH4):劇毒。金屬鍺是一種優(yōu)秀的半導(dǎo)體資料,鍺烷在電子工業(yè)中主要用于化學(xué)氣相淀積,形成各樣不一樣的硅鍺合金用于電子元器件的制造。3、磷烷(PH3):劇毒。主要用于硅烷外延的混雜劑,磷擴(kuò)散的雜質(zhì)源。同時(shí)也用于多晶硅化學(xué)氣相淀積、外延GaP資料、離子注入工藝、化合物半導(dǎo)體的MOCVD工藝、磷硅玻璃(PSG)鈍化膜制備等工藝中。4、砷烷(AsH3):劇毒。主要用于外延和離子注入工藝中的n型混雜劑。5、氫化銻(SbH3):劇毒。用作制造n型硅半導(dǎo)體時(shí)的氣相混雜劑。6、乙硼烷(B2H6):窒息臭味的劇毒氣體。硼烷是氣態(tài)雜質(zhì)源、離子注入和硼混雜氧化擴(kuò)散的混雜劑,它也曾作為高能燃料用于火箭和導(dǎo)彈的燃料。7、三氟化硼(BF3):有毒,極強(qiáng)刺激性。主要用作P型混雜劑、離子注入源和等離子刻蝕氣體。8、三氟化氮(NF3):毒性較強(qiáng)。主要用于化學(xué)氣相淀積(CVD)裝置的沖洗。三氟化氮能夠獨(dú)自或與其余氣體組合,用作等離子體工藝的蝕刻氣體,比如,NF3、NF3/Ar、NF3/He用于硅化合物MoSi2的蝕刻;NF3/CCl4、NF3/HCl既用于MoSi2的蝕刻,也用于NbSi2的蝕刻。9、三氟化磷(PF3):毒性極強(qiáng)。作為氣態(tài)磷離子注入源。10、四氟化硅(SiF4):遇水生成腐化性極強(qiáng)的氟硅酸。主要用于氮化硅(Si3N4)和硅化鉭(TaSi2)的等離子蝕刻、發(fā)光二極管P型混雜、離子注入工藝、外延堆積擴(kuò)散的硅源和光導(dǎo)纖維用高純石英玻璃的原料。11、五氟化磷(PF5):在濕潤(rùn)的空氣中產(chǎn)生有毒的氟化氫煙霧。用作氣態(tài)磷離子注入源。12、四氟化碳(CF4):作為等離子蝕刻工藝中常用的工作氣體,是二氧化硅、氮化硅的等離子蝕刻劑。13、六氟乙烷(C2H6):在等離子工藝中作為二氧化硅和磷硅玻璃的干蝕氣體。14、全氟丙烷(C3F8):在等離子蝕刻工藝中,作為二氧化硅膜、磷硅玻璃膜的蝕刻氣體。半導(dǎo)體工業(yè)常用的混淆氣體1、外延(生長(zhǎng))混淆氣:在半導(dǎo)體工業(yè)中,在認(rèn)真選擇的襯底上采用化學(xué)氣相淀積的方法,生長(zhǎng)一層或多層資料所用的氣體叫作外延氣體。常用的硅外延氣體有二氯二氫硅()、四氯化硅()和硅烷等。主要用于外延硅淀積、氧化硅膜淀積、氮化硅膜淀積,太陽(yáng)能電池和其余光感覺(jué)器的非晶硅膜淀積等。外延是一種單晶資料淀積并生長(zhǎng)在襯底表面上的過(guò)程。常用外延混淆氣構(gòu)成以下表:序號(hào)組份氣體稀釋氣體硅烷(SiH4)氦、氬、氫、氮1氯硅烷(SiCl4)氦、氬、氫、氮2氦、氬、氫、氮二氯二氫硅(SiH2Cl2)3氦、氬、氫、氮乙硅烷(Si2H6)42、化學(xué)氣相淀積(CVD)用混淆氣:CVD是利用揮發(fā)性化合物,經(jīng)過(guò)氣相化學(xué)反響淀積某種單質(zhì)和化合物的一種方法,即應(yīng)用氣相化學(xué)反響的一種成膜方法。依照成膜種類(lèi),使用的化學(xué)氣相淀積(CVD)氣體也不一樣,以下表是幾類(lèi)化學(xué)氣相淀積混淆氣的構(gòu)成:膜的種類(lèi)混淆氣構(gòu)成生成方法半導(dǎo)體膜硅烷(SiH4)+氫CVD二氯二氫硅(SiH2Cl2)+氫CVD氯硅烷(SiCl4)+氫CVD硅烷(SiH4)+甲烷(CH4)離子注入CVD絕緣膜硅烷(SiH4)+氧CVD硅烷(SiH4)+氧+磷烷(PH3)CVD硅烷(SiH4)+氧+乙硼烷(B2H6)CVD硅烷(SiH4)+氧化亞氮(N2O)+磷烷離子注入CVD導(dǎo)體膜六氟化鎢(WF6)+氫CVD六氯化鉬(MoCl6)+氫CVD3、混雜混淆氣:在半導(dǎo)體器件和集成電路制造中,將某些雜質(zhì)摻入半導(dǎo)體資料內(nèi),使材料擁有所需要的導(dǎo)電種類(lèi)和必定的電阻率,以制造電阻、PN結(jié)、埋層等?;祀s工藝所用的氣體稱(chēng)為混雜氣體。主要包含砷烷、磷烷、三氟化磷、五氟化磷、三氟化砷、五氟化砷、三氟化硼、乙硼烷等。往常將混雜源與運(yùn)載氣體(如氬氣和氮?dú)猓┰谠垂裰谢煜?,混淆后氣流連續(xù)注入擴(kuò)散爐內(nèi)并圍繞晶片周?chē)?,在晶片表面堆積上混雜劑,從而與硅反響生成混雜金屬而徙動(dòng)進(jìn)入硅。常用混雜混淆氣:種類(lèi)組份氣稀釋氣備注硼化合物乙硼烷(B2H6)、三氯化硼(BCl3)、溴化硼(BBr3)氦、氬、氫磷化合物磷烷(PH3)、氯化磷(PCl3)、溴化磷(PBr3)氦、氬、氫砷化合物砷烷(AsH3)、三氯化砷(AsCl3)氦、氬、氫4、蝕刻混淆氣:蝕刻就是將基片上無(wú)光刻膠遮蔽的加工表面(如金屬膜、氧化硅膜等)蝕刻掉,而使有光刻膠遮蔽的地區(qū)保留下來(lái),以便在基片表面上獲取所需要的成像圖形。蝕刻方法有濕法化學(xué)蝕刻和干法化學(xué)蝕刻。干法化學(xué)蝕刻所用氣體稱(chēng)為蝕刻氣體。蝕刻氣體往常多為氟化物氣體(鹵化物類(lèi)),比如四氟化碳、三氟化氮、三氟甲烷、六氟乙烷、全氟丙烷等。常用蝕刻氣體以下表:材質(zhì)蝕刻氣體氯硅烷(SiCl4)+氬、四氯化碳(CCl4)+(氬、氦)鋁(Al)四氯化碳(CCl4)+氧、四氯化碳(CCl4)+空氣鉻(Cr)二氟二氯化碳(CCl2F2)+氧、四氟化碳(CF4)+氧鉬(Mo)三氟三氯乙烷(C2Cl3F3)+氧、四氟化碳(CF4)+氧鉑(Pt)四氟化碳(CF4)+氧、乙烷(C2H6)+氯聚硅四氟化碳(CF4)+氧硅(Si)四氟化碳(CF4)+氧鎢(W)5、其余電子混淆氣:-6序號(hào)組份氣氯化氫(HCl)硒化氫(H2Se)鍺烷(GeH4)磷烷(PH3)

稀釋氣組份氣含量范圍氧、氮1—10%氬、氦、氫、氮5—5000×10-6氬、氦、氫、氮1—5%氬、氦、氫、氮5—5000×10-6、0.5—15%5砷烷(As2H3)氬、氦、氫、氮5—5000×1

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