器件制備基礎(chǔ)_第1頁
器件制備基礎(chǔ)_第2頁
器件制備基礎(chǔ)_第3頁
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文檔簡介

器件制備基礎(chǔ)第一頁,共十三頁,編輯于2023年,星期日4.1制備過程

1、清洗2、氧化3、擴(kuò)散或離子注入4、光刻5、薄膜沉積第二頁,共十三頁,編輯于2023年,星期日1、清洗

常用硅片清洗液Ⅰ號液:配方:NH4OH:H2O2:H2O=1:1:5-1:2:7

使用條件:805C,煮10分鐘作用:去油脂,去光刻膠殘膜,去金屬離子和金屬原子Ⅱ號液:配方:HCl:H2O2:H2O=1:1:6-1:2:8

使用條件:805C,煮10分鐘作用:去金屬離子和金屬原子Ⅲ號液:配方:H2SO4:H2O2=3:1

使用條件:12010C,煮15分鐘作用:去油脂,去臘,去金屬離子和金屬原子第三頁,共十三頁,編輯于2023年,星期日2、氧化干氧:Si+O2=SiO2

膜層致密,理想的Si-SiO2界面,生長速度慢濕氧:Si+2H2O=SiO2+2H2

生長速度快,膜層致密性較差第四頁,共十三頁,編輯于2023年,星期日2、氧化氧化系統(tǒng)的簡單說明圖第五頁,共十三頁,編輯于2023年,星期日2、氧化(100)面和(111)面SiO2的氧化生長曲線第六頁,共十三頁,編輯于2023年,星期日3、擴(kuò)散基本工藝流程第七頁,共十三頁,編輯于2023年,星期日3、擴(kuò)散4.5磷的液態(tài)源擴(kuò)散示意圖第八頁,共十三頁,編輯于2023年,星期日3、擴(kuò)散

擴(kuò)散溫度900-1200C。

P源:POCl3,B源:BN,BO3

一般分為預(yù)擴(kuò)散和再擴(kuò)散預(yù)擴(kuò)散后:再擴(kuò)散后第九頁,共十三頁,編輯于2023年,星期日4、光刻(1)涂膠(2)堅膜(3)掩膜板(4)瀑光(5)顯影負(fù)光刻膠:光照后發(fā)生聚合反應(yīng),難以去除正光刻膠:光照后,感光劑發(fā)生分解,容易去除。第十頁,共十三頁,編輯于2023年,星期日5薄膜沉積第十一頁,共十三頁,編輯于2023年,星期日二、pn結(jié)二極管的制備第十二頁,共

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