(材料分析測試技術(shù))考試大綱

《資料剖析測試技術(shù)》考試綱領(lǐng)合用專業(yè)名稱：資料科學(xué)與工程科目代碼及名稱考試綱領(lǐng)5資料剖析測試技術(shù)一、考試目的與要求測試考生對X射線衍射剖析技術(shù)、掃描電子顯微鏡、電子探針、透射電鏡平剖析技術(shù)的掌握程度，使學(xué)生掌握資料研究的差不多方法，學(xué)會進(jìn)行資料微觀組織結(jié)構(gòu)剖析和物理性能剖析的常用儀器設(shè)施的原理及使用方法，使學(xué)生具備剖析研究資料的組織結(jié)構(gòu)所一定的基礎(chǔ)理論、基礎(chǔ)知識與差不多技術(shù)。二、試卷結(jié)構(gòu)〔總分值100分〕內(nèi)容比率：X射線衍射剖析約35分透射電鏡剖析約20分掃描電鏡剖析約20分電子探針剖析約25分題型比率：客觀題約30分1、填空題〔選擇或判斷〕約15分2、名詞解說約15分主觀題約70分簡答題約20分證明題約20分綜合剖析題約30分【三】考試內(nèi)容與要求〔一〕X射線衍射剖析考試內(nèi)容X射線物理基礎(chǔ)、X射線衍射方向、X射線衍射強(qiáng)度、多晶體剖析方法、X射線物相剖析及點陣參數(shù)精準(zhǔn)測定考試要求掌握X射線的實質(zhì)、X射線譜的分類及特點譜的產(chǎn)活力理；掌握X射線與物質(zhì)的互相作用；掌握布拉格方程的推導(dǎo)及應(yīng)用；4.理解結(jié)構(gòu)因子的物理意義，掌握三種常有點陣消光規(guī)律，掌握X射線衍射強(qiáng)度公式；5、理解各樣衍射剖析方法，掌握X射線衍射儀的參數(shù)設(shè)置；6、掌握物相定性剖析的原理、方法與步驟；7、掌握PDF卡片的構(gòu)成及索引方法；8、掌握物相定量剖析的原理及方法；9、掌握立方晶系物質(zhì)點陣常數(shù)的精準(zhǔn)測定。〔二〕電子光學(xué)基礎(chǔ)及透射電子剖析考試內(nèi)容電子波與電磁透鏡、電磁透鏡的像差與分辨本事、電磁透鏡的景深和焦長，電子衍射原理、電子顯微鏡中的電子衍射、單晶體電子衍射花式標(biāo)定以及復(fù)雜電子衍射花式。透射電子顯微鏡的結(jié)構(gòu)與成像原理、重要零件的結(jié)構(gòu)與工作原理；透射電子顯微鏡分辨本事和放大倍數(shù)的測定，薄膜樣品的制備；衍襯成像原理；消光距離考試要求掌握電子透鏡及其景深與焦長、電磁透鏡的像差與分辨本事；理解透射電鏡的結(jié)構(gòu)，認(rèn)識透射電鏡的應(yīng)用樣品的制備方法并能制備電鏡樣品；掌握電子衍射原理和衍稱成像原理；可以剖析電子衍射花式?！踩硳呙桦娮语@微鏡考試內(nèi)容電子束與固體樣品作用、掃描電子顯微鏡的結(jié)構(gòu)和工作原理、掃描電子顯微鏡的重要性能、表面容貌襯度原理及其應(yīng)用、原子序數(shù)襯度原理及其應(yīng)用考試要求理解掃描電子顯微鏡的結(jié)構(gòu)和工作原理認(rèn)識電子束與固體樣品作用時產(chǎn)生的信號掌握掃描電子顯微鏡的重要性能、表面容貌襯度原理及其應(yīng)用應(yīng)用SEM圖像剖析物質(zhì)〔四〕電子探針顯微剖析考試內(nèi)容電子探針儀的結(jié)構(gòu)與工作原理；電子探針儀的剖析方法及其應(yīng)用考試要求理解電子探針剖析結(jié)構(gòu)認(rèn)識電子探針剖析應(yīng)用掌握電子探針剖析方法及微區(qū)成分剖析技術(shù)應(yīng)