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ICSCCSA00團(tuán) 體 標(biāo) 準(zhǔn)T/CPIA0041—2022晶體硅光伏電池?zé)彷o助光致衰減測試方法Measurementoflightandelevatedtemperatureinduceddegradation(LETID)ofcrystallinesiliconsolarcells2022-12-30發(fā)布 2023-01-15實施中國光伏行業(yè)協(xié)會??發(fā)布T/CPIA0041—2022前 言本文件按照GB/T1.1—2020《標(biāo)準(zhǔn)化工作導(dǎo)則 第1部分:標(biāo)準(zhǔn)化文件的結(jié)構(gòu)和起草規(guī)則》的規(guī)定起草。請注意本文件的某些內(nèi)容可能涉及專利。本文件的發(fā)布機構(gòu)不承擔(dān)識別專利的責(zé)任。本文件由中國光伏行業(yè)協(xié)會標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會歸口。(上海IT/CPIA0041—2022晶體硅光伏電池?zé)彷o助光致衰減測試方法范圍本文件規(guī)定了晶體硅光伏電池的熱輔助光致衰減測試方法的術(shù)語和定義、測試步驟和方法、測試報告。本文件適用于晶體硅光伏電池。規(guī)范性引用文件(包括所有的修改單適用于本文件。GB/T6495.2 光伏器件 第2部分:標(biāo)準(zhǔn)太陽電池的要求IEC60904-1 光伏器件 第1部分:光伏電流-電壓特性的測量(Photovoltaicdevices—Part1:Measurementofphotovoltaiccurrent-voltagecharacteristics)IEC60904-9 光伏器件 第9部分太陽模擬器的特性分類性能要(Photovoltaicdevices—Part9:ClassificationofSolarsimulatorcharacteristics)IECTS61836太陽光伏能源系統(tǒng) 術(shù)語定義和符(Solarphotovoltaicenergysystems—Terms,definitionsandsymbols)T/CPIA0020—2020晶體硅光伏電池電致發(fā)光測試方法術(shù)語和定義下列術(shù)語和定義適用于本文件。熱輔助光致衰減 lightandelevatedtemperatureinduceddegradation;LETID指在高溫光照狀態(tài)下電池功率衰減的總和。測試設(shè)備執(zhí)行本文件中規(guī)定的LETID試驗需要以下設(shè)備:滿足以下條件的可控溫光照測試箱:GB/T6495.2電池和輻照度傳感器位于同一水平面;在輻照度為(1000±50)W·m2條件下,電池溫度控制在(5±2)℃(如通過典型電池背面粘接熱電偶的方式進(jìn)行探測);4) 相對濕度≤505) 箱體內(nèi)部氣體無腐蝕性或污染。太陽模擬器:符合IEC60904-9BBB100±5)·m。IEC60904-1I-V樣品準(zhǔn)備1T/CPIA0041—2022本測試至少需要20片電池。電池需要測試EL,使用T/CPIA0020—2020中給出的方法進(jìn)行EL測試,電池應(yīng)無異常。所測電池應(yīng)未經(jīng)預(yù)衰減。所測每片電池均需獨立編號以進(jìn)行試驗追蹤及報告。測試方法IEC60904-1STCI-V。3次取平均值。(1000±5)Wm(5±)6.20.51248162448961682(FeBB)6.1。每達(dá)到一個總輻照時長,按照公式(1)分別計算每片電池的衰減比例:式中:i ——第i片電池;

αPmax

(i)=P'max(i)-Pmax(i) (1)Pmax(i)????? ——第i?'??()——第imax;??????——第i片電池在不同總輻照時長后的衰減比例。每一步總輻照時長達(dá)到后,根據(jù)公式(2)計算平均衰減比例:ΣαPΣαPmax(i)NαPmax=i=1 (2)N式中:N ——樣品電池數(shù)量;?????——樣品電池平均衰減比例。每一步時長達(dá)到后,觀察電池外觀是否存在氧化或劃傷,電池I-VELTCPIA0020—202016891。166.7EL測試報告應(yīng)包含以下內(nèi)容:樣品類型、規(guī)格型號、數(shù)量和編號;測試儀器名稱和型號;I-V、Voc、Isc、FF;EL每一片電池在不同總輻照時長劑量下的A;不同總輻照時長下每片電池衰減比例的箱線圖及均值;6.10EL其它必要信息。2T/CPIA0041—2022附 錄 A(資料性)電池衰減曲線圖模板?Pmax與總輻照時長關(guān)系模板見圖A.1,圖A.1中不同LETID衰減行為匯總見表A.1。圖A.1 LETID測試過程的隨總輻照度時長的變化表A.1圖A.1中不同LETID衰減行為匯總曲線序號初期(前48小時內(nèi))電池光電轉(zhuǎn)換效率衰減行為晚期(48小時之后)電池光電轉(zhuǎn)換效率衰減行為典型樣品類型I快速衰減提升多晶PERC電池II快

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