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半導(dǎo)體技術(shù)導(dǎo)論知到章節(jié)測(cè)試答案智慧樹(shù)2023年最新南京理工大學(xué)第一章測(cè)試
現(xiàn)代電子器件大多是基于半導(dǎo)體材料制備的?
參考答案:
對(duì)
第二章測(cè)試
p型硅摻雜V族元素,n型硅摻雜III族元素。
參考答案:
錯(cuò)
半導(dǎo)體中電流由電子電流和空穴電流構(gòu)成。
參考答案:
對(duì)
以能帶隙種類區(qū)分,硅屬于直接能帶隙半導(dǎo)體。
參考答案:
錯(cuò)
以下哪種結(jié)構(gòu)不是固體常見(jiàn)的微觀結(jié)構(gòu)類型?
參考答案:
結(jié)晶體
從能級(jí)角度上看,導(dǎo)體就是禁帶寬度很小的半導(dǎo)體。
參考答案:
錯(cuò)
半導(dǎo)體的電導(dǎo)率一般要大于絕緣體的電導(dǎo)率。
參考答案:
對(duì)
在半導(dǎo)體中的空穴流動(dòng)就是電子流動(dòng)。
參考答案:
錯(cuò)
通常來(lái)說(shuō),晶格常數(shù)較大的半導(dǎo)體禁帶寬度也較大。
參考答案:
錯(cuò)
溫度為300K的半導(dǎo)體費(fèi)米能級(jí)被電子占據(jù)的幾率為()?
參考答案:
1/2
通常對(duì)于同種半導(dǎo)體材料,摻雜濃度越高,載子遷移率越低。
參考答案:
對(duì)
第三章測(cè)試
通常情況下,pn結(jié)p區(qū)和n區(qū)的半導(dǎo)體材料不相同。
參考答案:
錯(cuò)
pn結(jié)加反偏壓時(shí),總電流為0。
參考答案:
錯(cuò)
平衡狀態(tài)下pn結(jié)的能帶圖中,p區(qū)和n區(qū)的費(fèi)米能級(jí)是分開(kāi)的。
參考答案:
錯(cuò)
金屬與n型半導(dǎo)體接觸形成歐姆接觸,此時(shí)金屬的功函數(shù)應(yīng)當(dāng)大于半導(dǎo)體的功函數(shù)。
參考答案:
錯(cuò)
歐姆接觸也稱為整流接觸。
參考答案:
錯(cuò)
通常,超晶格結(jié)構(gòu)是基于異質(zhì)結(jié)設(shè)計(jì)的。
參考答案:
對(duì)
n型增強(qiáng)型MOSFET的基底是n型半導(dǎo)體。
參考答案:
錯(cuò)
MOSFET的飽和漏極電流大小是由漏極電壓決定的。
參考答案:
錯(cuò)
MOSFET的柵極氧化層采用High-K材料的目的是增加?xùn)艠O電容。
參考答案:
錯(cuò)
BJT可用于恒定電流源的設(shè)計(jì)。
參考答案:
對(duì)
第四章測(cè)試
太陽(yáng)能電池可以吸收太陽(yáng)光的所有能量。
參考答案:
錯(cuò)
Voc是指短路電壓。
參考答案:
錯(cuò)
太陽(yáng)能電池上表面的電極會(huì)遮擋電池吸收的陽(yáng)光。
參考答案:
對(duì)
以下幾種太陽(yáng)能電池中,效率最高的是()?
參考答案:
GaAs太陽(yáng)能電池
半導(dǎo)體光探測(cè)器本質(zhì)是一個(gè)pn結(jié),這類器件工作在pn結(jié)電流電壓特性曲線的第()象限?
參考答案:
III
對(duì)于同種半導(dǎo)體材料,通常PIN型光探測(cè)器的靈敏度要高于APD光探測(cè)器。
參考答案:
錯(cuò)
光探測(cè)器設(shè)計(jì)的標(biāo)準(zhǔn)是:半導(dǎo)體材料的禁帶寬度只要高于被探測(cè)光能量即可。
參考答案:
錯(cuò)
以下哪種LED量產(chǎn)最晚?
參考答案:
藍(lán)光LED
LED的壽命通常比白熾燈長(zhǎng)。
參考答案:
對(duì)
半導(dǎo)體激光器中沒(méi)有諧振腔結(jié)構(gòu)。
參考答案:
錯(cuò)
第五章測(cè)試
摩爾定律是指集成電路的集成度每12個(gè)月提升一倍。
參考答案:
錯(cuò)
早期的半導(dǎo)體公司大多成立于美國(guó)的硅谷。
參考答案:
對(duì)
目前半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)分工越來(lái)越細(xì),主要是由于技術(shù)越來(lái)越復(fù)雜,產(chǎn)品需求量越來(lái)越大。
參考答案:
對(duì)
半導(dǎo)體代工廠中主要進(jìn)行集成電路設(shè)計(jì)。
參考答案:
錯(cuò)
半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)涉及的知識(shí)領(lǐng)域主要是物理學(xué)和材料學(xué),與化學(xué)無(wú)關(guān)。
參考答案:
錯(cuò)
目前量產(chǎn)的半導(dǎo)體器件節(jié)點(diǎn)尺寸是()?
參考答案:
5nm
以下半導(dǎo)體產(chǎn)線上最昂貴的設(shè)備是()?
參考答案:
曝光顯影機(jī)
在CMOS工藝中,通常采用對(duì)光刻膠曝光顯影來(lái)實(shí)現(xiàn)所設(shè)計(jì)結(jié)構(gòu)的圖案制備。
參考答案:
對(duì)
邏輯電路的基本元件是MOS管。
參考答案:
對(duì)
集成電路中只能制造二極管和三極管,而無(wú)法制造電阻。
參考答案:
錯(cuò)
第六章測(cè)試
利用氫氟酸蝕刻SiO2薄膜具有各向異性。
參考答案:
錯(cuò)
利用正光刻膠曝光、顯影、蝕刻的過(guò)程中,掩膜版上透光圖案對(duì)應(yīng)的基底部位將被蝕刻掉。
參考答案:
對(duì)
通過(guò)擴(kuò)散方式摻雜對(duì)雜質(zhì)濃度和摻雜深度的控制精度比通過(guò)離子注入的方式摻雜要高。
參考答案:
錯(cuò)
以下哪種材料無(wú)法通過(guò)分子束外延生長(zhǎng)法制備?
參考答案:
IGZO
以下哪種不屬于化學(xué)氣相沉積法
參考答案:
DPCVD
化學(xué)氣相沉積法的反應(yīng)原料是氣體,反應(yīng)物是固體,副產(chǎn)物也可以是固體
參考答案:
錯(cuò)
化學(xué)氣相沉積法和物理氣相沉積法最主要的區(qū)別在于前者需要在真空環(huán)境下進(jìn)行。
參考答案:
錯(cuò)
12英寸硅晶片是指硅晶片的()是12英寸。
參考答案:
直徑
利用液封直拉法得到的晶錠可以直接切割成晶片。
參考答案:
錯(cuò)
以下晶體硅生長(zhǎng)過(guò)程中的產(chǎn)物中哪種是單晶體?
參考答案:
晶錠
第七章測(cè)試
通常TEM觀測(cè)的分辨率要高于SEM。
參考答案:
對(duì)
SEM觀測(cè)的主要原理是搜集入射電子激發(fā)的二次電子進(jìn)行逐點(diǎn)成像的。
參考答案:
對(duì)
表面不導(dǎo)電的樣品無(wú)法用SEM進(jìn)行觀測(cè)。
參考答案:
錯(cuò)
TEM可觀測(cè)厚度1微米以上的樣品。
參考答案:
錯(cuò)
AFM的探針針尖與樣品表面直接接觸,所以測(cè)量時(shí)會(huì)損傷樣品。
參考答案:
錯(cuò)
AFM可觀測(cè)樣品內(nèi)部形貌特征。
參考答案:
錯(cuò)
以下哪種檢測(cè)方式不涉及X射線?
參考答案
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