測(cè)量工作的基本原則

《地形測(cè)量》學(xué)習(xí)情境一—課程導(dǎo)入

子情境4：測(cè)量工作的基本原則內(nèi)容提要：1.用水平面代替水準(zhǔn)面的限度2.測(cè)量的基本工作和原則

知識(shí)目標(biāo)：1.理解用水平面代替水準(zhǔn)面對(duì)距離、高差和水平角的影響2.掌握影響的結(jié)論3.理解測(cè)量基本工作的三要素4.理解測(cè)量工作的基本原則能力目標(biāo)1.能在具體工作中合理用水平面取代水準(zhǔn)面2.能搭立起測(cè)量工作的基本程序4.1用水平面代替水準(zhǔn)面的限度一、用水平面代替水準(zhǔn)面對(duì)水平距離的影響

當(dāng)測(cè)區(qū)范圍不大時(shí)可以用水平面代替水準(zhǔn)面使計(jì)算和繪圖工作簡(jiǎn)化。但是多大范圍內(nèi)可以這樣代替呢？下面討論水平面代替水準(zhǔn)面對(duì)水平距離的影響。對(duì)水平距離的影響

距離誤差

相對(duì)誤差取R=6371km,并以不同的D代入上兩式的水平面代替水準(zhǔn)面距離誤差和相對(duì)誤差表：距離D（km）

距離誤差ΔD（cm）

相對(duì)誤差ΔD／D

100.81:122萬2512.81:20萬50102.71:49000100821.21:12000對(duì)水平距離的影響當(dāng)水平距離為10km時(shí)（面積約300k㎡，以水平面代替水準(zhǔn)面所產(chǎn)生的距離誤差為距離的1／122萬，現(xiàn)在最精密距離丈量時(shí)的容許誤差為其長度的1／100萬。對(duì)于精度要求較低的測(cè)量還可將測(cè)區(qū)半徑擴(kuò)大到25km。4.1用水平面代替水準(zhǔn)面的限度二、用水平面代替水準(zhǔn)面對(duì)高差的影響a、b在同一水準(zhǔn)面上，高差為0。B投影在水平面上得b′點(diǎn)，則bb′即為水平面代替水準(zhǔn)面所產(chǎn)生的高差影響，或稱地球曲率的影響。

化簡(jiǎn)得：上式中D代替D’,同時(shí)△h相對(duì)2R可忽略不計(jì)得：用不同的距離D代入上式得高差誤差值統(tǒng)計(jì)表：D(m)10501002005001000Δh(mm)0.00.20.83.119.678.5

由上表可知：用水平面代替水準(zhǔn)面進(jìn)行高差測(cè)量，即使距離在200m時(shí)，高差誤差也會(huì)有3mm,這對(duì)高程測(cè)量來說影響很大，因此，當(dāng)進(jìn)行高程測(cè)量時(shí)，即使是很短的距離也要顧及地球曲率的影響。4.1用水平面代替水準(zhǔn)面的限度三、用水平面代替水準(zhǔn)面對(duì)水平角的影響

由球面三角學(xué)知道，同一個(gè)空間多邊形在球面上的投影的各個(gè)內(nèi)角之和比其在平面上投影的各個(gè)內(nèi)角之和大一個(gè)球面角ε，ε的大小與圖形面積成正比。

當(dāng)P=100km2時(shí)，ε=0.51″，計(jì)算表明，只有在最精密的測(cè)量中才考慮地球曲率對(duì)水平角的影響，一般精度要求的測(cè)量工作中不必考慮。4.2測(cè)量工作的基本和原則

一、測(cè)量的基本工作

1.確定地面點(diǎn)相對(duì)位置的三個(gè)基本幾何要素:

水平距離水平角高程2.測(cè)量的基本工作:水平距離測(cè)量水平角測(cè)量高程測(cè)量。4.2測(cè)量工作的基本和原則

二、測(cè)量工作的基本原則

在布局上：“從整體到局部”在工作程序上：“先控制后碎部”在精度上：“從高級(jí)到低級(jí)”

測(cè)量工作必須進(jìn)行嚴(yán)格的檢核，“前一步工作未作檢核不進(jìn)行下一步測(cè)量工作”是組織測(cè)量工作應(yīng)遵循的又一個(gè)原則。4.2測(cè)量工作的基本和原則

二、測(cè)量工作的基本原則

“從整體到局部”；先控制后碎部”；從高級(jí)到低級(jí)”。在布局上：“從整體到局部”：必須先進(jìn)行總體布局，然后再分期、分區(qū)、分項(xiàng)實(shí)施布局工作，而任何局部的工作都必須服從全局的工作需要。在工作程序上：“先控制后碎部”：先進(jìn)行控制測(cè)量，測(cè)定測(cè)區(qū)內(nèi)若干個(gè)具有控制意義的點(diǎn)（控制點(diǎn)）的平面位置和高程（控制測(cè)量），再進(jìn)行碎部測(cè)量（在控制點(diǎn)上安置儀器，測(cè)量周圍的地物和地貌，并且繪制在圖紙上）。在精度上：“從高級(jí)到低級(jí)”：先布設(shè)高精度的控制點(diǎn)，再逐級(jí)發(fā)展布設(shè)低一級(jí)的交會(huì)以及進(jìn)行碎部測(cè)