涂層測厚儀操作規(guī)程

....涂層測厚儀操作規(guī)程一、原則示、示值穩(wěn)定、功耗低、操作簡潔便利、觸摸按鍵、單探頭全量程測量、體積小、重量輕，且具有存儲、讀出、統(tǒng)計、低電壓指示、系統(tǒng)/零點/兩點校準等特點，涂層測厚儀承受磁性測厚法，可以便利無損地測量鐵磁材料上非磁性涂層的厚度，如鋼鐵外表上的鋅、銅、鉻等鍍層或油漆、搪瓷、玻璃鋼、噴塑、瀝青等涂層的厚度。二、工作原理〔鍍〕層的厚度。位于部件外表的探頭產(chǎn)生一個閉合的磁回路，隨著探頭與鐵磁性材料間的距離的轉(zhuǎn)變，該磁回路將不同程度的轉(zhuǎn)變，引起磁阻及探頭線圈電感的變化。利用這一原理可以準確地測量探頭與鐵磁性材料間的距離，即涂〔鍍〕層厚度。三、技術(shù)參數(shù)1、測量范圍： 0~1200um2、測量誤差： <3%±1um3、最小示值： 1um4、顯示方式： 4位液晶數(shù)字顯示5、主要功能：測量： 單探頭全量程測厚600以刪除存儲區(qū)內(nèi)的全部數(shù)據(jù)。讀： 讀出已存入的測量數(shù)據(jù)(5)(6)(7).蜂鳴提示：操作過程中有蜂鳴提示(9).關(guān)機：具有自動關(guān)機和手動關(guān)機兩種方式6、使用環(huán)境溫度：0℃~+40℃ 相對濕度：不大于90%四、應用方法1.5V按鍵名稱及作用時，為關(guān)機鍵。儀器在自動關(guān)機后應按此鍵開機?！癕ENU“鍵：為菜單鍵。D.“CAL“鍵：具有校準/去除功能。五、使用方法〔〕然后按動“ON/OFF”鍵〔探頭與鐵基或磁場的10cm測量數(shù)據(jù)偏差較大，可以進展校準后再測量。和外表粗糙度差異較大時，可以進展系統(tǒng)校準以保證測量準確度。鐵基校準〔零點校準〕相像。為了保證測量的準確性，可以在測量測試件之前先進展鐵基校準。校準方法：在儀器開機狀態(tài)下，將探頭垂直的放在被測試件的暴露基體上進展測量，測量兩次，測完其次次按住探頭不動按下“CAL“鍵，伴隨著兩聲蜂鳴即可完成鐵基的校兩點校準在測量過程當中，假設覺察個別測量值偏差較大可以通過兩點校準方法進展調(diào)整。校準方法：把一個厚度的被測試件作為標準樣片進展測量，假設顯示值與真實值11連續(xù)加、減，直到顯示值和真實值一樣為止。校準完成后即可進展正常測量。則操作無效。系統(tǒng)校準統(tǒng)校準。系統(tǒng)校準過程：在關(guān)機狀態(tài)下同時按住“ON/OFF“鍵和“MENU“鍵，先放開“ON/OFF“鍵然后放開“MENU“鍵即可進入系統(tǒng)校準模式。本系統(tǒng)校準共需要校準五個標準樣片，進入系統(tǒng)后首先顯示“鐵基“界面，此時要把探頭垂直的放到被測件的暴露基體上進展測量。測量兩次后假設測量沒有錯誤操作，伴隨著兩聲蜂鳴便進入第一個樣片的測量。屏幕顯示出廠時供給的第一個樣片值。假設“▼“鍵不動可以連續(xù)加或減，直到調(diào)整到顯示值和真實值一樣為止。調(diào)整完樣片值之后即可對第一個樣片進展測量，測量兩次無誤后，伴隨著兩聲蜂鳴，儀器進入下一個樣片的校準。假設測量兩次后仍無兩聲蜂鳴，說明操作有誤，重測量一次即可。接下來四個樣片的調(diào)整方法同上。A，儀器此時即完成了系統(tǒng)校準過程。以后就可以對被測件直接進展測量。的樣片作為標準片。樣片校準時要依據(jù)由小到大的挨次進展，相鄰樣片間應當有肯定的差值。系統(tǒng)校準時所選用的鐵基必需是平坦的而且30mm×30mm。進展系統(tǒng)恢復。系統(tǒng)初始化設置：“ON/OFF“鍵，直到屏幕顯示“OK系統(tǒng)校準狀態(tài)，依據(jù)系統(tǒng)校準的方法，校準完成后即可正常測量。在測量狀態(tài)下存儲.1054um，0005，顯示界面如圖示。屏顯結(jié)果只能被存儲一次，如需另外存儲可重測量。假設要從初始地址重開頭0001，即可開頭重儲存。設置菜單使用：什么狀態(tài)下按?。ENU＂鍵，儀器顯示四項功能菜單為：存儲讀出------打印-----通訊 統(tǒng)計，按“▲▼“鍵可調(diào)整箭頭的位置箭頭指向“存儲讀出“標志時按住“ENTER“鍵，儀器就進入存儲讀出狀態(tài)。、存儲讀出600數(shù)據(jù)。通過“▲▼“鍵可以把不同存儲單元中的內(nèi)容顯示出來。、打印首先把打印機預備好，把打印機插好連線，裝入打印紙，接上電源。此時紅燈綠燈都亮，假設是綠燈沒有亮，則按動打印機上的“SEL“鍵，綠燈亮起說明打印機已預備好。把打印機連線另一頭三針插頭依據(jù)套紅管插針插入儀器帶紅點一側(cè)的方向，插入儀器“PCI(3)、通訊訊“功能狀態(tài)時按“▲“鍵，儀器開頭通訊，長按“▼“鍵完畢通訊。(4)、統(tǒng)計示測量數(shù)據(jù)的最大值、最小值和平均值。在測量狀態(tài)下屏幕顯示為最測量值，儀器“S“后面顯示的數(shù)字是進入統(tǒng)計的數(shù)據(jù)個數(shù)，為保證888個數(shù)據(jù)。.....“0000μm”，即可重測量數(shù)據(jù)。在統(tǒng)計狀態(tài)下直接進展測量，儀器就自動返回到測量狀態(tài)。六、留意事項：精度。七、影響測量的假設干因素：基體金屬磁化：磁性法測量受基體金屬磁性變化的影響〔在實際應用中，低碳鋼磁。為了避開熱處理、冷加工等因素的影響，應使用與鍍件金屬具有一樣性質(zhì)的鐵基片上對儀器進展校對。受基體厚度的影響。測量是不行靠的。應在試件超過允許的曲率半徑的彎曲面上測量。外表會引起系統(tǒng)誤差和偶然誤差。每次測量時，在不同位置上增加測量的次數(shù)，抑制這種偶然誤差。假設基體金屬粗糙還必需在未涂覆的粗糙相類似的基體金屬試件上取幾個位置校對儀器的零點；或用沒有腐蝕性的溶液除去在基體金屬上的掩蓋層，再校對儀器零點。磁場：四周各種電氣設備所產(chǎn)生的強磁場，會嚴峻地干擾磁性測量厚度的工作。去除附著物質(zhì)，以保證探頭與掩蓋層外表直接接觸。探頭的放置：探頭的放置方式對測量有影響，在測量中使探頭與試樣外表保持垂直。試片的變形：探頭使軟掩蓋層試件變形，因此在這些試件上會消滅不太牢靠的數(shù)據(jù)。測量值，掩蓋層厚度的局部差異，也要求在給定的面積內(nèi)進展測量，外表粗糙時更應如此。八、維護與檢修儀器應防止潮濕、過熱和接觸腐蝕性氣體和液體。不