ITO導電玻璃檢驗標準

ITO導電玻璃檢驗標準公司內部編號：(GOOD-TMMT-MMUT-UUPTY-UUYY-DTTI-1.0范圍準準適用于正星光電科技有限公司生產的ITO產品。2.1JISB0601—1994表面微觀波紋度測量過程和方法的標準。2.2GB2828—2003計數(shù)抽樣檢驗程序[第一部分按照接收質量限(AQL)檢索的逐批檢驗抽樣計劃]。3.1長度及寬度的允許偏差、厚度允許偏差表序號檢驗項目標準范圍測量方法1長度/寬度±0.20mm數(shù)顯游標卡尺1.10mm±0.1mm0.70mm±0.05mm2厚度千分尺0.55mm±0.05mm0.4/0.33mm±0.05mm寬座角尺和塞3垂直度≤0.10%尺相應邊長)。3.3彎曲度(h/L)3.4微觀波紋度(玻璃的浮法錫面)序號1序號1彎曲度≤0.10%玻璃類型非強化≤0.15um/20mm非強化非強化非強化0.15%20.70mm≤0.2020.70mm0.15%30.55mm≤0.25um30.55mm0.4/033m4m3.5磨邊倒角:編號1234567b方浮標識角相同角崩邊破裂邊、角未磨非強化非強化標準要求a0.05mm≤W≤0.4mm寬度:0.1mm≤W≤1.0曲半徑:b=2.0±1.0mmc=5.0±1.0mm0.3*45°A=1.5±0.5mm長≤1mm,寬≤0.3mm不允許不允許≤0.30um/20mm檢驗方法包括內部氣泡、夾雜物、表面凹坑、異色點等。No12缺陷分類亮點、表面凹凸點、顆粒d=(W+L)/2片D>0.2mm,不允許.測量方法裸眼≥(30W光照條件3456789劃傷污染膜層針孔d=(L+W)/2毛邊.錫斑.霉手指印亮道劃傷.污漬.手指印.輪印顏色裂紋玻璃屑粘附力質量保證區(qū)W≤1mm,單個長度≤許.單個長度≤計;0.03mm≤W≤0.07mm,單個許;W>0.07mm,不允許.許.單個長度≤計;0.03mm≤W≤0.07mm,單個許;W>0.07mm,不允許.使用專用清洗劑經過正常清洗過程后清洗不干凈的沾污不片.05<d≤0.20mm最多10個/片批量性.表面看比較明顯不允許超出邊緣5mm，批量性可擦拭不允許偶爾1-2片日光燈不可見允許，批量性日光燈不可見不允日光燈檢驗有異色不允許不允許不允許不允許不允許不允許距離玻璃30cm(注：客戶有特別要要求為質量保證區(qū)域以外,即四周邊緣5mm以內區(qū)域除崩邊角,裂紋、毛邊較嚴重以外的其他種類缺高溫產品檢驗標準產品規(guī)格HTP500ΩXYTP500ΩTP500ΩTP400Ω90Ω80Ω0Ω40Ω400~500400~500正面60~120,反面180-300正面80~120,反面200-300400~500350~450100~15080~10070~9060~8040~6040~5030~4025~3020~2515~2013~1710~157~104~73~5透過率刻蝕時間膜厚120?±30?120?±30?正面:250?反面:150?正面:250?反面:150?120?±30?120?±30?220?±50?250?±50?250?±50?300?±50?350?±50?450?±50?500?±100?700?±100?800?±100?900?±150?200?200?2500?±200?3100?±400?顏色淡紫紅-淡藍色無色透明無色透明無色透明無色透明無色透明無色透明無色透明無色透明無色透明無色透明無色透明無色透明無色透明無色透明無色透明淡黃色-金黃色淡紫紅-紫紅色青藍色紫紅色綠色低溫產品檢驗標準產品規(guī)格電阻范圍Ω透過率刻蝕時間膜厚熱穩(wěn)□TFT≤1000500-700≥97%≤20S120±50?120℃烤1H≤Ω110%-150250±50?80-120300±50?80-100300±50?90Ω70-90300±50?80Ω60-80350±50?50-70400±100?80Ω40-80400±100?0Ω40-60400±100?40-50450±100?40Ω30-40600±200?20-30800±200?1500±500?ITO膜層可靠性實驗123蝕穩(wěn)耐堿性測試標準范圍Rt/R0≤300%Rt/R0≤110%Rt/R0≤110%Rt/R0≤110%檢驗方法刻蝕液成分：HCL：H2O：HNO3=50：50：3，刻蝕溫條件：烤烘溫度300℃30min(TN/STN)低溫ITO(OGS)條件：烤烘溫度150℃60min(XY)10%NaOH60℃5min45678耐酸性耐溶劑性耐磨性耐濕性9水煮3.9檢測方法操作Rt/R0≤110%Rt/R0≤110%無掉膜無開路Rt/R0≤110%膜層無開裂及脫落Na+≤ug/dm2,6%HCL，25℃2minIPA丙酮或酒精25℃5min帶粘玻璃3.9.1SiO阻擋性能水煮試驗(用于LCD產品,只做半年頻次檢測)2在96±2℃進行48小時水浴鍋,將試驗溶液裝好送外檢測,測量基片中遷移出來的鈉離子質量,若Na+質量M≤15ug/dm2,則SiO阻擋層試驗合格.23.9.2光學性能3.9.3SiO膜層厚度2SiO膜層厚度為250?±50?。(也可根據(jù)客戶要求而訂)23.9.4電學性能(做日頻次檢驗)3.9.5蝕刻性能測試(做日頻次檢驗)a)酸刻液配制:酸刻液按如下比例配置:H2O:HCL:HNO3=50:50:3(體積比),實際按純MLML6ML配制;將此刻蝕液入刻蝕燒杯度為55℃±2℃ITOc)不同規(guī)格的ITO導電膜玻璃經上面酸刻試驗,ITO導電膜層在刻蝕性能上滿足標為合格。3.9.6化學穩(wěn)定性測試(只做月頻次檢測)a)耐堿性(只做月頻次檢測)導電膜層方塊電阻值應不超過原方塊電阻值的110%..b)耐酸性(只做月頻次檢測)超過原方塊電阻值的110%.c)耐溶劑性能(只做月頻次檢測)在丙酮(分析純)、無水乙醇(分析純)或100份去離子水加3份EC101配制成的3.9.7附著力(只做周頻次檢測)用膠帶貼附在膜層表面并迅速撕下，ITO膜層無損傷,證明膜層附著力合格.3.9.8熱穩(wěn)定性(做日頻次檢測)在大氣狀態(tài)下放于300℃±30℃加熱爐中，恒溫加熱30分鐘后，在大氣中自然泠卻,ITO導電膜層方塊電阻值應不大于原方塊電阻值的300%。3.10公司采用GB2828.1-2003抽樣方法進行抽樣檢驗以迎合客戶的需要。抽樣檢驗的AQL值和IL值見下表。如果正星光電技術有限公司批量產品因品質問題在客戶處出現(xiàn)特采、退貨、換貨等情況，則客戶有權要求正星光電技術有限公司對產品在下表所示的抽檢標準的基礎上進行加嚴檢驗。No檢驗項目AQLIL1規(guī)格N=5R=1R/A2垂直度N=5R=1R/A3表面質量1.0一般I4翹曲度N=5R=1R/A5磨邊倒角N=5R=1R/A6平面度N=5R=1R/A7透過率N=5R=1R/A8面電阻1.0一般I9膜層性能N=5R=1R/A3.10.1本公司的測量設備經過周期檢定，可以追溯至國家標準或國際標準，以保證測量數(shù)據(jù)的準確性。3.10.2本公司對出廠的產品提供出廠檢驗報告，為客戶提供真實，準確的產品參數(shù)以方便4.1正星光電技術有限公司的產品使用標準包裝，可以根據(jù)客戶要求更換包裝。4.2包裝描述4.2.1玻璃與玻璃之間采用隔條間隔或采用拷貝紙間隔，以防止玻璃間的相互滑動造成劃44.2.1.2使用隔條間隔時，1.1mm、0.7mm、0.55mm、0.50mm、0.40mm規(guī)格均為10片每包，上下各放一張厚度不小于1.1mm的擋板玻璃(擋板玻璃確保磨邊無銳角)，用熱塑膜對玻璃進行包裹形成玻璃小包裝。4.2.2正星光電技術有限公司使用木箱包裝玻璃，木箱底層泡沫厚度不小于30mm，四周的泡沫厚度不小于30mm，中間的泡沫厚度不小于30mm，我司將小包裝裝入木箱。木箱保箱蓋不張開。4.2.3為了塞緊玻璃防止玻璃竄動，木箱的兩頭須用泡沫板塞緊。為防止玻璃受潮，木箱包裝內部須用塑料薄膜包裹玻璃小包裝，內包裝塑料薄膜必須用膠帶封口，且每箱4.3標識4.3.1我司用不干膠貼標識我司產品。玻璃小包裝側面大角處的熱縮膜上貼有該標識。標識顯示生產該包玻璃的規(guī)格，片數(shù)以及生產批號并有對應的檢驗員代碼。4.3.2我司在每次發(fā)貨時均提供給客戶《裝箱單》，貼在外裝箱上。內容包括箱號、規(guī)格、生產批號、及數(shù)量。4.3.3我司生產批號(LOTNo)解釋為：ZX1111030201002正星年月日班組檢驗員包號4.3.4ZX-XY2ITO-550A1/SG代表玻璃是強化玻璃(PSG代表拋光強化玻璃)代表玻璃厚度是1.1mm(B、0.7mmC、0.5mmD、0.55mmE、0.4mmF、0.33mm)尺寸是450*550代表型號是消影玻璃(TP、TN、HTP、STN、MOALMO)代表公司簡寫代碼5.0運輸和貯存5.1在運輸玻璃時為避免玻璃破損，應作到玻