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“隨機(jī)性”是核輻射測量的本質(zhì)屬性,輻射測量中涉及到的各種現(xiàn)象都是隨機(jī)的:為什么要討論統(tǒng)計規(guī)律?具有確定的半衰期和衰變規(guī)律但,能否準(zhǔn)確預(yù)知某個原子核何時衰變?兩個相鄰γ光子的時間間隔有多大?單位時間內(nèi)發(fā)出了多少射線?源發(fā)射射線:X/γ射線、中子與物質(zhì)發(fā)生相互作用是個概率事件。帶電粒子在介質(zhì)中損耗能量產(chǎn)生的電子-離子對的數(shù)目是不確定的。X/γ射線、中子與物質(zhì)發(fā)生相互作用產(chǎn)生次級帶電粒子(如電子、質(zhì)子),進(jìn)而發(fā)生電離形成的電子-離子對數(shù)目也是隨機(jī)的。探測器測量射線:放射源探測器1當(dāng)前1頁,總共94頁。過程的隨機(jī)性結(jié)果的統(tǒng)計性每次測量得到的結(jié)果都是有同有異的異結(jié)果(例如計數(shù)值)是不同的:100,99,103,98,100……當(dāng)然,偶爾也會有相同的結(jié)果同服從同樣的統(tǒng)計分布在同樣的測量條件下,不同次的測量結(jié)果之間存在的差異,稱之為統(tǒng)計漲落——fluctuation。統(tǒng)計漲落是輻射測量過程中的內(nèi)在屬性,是無法消除的。統(tǒng)計漲落決定了輻射測量過程精度的極限,實際的精度只能比這個精度差(因為還要再考慮其它客觀因素的影響)研究統(tǒng)計規(guī)律的意義:探測裝置是否正常?不同次測量,結(jié)果過分不一致,儀器可能不穩(wěn)定不同次測量,結(jié)果過分一致,也有問題“猜測”!如何理解測量結(jié)果——單次測量結(jié)果提供了什么信息?如何確定實驗條件,例如:為了測源的活度,測量時間應(yīng)為多久?2當(dāng)前2頁,總共94頁。輻射測量過程中的統(tǒng)計規(guī)律√§7.1 概率論基礎(chǔ)知識§7.2 核衰變數(shù)與探測器計數(shù)的漲落分布§7.3 電離過程的漲落與法諾(Fano)分布§7.4 粒子束脈沖的總電離電荷量的漲落§7.5 輻射粒子與信號的時間分布§7.6 計數(shù)統(tǒng)計誤差的傳遞§7.7 測量數(shù)據(jù)的檢驗3當(dāng)前3頁,總共94頁?!?.1 概率論基礎(chǔ)知識一些基本概念分布函數(shù)與數(shù)字表征幾種典型的概率分布隨機(jī)變量的運算與組合4當(dāng)前4頁,總共94頁。一.一些基本概念:隨機(jī)事件、概率和隨機(jī)變量隨機(jī)試驗:一定條件下的每次觀測。隨機(jī)事件:隨機(jī)試驗的各種結(jié)果。隨機(jī)變量:代表隨機(jī)事件的數(shù)量ξ。樣本:由N次測量中隨機(jī)變量的取值構(gòu)成:5當(dāng)前5頁,總共94頁。概率實驗的平均值:概率:描述在某種隨機(jī)試驗中的各個隨機(jī)事件出現(xiàn)的可能性出現(xiàn)事件A的次數(shù)總試驗次數(shù)事件A發(fā)生的概率6當(dāng)前6頁,總共94頁。隨機(jī)變量隨機(jī)變量可以分為兩類:離散型隨機(jī)變量:可取值是有限個或“可列個”分立的數(shù)值。該類型隨機(jī)變量用ξ表示,其可取值用xi表示。連續(xù)型隨機(jī)變量:可取值是整個數(shù)軸或某一區(qū)間內(nèi)的所有數(shù)值。連續(xù)型隨機(jī)變量及其可取值則用X和x表示。7當(dāng)前7頁,總共94頁。二.隨機(jī)變量的分布函數(shù)與數(shù)字表征離散型隨機(jī)變量ξ連續(xù)型隨機(jī)變量X可取值分布函數(shù)概率分布概率密度函數(shù)相互關(guān)系歸一性8當(dāng)前8頁,總共94頁。數(shù)字表征隨機(jī)變量有兩個重要的數(shù)字表征:數(shù)學(xué)期望方差數(shù)學(xué)期望:E(ξ)或E(X),簡稱為期望,又稱為平均值、均值。描述的是隨機(jī)變量的平均值。對于離散型隨機(jī)變量ξ,其數(shù)學(xué)期望的定義為:對于連續(xù)型隨機(jī)變量X,其數(shù)學(xué)期望的定義為:9當(dāng)前9頁,總共94頁。算術(shù)平均值:將若干次實驗中隨機(jī)變量所取的數(shù)值加在一起,再用實驗次數(shù)除后,得到的平均值成為算術(shù)平均值。算術(shù)平均值→數(shù)學(xué)期望:當(dāng)實驗次數(shù)無限增加時,算術(shù)平均值將無限的接近數(shù)學(xué)期望。10當(dāng)前10頁,總共94頁。方差、均方根偏差方差:D(ξ)或D(X),描述的是隨機(jī)變量偏離其均值的程度。在應(yīng)用中引入與隨機(jī)變量具有相同量綱的量,它是方差的平方根,稱為標(biāo)準(zhǔn)差、均方根偏差,記作:對于離散隨機(jī)變量ξ,其方差D(ξ)為:對于連續(xù)型隨機(jī)變量X,其方差D(X)為:11當(dāng)前11頁,總共94頁。相對均方偏差相對均方偏差在實用中,我們會經(jīng)常用到相對均方偏差(與以后將要學(xué)習(xí)到的能量分辨率有關(guān)),也稱為相對均方漲落。相對均方偏差:相對均方根偏差:方差反映的是隨機(jī)變量在絕對意義上的分布離散程度。相對方差反映的是隨機(jī)變量在相對意義上的分布離散程度。12當(dāng)前12頁,總共94頁。相對均方根偏差(示例)期望值:400實測平均值:401.16均方根偏差:20.68相對均方根偏差:5.17%期望值:100實測平均值:100.54均方根偏差:9.66相對均方根偏差:9.66%√相對離散度小,測量結(jié)果更精確哪個結(jié)果更精確13當(dāng)前13頁,總共94頁。一些相似概念的區(qū)分偏差(deviation)和殘差(residual)偏差殘差期望值平均值當(dāng)真值未知的情況下,一般以殘差代替偏差。14當(dāng)前14頁,總共94頁。準(zhǔn)確度與精密度準(zhǔn)確度(accuracy)測量值與被測對象真值的一致程度。可用測量值的平均值與真值的差來描述。精密度(precision)測量的可重復(fù)性或可靠性。可用測量的均方偏差來描述。2008北京:4.4環(huán)2004雅典:脫靶(普拉納爾)埃蒙斯15當(dāng)前15頁,總共94頁。系統(tǒng)誤差與偶然誤差系統(tǒng)誤差(systematicerrors)由于:儀器本身的不準(zhǔn)確或?qū)嶒灧椒ù致曰驅(qū)嶒炘聿煌晟贫鴮?dǎo)致的測量值與實際值之間的誤差。系統(tǒng)誤差難于發(fā)現(xiàn)。無法通過統(tǒng)計的方法來進(jìn)行分析,因為所有的數(shù)據(jù)都同時偏大或者偏小。偶然誤差(randomerrors)由于各種偶然因素對:實驗者測量儀器測量對象的物理量構(gòu)成影響而導(dǎo)致的測量誤差。利用大量的實驗數(shù)據(jù),可以實現(xiàn)對偶然誤差的統(tǒng)計分析。偶然誤差可以對通過對大量測量值進(jìn)行平均的方法來進(jìn)行削弱。所有的實驗結(jié)果都有系統(tǒng)誤差和偶然誤差的問題!16當(dāng)前16頁,總共94頁。系統(tǒng)誤差影響測量的準(zhǔn)確度偶然誤差影響測量的精密度在核輻射的測量中,偶然誤差是一項主要的誤差,其來源有二:核事件的隨機(jī)性導(dǎo)致的統(tǒng)計漲落;測量儀器在正常工作條件下的測量誤差;其中,統(tǒng)計漲落是由核事件的內(nèi)在物理屬性所決定的,無法消除。關(guān)于偶然誤差17當(dāng)前17頁,總共94頁。三.幾種常用的概率分布在本課程中將會遇到的幾種概率分布:二項分布(BinomialDistribution)泊松分布(PoissonDistribution)高斯分布(GaussianDistribution)
或者稱為
正態(tài)分布(NormalDistribution)伯努力試驗(Bernoullitrial)18當(dāng)前18頁,總共94頁。伯努力試驗伯努力試驗(Bernoullitrial)一次試驗,其結(jié)果只有兩種可能,A和A’:例如:投擲硬幣,正面朝上還是背面朝上?新生的嬰兒,是男孩還是女孩?蚊子在經(jīng)受殺蟲劑后是否會死掉?一個原子核在經(jīng)過時間T之后,是否發(fā)生了衰變?衰變的概率:p沒有衰變的概率:1-p將這樣的試驗重復(fù)做N次,如果各次試驗的結(jié)果互不影響,就得到了N重伯努力試驗。19當(dāng)前19頁,總共94頁。伯努力試驗、二項分布N重伯努力試驗:數(shù)學(xué)期望:……t=012Nt=T123x-1xp……方差:當(dāng)p很小時,方差:x的取值范圍為:x=n的概率為:若每個原子核在T時間后發(fā)生衰變的概率為p以x表示在T時間后發(fā)生衰變的原子核的數(shù)目,則:二項分布20當(dāng)前20頁,總共94頁。二項分布、泊松分布若N很大(≥100),p很小(≤0.01)時:N很大p很小N>>n二項分布→泊松分布二項分布的期望值21當(dāng)前21頁,總共94頁。泊松分布泊松分布只有一個參數(shù),即數(shù)學(xué)期望值m方差:m均方根偏差:不同期望值的泊松分布22當(dāng)前22頁,總共94頁。高斯分布當(dāng)m>>1時,泊松分布可以簡化為高斯分布泊松分布高斯分布23當(dāng)前23頁,總共94頁。例題源發(fā)射粒子的數(shù)目服從泊松分布,用泊松分布來做的難處是什么?24當(dāng)前24頁,總共94頁。例題解:所求概率當(dāng)K=1,2,3時,相應(yīng)的概率分別為0.683,0.955,0.99725當(dāng)前25頁,總共94頁。四.隨機(jī)變量的運算與組合復(fù)雜隨機(jī)變量往往可以分解為由若干簡單的隨機(jī)變量運算、組合而成??捎靡阎暮唵坞S機(jī)變量的分布函數(shù)與數(shù)字表征來求復(fù)雜隨機(jī)變量的分布函數(shù)和數(shù)字表征。26當(dāng)前26頁,總共94頁。相互獨立隨機(jī)變量的運算組合設(shè)隨機(jī)變量Y=f(X1,X2,...,Xi,...,Xn)是若干隨機(jī)變量X1,X2,...,Xi,...,Xn的函數(shù),其函數(shù)的表達(dá)形式可以是這些變量的四則運算,也可能是更復(fù)雜的函數(shù)形式;Y的可取值及其概率分布是受各Xi的可取值和概率分布共同決定的。一般來說,Y的概率分布是比較復(fù)雜的;一些簡單情況下Y與Xi的概率分布或數(shù)字表征之間的關(guān)系:相互獨立的隨機(jī)變量的和與差的方差是各隨機(jī)變量的方差的和。相互獨立的隨機(jī)變量的積的方差并非是各隨即變量的方差的積。相互獨立的服從泊松分布的隨機(jī)變量之差常數(shù)不服從泊松分布服從和27當(dāng)前27頁,總共94頁。示例28當(dāng)前28頁,總共94頁。串級(或級聯(lián))隨機(jī)變量設(shè)對應(yīng)于試驗條件組A定義一個隨機(jī)變量1對應(yīng)于另一試驗條件組B定義另一隨機(jī)變量2且二者相互獨立按以下規(guī)則定義一個新的隨機(jī)變量:輻射測量中經(jīng)常會遇到級聯(lián)、倍增過程的漲落問題這些問題可以用串級型隨機(jī)變量的概念及運算規(guī)則來處理。29當(dāng)前29頁,總共94頁。再按條件組B作1i次試驗,實現(xiàn)了隨機(jī)變量2的1i個可取值;什么是串級隨機(jī)變量?先按條件組A作一次試驗,實現(xiàn)了隨機(jī)變量1的一個可取值1i;將這些可取值加起來得到一個值i,并將此值定義為一個新的隨機(jī)變量的一個可取值;這里,隨機(jī)變量為隨機(jī)變量1與2的“串級”隨機(jī)變量。1為此串級隨機(jī)變量的第一級2為此串級隨機(jī)變量的第二級30當(dāng)前30頁,總共94頁。串級隨機(jī)變量的特點(1)期望值:(2)方差:(3)相對方差:重要結(jié)論:假如第一級隨機(jī)變量的數(shù)學(xué)期望很大,那么就可以忽略第二級隨機(jī)變量的相對方差對串級隨機(jī)變量的相對方差的貢獻(xiàn)。注意這里!31當(dāng)前31頁,總共94頁。串級隨機(jī)變量的特點(4)由兩個伯努利型隨機(jī)變量1和2串級而成的隨機(jī)變量
仍是伯努利型隨機(jī)變量。即
仍是只有兩個可取值(0,1)的伯努利型隨機(jī)變量。
(5)由遵守泊松分布的隨機(jī)變量1與伯努利型隨機(jī)變量2串級而成的隨機(jī)變量
仍遵守泊松分布。若伯努利型隨機(jī)變量1
的正結(jié)果發(fā)生概率為
p1,2
的正結(jié)果發(fā)生概率為
p2,則
正結(jié)果發(fā)生概率為:設(shè)1的平均值為m1,而2的正結(jié)果發(fā)生概率為p2,則
的平均值為:32當(dāng)前32頁,總共94頁。串級隨機(jī)變量的特點對N個相互獨立的隨機(jī)變量1,2…
,N串級而成的N級串級隨機(jī)變量,有:可以得到什么啟示?串級隨機(jī)變量的相對均方偏差主要決定于第一級隨機(jī)變量的相對誤差。(成立條件是什么?)閃爍體的分辨率,與PMT陽極收集到的電子數(shù)NA有關(guān),NA是三級串級變量:閃爍光子數(shù)nph對每個閃爍光子PMT第一打拿極收集到的電子數(shù)TPMT的倍增系數(shù)M33當(dāng)前33頁,總共94頁?!獭?.1 概率論基礎(chǔ)知識§7.2 核衰變數(shù)與探測器計數(shù)的漲落分布§7.3 電離過程的漲落與法諾(Fano)分布§7.4 粒子束脈沖的總電離電荷量的漲落§7.5 輻射粒子與信號的時間分布§7.6 計數(shù)統(tǒng)計誤差的傳遞§7.7 測量數(shù)據(jù)的檢驗34當(dāng)前34頁,總共94頁?!?.2 核衰變數(shù)與探測器計數(shù)的漲落分布核衰變數(shù)的漲落放射性測量的統(tǒng)計誤差35當(dāng)前35頁,總共94頁。一.核衰變數(shù)的漲落放射性衰變是一種隨機(jī)過程,放射性衰變規(guī)律為:在0~t
時間內(nèi),原來N0個放射性核中,發(fā)生了衰變的核的平均數(shù)為:當(dāng)N0很大時,對一個核而言,它在0~t時間內(nèi)發(fā)生衰變的概率為:36當(dāng)前36頁,總共94頁。每一個放射性原子核在時間t內(nèi)發(fā)生衰變是一個概率事件。是伯努力事件!發(fā)生衰變的概率:不發(fā)生衰變的概率:N0個原子核,彼此之間相互獨立,則發(fā)生的衰變是N0重伯努力事件,總衰變原子核數(shù)N服從二項分布。37當(dāng)前37頁,總共94頁。例如137Cs源:半衰期為30.17年在有限的時間t(秒、分、小時、天)范圍內(nèi),滿足二項分布→泊松分布的兩個條件:p很?。骸?.01N0很大:≥100所以,在
t
時間內(nèi)發(fā)生的總衰變數(shù)N服從泊松分布!對于長壽命核素構(gòu)成的放射源衰變常數(shù)很小總原子核數(shù)目很大10μCi的源,總的原子核數(shù)目N0為:5.1×1014個38當(dāng)前38頁,總共94頁。總衰變數(shù)N服從泊松分布:N的期望值:N的方差:泊松分布:“期望值”=“方差”當(dāng)總衰變數(shù)N較大時,泊松分布→高斯分布源的活度較大,即N0較大時間t延長39當(dāng)前39頁,總共94頁。二.放射性測量的統(tǒng)計誤差放射性核衰變具有統(tǒng)計分布探測器輸出計數(shù)的統(tǒng)計分布輻射探測數(shù)據(jù)的統(tǒng)計誤差射線與物質(zhì)相互作用過程的隨機(jī)性因此在某個測量時間內(nèi)對樣品進(jìn)行測量得到的計數(shù)值同樣是一個隨機(jī)變量40當(dāng)前40頁,總共94頁。探測器輸出脈沖數(shù)的統(tǒng)計分布脈沖探測器的特點:輸出脈沖數(shù)t時間內(nèi)射入探測器的粒子數(shù)放射源在t時間內(nèi)發(fā)射出的總粒子數(shù)脈沖計數(shù)器的測量過程可以劃分為三個基本過程en3為一個三級串級型隨機(jī)變量。源的發(fā)射粒子數(shù)n1:0~t時間段內(nèi),n1服從泊松分布進(jìn)入探測器的粒子數(shù)n2:n2亦服從泊松分布被探測器測到的粒子數(shù)n3:n3服從泊松分布Ωγ未被探測到4π-Ω未射入探測器的γ若源非各向同性,結(jié)論依然成立,只是立體角因子要做修正41當(dāng)前41頁,總共94頁。結(jié)論:放射源在t時間內(nèi)發(fā)射的粒子數(shù)n1遵守泊松分布探測器相應(yīng)的輸出脈沖數(shù)n3也遵守泊松分布探測器輸出脈沖數(shù)的平均值為源發(fā)射的平均粒子數(shù)與幾何因子及探測器效率之積如果源非各向同性,上述結(jié)論仍然成立,只是立體角(幾何)因子需要進(jìn)行調(diào)整探測器輸出脈沖數(shù)的統(tǒng)計分布42當(dāng)前42頁,總共94頁。輻射探測數(shù)據(jù)的統(tǒng)計誤差粒子計數(shù)——探測器輸出的脈沖信號數(shù)目服從統(tǒng)計分布:m較?。骸此煞植糾較大:~高斯分布方差為m當(dāng)m比較大時,m與有限次測量值的平均值或者單次測量值N相差不大。則對標(biāo)準(zhǔn)偏差的估計可以如下進(jìn)行:注意:這里表示的標(biāo)準(zhǔn)偏差僅僅由統(tǒng)計漲落引起,不包含其它因素引起的標(biāo)準(zhǔn)偏差。43當(dāng)前43頁,總共94頁。樣本方差是總體方差的無偏估計,可以由樣本方差來估計有限次測量的方差σS不僅包括統(tǒng)計誤差,也反映了測量過程中其它偶然因素的貢獻(xiàn),可用于數(shù)據(jù)檢驗:若計數(shù)測量結(jié)果遵從泊松分布,則可以表示為:任意一次測量值ni落在區(qū)間內(nèi)的概率為68.3%置信區(qū)間置信度在測量過程中:以相對標(biāo)準(zhǔn)偏差來表示測量值的離散程度:44當(dāng)前44頁,總共94頁。示例請大家作一個估算:欲使探測器計數(shù)測量值的相對均方根偏差(反映數(shù)據(jù)的精度)達(dá)到20%,10%,1%,計數(shù)的測量值分別應(yīng)該達(dá)到多少?計數(shù)的測量值分別應(yīng)為:25,100,10000為了提高探測器計數(shù)的測量精度,應(yīng)該怎么辦?增大立體角增大探測器的探測效率(本征)增大源強(qiáng)延長測量時間45當(dāng)前45頁,總共94頁?!獭?.1 概率論基礎(chǔ)知識§7.2 核衰變數(shù)與探測器計數(shù)的漲落分布§7.3 電離過程的漲落與法諾(Fano)分布§7.4 粒子束脈沖的總電離電荷量的漲落§7.5 輻射粒子與信號的時間分布§7.6 計數(shù)統(tǒng)計誤差的傳遞§7.7 測量數(shù)據(jù)的檢驗46當(dāng)前46頁,總共94頁。電離過程的漲落與法諾(Fano)分布帶電粒子射入物質(zhì)與原子的核外電子發(fā)生非彈性碰撞電離過程的漲落:“電子-正離子”對(氣體)“電子-空穴”對(半導(dǎo)體)通過庫侖力使之電離碰撞是隨機(jī)性的N次碰撞,N很大,形成的離子對數(shù)目為:每次碰撞都是一個伯努力試驗:形成離子對或不形成,概率為E0:入射帶電粒子能量W:產(chǎn)生一個離子對所需能量。是泊松分布嗎?產(chǎn)生的離子對的數(shù)目是有漲落的N重伯努力試驗二項分布泊松分布47當(dāng)前47頁,總共94頁。前述模型比較粗略,并不準(zhǔn)確這種電離過程漲落的分布稱之為:法諾分布總的碰撞次數(shù)是不確定的碰撞過程是不獨立的碰撞產(chǎn)生的總離子對數(shù)目并不能簡單地用泊松分布來表達(dá)引入法諾因子(Fanofactor)UgoFanoBornJuly28,1912
Turin,ItalyDiedFebruary13,2001
Chicago,Illinois每次碰撞時所導(dǎo)致的離子對的動能也是不同的僅僅激發(fā),沒有電離。電離,離子對的動能是不同的。電離出的電子可以再次發(fā)生電離。48當(dāng)前48頁,總共94頁。IonizationYieldofRadiations.II.TheFluctuationsoftheNumberofIons,U.Fano(1947)快電子與介質(zhì)原子的每次碰撞過程中,可能發(fā)生的三種情況的能量損失是不同的:激發(fā)而不電離電離,但只能發(fā)生一次電離,且次級電子也可以發(fā)生電離這三種反應(yīng)各有其相應(yīng)的反應(yīng)截面:法諾因子F的范圍:1/3~1/2(氣體)0.1~0.15(半導(dǎo)體)不同材料的Fanofactor不同,需要依靠實驗來測定。離子對數(shù)損失能量平均電離能入射粒子連續(xù)碰撞的結(jié)果之間是相互獨立的。Fano因子Fano的結(jié)果對于H:F~0.47:100kV電子F~0.43:1kV電子49當(dāng)前49頁,總共94頁?!獭?.1 概率論基礎(chǔ)知識§7.2 核衰變數(shù)與探測器計數(shù)的漲落分布§7.3 電離過程的漲落與法諾(Fano)分布§7.4 粒子束脈沖的總電離電荷量的漲落§7.5 輻射粒子與信號的時間分布§7.6 計數(shù)統(tǒng)計誤差的傳遞§7.7 測量數(shù)據(jù)的檢驗50當(dāng)前50頁,總共94頁?!?.4粒子束脈沖的總電離電荷量的漲落探測器有三種主要的工作方式:脈沖型工作方式(對單個粒子進(jìn)行探測)通過脈沖探測器對逐個輻射粒子進(jìn)行探測測得的信號與單個入射粒子相對應(yīng)脈沖計數(shù)的個數(shù)與入射的粒子數(shù)對應(yīng)單個輸出信號的幅度反映入射粒子的能量累計型工作方式(粒子束脈沖)粒子束脈沖在探測器內(nèi)產(chǎn)生的總電離效果,形成一個大脈沖脈沖幅度與粒子束內(nèi)粒子數(shù)和能量有關(guān)。累計型工作方式(穩(wěn)定粒子束流)穩(wěn)定粒子束流在探測器內(nèi)產(chǎn)生的平均電離效應(yīng)。又稱電流型工作方式。輸出一個直流電流(電壓)信號,該信號的大小一般正比于粒子束流的大小。集裝箱檢測系統(tǒng)的探測器就是工作在粒子束脈沖的累計型工作方式。51當(dāng)前51頁,總共94頁。討論粒子束脈沖(累計型)總電離電荷量的漲落問題高能物理領(lǐng)域輻射成像領(lǐng)域電子束電子靶入射X射線脈沖被檢測物體透射X射線脈沖輸出信號探測器eeee以集裝箱檢測系統(tǒng)為例:9MeV電子加速器軔致輻射(回想第6章)100mA,5μs持續(xù)時間3.1×1012個X光子/脈沖立體角:>2.86×10-8(4π)源探距離:10米探測器:6mm×6mm射入探測器的X光子為:n1=8.9×104個X光子/脈沖n1:被探測器測量的光子數(shù)目,是個隨機(jī)變量,泊松分布n1n2n2:每個被探測到的光子在探測器內(nèi)產(chǎn)生的離子對數(shù)目,服從法諾分布。εε:探測器對入射光子的本征探測效率。NN:粒子束脈沖在探測器內(nèi)形成的離子對數(shù)目,與輸出信號幅度成正比粒子束脈沖的總電離電荷量的漲落52當(dāng)前52頁,總共94頁。n1in2j輸出信號N輸出信號N是n1和n2的串級型隨機(jī)變量其總離子對數(shù)平均值相對標(biāo)準(zhǔn)偏差若n1服從泊松分布,n2服從法諾分布53當(dāng)前53頁,總共94頁?!獭?.1 概率論基礎(chǔ)知識§7.2 核衰變數(shù)與探測器計數(shù)的漲落分布§7.3 電離過程的漲落與法諾(Fano)分布§7.4 粒子束脈沖的總電離電荷量的漲落§7.5 輻射粒子與信號的時間分布§7.6 計數(shù)統(tǒng)計誤差的傳遞§7.7 測量數(shù)據(jù)的檢驗54當(dāng)前54頁,總共94頁?!?.5輻射粒子與信號的時間分布相鄰信號脈沖(或粒子)的時間間隔相鄰“進(jìn)位脈沖”的時間間隔55當(dāng)前55頁,總共94頁。一.相鄰兩個信號脈沖的時間間隔核輻射事件及探測器的計數(shù)服從泊松分布單位時間內(nèi)的脈沖數(shù)具有期望值m相鄰兩個脈沖的時間間隔T是一連續(xù)型隨機(jī)變量T服從什么樣的分布呢?對于一個平均計數(shù)率為m的情況,其脈沖間的平均時間間隔是多少?單位時間m個信號T:服從什么分布?m個信號(周期信號)tt時間內(nèi)出現(xiàn)脈沖數(shù)為n的概率為:泊松分布脈沖的時間序列56當(dāng)前56頁,總共94頁。兩個相鄰脈沖時間間隔為t的條件:于是有:所以,隨機(jī)變量T的概率密度函數(shù)為:即:0時刻tt+dt0~t…無信號…在第一個脈沖發(fā)生后的t時間內(nèi)沒有脈沖發(fā)生;在t后的dt時間內(nèi)有一個脈沖發(fā)生。57當(dāng)前57頁,總共94頁。相鄰兩個脈沖時間間隔T服從指數(shù)分布。1/mm/em期望值:方差:表明:第二個脈沖出現(xiàn)在短時間內(nèi)的概率較大。58當(dāng)前58頁,總共94頁。下一個信號什么時候到來?前面講到的是兩個相鄰信號之間的時間間隔分布(實驗員一直在監(jiān)視、記錄著所有信號)。實驗員開始觀察實驗員開始觀察Ts:服從什么分布?T:服從指數(shù)分布服從同樣的指數(shù)分布閱讀:RadiationDetectionandMeasurementP.98如果選擇任意一個時間開始觀察,那么下一個信號什么時候到來呢(實驗員一覺醒來,什么時候能等到下一個信號呢)?59當(dāng)前59頁,總共94頁。下一個信號“馬上”就來!——你會擔(dān)心什么?測量系統(tǒng)對入射粒子的有響應(yīng)時間,叫做分辨時間。要控制計數(shù)損失<1%,允許計數(shù)率m<1104cps。對分辨時間為1s的系統(tǒng),要實現(xiàn)控制計數(shù)損失<3%
:即分辨時間為1s的測量系統(tǒng)只能記錄37%的脈沖!對平均計數(shù)率為m=106cps的輻射事件相鄰事件的時間間隔大于1μs的概率:60當(dāng)前60頁,總共94頁。要控制計數(shù)損失<1%,允許的測量系統(tǒng)的最大分辨時間T為:對平均計數(shù)率為m=10ncps的輻射事件,要實現(xiàn)控制計數(shù)損失<3%
,求允許的測量系統(tǒng)的最大分辨時間T為:若測量系統(tǒng)的分辨時間T為10-(n+1),則能記錄的脈沖為:61當(dāng)前61頁,總共94頁。在計數(shù)率比較高的時候,需要使用具有進(jìn)位系數(shù)S的定標(biāo)器來記錄探測器的輸出。此時,定標(biāo)器每接受來自探測器的S個信號以后,才會產(chǎn)生一個定標(biāo)器信號脈沖,稱作進(jìn)位脈沖。0時刻tt+dt0~tS-1個信號二.相鄰進(jìn)位脈沖的時間間隔設(shè)進(jìn)位率為S,則相鄰進(jìn)位脈沖的時間間隔為t的條件為:(1)在第一個脈沖發(fā)生后的t時間內(nèi)有S-1脈沖發(fā)生;(2)在t后的dt時間內(nèi)有一個脈沖發(fā)生。進(jìn)位脈沖探測器“電信號”62當(dāng)前62頁,總共94頁。相鄰進(jìn)位脈沖時間間隔T的概率密度函數(shù)為:T的期望值:T的方差:T的最可幾取值,令:0~t時刻來S-1個信號的概率t~t+dt時刻來1個信號的概率63當(dāng)前63頁,總共94頁。64當(dāng)前64頁,總共94頁?!獭?.1 概率論基礎(chǔ)知識§7.2 核衰變數(shù)與探測器計數(shù)的漲落分布§7.3 電離過程的漲落與法諾(Fano)分布§7.4 粒子束脈沖的總電離電荷量的漲落§7.5 輻射粒子與信號的時間分布§7.6 計數(shù)統(tǒng)計誤差的傳遞§7.7 測量數(shù)據(jù)的檢驗65當(dāng)前65頁,總共94頁?!?.6計數(shù)統(tǒng)計誤差的傳遞在一般的核測量中,常涉及函數(shù)的統(tǒng)計誤差的計算,也就是誤差傳遞(ErrorPropagation)。若是相互獨立的隨機(jī)變量,其標(biāo)準(zhǔn)偏差相應(yīng)為,由這些隨機(jī)變量導(dǎo)出的任何量的標(biāo)準(zhǔn)偏差可以用下面公式求出:下面分析一些常見情況:66當(dāng)前66頁,總共94頁。(1)和差關(guān)系67當(dāng)前67頁,總共94頁。輻射測量中,本底總是存在的。本底包括宇宙射線、環(huán)境中的天然放射性及儀器噪聲等。這時,為求得凈計數(shù)需要進(jìn)行兩次測量:樣品的凈計數(shù)為其標(biāo)準(zhǔn)偏差為例如:存在本底時凈計數(shù)誤差的計算第一次,沒有樣品,在時間t內(nèi)測得本底的計數(shù)為Nb;第二次,放上樣品,在相同時間內(nèi)測得樣品和本底的總計數(shù)為Ns。68當(dāng)前68頁,總共94頁。(2)倍數(shù)關(guān)系或69當(dāng)前69頁,總共94頁。例如,計數(shù)率的誤差:設(shè)在t時間內(nèi)記錄了N個計數(shù),則計數(shù)率為n=N/t,計數(shù)率的標(biāo)準(zhǔn)偏差為:其相對標(biāo)準(zhǔn)偏差為:沒有t?70當(dāng)前70頁,總共94頁。(3)乘除關(guān)系或71當(dāng)前71頁,總共94頁。(4)平均計數(shù)的統(tǒng)計誤差對某樣品重復(fù)測量k次,每次測量時間t相同(等精度測量),得到k個計數(shù)則在時間t內(nèi)的平均計數(shù)值為:由誤差傳遞公式,平均計數(shù)值的方差為:72當(dāng)前72頁,總共94頁。多次重復(fù)測量結(jié)果表達(dá):平均計數(shù)的相對標(biāo)準(zhǔn)偏差:t沒有顯性出現(xiàn)?73當(dāng)前73頁,總共94頁。(5)不等精度獨立測量值的平均簡單的求平均不再合理!需要進(jìn)行加權(quán)平均使測量精度高的數(shù)據(jù)在求平均值時的貢獻(xiàn)大,精度低的貢獻(xiàn)小。?如何確定一個合適的權(quán)重因子不等精度測量:例如:對計數(shù)率進(jìn)行了k次獨立測量各次測量的時間并不相同,分別為ti,計數(shù)為Ni得到不同的ni74當(dāng)前74頁,總共94頁。先求各次測量的計數(shù)率及方差:可以設(shè)各次測量的權(quán)重為:設(shè)可以證明這是最佳權(quán)重方式75當(dāng)前75頁,總共94頁。計數(shù)率的加權(quán)平均值為:標(biāo)準(zhǔn)偏差為:相對標(biāo)準(zhǔn)偏差為:t沒有顯性出現(xiàn)?76當(dāng)前76頁,總共94頁。結(jié)果表示為:如果k次測量的時間均相等,則測量為等精度測量:
重要結(jié)論:就統(tǒng)計誤差而言,無論是一次測量還是多次測量,只要總的計數(shù)相同,多次測量的平均計數(shù)率相對誤差和一次測量的計數(shù)率的相對誤差是一致的。77當(dāng)前77頁,總共94頁。示例:不等精度下的加權(quán)平均測量時間(秒)12345678910計數(shù)13253735488078799682計數(shù)率(cps)1312.512.38.759.613.311.19.8810.78.2測量時間(秒)11121314151617181920計數(shù)103115133114154182177175195198計數(shù)率(cps)9.369.5810.28.1410.311.410.49.7210.39.9計數(shù)率的簡單平均結(jié)果:10.43cps計數(shù)率的加權(quán)平均結(jié)果:10.09cps進(jìn)行一次不等精度測量的模擬實驗:在模擬實驗中,計數(shù)率的期望值為:10cps20次測量,測量時間分別為1,2,3,……,20秒,總測量時間為210秒。78當(dāng)前78頁,總共94頁。加權(quán)平均:計算所得期望值:10cps標(biāo)準(zhǔn)偏差:0.22cps簡單平均:計算所得期望值:10cps標(biāo)準(zhǔn)偏差:0.30cps進(jìn)行10000次模擬實驗,利用簡單平均和加權(quán)平均得到的計數(shù)率結(jié)果為:示例:不等精度下的加權(quán)平均79當(dāng)前79頁,總共94頁。(6)存在本底時凈計數(shù)率誤差的計算第一次,在時間tb內(nèi)測得本底的計數(shù)為Nb;第二次,在時間ts內(nèi)測得樣品和本底的總計數(shù)為Ns。樣品的凈計數(shù)率為:標(biāo)準(zhǔn)偏差為:相對標(biāo)準(zhǔn)偏差為:80當(dāng)前80頁,總共94頁。(B)有本底存在時,需要合理分配樣品測量時間ts和本底測量時間tb(A)不考慮本底的影響根據(jù):(7)測量時間的選擇81當(dāng)前81頁,總共94頁。為在規(guī)定的總測量時間T=ts+tb內(nèi)使測量結(jié)果的誤差最小。得到:該條件下的相對方差為據(jù)此,在相對標(biāo)準(zhǔn)偏差給定的情況下,所需最小測量
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