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第六章光電檢測(cè)器與光接受機(jī)光電檢測(cè)器:用于光信號(hào)的檢測(cè)或探測(cè)。通常置于通信系統(tǒng)的接受端或傳輸光纖的末端。光電監(jiān)測(cè)器+控制電路→光接收機(jī)6.1光電檢測(cè)器6.1.1PIN光電二極管PN結(jié)光電效應(yīng):光→電流光電監(jiān)測(cè)器原理:直接測(cè)量光電效應(yīng)產(chǎn)生的電流,再通過(guò)計(jì)算得到光的強(qiáng)度。PN結(jié)光電效應(yīng)NPLight_+----++++----多數(shù)載流子:受到PN結(jié)勢(shì)壘阻擋不形成電流少數(shù)載流子:形成漂移(暗)電流,但很小光——PN結(jié)區(qū)受激吸收——光生電子空穴對(duì)強(qiáng)PN結(jié)反向電場(chǎng):電子N,空穴P,形成光電流反向偏置:反向暗電流很小光照時(shí)電流主要為光生電流++++光電二極管:將光信號(hào)變成電信號(hào)的半導(dǎo)體器件。核心:PN結(jié)比較于普通二極管:結(jié)構(gòu):PN結(jié)面積大--入射光照射面積大,電極面積小+PN結(jié)的結(jié)深很淺(一般小于1微米)注意:光電二極管--反向電壓下工作。沒(méi)有光照時(shí),也有反向電流--暗電流(小于0.1微安)。光電二極管在一般照度的光線照射下,所產(chǎn)生的電流叫光電流。如果在外電路上接上負(fù)載,負(fù)載上就獲得了電信號(hào),而且這個(gè)電信號(hào)隨著光的變化而相應(yīng)變化。光電二極管Aschematicdiagramofareversebiasedpnjunctionphotodiode.Netspacechargeacrossthediodeinthedepletionregion.NdandNaarethedonorandacceptorconcentrationsinthepandnsides.Thefieldinthedepletionregion.p+SiO2Electrodernet-eNaeNdxxE(x)REmaxe-h+Iphhu
>EgWEnDepletionregion(a)(b)(c)AntireflectioncoatingVrElectrodeVout光電效應(yīng)方程禁帶寬度入射光能量電子動(dòng)能工作波長(zhǎng)截止波長(zhǎng):最大波長(zhǎng)短波長(zhǎng)極限:半導(dǎo)體材料對(duì)光的吸收
光電二極管除了有上截止波長(zhǎng)外,還有下截止波長(zhǎng)。當(dāng)入射光波長(zhǎng)太短時(shí),光電轉(zhuǎn)換效率也會(huì)大大下降,這是因?yàn)椴牧蠈?duì)光的吸收系數(shù)是波長(zhǎng)的函數(shù)(下頁(yè)圖)。當(dāng)入射波長(zhǎng)很短時(shí),材料對(duì)光的吸收系數(shù)變得很大,結(jié)果使大量的入射光子在光電二極管的表面層里被吸收。因此,某種材料制作的光電二極管對(duì)光波長(zhǎng)的響應(yīng)有一定的范圍。Si光電二極管的波長(zhǎng)響應(yīng)范圍為0.5-1.0μm,適用于短波長(zhǎng)波段;Ge和InGaAs光電二極管的波長(zhǎng)響應(yīng)范圍為1.1-1.6μm,適應(yīng)于長(zhǎng)波長(zhǎng)波段。1.61.8Wavelength(mm)In0.53Ga0.47AsGeSiIn0.7Ga0.3As0.64P0.36InPGaAsa-Si:H12341x1031x1041x1051x1061x1071x108Photonenergy(eV)Absorptioncoefficient(a)vs.wavelength(l)forvarioussemiconductorsa(m-1)1.0短波長(zhǎng)極限半導(dǎo)體材料對(duì)光的吸收(a)代表符號(hào);(b)等效電路;(c)特性曲線。檢測(cè)電流電脈沖擴(kuò)散t光功率光脈沖t時(shí)間響應(yīng)前沿滯后載流子在耗盡區(qū)的渡越時(shí)間后沿拖尾耗盡區(qū)外載流子的擴(kuò)散增加耗盡區(qū)寬度,縮短P、N區(qū)寬度,使大部分光功率在耗盡區(qū)吸收,可降低擴(kuò)散的影響,提高后沿響應(yīng)速度??紤]PIN結(jié)構(gòu)。PIN結(jié)pin結(jié):薄的重?fù)诫sn區(qū)+接近于本征n區(qū)(i區(qū))+重?fù)诫sp區(qū)
P+區(qū)和輕摻雜n區(qū)(i區(qū))之間形成pn結(jié),并在n區(qū)形成空間電荷區(qū),其中的電場(chǎng)是變化的(如圖)。
入射光在i區(qū)被吸收,產(chǎn)生被電場(chǎng)分開的電子-空穴對(duì)。優(yōu)點(diǎn):pn結(jié)電場(chǎng)范圍擴(kuò)大,收集更多的光生載流子。
反向偏壓加速電子和空穴遷移,減少?gòu)?fù)合。半導(dǎo)體光電二極管的受光表面一般為器件的P型外延層表面或N型襯底表面。PIN-+Eg1Eg2入射光頻率滿足:P、N區(qū)對(duì)入射光完全透明受激吸收作用全部發(fā)生在I區(qū)大大提高光電轉(zhuǎn)換效率和響應(yīng)速度雙異質(zhì)PIN結(jié)通常反向偏壓主要是加在PN結(jié)的結(jié)區(qū)附近的耗盡層里,光電二極管的體內(nèi)往往存在著一個(gè)零電場(chǎng)區(qū)域。在零電場(chǎng)區(qū)域里產(chǎn)生的電子一空穴對(duì)不能有效地轉(zhuǎn)換成光電流,從而使光電轉(zhuǎn)換效率降低。
因此,應(yīng)使光電二極管的體內(nèi)少產(chǎn)生或不產(chǎn)生電子一空穴對(duì)。雙異質(zhì)PIN結(jié)結(jié)構(gòu)的P區(qū)和N區(qū)選用禁帶寬度大的半導(dǎo)體材料,并使入射光的能量(頻率)滿足關(guān)系,就可使光生電子一空穴對(duì)僅僅在I區(qū)產(chǎn)生,提高光電轉(zhuǎn)換效率,并有效改善光電轉(zhuǎn)換的時(shí)間響應(yīng)。雙異質(zhì)PIN結(jié)幾種高速PINPD的結(jié)構(gòu)
InGaAsPIN帶尾纖光電二極管
6.1.2雪崩光電二極管(AvalanchePhotodetector-APD)雪崩效應(yīng)原理:
增加PN結(jié)上反向偏壓,耗盡層內(nèi)的電場(chǎng)強(qiáng)度增加。當(dāng)反向偏壓增加到一定值時(shí),進(jìn)入耗盡層的光生載流子被電場(chǎng)加速而獲得足夠大的動(dòng)能,當(dāng)其與晶格碰撞時(shí)使價(jià)帶中的電子激發(fā)到導(dǎo)帶而產(chǎn)生新的電子-空穴對(duì)。這些電子-空穴對(duì)又被電場(chǎng)加速而獲得足夠大的動(dòng)能,又可產(chǎn)生新的電子-空穴對(duì)。依次類推,耗盡層內(nèi)的載流子數(shù)目劇增,發(fā)生雪崩效應(yīng),反向結(jié)電流倍增。利用光生載流子雪崩效應(yīng)工作的PN結(jié)光電二極管就是APD。Apictorialviewofimpactionizationprocessesreleasingelectron-h(huán)olepairs(EHPs)andtheresultingavalanchemultiplication.Impactofanenergeticconductionelectronwithcrystalvibrationstransferstheelectron'skineticenergytoavalenceelectronandtherebyexcitesittotheconductionband.h+Ep+n+pe-Avalancheregion(a)e-h+EcEv(b)EAvalanchemultiplicationprocess碰撞電離所需最小電場(chǎng)高電場(chǎng)區(qū)雪崩區(qū)電場(chǎng)強(qiáng)度位置APD:Reach-through拉通型N+PIP++-光由P+區(qū)進(jìn)入器件,光子被接近本征I區(qū)(p區(qū))材料吸收,I區(qū)起光生載流子的收集作用。從而在I區(qū)產(chǎn)生電子-空穴對(duì),I區(qū)的電場(chǎng)使這些電子-空穴對(duì)分開。光生電子經(jīng)過(guò)I區(qū)漂移到高電場(chǎng)的PN+結(jié)區(qū),使載流子碰撞而倍增。N+PIP++-Aschematicillustrationofthestructureofanavalanchephotodiode(APD)biasedforavalanchegain.Thenetspacechargedensityacrossthephotodiode.Thefieldacrossthediodeandtheidentificationofabsorptionandmultiplicationregions.p+SiO2ElectrodernetxxE(x)REhu>EgpIphe-h+AbsorptionregionAvalancheregion(a)(b)(c)Electroden+SiO2GuardringElectrodeAntireflectioncoatingnnn+p+pSubstrateElectroden+p+pSubstrateElectrodeAvalanchebreakdown(a)(b)ASiAPDstructurewithoutaguardring.AschematicillustrationofthestructureofamorepracticalSiAPD幾種高速工作的APD結(jié)構(gòu)6.2光電檢測(cè)器的特性指標(biāo)6.2.1光電監(jiān)測(cè)器的工作特性1.
響應(yīng)度-反映光電效應(yīng)的效率ρ=
平均輸出電流流
入射的平均光功率
=Ip為光生電流的平均值(A);P為平均入射光功率(W)。
2.
量子效率–以量子形式反映光電效應(yīng)的效率η=
通過(guò)結(jié)區(qū)的光生載流子數(shù)
入射到器件上的光子數(shù)
=3.
響應(yīng)速度-即光電轉(zhuǎn)換速度,也即當(dāng)光照射在二極管上(了解)產(chǎn)生一定大小的電流所需的時(shí)間(對(duì)脈沖光信號(hào)上升沿的響應(yīng))。
從光入射到光敏面到發(fā)生受激吸收的時(shí)間;
零場(chǎng)區(qū)光生載流子的擴(kuò)散時(shí)間;有場(chǎng)區(qū)光生載流子的漂移時(shí)間;雪崩倍增建立時(shí)間(對(duì)APD);
RC時(shí)間常數(shù)。
光電二極管的暗電流是指沒(méi)有光入射時(shí)流過(guò)檢測(cè)器的偏置電路的電流,它是體暗電流和表面暗電流之和。
體暗電流:光電二極管pn結(jié)區(qū)熱產(chǎn)生的電子和空穴形成的電流。即一般所說(shuō)pn結(jié)的反向電流。對(duì)于APD,熱產(chǎn)生的載流子同樣會(huì)得到pn結(jié)區(qū)高電場(chǎng)的加速,并因雪崩效應(yīng)而產(chǎn)生倍增。
表面暗電流:表面漏電流,是由表面缺陷、清潔程度、偏置電壓大小和表面積大小等因素決定的。
注意:雪崩倍增是一種體效應(yīng),表面電流并不受雪崩增益的影響。4.
暗電流5.
APD的倍增因子(了解)平均倍增因子:為APD倍增后的光生電流;:未曾倍增時(shí)的原始光生電流;:無(wú)倍增時(shí)和倍增時(shí)的總電流;:無(wú)倍增時(shí)和倍增時(shí)的暗電流。最佳倍增因子:系統(tǒng)具有最大信噪比時(shí)的最佳取值。6.3光接收機(jī)6.3.1光解調(diào)原理光解調(diào)或光檢測(cè)方式:非相干檢測(cè)方式和相干檢測(cè)方式。非相干檢測(cè)方式:即直接檢測(cè)方式,是通過(guò)光電二極管直接
將接受的光信號(hào)恢復(fù)成基本調(diào)制信號(hào)的過(guò)程。也即通過(guò)光電檢測(cè)器和低通濾波器組成一個(gè)包絡(luò)檢測(cè)器,將光載波包絡(luò)(即基本調(diào)制信號(hào)的強(qiáng)度部分)恢復(fù)出來(lái)。相干檢測(cè)方式:目的:提高光電檢測(cè)器的靈敏度。像無(wú)線電收音機(jī)一樣,將接受的光信號(hào)與一個(gè)光本地振蕩器產(chǎn)生的信號(hào)進(jìn)行光混頻之后,再被光電檢測(cè)器變換成一定要求的電信號(hào)。一定范圍內(nèi),只要增加本地振蕩器輸出的光功率,就可提高光電檢測(cè)器接受的光信號(hào)功率。外差檢測(cè)方式;零差檢測(cè)方式;相位合成檢測(cè)方式;偏振合成檢測(cè)方式等。用于超長(zhǎng)中繼距離的系統(tǒng)(海底光纜)PIN不能使原信號(hào)光電流發(fā)生倍增具有好的光電轉(zhuǎn)換線性度不需要高的工作電壓響應(yīng)速度快PIN與APD的選擇:APD能夠使原信號(hào)光電流發(fā)生倍增提高接收機(jī)靈敏度需要較高的偏置電壓需要溫度補(bǔ)償電路從簡(jiǎn)化接收機(jī)電路考慮,一般情況下多采用PIN光電二極管。6.3.2光接受器的構(gòu)成與指標(biāo)
圖:數(shù)字光接收機(jī)方框圖
光檢測(cè)器偏壓控制前置放大器AGC電路均衡器判決器時(shí)鐘提取再生碼流主放大器光信號(hào)1.光接收機(jī)構(gòu)成前端線性通道時(shí)鐘提取數(shù)據(jù)再生放大器:兩級(jí)放大。前置放大器:低噪聲放大器。因輸入信號(hào)微弱,其噪聲對(duì)光接收機(jī)的靈敏度和輸出信噪比影響很大。主放大器:輸入的是經(jīng)前置級(jí)放大的信號(hào),只要前置級(jí)增益足夠大,主放大器引入的噪聲就可以忽略。
(1)多級(jí)放大器,提供足夠的增益
(2)通過(guò)它實(shí)現(xiàn)自動(dòng)增益控制(AGC),使輸入光信號(hào)在一定范圍內(nèi)變化時(shí),輸出電信號(hào)保持恒定。光接收機(jī)動(dòng)態(tài)范圍:由主放大器和AGC決定。
均衡和再生:均衡的目的:?對(duì)經(jīng)光纖傳輸、光/電轉(zhuǎn)換和放大后已產(chǎn)生畸變(失真)的電信號(hào)進(jìn)行補(bǔ)償?
使輸出信號(hào)的波形適合于判決(一般用具有升余弦譜的碼元脈沖波形),以消除碼間干擾,減小誤碼率。再生器的作用:將接受的信號(hào)恢復(fù)成標(biāo)準(zhǔn)數(shù)字信號(hào)。
再生電路包括:判決電路和時(shí)鐘提取電路。
光接收機(jī)的前端前端:由光電二極管和前置放大器組成作用:將耦合入光電檢測(cè)器的光信號(hào)轉(zhuǎn)換為光生電流, 然后進(jìn)行預(yù)放大(電流信號(hào)到電壓信號(hào)的轉(zhuǎn)換),以便 后級(jí)作進(jìn)一步處理。前端是光接收機(jī)的核心要求:低噪聲、高靈敏度、足夠的帶寬光檢測(cè)器的選擇:視具體應(yīng)用場(chǎng)合而定。A. pin光電二極管具有良好的光電轉(zhuǎn)換線性度,不需要高的工作電壓,響應(yīng)速度快。B. APD最大的優(yōu)點(diǎn)是它具有載流子倍增效應(yīng),一般來(lái)說(shuō)其探測(cè)靈敏度特別高,但需要較高的偏置電壓和溫度補(bǔ)償電路。從簡(jiǎn)化接收機(jī)電路考慮,一般喜歡采用pin光電二極管。EDFA+pin同樣可以帶來(lái)高靈敏度。前置放大器: 保持探測(cè)的電信號(hào)不失真地放大并保證噪聲最小,一般采用場(chǎng)效應(yīng)晶體管(FET)。器件的選擇光接收機(jī)的線性通道對(duì)主放輸出的失真數(shù)字脈沖進(jìn)行整形和補(bǔ)償,使之成為有利于判決的碼間干擾最小的升余弦波形根據(jù)輸入信號(hào)(平均值)大小自動(dòng)調(diào)整放大器增益,使輸出信號(hào)保持恒定。用以擴(kuò)大接收機(jī)的動(dòng)態(tài)范圍。提供高的增益,放大到適合于判決電路的電平判決再生與時(shí)鐘提取任務(wù):把線性通道輸出的升余弦波形恢復(fù)成數(shù)字信號(hào)為確定是‘1’或是‘0’,需要對(duì)某時(shí)隙的碼元作出判決。若判決結(jié)果為‘1’,則由再生電路產(chǎn)生一個(gè)矩形‘1’脈沖;若判決結(jié)果為‘0’,則由再生電路重新輸入一個(gè)‘0’。為了精確地確定“判決時(shí)刻”,需要從信號(hào)碼流中提取準(zhǔn)確的時(shí)鐘信息作為標(biāo)定,以保證與發(fā)送端一致通過(guò)光數(shù)據(jù)鏈路的信號(hào)路徑光電集成接收機(jī)(參考):
光接收機(jī)方框圖中除光檢測(cè)器以外的所有元件都是標(biāo)準(zhǔn)的電子器件,很容易用標(biāo)準(zhǔn)的集成電路(IC)技術(shù)將它們集成在同一芯片上。為了適合高傳輸速率的需求,人們一直在努力開發(fā)單片光接收機(jī),即用“光電集成電路(OEIC)技術(shù)”在同一芯片上集成包括光檢測(cè)器在內(nèi)的全部元件。
WidebandWaveguidePhotodiode
for40Gb/sSystems(HEMT高電子遷移率晶體管)
MonolithicReceiverOEICModule
for40Gb/sSystems(OEIC-光電集成器件)BERofReceiverOEICEyeDiagram@50Gb/s2.光接收機(jī)指標(biāo)靈敏度:在一定的誤碼率和信噪比條件下,光接收機(jī)可接受的
最小平均光功率。動(dòng)態(tài)范圍:在一定的誤碼率和信噪比條件下,光接收機(jī)允許的光信號(hào)平均光功率的變化范圍。信噪比條件:6.4光接收機(jī)的噪聲(p.115以及p.119)6.4.1光接收機(jī)噪聲源光接收機(jī)總噪聲Ntot=光檢測(cè)器噪聲+放大器噪聲圖:光接收機(jī)的噪聲等效模型光檢測(cè)器噪聲:量子噪聲、pn結(jié)體材料引起的暗電流噪聲
(darkcurrentnoise)和表面暗(漏)電流噪聲
〈iq2〉光檢測(cè)器的量子噪聲
功率譜密度為Sq
〈id2〉暗電流噪聲產(chǎn)生的均方噪聲電流----
體+表面暗電流功率譜密度Sdip光檢測(cè)器的輸出光生電流
R
光檢測(cè)器的偏置電阻和前置放大器輸入等效電阻的并聯(lián)電阻
C光檢測(cè)器的電容(結(jié)電容和其他電容)
放大器分解為:
理想放大器:相應(yīng)的功率譜密度
SI
等效噪聲電流源〈i02〉:
相應(yīng)的功率譜密度
SE
電壓源〈u02〉
Rin放大器的輸入電阻
帶寬B內(nèi),量子噪聲均方根電流和光電流Ip平均值成正比:e:電子電荷,B:噪聲帶寬,
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