JJG 508-2004四探針電阻率測試儀

中華人民共和國國家計量檢定規(guī)程

JJG508—2004

四探針電阻率測試儀

ResistivityMeasuringInstrumentswithFourProbeArrayMethod

-

2004-09-21發(fā)布2005-03-21實施

國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局發(fā)布

JJG508—2004

四探針電阻率測試儀檢定規(guī)程

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代替JJG508—1987

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Four-ProbeArrayMethod

本規(guī)程經(jīng)國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局于年月日批準(zhǔn)并自

20040921,

年月日起施行

20050321。

歸口單位:全國無線電計量技術(shù)委員會

主要起草單位:中國計量科學(xué)研究院

參加起草單位:廣州半導(dǎo)體材料研究所

本規(guī)程委托全國無線電計量技術(shù)委員會負(fù)責(zé)解釋

JJG508—2004

本規(guī)程主要起草人:

魯效明中國計量科學(xué)研究院

()

參加起草人:

謝鴻波廣州半導(dǎo)體材料研究所

()

JJG508—2004

目錄

范圍……………………

1(1)

概述……………………

2(1)

計量性能要求…………

3(1)

對電阻率測試儀技術(shù)指標(biāo)的要求…………………

3.1(1)

絕緣電阻的測量和絕緣強度的試驗………………

3.2(2)

通用技術(shù)要求…………

4(3)

電阻率測試儀的外觀………………

4.1(3)

電阻率測試儀工作正常性的檢查…………………

4.2(3)

計量器具控制…………

5(3)

檢定條件……………

5.1(3)

檢定項目……………

5.2(5)

檢定方法……………

5.3(5)

檢定結(jié)果的處理……………………

5.4(8)

檢定周期……………

5.5(8)

附錄探針壓痕檢定記錄及計算方法………………

A(9)

附錄用電阻率標(biāo)準(zhǔn)樣片整體方法檢定電阻率測試儀的記錄格式………………

B(10)

附錄用標(biāo)準(zhǔn)樣片檢定電阻率測試儀各修正系數(shù)表………………

C(11)

附錄分部件檢定四探針電阻率測試儀檢定結(jié)果的處理…………

D(12)

附錄四探針電阻率測試儀檢定證書及檢定結(jié)果通知書內(nèi)頁格式………………

E(14)

JJG508—2004

四探針電阻率測試儀檢定規(guī)程

1范圍

本規(guī)程適用于接觸式測量范圍在-33的四探針電阻率測試儀的

,10Ω·cm~10Ω·cm

首次檢定后續(xù)檢定和使用中檢驗對某些多功能的四探針電阻率測試儀或只能測量方

,。

塊電阻四探針測試儀也同樣適用方塊電阻的測量范圍在-24

。10Ω/□~10Ω/□。

本規(guī)程不適用于二探針三探針六探針及方型四探針電阻率測試儀的檢定

、、。

2概述

四探針電阻率測試儀以下簡稱電阻率測試儀是用來測量半導(dǎo)體材料及工藝硅

(),

片的電阻率或擴(kuò)散層及外延層以及絕緣襯底鍍膜層方塊電阻的測量儀器它主要由

,,。

電氣部分和探頭等部分組成自動式測試儀還包括計算機及接口等部分電氣部分一般

。,

包括可調(diào)穩(wěn)流源轉(zhuǎn)換器數(shù)字顯示器換向開關(guān)等儀器和部件探頭部分一般包

、A/D、、。

括探頭夾具探頭和樣品臺其原理圖及方框圖如圖和圖所示

、,12。

圖標(biāo)準(zhǔn)樣片檢定電阻率測試儀的原理圖

1

換向開關(guān)R標(biāo)準(zhǔn)電阻探針接線無熱電勢開關(guān)R被檢標(biāo)準(zhǔn)樣片

K1—;N—;D—;K2—;X—

圖標(biāo)準(zhǔn)樣片檢定電阻率測試儀的方框圖

2

3計量性能要求

對電阻率測試儀技術(shù)指標(biāo)的要求

3.1

各種型號的電阻率測試儀的技術(shù)指標(biāo)應(yīng)符合出廠技術(shù)說明書的要求級

3.1.1