GB/T 8452-2008玻璃瓶罐垂直軸偏差試驗(yàn)方法

犐犆犛５５．１００

犢２２

中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)

犌犅／犜８４５２—２００８

代替ＧＢ／Ｔ８４５２—１９８７

玻璃瓶罐垂直軸偏差試驗(yàn)方法

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（ＩＳＯ９００８：１９９１，Ｇｌａｓｓｂｏｔｔｌｅｓ—Ｖｅｒｔｉｃａｌｉｔｙ—Ｔｅｓｔｍｅｔｈｏｄ，ＭＯＤ）

２００８１２３０發(fā)布２００９０９０１實(shí)施

中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局

發(fā)布

中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會

書

犌犅／犜８４５２—２００８

前言

本標(biāo)準(zhǔn)修改采用ＩＳＯ９００８：１９９１《玻璃瓶罐垂直軸偏差試驗(yàn)方法》（英文版）。

本標(biāo)準(zhǔn)根據(jù)ＩＳＯ９００８：１９９１重新起草。

本標(biāo)準(zhǔn)與ＩＳＯ９００８：１９９１差異為：

———?jiǎng)h除了ＩＳＯ９００８：１９９１的序言和引用標(biāo)準(zhǔn)；

———增加了目次與前言；

———增加了規(guī)范性引用文件及術(shù)語和定義；

———在垂直立柱上的測量工具中增加了讀數(shù)顯微鏡；

———修改了對儀器中自動定心夾緊裝置的描述。

本標(biāo)準(zhǔn)代替ＧＢ／Ｔ８４５２—１９８７《玻璃容器玻璃瓶垂直軸偏差測試方法》。

本標(biāo)準(zhǔn)與ＧＢ／Ｔ８４５２—１９８７差異為：

———?jiǎng)h除了ＧＢ／Ｔ８４５２—１９８７術(shù)語中的名詞定義；

———增加了本標(biāo)準(zhǔn)的前言；

———增加了規(guī)范性引用文件及術(shù)語和定義；

———修改了對儀器中在垂直立柱上的測量工具的描述。

本標(biāo)準(zhǔn)由中國輕工業(yè)聯(lián)合會提出。

本標(biāo)準(zhǔn)由全國日用玻璃標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會（ＳＡＣ／ＴＣ３７７）歸口。

本標(biāo)準(zhǔn)起草單位：東華大學(xué)、國家眼鏡玻璃搪瓷制品質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)中心。

本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人：戴琦、張國。

本標(biāo)準(zhǔn)所代替標(biāo)準(zhǔn)的歷次版本發(fā)布情況為：

———ＧＢ／Ｔ８４５２—１９８７。

Ⅰ

書

犌犅／犜８４５２—２００８

玻璃瓶罐垂直軸偏差試驗(yàn)方法

１范圍

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了玻璃瓶罐垂直軸偏差的測試方法。

本標(biāo)準(zhǔn)適用于測量玻璃瓶罐的垂直軸偏差。

２規(guī)范性引用文件

下列文件中的條款通過本標(biāo)準(zhǔn)的引用而成為本標(biāo)準(zhǔn)的條款。凡是注日期的引用文件，其隨后所有

的修改單（不包括勘誤的內(nèi)容）或修訂版均不適用于本標(biāo)準(zhǔn)，然而，鼓勵(lì)根據(jù)本標(biāo)準(zhǔn)達(dá)成協(xié)議的各方研究

是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本適用于本標(biāo)準(zhǔn)。

ＧＢ／Ｔ９９８７玻璃瓶罐制造術(shù)語

３術(shù)語和定義

ＧＢ／Ｔ９９８７中確立的術(shù)語和定義適用于本標(biāo)準(zhǔn)。

４要求

４．１儀器要求是保證玻璃瓶罐底部水平放置并可測得瓶口與垂直軸的偏差。

４．２測量表示方法取決于使用的儀器類型：

ａ）用水平尺的通過性測量；

ｂ）百分表或讀數(shù)顯微鏡；

ｃ）標(biāo)尺上的放大投影法。

４．３儀器由帶有自動定心夾緊裝置的旋轉(zhuǎn)底盤和帶有一個(gè)水平尺或百分表或讀數(shù)顯微鏡的垂直立柱

組成，或由附有Ｖ形塊的底板和帶有一個(gè)水平尺或百分表或讀數(shù)顯微鏡的垂直立柱組成。百分表、讀

數(shù)顯微鏡或水平尺應(yīng)能調(diào)整高度和水平位置。也可使用非接觸式光掃描裝置。

４．４測量偏差的工具應(yīng)放在瓶口邊緣外側(cè)。

４．５非圓形的玻璃瓶罐應(yīng)使用能使其夾持在旋轉(zhuǎn)底板中心的儀器測量。

注：也可使用達(dá)到精度要求的其他類型儀器。

５樣品

應(yīng)以規(guī)定數(shù)量的玻璃瓶罐進(jìn)行試驗(yàn)。樣品應(yīng)符合要求，瓶底嚴(yán)重變形的玻璃瓶罐應(yīng)去除。

６步驟

６．１玻璃瓶罐夾持在水平旋轉(zhuǎn)底盤上，旋轉(zhuǎn)底盤３６０°。如用附有Ｖ形塊的底板時(shí)，則將樣品緊靠在Ｖ

形塊上，測量時(shí)在與水平面成４５°方向上對樣品施加一個(gè)向下的壓力，