標(biāo)準(zhǔn)解讀

《GB/T 6587.2-1986 電子測(cè)量?jī)x器 溫度試驗(yàn)》是一項(xiàng)國家標(biāo)準(zhǔn)，旨在規(guī)定電子測(cè)量?jī)x器在不同溫度條件下的測(cè)試方法。該標(biāo)準(zhǔn)適用于各種類型的電子測(cè)量?jī)x器，以確保這些設(shè)備能夠在規(guī)定的溫度范圍內(nèi)正常工作，并且其性能不會(huì)因?yàn)闇囟茸兓艿接绊憽?/p>

根據(jù)此標(biāo)準(zhǔn)，溫度試驗(yàn)主要包括高溫試驗(yàn)和低溫試驗(yàn)兩大部分。對(duì)于高溫試驗(yàn)而言，其目的是檢驗(yàn)產(chǎn)品在高于正常使用環(huán)境溫度條件下能否保持預(yù)定的功能特性不變；而低溫試驗(yàn)則是為了驗(yàn)證當(dāng)溫度低于正常操作范圍時(shí)產(chǎn)品的穩(wěn)定性和可靠性。此外，還涉及到快速溫變?cè)囼?yàn)等內(nèi)容，用以模擬實(shí)際使用過程中可能遇到的溫度急劇變化情況對(duì)設(shè)備的影響。

在進(jìn)行具體的溫度試驗(yàn)時(shí)，首先需要確定被測(cè)樣品的狀態(tài)（如是否處于通電狀態(tài)）以及試驗(yàn)前后的處理方式。接著按照標(biāo)準(zhǔn)中給出的不同等級(jí)要求設(shè)置相應(yīng)的高低溫和持續(xù)時(shí)間參數(shù)。在整個(gè)過程中，除了關(guān)注于溫度控制精度外，還需記錄下關(guān)鍵數(shù)據(jù)點(diǎn)處的響應(yīng)值，以便后續(xù)分析評(píng)估。


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  • 1986-07-23 頒布
  • 1987-07-01 實(shí)施
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GB/T 6587.2-1986電子測(cè)量?jī)x器溫度試驗(yàn)_第1頁
GB/T 6587.2-1986電子測(cè)量?jī)x器溫度試驗(yàn)_第2頁
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UDC621.317.7:620.1中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)GB6587.2-86電子測(cè)量?jī)x器溫度試驗(yàn)Temperaturetestsforelectronicmeasuringinstruments1986-07-23發(fā)布1987-07-01實(shí)施國家標(biāo)準(zhǔn)局批準(zhǔn)

中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)UDC621.317.7：620.1電子測(cè)量?jī)x器GB6587.2-86溫度：試驗(yàn)Temperaturetestsforelectronicmeasuringinstruments本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了電子測(cè)趾儀器（以下簡(jiǎn)稱儀器）溫度試驗(yàn)的目的、組別、試驗(yàn)要求和方法：確定儀器在規(guī)定工作范圍內(nèi)對(duì)溫度的適應(yīng)能力。組別的劃分儀器溫度試驗(yàn)分為三組，見下表：組別口組工組試驗(yàn)項(xiàng)目-40~60℃-40~60℃廣存條件-40~70℃-10~50℃極限條件0~40℃-20~60℃工作范圍0~40℃10~30℃-10~50℃2試驗(yàn)要求2.1試試驗(yàn)時(shí)，各溫度階梯（見溫度循環(huán)試驗(yàn)時(shí)序圖）之間溫度變化的速率通常應(yīng)小于20℃"h。在每-溫度階梯上，應(yīng)使儀器達(dá)到熱平衡狀態(tài)，，才能進(jìn)行測(cè)試。熱平衡時(shí)間至少為1h。歐行永件上限溫度7060極限條件上限濕度60上作花上限溫度上作光陽上跟起度運(yùn)行40150-上作池閑任選上限溫度i法準(zhǔn)工作樂件共準(zhǔn)工作條件準(zhǔn)上作親件2020201工作花國任選下限溫度時(shí)間工作花用下限溫度-10-小極限條件卡限溫度2201-10+下限溫座40--401通電涮試溫度循環(huán)試驗(yàn)

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