GB/T 5965-2000半導(dǎo)體器件集成電路第2部分：數(shù)字集成電路第一篇雙極型單片數(shù)字集成電路門電路(不包括自由邏輯陣列)空白詳細(xì)規(guī)范

ICS31.200L56中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T5965-2000idtIEc748-2-1：1991QC790132半導(dǎo)體器件集成電路第2部分:數(shù)字集成電路第一篇雙極型單片數(shù)字集成電路門電路(不包括自由邏輯陣列)空白詳細(xì)規(guī)范Semiconductordevices-ntegratedcircuitsPart2:Digitalintegratedcircuits-Sectionone--BlankdetailspecificationforbipolarmonolithicdigitalintegratedcircuitgatesCexcludinguncommittedlogicarrays)2000-01-03發(fā)布2000-07-01實(shí)施國(guó)家質(zhì)量技術(shù)監(jiān)督局發(fā)布

GB/T5965-2000前本標(biāo)準(zhǔn)等同采用國(guó)際電工委員會(huì)標(biāo)準(zhǔn)IEC748-2-1:1991《半導(dǎo)體器件：集成電路第2部分：數(shù)字集成電路第一篇雙極型單片數(shù)字集成電路門電路(不包括自由邏輯陣列)空白詳細(xì)規(guī)范》.以促進(jìn)我國(guó)該類產(chǎn)品的國(guó)際貿(mào)易、技術(shù)和經(jīng)濟(jì)交流。本標(biāo)準(zhǔn)與下列國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)一起使用：GB/T4937—1995《半導(dǎo)體器件機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法》idtIEC749:1984及修改單1:1991)GB/T16464—1996《半導(dǎo)體器件集成電路第1部分：總則》(idtIEC748-1:1984)GB/T17574-1998《半導(dǎo)體器件集成電路第2部分：數(shù)字集成電路》idtIEC748-2:1985及修改單1:1991）本標(biāo)準(zhǔn)由中華人民共和國(guó)信息產(chǎn)業(yè)部提出。本標(biāo)準(zhǔn)由全國(guó)集成電路標(biāo)準(zhǔn)化分技術(shù)委員會(huì)歸口。本標(biāo)準(zhǔn)起草單位：電子工業(yè)部標(biāo)準(zhǔn)化研究所。本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人：李燕榮

GB/T5965-2000IEC前言1）IEC(國(guó)際電工委員會(huì))在技術(shù)問題上的正式?jīng)Q議或協(xié)議，是由對(duì)這些問題特別關(guān)切的國(guó)家委員會(huì)參加的技術(shù)委員會(huì)制定的.對(duì)所涉及的問題盡可能地代表了國(guó)際上的一致意見。2）這些決議或協(xié)議，以推薦標(biāo)準(zhǔn)的形式供國(guó)際上使用,并在此意義上為各國(guó)家委員會(huì)所認(rèn)可3）為了促進(jìn)國(guó)際上的統(tǒng)一,IEC希望各國(guó)家委員會(huì)在本國(guó)條件許可的情況下,采用IEC標(biāo)準(zhǔn)的文本作為其國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)。IEC標(biāo)準(zhǔn)與相應(yīng)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)之間的差異，應(yīng)盡可能在國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)中指明。本標(biāo)準(zhǔn)由IEC/TC47(半導(dǎo)體器件)的SC47A(集成電路)制定。本標(biāo)準(zhǔn)是雙極型單片數(shù)字電路門電路空白詳細(xì)規(guī)范。本標(biāo)準(zhǔn)文本以下列文件為依據(jù)：六個(gè)月法表決報(bào)告二個(gè)月程序表決報(bào)告47/47A(CO)47/47A（CO）47A(CO)21247A（CO)239987/1511033/165.1033A/165A表決批準(zhǔn)本標(biāo)準(zhǔn)的詳細(xì)資料可在上表列出的表決報(bào)告中查閱。本標(biāo)準(zhǔn)封面上的QC編號(hào)是IEC電子元器件質(zhì)量評(píng)定體系(IECQ)的規(guī)范號(hào)。本標(biāo)準(zhǔn)引用下列IEC標(biāo)準(zhǔn)：68-2-17（1978）環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)式試驗(yàn)Q密封617-12(1991）圖形符號(hào)第12部分：二進(jìn)制邏輯單元747-10(1984）半導(dǎo)體器件第10部分:分立器件和集成電路總規(guī)范748-1(1984）半導(dǎo)體器件集成電路第1部分：總則華導(dǎo)體器件748-2（1985）集成電路第1部分：數(shù)字集成電路修改單1(1991)748-11（1990）半導(dǎo)體器件集成電路第11部分：半導(dǎo)體集成電路分規(guī)范(不包括混合電路）749(1984）半導(dǎo)體器件機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法修改單1(1991）QC001002（1986）IEC電子元器件質(zhì)量評(píng)定體系（IECQ)程序規(guī)購(gòu)

中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)半導(dǎo)體器件集成電路第2部分:數(shù)字集成電路第一篇雙極型單片數(shù)字集成電路門電路(不包括自由邏輯陣列)GB/T5965--2000idtIEc748-2-1:1991空白詳細(xì)規(guī)范QC790132代替GB/5965-1986Semiconductordevices-lntegratedcircuitsPart2:Digitalintegratedcircuits-Sectionone-Blankdetailspecificationforbipolarmonolithicdigitalintegratedcircuitgates(excludinguncommittedlogicarrays)IEC電子元器件質(zhì)量評(píng)定體系遵循IEC的章程,并在IEC授權(quán)下進(jìn)行工作。該體系的目的是確定質(zhì)量評(píng)定程序，以這種方式使一個(gè)參加國(guó)按有關(guān)規(guī)范要求放行的電子元器件無(wú)需進(jìn)一步試驗(yàn)而為其他所有參加國(guó)同樣接受。本空白詳細(xì)規(guī)范是半導(dǎo)體器件的一系列空白詳細(xì)規(guī)范之一.并且與下列標(biāo)準(zhǔn)一起使用。IEC747-10/QC700000半導(dǎo)體器件第10部分：分立器件和集成電路總規(guī)范要求的資料本頁(yè)和下頁(yè)括號(hào)內(nèi)的數(shù)字與下列各項(xiàng)要求的資料相對(duì)應(yīng).這些資料應(yīng)填寫在相應(yīng)的欄中。詳細(xì)規(guī)范的識(shí)別【1授權(quán)發(fā)布詳細(xì)規(guī)范的國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化機(jī)構(gòu)名稱【2詳細(xì)規(guī)范的IECQ編號(hào)?！?7總規(guī)范、分規(guī)范的編號(hào)及版本號(hào)。（4詳細(xì)規(guī)范的國(guó)家編號(hào)、發(fā)布日期及國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)體系要求的其他資料器件的識(shí)別「57主要功能和型號(hào)，【6典型結(jié)構(gòu)(材料、主要工藝)和封裝資料如果器件具有若干種派生產(chǎn)品，則應(yīng)指出其差別,例如用對(duì)照表列出特性差異如果器件屬靜電敏感型,應(yīng)在詳細(xì)規(guī)范中注明注意事項(xiàng)[門外形圖、引出端識(shí)別、