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文檔簡(jiǎn)介
場(chǎng)效應(yīng)三極管(FET、FieldEffectTransistor)利用電場(chǎng)效應(yīng)來(lái)控制電流的三極管,稱為場(chǎng)效應(yīng)管,也稱單極型三極管。場(chǎng)效應(yīng)管特點(diǎn)只有一種載流子參與導(dǎo)電;
輸入電阻高、噪聲低、熱穩(wěn)定性好、抗輻射能力強(qiáng);工藝簡(jiǎn)單、易集成、功耗小、體積小、成本低。CMOS門(mén)電路
絕緣柵型場(chǎng)效應(yīng)管
由金屬、氧化物和半導(dǎo)體制成。稱為金屬-氧化物-半導(dǎo)體(Metal-Oxide-Semiconductor)場(chǎng)效應(yīng)管,或簡(jiǎn)稱MOS場(chǎng)效應(yīng)管。特點(diǎn):輸入電阻可達(dá)109以上。類型N
溝道P溝道增強(qiáng)型耗盡型增強(qiáng)型耗盡型耗盡型場(chǎng)效應(yīng)管:VGS
=0時(shí)漏源間存在導(dǎo)電溝道的MOS管
增強(qiáng)型場(chǎng)效應(yīng)管:VGS=0時(shí)漏源間不存在導(dǎo)電溝道的MOS管N
溝道增強(qiáng)型
MOS
場(chǎng)效應(yīng)管1.結(jié)構(gòu)P型襯底N+N+GSDSiO2源極Source漏極Drain柵極Gate1.MOS管的工作原理導(dǎo)電溝道(反型層)當(dāng)大于VGS(th)時(shí),將出現(xiàn)導(dǎo)電溝道。VGS(th)稱為開(kāi)啟電壓,與管子構(gòu)造有關(guān)。SDB導(dǎo)電溝道將源區(qū)和漏區(qū)連成一體。此時(shí)在D,S間加電壓,將形成漏極電流iD。稱為N溝道增強(qiáng)型場(chǎng)效應(yīng)管
顯然,導(dǎo)電溝道的厚度與柵源電壓大小有關(guān)。而溝道越厚,管子的導(dǎo)通電阻RON越小。因而,若不變,就可控制漏極電流iD。因此把MOS管稱為電壓控制器件。3.特性曲線(N
溝道增強(qiáng)型
MOS管)GD
S3V4V5VvGS
=6ViD
/mA43210246810vDS
/V可變電阻區(qū)(恒流區(qū))iD+-VGS+-
VDS輸出特性截止區(qū):VGS<VGS(th),iD=0,ROFF>109Ω截止區(qū)恒流區(qū):iD
基本上由VGS決定,與VDS關(guān)系不大可變電阻區(qū):當(dāng)VDS
較低,VGS
一定時(shí), 這個(gè)電阻受VGS
控制、可變。3.特性曲線(N
溝道增強(qiáng)型
MOS管)GD
S3V4V5VvGS
=6ViD
/mA42643210vGS
/ViD
/mA43210246810vDS
/V可變電阻區(qū)(恒流區(qū))VGS(th)iD開(kāi)啟電壓+-VGS+-
VDS輸出特性轉(zhuǎn)移特性截止區(qū)VGS<VGS(th)
MOS管截止VGS>VGS(th)
MOS管導(dǎo)通N
溝道增強(qiáng)型
MOS管:VGS>04.MOS管的開(kāi)關(guān)作用開(kāi)啟電壓VGS(th)
>0DDOHOVVv==V0OLO?=VvIv>VGS(th)
+VDDRDBGDSOvIvSGDCIRONIvOvSGDCIIvOv<VGS(th)
Iv導(dǎo)通截止N溝道增強(qiáng)型
MOS管:N型襯底P+P+GSDSiO2源極漏極柵極P
溝道增強(qiáng)型MOS
場(chǎng)效應(yīng)管P
溝道增強(qiáng)型MOS管-VDDRDBGDSvIvO開(kāi)啟電壓
VGS(th)
<0SGDCIOvvIsGDCIRONOvvI導(dǎo)通截止CMOS
反相器1、工作原理AL1+VDD+10VD1S1vivOTNTPD2S20V+10VvivGSNvGSPTNTPvO0V0V-10V截止導(dǎo)通10V10V10V0V導(dǎo)通截止0VVGS(th)N
=2VVGS(th)P
=-2V邏輯圖邏輯表達(dá)式vi(A)0vO(L)1邏輯真值表10Complementary-SymmetryMOS.互補(bǔ)對(duì)稱式MOS電路。要求兩管特性完全一樣MOS管的四種類型增強(qiáng)型耗盡型大量正離子導(dǎo)電溝道2.CMOS反相器的傳輸特性iD+VDD+vI-vOTNTPABCDEFVTNVDDAB段:vI<VTN
,vO=VDD、iD
0,功耗極小。0vO
/VvI
/VTN截止、TP導(dǎo)通,BC段:TN導(dǎo)通vO
略下降。CD段:TN、TP均工作在恒流區(qū)DE、EF段:iD+VDD+vI-vOTNTPABCDEF0iD
/mAvI
/VVTHABCDEFVDDVTH0vO
/VvI
/V電壓傳輸特性電流傳輸特性AB、EF
段:
TN、TP總有一個(gè)為截止?fàn)顟B(tài),故iD
0。CD段:
TN、Tp
均導(dǎo)通,流過(guò)兩管的漏極電流達(dá)到最大值
iD=iD(max)
。動(dòng)態(tài)功耗
在動(dòng)態(tài)情況下,電路的狀態(tài)會(huì)通過(guò)BC段,使動(dòng)態(tài)功耗不為0;而且輸入信號(hào)頻率越高,動(dòng)態(tài)功耗也越大;若有負(fù)載電容,動(dòng)態(tài)功耗也會(huì)增加,這也成為限制電路扇出系數(shù)的主要因素。動(dòng)態(tài)功耗
輸入端保護(hù)電路:(1)-
vDF<vA
<VDD+vDF(2)vA
>
VDD+vDF
二極管導(dǎo)通電壓:vDF
=0.5~0.7V(3)vA
<
-
vDF
當(dāng)輸入電壓不在正常電壓范圍時(shí),二極管導(dǎo)通,限制了電容兩端電壓的增加,保護(hù)了輸入電路。+VDDvOvATPD1C1C2RSTND2D3D1、D2、D3截止(保護(hù)電路不起作用)D2、D3
導(dǎo)通vG
=
VDD+vDFD1導(dǎo)通vG
=
-
vDFCMOS反相器輸入特性由于UGS越大,TN管的導(dǎo)通電阻RON就越小,1.低電平輸出特性U0=U0L時(shí):所以:在同樣的IOL值下,VDD越高,使TN管導(dǎo)通時(shí)的UGS就越大,其RON就越小,UOL也就越低。+VDDTNTPUIHUOLIOLRLIOL從負(fù)載電路注入TN管。TN管導(dǎo)通,TP管截止,VDD=5V10V15VUOLOIOL
輸出特性2.高電平輸出特性由于UGS越負(fù),TP管的導(dǎo)通電阻RON就越小,U0=U0H時(shí):所以:在同樣的IOH值下,VDD越高,使TP管導(dǎo)通時(shí)的UGS就越負(fù),其RON就越小,VOH也就越高。TNTP+VDDUILUOHIOHRLIOH從TP管流向負(fù)載電路。TP管導(dǎo)通,TN管截止,UOHOIOHVDDVDD=5V10V15V輸入噪聲容限結(jié)論:可以通過(guò)提高VDD來(lái)提高噪聲容限驅(qū)動(dòng)門(mén)負(fù)載門(mén)傳輸延遲時(shí)間(1)MOS管的導(dǎo)通電阻比TTL電路大的多,導(dǎo)通電阻受VDD影響,所以,VDD也影響傳輸延遲時(shí)間;(2)CMOS門(mén)的輸入電容比TTL電路大得多,因此負(fù)載個(gè)數(shù)越多,延遲時(shí)間越大;CMOS門(mén)的扇出系數(shù)就是受傳輸延遲時(shí)間和動(dòng)態(tài)功耗等動(dòng)態(tài)特性限制的。CMOS門(mén)電路A
BTN1TP1
TN2TP2L00011011截止導(dǎo)通截止導(dǎo)通導(dǎo)通導(dǎo)通導(dǎo)通截止截止導(dǎo)通截止截止截止截止導(dǎo)通導(dǎo)通11101、CMOS與非門(mén)vA+VDD+10VTP1TN1TP2TN2ABLvBvLAB&00100111Y=(a)電路結(jié)構(gòu)(b)工作原理2.CMOS與門(mén)+VDDVSSTP1TN1TP2TN2ABY+VDDG1D1S1TNTPD2S2G2VSSAB&L1AB&L3、CMOS或非門(mén)+VDD+10VTP1TN1TN2TP2ABLA
BTN1TP1TN2TP2L00011011截止導(dǎo)通截止導(dǎo)通導(dǎo)通導(dǎo)通導(dǎo)通截止截止導(dǎo)通截止截止截止截止導(dǎo)通導(dǎo)通1000AB≥100100111vA+VDD+10VTP1TN1TP2TN2ABLvBvL+VDD+10VTP1TN1TN2TP2ABL小結(jié)與非門(mén)為例:也更高越高,輸入端越多,端數(shù)目的影響輸出的高低電平受輸入則則則則受輸入狀態(tài)影響輸出電阻存在的缺點(diǎn):OHOLONONOONONOONONONOONONONOOVV)(RRRB,ARRRB,ARR//RRB,ARRRRB,AR:)(3131422011021002111=============+===帶緩沖極的CMOS門(mén)的提出解決方法采用緩沖電路能統(tǒng)一參數(shù)。1.CMOS漏極開(kāi)路門(mén)1.)CMOS漏極開(kāi)路門(mén)的提出輸出短接,會(huì)產(chǎn)生低阻通路,大電流有可能導(dǎo)致器件的損毀,并且無(wú)法確定輸出是高電平還是低電平。CMOS漏極開(kāi)路(OD)門(mén)和三態(tài)輸出門(mén)電路(2)漏極開(kāi)路門(mén)的結(jié)構(gòu)與邏輯符號(hào)(c)可以實(shí)現(xiàn)線與功能;(d)可實(shí)現(xiàn)邏輯電平變換:(a)工作時(shí)必須外接電源和電阻;+VDDVSSTP1TN1TP2TN2ABL電路邏輯符號(hào)(b)可并聯(lián)LRp的值愈小,負(fù)載電容的充電時(shí)間常數(shù)亦愈小,因而開(kāi)關(guān)速度愈快。但功耗大,且可能使輸出電流超過(guò)允許的最大值IOL(max)
。電路帶電容負(fù)載10CLRp的值愈大,可保證輸出電流不能超過(guò)允許的最大值IOL(max)、功耗小。但負(fù)載電容的充電時(shí)間常數(shù)亦愈大,開(kāi)關(guān)速度因而愈慢。上拉電阻應(yīng)如何選擇?它取值的大小對(duì)OD門(mén)的開(kāi)關(guān)時(shí)間和電路工作的安全性有何影響?VDD1和VDD2可取不同值;
允許灌入電流較大。如:CC40107在VOL<0.5V的條件下,允許灌入的最大電流可達(dá)50mA。2、用于直接驅(qū)動(dòng)大電流負(fù)載。74HC/HCT系列CMOS門(mén)電路的最大灌電流或拉電流為4mA指示燈(12V,20mA)10011截止導(dǎo)通111高阻
×0
輸出L輸入A使能EN001100截止導(dǎo)通010截止截止X1邏輯功能:高電平同相邏輯門(mén)01三態(tài)輸出門(mén)電路CMOS傳輸門(mén)(雙向模擬開(kāi)關(guān))
數(shù)據(jù)采集電路ADCCH1CH2CHN方案2計(jì)算機(jī)ADCCH1CH2CHN方案1ADCADC計(jì)算機(jī)CMOS傳輸門(mén)υI/υO(shè)υo/υIC等效電路VGS(th)PVGS(th)NVDD0VN溝道管導(dǎo)通P溝道管導(dǎo)通分析原理。先分析只有一個(gè)管時(shí)的情況:?jiǎn)喂芄ぷ鞯娜秉c(diǎn)是:1.有死區(qū);2.導(dǎo)通電阻隨輸入電壓變化很大。采用雙管可克服這些缺點(diǎn)。υI/υO(shè)υo/υIC等效電路||當(dāng)模擬開(kāi)關(guān)將電壓傳輸系數(shù)定義如下:KTG==
采用改進(jìn)電路的四雙向模擬開(kāi)關(guān)74HC4066在VDD=6V時(shí),RTG值只有30?。而且在變化時(shí),RTG基本保持不變。
目前,某些精密CMOS模擬開(kāi)關(guān)的導(dǎo)通電阻已降低到20?以下。0傳輸門(mén)組成的數(shù)據(jù)選擇器C=0TG1導(dǎo)通,TG2斷開(kāi)
L=XTG2導(dǎo)通,TG1斷開(kāi)
L=YC=101XX斷開(kāi)導(dǎo)通0101斷開(kāi)X導(dǎo)通YCH1CH2
CMOS集成電路的主要特點(diǎn)(1)功耗極低。(2)電源電壓范圍寬。CC4000系列:VDD=3~18V(3)抗干擾能力強(qiáng)。輸入端噪聲容限=0.3VDD
~0.45VDD(4)邏輯擺幅大。(5)輸入阻抗極高。(6)扇出能力強(qiáng)。(7)集成度很高,溫度穩(wěn)定性好。(8)抗輻射能力強(qiáng)。CC4000系列:≥50個(gè)≥CMOS電路使用中應(yīng)注意的幾個(gè)問(wèn)題注意輸入端的靜電防護(hù)(導(dǎo)電材料包裝,安裝場(chǎng)地接地)。4.1注意電源電壓極性。(保護(hù)電路中的保護(hù)二極管)多余的輸入端不應(yīng)懸空。與門(mén)、與非門(mén):接電源或與其他輸入端并聯(lián)或門(mén)、或非門(mén):接地或與其他輸入端并聯(lián)3.輸出端不能和電源、地短接。(保護(hù)輸出級(jí)MOS管)4.輸入電路的過(guò)流保護(hù)4.2保護(hù)二極管只能承受1mA電流,因此下列三種情況下輸入端要串入保護(hù)電阻。(1)輸入端接低內(nèi)阻信號(hào)源;(2)輸入端接有大電容;(3)輸入端接長(zhǎng)線(伴生有分布電容和分布電感)。CMOS電路鎖定效應(yīng)的防護(hù)(閱讀P102)
產(chǎn)生鎖定效應(yīng)將造成CMOS電路永久失效??稍谳斎搿⑤敵龆私尤脬Q位保護(hù)電路,在電源輸入端加去偶電路。
應(yīng)確保CMOS電路先通電、后斷電。1)驅(qū)動(dòng)器件的輸出電壓必須處在負(fù)載器件所要求的輸入電壓范圍(屬于電壓兼容性的問(wèn)題)。在數(shù)字電路或系統(tǒng)的設(shè)計(jì)中,往往將TTL和CMOS兩種器件混合使用,以滿足工作速度或者功耗指標(biāo)的要求。由于每種器件的電壓和電流參數(shù)各不相同,因而在這兩種器件連接時(shí),要滿足驅(qū)動(dòng)器件和負(fù)載器件以下兩個(gè)條件:2)驅(qū)動(dòng)器件必須對(duì)負(fù)載器件提供足夠大的拉電流和灌電流(屬于門(mén)電路的扇出數(shù)問(wèn)題).TTL電路和CMOS電路的接口灌電流IILIOLIIL拉電流IIHIOHIIHvOvI驅(qū)動(dòng)門(mén)
負(fù)載門(mén)1
1
VOH(min)vO
VOL(max)
vI
VIH(min)VIL(max)
10111…1n個(gè)01110…1n個(gè)負(fù)載器件所要求的輸入電壓對(duì)負(fù)載器件提供足夠大的拉電流和灌電流VOH(min)≥VIH(min)VOL(max)
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