• 現(xiàn)行
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  • 1995-12-08 頒布
  • 1996-08-01 實(shí)施
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GB/T 3788-1995真空電容器通用技術(shù)條件_第1頁
GB/T 3788-1995真空電容器通用技術(shù)條件_第2頁
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ICS31.060L11中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T3788—1995真空電容器通用技術(shù)條件Generalspecificationforvacuumcapacitors1995-12-08發(fā)布1996-08-01實(shí)施國(guó)家技術(shù)監(jiān)督局發(fā)布

中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T3788-1995真空電容器通用技術(shù)條件代替GB3788-83GB4778-84Generalspecificationforvacuumcapacitors主題內(nèi)客與適用范圍1.1主題內(nèi)容本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了真空電容器的技術(shù)要求和試驗(yàn)方法,以及檢驗(yàn)規(guī)則、標(biāo)志、包裝、運(yùn)輸和財(cái)存等的要1.22適用范圍本標(biāo)準(zhǔn)適用于固定的或可變的、陶瓷外殼或玻璃外殼的真空電容器(以下均簡(jiǎn)稱為電容器)的設(shè)計(jì)生產(chǎn)和使用。2引用標(biāo)準(zhǔn)GB191包裝儲(chǔ)運(yùn)圖示標(biāo)志GB2421電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程總則GB2423.1電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法GB2423.2電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法GB2423.3電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Ca:恒定濕熱試驗(yàn)方法GB2423.6電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程:試驗(yàn)Eb:碰撞試驗(yàn)方法GB2423.10電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Fe:振動(dòng)(正弦)試驗(yàn)方法GB2423.21電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)M:低氣壓試驗(yàn)方法GB2423.22電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)N:溫度變化試驗(yàn)方法GB2829周期檢套計(jì)數(shù)抽樣程序及抽樣表GB2900.1電工術(shù)語基本術(shù)語GB2900.16電工名詞術(shù)語電力電容器GB/T4857.5包裝運(yùn)輸包裝件跌落試驗(yàn)方法GB/T4857.17包裝運(yùn)輸包裝件編制性能試驗(yàn)大綱的一般原理GB/T4857.18包裝專運(yùn)輸包裝件編制性能試驗(yàn)大綱的定量數(shù)據(jù)GB/T4857.19包裝運(yùn)輸包裝件流通試驗(yàn)信息記錄GB6591電子設(shè)備用電容器和電阻器名詞術(shù)語3術(shù)語3.1I下列術(shù)語和定義用于本技術(shù)條件,本技術(shù)條件中其他術(shù)語和定義均按GB2900.1、GB2900.16和GB6591中的規(guī)定。值試驗(yàn)電壓3.2S

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