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文檔簡介

LG電子(惠州)有限公司標準運營表標準名產(chǎn)品復合加速壽命試驗規(guī)則

標準編號LGEHZ-C-1109A管理部門名品質(zhì)保證部制訂/改正/廢棄權(quán)總經(jīng)理制訂日2008年07月08日記案部門名DQA確認周期1年////////////////////-回覽-記案部門區(qū)分成案審查承認職位StaffPart.長室長姓名郝群芳盧臺寧都會勝管理部門區(qū)分擔當確認承認職位StaffPart.長室長姓名郝群芳盧臺寧都會勝目錄MTBF算出方法6頁數(shù)內(nèi)容順序8溫度條件所對就MTBF算出公式51試驗順序(試驗條件,方法,判定基準)44用語定義34目的24適用范圍13改正履歷書2目錄1標準運營表12附表及關(guān)聯(lián)格式912附表812附則710改正履歷書

版本狀態(tài)修改次數(shù)改正內(nèi)容及所在頁碼改正日依賴部門修改人承認01標準新規(guī)制定2008.07.08DQA陳杰盧臺寧2年間確認:無改正2009.01.09DQA郝群芳盧臺寧LGEHZ(審)A4004(021003)CST類SPEAKERCARAUDIO,MINICOMPO,HI-FI類DUMMYEARPHONEAHHA類1.適用范圍此規(guī)則適用于LGEHZ及外駐公司開發(fā),生產(chǎn),出貨產(chǎn)品的壽命試驗.2.目的目的在于產(chǎn)品出貨后消費者使用產(chǎn)品時,在一定時間內(nèi)連續(xù)動作,導致產(chǎn)品的機體性能不良,

為此做好事前試驗,確保產(chǎn)品的信賴性。

1).轉(zhuǎn)動部分的信賴性確認

2).功能的長時間工作變化

3).溫度上升確認3.用語定義壽命試驗(LIFETEST):產(chǎn)品使用上經(jīng)過一定時間后,會因磨損發(fā)生不良,為此隨時間變化而所做的關(guān)聯(lián)試驗。初期壽命試驗(ELT):即EARLYLIFETEST,出貨后初期(3-6個月)信賴性保證而進行的短時間

(MTBF基準值:398Hrs以上)的壽命試驗。短期壽命試驗(STLT):即SHORTTERMLIFETEST,為了在產(chǎn)品保證期間(2年以上)內(nèi),保證/驗證產(chǎn)品的信賴性,在開發(fā)期間實施的短期(MTBF基準值:3188Hrs)的壽命試驗.

長期壽命試驗(LTLT):即LONGTERMLIFETEST,為了確保產(chǎn)品的信賴性,驗證產(chǎn)品的有效使用壽命,在開發(fā)期間實施的中長期(MTBF基準值:11158Hrs,MTBF目標值:

30000Hrs)的壽命試驗。4.試驗順序

4.1試料條件:器具構(gòu)造及回路性能上良好的完成品

4.2試驗條件

1)溫度及濕度:40℃±3℃,

45%±5%R.H2)使用電源:AC額定電壓+15%UP(UL及韓國:60Hz,歐州/其它50Hz)

DC額定電壓

3)負載:

定格負載適用條件額定輸出輸出位置條件1MainSET5W/CH以下VRMAX6W/CH~10W/CH1kHzSINEWAVE,0dB,額定功率

1/3位置11W/CH以上1kHzSINEWAVE,0dB,UNCLIP1/8位置條件2SpeakerSystemModel額定1kHzSINEWAVE,0dB,UNCLIP位置

(內(nèi)銷全MODEL)VOLUME及各種

BOOST機能

ALLMAX,EQ:ROCK(出力全MODEL)

EVENT

區(qū)分DVPVPQ詳細試料數(shù)AHHA/CST類10臺15組23臺15臺HIFI/MINICOMPO類/其它10臺15組15臺10組SPEAKER類10組15組10組10組試驗時間(STLT/LTLT)AHHA/CST類STLT245(10天)163(7天)168(7天)163(7天)LTLT840(35天)560(24天)168(7天)560(24天)HIFI/MINICOMPO類/其它STLT123(5天)82(3天)168(7天)123(5天)LTLT419(18天)280(12天)168(7天)419(18天)SPEAKER類(SET出力條件)STLT123(5天)82(3天)168(7天)123(5天)LTLT419(18天)280(12天)168(7天)419(18天)4)試驗時間及試料數(shù)備注1)試驗時間算出依據(jù);跟據(jù)韓國電力公司1993年調(diào)查統(tǒng)計結(jié)果.(年使用時間)

1.

收音機磁帶-359~1594時間

(X=742時間)

2.??(電蓄)-340.8~796.2時間

(X=517.7時間)5)出力條件①上記條件VOLUME滿足后,各SOURCEPLAY動作確認.②UBB,DSP,HI-TONE,SURR.

各種

BOOSTER:ON,EQ:ROCK,BASS/TREBLE:CENTER位置設定.

(BASS,TREBLE機能除外各種BOOSTER機能VOLUMETYPE?MAX位置)③SPEAKERSYSTEM【表2】的條件下2狀態(tài)48Hrs實施,48Hrs以后條件1適用.(但中南美向96Hrs實施.)【表2】【表1】6)信賴性目標①

MTBF(MEANTIMEBETWEENFAILURE):平均故障發(fā)生時間7年為目標.(修理后可以在使用制品適用.)②MTBF算出故障內(nèi)容處理.

純碎信賴性故障判定項目包含同一故障兩臺以上試料發(fā)生,開發(fā)階段1臺出現(xiàn)故障.NO.分類試驗方法1CD/CST1)試驗用DISC應使用良好的一般MUSICDISC.2)動作狀態(tài)按REPEATALL進行連續(xù)動作.3)因DISC發(fā)生問題時,用標準DISC(PHILIPS5A)來確認.4)VR的位置按1KHz,odB,1/3位置來調(diào)整,調(diào)整后再PLAY.

注:CD-CST帶SPEAKER連同SPEAKER的耐入力試驗一起進行,VR調(diào)至MAX。5)單卡(ONEDECK)情況下,REC狀態(tài)(NOPLAY)下連續(xù)動作.6)雙卡(DOUBLEDECK)AUTORVS的情況.a)ADECK:NOTAPE(PLAY狀態(tài))b)BDECK:TAPEIN(CDREC狀態(tài))7)雙卡(DOUBLEDECK)NONAUTORVS的情況.A,BDECK同時NOTAPE狀態(tài)下動作8)確認時必須在TAPEIN狀態(tài)下進行2一般CST(包括H/FDECK)

1)單卡:NOTAPE(REC狀態(tài))下連續(xù)動作.2)雙卡:AUTORVS的情況下.a)ADECK:NOTAPE(PLAY狀態(tài))b)BDECK:TAPEIN(REC狀態(tài))3)雙卡:NONAUTORVSA,BDECK在無TAPE下連續(xù)動作3M/C

1)試驗用DISC應使用良好的一般MUSICDISC(CD/DVD使用影碟試驗)2)動作狀態(tài)REPEATALL設置進行連續(xù)動作.3)因DISC發(fā)生問題時,用標準DISC(PHILIPS4A)來確認.4)VR的位置按1KHz,odB,UNCLIP1/8位置設置后,用良好的一般

MUSICDISC動作.5)DECK部分以1-5).6).7)項為基準.4

AMP

1)利用外部端子(LINEIN或AUX)施加1KHz正弦波試驗

2)利用別的AUTORVSDECK與標準TAPE(一般MUSICTAPE)

進行連續(xù)動作.3)各種調(diào)整KNOB的位置在ON狀態(tài)實施.5

PLAYER

DISCPlay狀態(tài)下REPEATALL設置進行連續(xù)動作.7)試驗試料設置方法【表3】①

壽命試驗用DISC應良好的一般MUSICDISC適用.

→壽命試驗中DISC的TROUBLE發(fā)生時標準DISC(PHILIPS444A)確認.②DECK類

MECHADECK并且

NONAUTOREVERSEDECK的情況,試驗NOTAPE(WITHOUTTAPE)狀態(tài)實施,

確認必須TAPEIN狀態(tài)CHECK.③中南美向制品,各機能MAX,SPEAKER連接狀態(tài)96Hrs實施.④SPEAKERPOWERTEST中MAINSET信賴性問題發(fā)生時,MAINSET檢討改善.

⑤BUYEROEMMODEL的情況

BYUER要求SPEC及試驗方法進行.8)判定基準階段判定基準DV基準MTBF7年保證期間內(nèi)無信賴性不良發(fā)生.判定1)MTBF2年保證期間,1件或1件以上信賴性不良發(fā)生時:

不合格處理,EVENTPV進行不可以.2)MTBF2年保證期間以上進行無信賴性不良發(fā)生情況;

預備合格處理,EVENTPV進行可/否合議決定.備注1)預備合格后

MTBF7年保證間繼續(xù)試驗制品信賴性確保.

→信賴性不良發(fā)生時;現(xiàn)EVEVT緊急檢討改善品適用.PV基準MTBF2年保證期間內(nèi)無信賴性不良發(fā)生.預備判定1)MTBF2年保證期間1件或1件以上信賴性不良發(fā)生時;

不合格處理,PQ進行不可以.2)DV試驗試料LTLT(MTBF7保證期間)中無信賴性不良發(fā)生,

MTBF2年保證期間以上,無信賴性不良發(fā)生,預備合格處理,EVENTPQ進行可/否合議決定承認.判定最終判定:

DV:MTBF7年保證期內(nèi)繼續(xù)試驗無信賴性不良發(fā)生的情況;

合格處理

PV:MTBF7年保證期間信賴度(R(t))90%滿足時,

合格處理.(品質(zhì)SYSTEMLGCM的RAS利用計算)PQ基準MTBF2年保證期間內(nèi)無信賴性不良發(fā)生..判定PV:MTBF7年保證期間試驗結(jié)果無信賴性不良發(fā)生.PQ:MTBF2年保證期間試驗結(jié)果無信賴性不良發(fā)生,最終合格判定.預備判定1)壽命試驗時間

MTBF2年保證時間以上無信賴性不良發(fā)生,預備合格處理,

次期Event可/否合議決定承認.2)預備合格承認后繼續(xù)加速壽命試驗實施到目標MTBF(7年)為止.

確保信賴性.表4判定基準,回路性能/機構(gòu)外觀沒有異常時,CHECKLIST的項目遵守,檢查發(fā)生異常時不合格處理※DV,PV階段預備判定后信賴性問題點發(fā)生時,現(xiàn)進行EVENT急時實施改善方案,

改善方案改善完了后在進行試驗.(1)主要

CHECK項目

:【附表

1】CHECKLIST參照.【表4】5.1)常溫(25℃)基準

MTBF算出:MTBF=T/Ef=(t×n)/EfT:總試料試驗時間

[T=試驗時間(t)×試驗數(shù)(n)]Ef:推定不良常數(shù)(90%C/L基準)

???

???(表6)???????(ConfidenceLevel)?????.5.2)高溫(40℃)基準

MTBF算出:MTBF=T/Ef×AF={(t×n)/Ef}×AF

T:常溫(25℃)基準保證時間

n:試驗試料數(shù)

AF:加速系數(shù)(Arrhemmius????Model?)=e(-E/K)(1/T1-1/T2)E:ActivationEnergy(0.6)=ln{T50(T1)/T50(0.6)}/10/K{(1/T1)-(1/T2)}K:BOLTZMANCONSTANT{8.617×(1/10n)}n=-5T:試驗溫度

(K)T2:基準溫試驗(K)=273.16+25(273.16?絕對溫度值.)5.溫度條件所對的MTBF算出公式5.3)加速系數(shù)(AF)計算結(jié)果:溫度上升溫度加速系數(shù)35℃10℃UP2.1340℃15℃UP3.0645℃20℃UP4.3450℃25℃UP6.4060℃35℃UP11.6070℃45℃UP21.60【表5】5.4)

??????(推定不良系數(shù))【表6】※Audio

事業(yè)部

Audio制品目標信賴度是

90%.5.5)

試驗數(shù)別試驗日數(shù)圖表【表7】6.MTBF算出方法:

MTBF=【[(試料數(shù)×試驗時間)÷推定不良常數(shù)(90%)]×加速系數(shù)】÷年使用時間※例如:AHHACSTMODEL10臺

40℃溫度狀態(tài)

240Hrs試驗后無不良發(fā)生,問此MODEL的MTBF?

MTBF=【[(試料數(shù)×試驗時間)÷推定不良常數(shù)(90%)]×加速系數(shù)】÷年使用時間

=【[(10×240)÷2.3031]×3.06】÷1594

=

2.00?

→年使用時間:韓國電力公司1993統(tǒng)計基準.(備注1)【表7】6.1MTBF算出結(jié)果:7.附則本規(guī)則于2008年07月08日正式實施8.附表附表1:CheckList

附表2:HomeAudioSpeaker壽命試驗判定基準9.關(guān)聯(lián)格式LGEHZ(品)A4003(060110)壽命試驗附表:1壽命試驗規(guī)格:CHECKLISTNO.內(nèi)容

結(jié)果(共同部分)

1有無熱爆的現(xiàn)象?

2有無FUSE熔斷現(xiàn)象?

3有無異常發(fā)振?

4

P/T有無熱老化的現(xiàn)象?

5有無輸出降低?

6

CABINET有無因過熱變色現(xiàn)象?

7外觀問題上有無給實用帶來影響?

(DECK部)

1錄音是否良好.

2有無JAM現(xiàn)象?

3有無AUTOSTOP?

4

TORQUE有無降低?

5有無WOW/FLUTTER不良?

6有無SPEED不良?

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