標(biāo)準(zhǔn)解讀

《GB/T 28277-2012 硅基MEMS制造技術(shù) 微鍵合區(qū)剪切和拉壓強(qiáng)度檢測(cè)方法》是一項(xiàng)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn),主要針對(duì)硅基微機(jī)電系統(tǒng)(MEMS)中的微鍵合區(qū)域的機(jī)械性能測(cè)試提供了具體的方法指導(dǎo)。該標(biāo)準(zhǔn)詳細(xì)規(guī)定了如何通過(guò)實(shí)驗(yàn)手段來(lái)評(píng)估這些微小結(jié)構(gòu)在受到剪切力或壓力作用時(shí)的抗破壞能力,從而幫助研究者與工程師更好地理解材料及工藝對(duì)最終產(chǎn)品可靠性的影響。

標(biāo)準(zhǔn)首先明確了適用范圍,指出其適用于各類(lèi)采用不同鍵合技術(shù)(如陽(yáng)極鍵合、共晶鍵合等)形成的硅基MEMS器件中微鍵合區(qū)的強(qiáng)度測(cè)試。接著,它描述了一系列關(guān)鍵術(shù)語(yǔ)及其定義,確保所有讀者對(duì)于文中提到的專(zhuān)業(yè)詞匯有一致的理解基礎(chǔ)。

接下來(lái)的部分重點(diǎn)介紹了進(jìn)行剪切強(qiáng)度測(cè)試的具體步驟,包括樣品準(zhǔn)備、夾具設(shè)計(jì)、加載方式以及數(shù)據(jù)記錄等方面的要求。此外,還特別強(qiáng)調(diào)了實(shí)驗(yàn)過(guò)程中需要注意的安全事項(xiàng)和技術(shù)細(xì)節(jié),比如控制加載速率以保證結(jié)果的有效性和可重復(fù)性。

對(duì)于拉壓強(qiáng)度測(cè)試,《GB/T 28277-2012》同樣給出了詳細(xì)的指導(dǎo)原則。這部分內(nèi)容涵蓋了從試樣選擇到最終數(shù)據(jù)分析的全過(guò)程,旨在提供一套標(biāo)準(zhǔn)化的操作流程,以便于不同實(shí)驗(yàn)室之間能夠相互比較研究成果。

整個(gè)文檔還包括了一些輔助信息,例如推薦使用的設(shè)備規(guī)格參數(shù)、可能影響測(cè)試結(jié)果的因素分析等,這些都是為了進(jìn)一步提高測(cè)試精度而設(shè)。通過(guò)遵循此標(biāo)準(zhǔn)所提出的方法論,研究人員可以獲得更加準(zhǔn)確可靠的關(guān)于硅基MEMS微鍵合區(qū)力學(xué)性能的數(shù)據(jù),這對(duì)于推動(dòng)相關(guān)領(lǐng)域內(nèi)新材料開(kāi)發(fā)及生產(chǎn)工藝優(yōu)化具有重要意義。


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....

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  • 2012-05-11 頒布
  • 2012-12-01 實(shí)施
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GB/T 28277-2012硅基MEMS制造技術(shù)微鍵合區(qū)剪切和拉壓強(qiáng)度檢測(cè)方法_第1頁(yè)
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文檔簡(jiǎn)介

ICS31200

L55.

中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)

GB/T28277—2012

硅基MEMS制造技術(shù)

微鍵合區(qū)剪切和拉壓強(qiáng)度檢測(cè)方法

Silicon-basedMEMSfabricationtechnology—

Measurementmethodofcuttingandpull-pressstrengthofmicrobondingarea

2012-05-11發(fā)布2012-12-01實(shí)施

中華人民共和國(guó)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局發(fā)布

中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)

GB/T28277—2012

目次

前言…………………………

范圍………………………

11

規(guī)范性引用文件…………………………

21

術(shù)語(yǔ)和定義………………

31

要求………………………

42

檢測(cè)結(jié)構(gòu)的設(shè)計(jì)要求………………

4.12

檢測(cè)結(jié)構(gòu)制備要求…………………

4.24

檢測(cè)環(huán)境要求………………………

4.34

檢測(cè)方法…………………

55

總則…………………

5.15

拉壓式微結(jié)構(gòu)鍵合強(qiáng)度檢測(cè)………………………

5.25

剪切式微結(jié)構(gòu)鍵合強(qiáng)度檢測(cè)………………………

5.36

附錄資料性附錄拉壓式檢測(cè)結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)尺寸和斷裂強(qiáng)度對(duì)應(yīng)表…………………

A()8

附錄資料性附錄拉壓式檢測(cè)結(jié)構(gòu)測(cè)試實(shí)例………

B()16

GB/T28277—2012

前言

本標(biāo)準(zhǔn)按照給出的規(guī)則起草

GB/T1.1—2009。

本標(biāo)準(zhǔn)由全國(guó)微機(jī)電技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)提出并歸口

(SAC/TC336)。

本標(biāo)準(zhǔn)起草單位北京大學(xué)中機(jī)生產(chǎn)力促進(jìn)中心中國(guó)電子科技集團(tuán)第十三研究所中國(guó)科學(xué)院上

:、、、

海微系統(tǒng)與信息技術(shù)研究所中國(guó)電子科技集團(tuán)第四十九研究所

、。

本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人張大成王瑋劉偉楊芳姜森林崔波熊斌田雷

:、、、、、、、。

GB/T28277—2012

硅基MEMS制造技術(shù)

微鍵合區(qū)剪切和拉壓強(qiáng)度檢測(cè)方法

1范圍

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了硅基加工過(guò)程中所涉及的微小鍵合區(qū)域鍵合強(qiáng)度檢測(cè)的要求和試驗(yàn)方法

MEMS。

本標(biāo)準(zhǔn)適用于采用微電子工藝及相關(guān)微細(xì)加工技術(shù)制造的微小鍵合區(qū)的剪切和拉壓強(qiáng)度測(cè)試

。

2規(guī)范性引用文件

下列文件對(duì)于本文件的應(yīng)用是必不可少的凡是注日期的引用文件僅注日期的版本適用于本文

。,

件凡是不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改單適用于本文件

。,()。

微機(jī)電系統(tǒng)技術(shù)術(shù)語(yǔ)和定義

GB/T26111—2010(MEMS)

測(cè)量管理體系測(cè)量過(guò)程和測(cè)量設(shè)備的要求

GB/T19022—2003

3術(shù)語(yǔ)和定義

和界定的以及下列術(shù)語(yǔ)和定義適用于本文件

GB/T26111—2010GB/T19022—2003。

31

.

體微加工工藝bulkmicromachining

通過(guò)選擇性去除部分基底材料實(shí)現(xiàn)微結(jié)構(gòu)的微機(jī)械加工方法

。

注體微機(jī)械工藝是通過(guò)化學(xué)方法刻蝕去除基底不需要部分的加工方法通過(guò)使用或掩模可以保護(hù)表

:。SiO2Si3N4

面不被刻蝕硼摻雜層也可以停止表面層以下部分的刻蝕

。。

定義

[GB/T26111—2010,3.5.16]

32

.

干法刻蝕dryetching

利用可產(chǎn)生物理和或化學(xué)反應(yīng)的氣體或等離子體進(jìn)行刻蝕的技術(shù)

/。

注電子能量所產(chǎn)生的可反應(yīng)氣體與襯底反應(yīng)并移除材料形成所需的形狀或尺寸干法刻蝕可分為利用化學(xué)反

:,。

應(yīng)的各向同性腐蝕等離子刻蝕和利用物理反應(yīng)的直接刻蝕離子刻蝕

()()。

定義

[GB/T26111—2010,3.5.18]

33

.

濕法刻蝕wetetching

利用與待刻材料可產(chǎn)生化學(xué)反應(yīng)的溶液對(duì)薄膜或器件結(jié)構(gòu)進(jìn)行腐

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