GB/T 26140-2010無(wú)損檢測(cè)測(cè)量殘余應(yīng)力的中子衍射方法

ICS19100

J04.

中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)

GB/T26140—2010/ISO/TS214322005

:

無(wú)損檢測(cè)

測(cè)量殘余應(yīng)力的中子衍射方法

Non-destructivetesting—

Standardstestmethodfordeterminingresidualstresses

byneutrondiffraction

(ISO/TS21432:2005,IDT)

2011-01-14發(fā)布2011-10-01實(shí)施

中華人民共和國(guó)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局發(fā)布

中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)

GB/T26140—2010/ISO/TS214322005

:

目次

前言…………………………

Ⅲ

引言…………………………

Ⅳ

范圍………………………

11

規(guī)范性引用文件…………………………

21

術(shù)語(yǔ)和定義………………

31

符號(hào)和縮略語(yǔ)……………

44

方法概要…………………

56

測(cè)量準(zhǔn)備…………………

610

材料表征…………………

714

記錄要求和測(cè)量過(guò)程……………………

815

應(yīng)力計(jì)算…………………

917

結(jié)果可靠性……………

1019

報(bào)告……………………

1119

附錄資料性附錄測(cè)量過(guò)程…………

A()21

附錄資料性附錄被測(cè)物理量不確定度的測(cè)定……………………

B()26

參考文獻(xiàn)……………………

28

Ⅰ

GB/T26140—2010/ISO/TS214322005

:

前言

本標(biāo)準(zhǔn)等同采用無(wú)損檢測(cè)測(cè)量殘余應(yīng)力的中子衍射方法英文版

ISO/TS21432:2005《》()。

本標(biāo)準(zhǔn)等同翻譯

ISO/TS21432:2005。

為便于使用本標(biāo)準(zhǔn)作了如下修改

,:

本國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)一詞改為本標(biāo)準(zhǔn)

———“”“”;

刪除國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)的前言

———;

將國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)勘誤納入本標(biāo)準(zhǔn)

———ISO/TS21432:2005/Cor.1:2008(E);

用規(guī)定的引導(dǎo)語(yǔ)代替國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)中的引導(dǎo)語(yǔ)

———GB/T1.1—2000;

勘誤了國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)圖中圖例和圖例的錯(cuò)誤互換了圖例和圖例的內(nèi)容

———123,23;

勘誤了國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)圖中對(duì)散射角的表述錯(cuò)誤將θa修改為θ相應(yīng)的圖例a也修改為θ

———2,22,2;

勘誤了國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)圖中質(zhì)心的標(biāo)示錯(cuò)誤將改為

———8c)SGV,“O”“X”;

勘誤了國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)附錄中的引用錯(cuò)誤將改為

———A.5.1,A.4.4A.4.5。

本標(biāo)準(zhǔn)附錄和附錄為資料性附錄

AB。

本標(biāo)準(zhǔn)由全國(guó)無(wú)損檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)提出并歸口

(SAC/TC56)。

本標(biāo)準(zhǔn)起草單位中國(guó)工程物理研究院核物理與化學(xué)研究所上海泰司檢測(cè)科技有限公司上海誠(chéng)

:、、

友實(shí)業(yè)有限公司上海威誠(chéng)邦達(dá)檢測(cè)技術(shù)有限公司上海材料研究所

、、。

本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人陳波孫光愛(ài)黃朝強(qiáng)熊智明金宇飛

:、、、、。

Ⅲ

GB/T26140—2010/ISO/TS214322005

:

引言

中子衍射是一種測(cè)定晶體材料殘余應(yīng)力和外施應(yīng)力的無(wú)損檢測(cè)方法可用于測(cè)定材料內(nèi)部和近表

,

面的應(yīng)力測(cè)量時(shí)將樣品或工程部件運(yùn)送到中子源處測(cè)量得到彈性應(yīng)變?nèi)缓笤俎D(zhuǎn)換為應(yīng)力本標(biāo)準(zhǔn)

,,,。

制定的目的是為工程應(yīng)用中應(yīng)力的可靠測(cè)定提供技術(shù)規(guī)范

。

Ⅳ

GB/T26140—2010/ISO/TS214322005

:

無(wú)損檢測(cè)

測(cè)量殘余應(yīng)力的中子衍射方法

警告本標(biāo)準(zhǔn)不涉及任何安全問(wèn)題即使有任何這方面的內(nèi)容也是與其應(yīng)用有關(guān)適用的安全和

:,,。

健康行為規(guī)范由本標(biāo)準(zhǔn)的用戶建立并在使用本標(biāo)準(zhǔn)時(shí)加以遵守

,。

1范圍

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了中子衍射測(cè)量多晶材料殘余應(yīng)力的方法本標(biāo)準(zhǔn)適用于均勻和非均勻材料以及含不

。

同晶相的塊狀樣品檢測(cè)

。

本標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)要介紹了中子衍射技術(shù)的原理測(cè)量不同種類材料時(shí)對(duì)應(yīng)采用的衍射晶面給出了建議為

,,

如何選擇與被測(cè)材料晶粒尺寸和應(yīng)力狀態(tài)有關(guān)的測(cè)量方向和待測(cè)體積提供了指導(dǎo)

。

本標(biāo)準(zhǔn)描述了準(zhǔn)確定位和校正中子束內(nèi)檢測(cè)部位的過(guò)程目的是在測(cè)量時(shí)能夠準(zhǔn)確定義樣品材料

,

的取樣體積

。

本標(biāo)準(zhǔn)描述了標(biāo)定中子衍射裝置需要注意的問(wèn)題介紹了獲取無(wú)應(yīng)力參考值的技術(shù)方法

,。

本標(biāo)準(zhǔn)詳細(xì)描述了中子衍射測(cè)量各種彈性應(yīng)變的方法闡明了結(jié)果分析和確定統(tǒng)計(jì)相關(guān)性的過(guò)程

,,

對(duì)如何從應(yīng)變數(shù)據(jù)獲得可靠的殘余或外施應(yīng)力以及如何評(píng)價(jià)結(jié)果的不確定度提出了建議

(),。

2規(guī)范性引用文件

下列文件中的條款通過(guò)本標(biāo)準(zhǔn)的引用而成為本標(biāo)準(zhǔn)的條款凡是注日期的引用文件其隨后所有

。,

的修改單不包括勘誤的內(nèi)容或修訂版均不適用于本標(biāo)準(zhǔn)然而鼓勵(lì)根據(jù)本標(biāo)準(zhǔn)達(dá)成協(xié)議的各方研究

(),,

是否可使用這些文件的最新版本凡是不注日期的引用文件其最新版本適用于本標(biāo)準(zhǔn)

。,。

無(wú)損檢測(cè)多晶和非晶材料的射線衍射第部分儀器

EN1392