GB/T 2423.59-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Z/ABMFh：溫度(低溫、高溫)/低氣壓/振動(dòng)(隨機(jī))綜合

犐犆犛１９．０２０

犓０４

中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)

犌犅／犜２４２３．５９—２００８

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)

第２部分：試驗(yàn)方法

試驗(yàn)犣／犃犅犕犉犺：溫度（低溫、高溫）／

低氣壓／振動(dòng)（隨機(jī)）綜合

犈狀狏犻狉狅狀犿犲狀狋犪犾狋犲狊狋犻狀犵犳狅狉犲犾犲犮狋狉犻犮犪狀犱犲犾犲犮狋狉狅狀犻犮狆狉狅犱狌犮狋狊—

犘犪狉狋２：犜犲狊狋犿犲狋犺狅犱狊—犜犲狊狋犣／犃犅犕犉犺：犆狅犿犫犻狀犲犱狋犲犿狆犲狉犪狋狌狉犲（犮狅犾犱犪狀犱犺犲犪狋）／

犾狅狑犪犻狉狆狉犲狊狊狌狉犲／狏犻犫狉犪狋犻狅狀（狉犪狀犱狅犿）

２００８１２３０發(fā)布２００９１１０１實(shí)施

中華人民共和國(guó)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局

發(fā)布

中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)

書

犌犅／犜２４２３．５９—２００８

目次

前言!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!Ⅲ

１范圍!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!１

２規(guī)范性引用文件!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!１

３定義和術(shù)語(yǔ)!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!１

４一般說(shuō)明!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!１

５試驗(yàn)設(shè)備!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!２

６樣品的安裝!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!２

７嚴(yán)酷等級(jí)!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!２

８預(yù)處理!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!４

９初始檢測(cè)!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!４

１０試驗(yàn)!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!４

１１中間檢測(cè)!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!５

１２恢復(fù)!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!５

１３最終檢測(cè)!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!５

１４失效判據(jù)!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!５

１５有關(guān)規(guī)范應(yīng)提供的信息!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!５

附錄Ａ（資料性附錄）導(dǎo)則!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!８

附錄Ｂ（資料性附錄）ＧＢ／Ｔ２４２３的組成部分!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!１０

Ⅰ

書

犌犅／犜２４２３．５９—２００８

前言

ＧＢ／Ｔ２４２３《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第２部分：試驗(yàn)方法》的組成部分見附錄Ｂ。

本部分為ＧＢ／Ｔ２４２３的第５９部分。

本部分的附錄Ａ、附錄Ｂ為資料性附錄。

本部分由全國(guó)電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件與環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)（ＳＡＣ／ＴＣ８）提出并歸口。

本部分起草單位：信息產(chǎn)業(yè)部電子第五研究所、電信科學(xué)技術(shù)第一研究所、中國(guó)電信股份有限公司

廣東研究院、北京航空航天大學(xué)。

本部分主要起草人：紀(jì)春陽(yáng)、魏蓓、解禾、陳健兒、吳颯、陽(yáng)川。

Ⅲ

犌犅／犜２４２３．５９—２００８

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)

第２部分：試驗(yàn)方法

試驗(yàn)犣／犃犅犕犉犺：溫度（低溫、高溫）／

低氣壓／振動(dòng)（隨機(jī)）綜合

１范圍

ＧＢ／Ｔ２４２３的本部分規(guī)定了溫度（低溫、高溫）／低氣壓／振動(dòng)（隨機(jī)）綜合試驗(yàn)的基本要求、嚴(yán)酷等

級(jí)、試驗(yàn)程序以及其他技術(shù)細(xì)則。

本部分適用于確定產(chǎn)品在溫度（低溫、高溫）、低氣壓和振動(dòng)（隨機(jī)）綜合作用下的適應(yīng)性。有溫度變

化的綜合試驗(yàn)可參考本部分。

２規(guī)范性引用文件

下列文件中的條款通過(guò)ＧＢ／Ｔ２４２３的本部分的引用而成為本部分的條款。凡是注日期的引用文

件，其隨后所有的修改單（不包括勘誤的內(nèi)容）或修訂版均不適用于本部分。然而，鼓勵(lì)根據(jù)本部分達(dá)成

協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本適用于本

部分。

ＧＢ／Ｔ２４２２電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)術(shù)語(yǔ)

ＧＢ／Ｔ２４２３．１電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第２部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ａ：低溫（ＧＢ／Ｔ２４２３．１—

２００８，ＩＥＣ６００６８２１：２００７，ＩＤＴ）

ＧＢ／Ｔ２４２３．２電工電子產(chǎn)品環(huán)境第２部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ｂ：高溫（ＧＢ／Ｔ２４２３．２—２００８，

ＩＥＣ６００６８２２：２００７，ＩＤＴ）

ＧＢ／Ｔ２４２３．２１電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第２部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ｍ：低氣壓試驗(yàn)方法（ＧＢ／Ｔ

２４２３．２１—２００８，ＩＥＣ６００６８２１３：１９８３，ＩＤＴ）

ＧＢ／Ｔ２４２３．２６電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第２部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ｚ／ＢＭ：高溫／低氣壓綜合試

驗(yàn)（ＧＢ／Ｔ２４２３．２６—２００８，ＩＥＣ６００６８２４１：１９７６，ＩＤＴ）

ＧＢ／Ｔ２４２３．４３電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)