GB/T 2423.35-2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Z/AFc：散熱和非散熱試驗(yàn)樣品的低溫/振動(dòng)(正弦)綜合試驗(yàn)

ICS19.040K04中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T2423.35-2005/IEC60068-2-50:1983代替GB/T2423.35-—1986電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Z/AFc:散熱和非散熱試驗(yàn)樣品的低溫/振動(dòng)(正弦)綜合試驗(yàn)Environmentaltestingforelectricandelectronicproducts-Part2:TestMethods-andnon-heat-dissipatingSpecimens(IEC60068-2-50:1983,BasicenvironmentaltestingproceduresPart2：Tests--TestZ/AFc:Combinedcold/vibration（sinusoidal)testsforbothheat-dissipatingandnon-heat-dissipatingspecimens,IDT)2005-08-26發(fā)布2006-04-01實(shí)施中華人民共和國(guó)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局愛布中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)

GB/T2423.35-2005/IEC60068-2-50:1983前言引言0.10.2振動(dòng)·0.3溫度·0.4規(guī)范性引用文件·12一般說(shuō)明3試驗(yàn)設(shè)備嚴(yán)酷等級(jí)5溫度監(jiān)測(cè)點(diǎn)的選擇和監(jiān)測(cè)溫度的確定(僅適用于散熱試驗(yàn)樣品）6預(yù)處理7初始檢測(cè)條件試驗(yàn)9中間檢測(cè)10恢復(fù)…最后檢測(cè)12失效判據(jù)13有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)具有的內(nèi)容·圖1非散熱試驗(yàn)樣品試驗(yàn)曲線圖圖2敵熱試驗(yàn)樣品試驗(yàn)曲線圖

GB/T2423.35-2005/IEC60068-2-50：1983本部分等同采用IEC60068-2-50：1983《基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程：第2部分：試驗(yàn)Z/AFc:散熱和非散熱試驗(yàn)樣品的低溫/振動(dòng)(正弦)綜合試驗(yàn)》英文版）為便于使用，本部分刪除了國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)的前言。本部分代替（B/T2423.35—1986《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Z/AFc:散熱和非散熱試驗(yàn)樣品的低溫/振動(dòng)(正弦)綜合試驗(yàn)方法》.本次修訂根據(jù)（B/T1.1—2000《標(biāo)準(zhǔn)化工作導(dǎo)則第1部分;標(biāo)準(zhǔn)的結(jié)構(gòu)和編寫規(guī)則》和GB/T20000.2—2001《標(biāo)準(zhǔn)化工作指南第2部分：采用國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)則》對(duì)標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行格式編排。本部分與GB/T2423.35—1986的主要有下列差異：a）本部分的技術(shù)內(nèi)容、編寫格式及表達(dá)方法與IEC60068-2-50：1983相一致。而GB/T2423.35—1986的編寫格式與IEC60068-2-50:1983有差異。本部分在規(guī)范性引用文件中,恢復(fù)了國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)IEC60068-2-50:1983中未被GB/T2423.351986引用的有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)和內(nèi)容，如GB/T2423.43《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法元件、設(shè)備和其他產(chǎn)品在沖擊（Ea）、碰撞（Eb)、振動(dòng)(Fe和Fd)和穩(wěn)態(tài)加速度(Ga)等動(dòng)力學(xué)試驗(yàn)中的安裝要求和導(dǎo)則》.刪除了GB/T2423.35—1986增加而國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)IEC60068-2-50:1983中沒(méi)有引用的有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)和內(nèi)容，如GB/T2424.22電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程溫度(低溫、高溫)/振動(dòng)(正弦)綜合試驗(yàn)導(dǎo)則》。本部分由中國(guó)電器工業(yè)協(xié)會(huì)提出。本部分由全國(guó)電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件與環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)歸口本部分起草單位：信息產(chǎn)業(yè)部電子第五研究所。本部分主要起草人：陳瑜紅、紀(jì)春陽(yáng)。本部分于1986年首次發(fā)布。

GB/T2423.35-2005/IEC60068-2-50：19830.1概述本部分適用于散熱和非散熱試驗(yàn)樣品的低溫/振動(dòng)(正弦)綜合試驗(yàn)，基本上是試驗(yàn)Fc:振動(dòng)(正弦）和試驗(yàn)A:低溫的綜合本試驗(yàn)方法只適用于試驗(yàn)樣品爆露在低溫條件下達(dá)到溫度穩(wěn)定的情況注：散熱試驗(yàn)樣品的試驗(yàn)程序不包括樣品穩(wěn)定在試驗(yàn)溫度時(shí)的通電情況。對(duì)于非散熱試驗(yàn)樣品的試驗(yàn)程序,當(dāng)在振動(dòng)綜合的條件下要求低溫通電時(shí)，可在整個(gè)試驗(yàn)期間進(jìn)行指定的或連續(xù)的功能測(cè)試。0.2振動(dòng)振動(dòng)試驗(yàn)基本上等同于試驗(yàn)Fc:可以采用試驗(yàn)Fc的一個(gè)或多個(gè)耐久試驗(yàn)程序,但此綜合試驗(yàn)中不包括耐久條件試驗(yàn)之后的振動(dòng)響應(yīng)檢查。0.3溫度測(cè)試散熱試驗(yàn)樣品的溫度條件是以與自由空氣條件相同的方式使試驗(yàn)樣品經(jīng)受溫度應(yīng)力由于在帶振動(dòng)臺(tái)的試驗(yàn)箱中模擬自由空氣條件的影響有困難,所以本試驗(yàn)通常使用強(qiáng)迫空氣循環(huán)試驗(yàn)樣品表面最熱點(diǎn)作為溫度的監(jiān)測(cè)點(diǎn)，試驗(yàn)前,在規(guī)定環(huán)境溫度的自由空氣條件下，確定試驗(yàn)樣品的監(jiān)測(cè)點(diǎn)和監(jiān)測(cè)溫度。0.4規(guī)范性引用文件下列文件中的條款，通過(guò)在GB/T2423的本部分的引用而成為本部分的條款。凡是注日期的引用文件.其隨后所有的修改單(不包括誤的內(nèi)容)或修訂版不適用于本部分.然而，鼓勵(lì)根據(jù)本部分達(dá)成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件.其最新版本適用于本部分。GB/T2421—1999電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第1部分：總則(idtIEC60068-1:1988)GB/T2422-1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)術(shù)語(yǔ)(eqvIEC60068-5-2:1990）GB/T2423.1-2001電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)A:低溫(idtIEC60068-2-1:1990）GB/T2423.10電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Fe和導(dǎo)則：振動(dòng)（正弦)（GB/T2423.10—1995.idtIEC60068-2-6:1982）GB2423.22電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)N:溫度變化（GB/T2423.22-2002.IEC60068-2-14:1984IDT)GB/T2423.43電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)、第2部分：試驗(yàn)方法元件、設(shè)備和其他產(chǎn)品在沖擊（Ea)、碰撞（Eb)、振動(dòng)（Fe和Fd）和穩(wěn)態(tài)加速度（Ga）等動(dòng)力學(xué)試驗(yàn)中的安裝要求和導(dǎo)則（GB/T2423.43-1995.idtIEC60068-2-47:1982）GB/T2424.1電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)高溫低溫試驗(yàn)導(dǎo)則（GB/T2424.1—1989,eqvIEC60068-3-1）

GB/T2423.35-2005/IEC60068-2-50：1983電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Z/AFc:散熱和非散熱試驗(yàn)樣品的低溫/振動(dòng)(正弦)綜合試驗(yàn)?zāi)康奶峁┮粋€(gè)標(biāo)準(zhǔn)的試驗(yàn)程序以確定散熱和非散熱元器件、設(shè)備或其他產(chǎn)品在低溫與振動(dòng)綜合條件下使用、賠存和運(yùn)輸?shù)倪m應(yīng)性2一般說(shuō)明本試驗(yàn)是試驗(yàn)A:低溫和試驗(yàn)Fc;振動(dòng)(正弦)的綜合試驗(yàn)注：試驗(yàn)Ab和Ad要求在條件試驗(yàn)的升溫和降溫過(guò)程中溫度變化速率不超過(guò)1K/mim(5min平均）。對(duì)于經(jīng)受熱沖擊的試驗(yàn)樣品(通常是指經(jīng)受試驗(yàn)Aa的、并能經(jīng)受試驗(yàn)Na和Ne快速溫度變化的試驗(yàn)樣品）不受最大溫度變化速率1K/mmn的限制,對(duì)于這些試驗(yàn)樣品，可以使用能滿足試驗(yàn)Aa(溫度突變）條件的試驗(yàn)箱試驗(yàn)樣品除非已進(jìn)行過(guò)試驗(yàn)A和Fe（并記錄其試驗(yàn)結(jié)果）否則應(yīng)首先在試驗(yàn)室溫度條件下進(jìn)行振動(dòng)試驗(yàn).然后經(jīng)受低溫試驗(yàn)，達(dá)到溫度穩(wěn)定后，試驗(yàn)樣品再經(jīng)受振動(dòng)和低溫的綜合試驗(yàn)。試驗(yàn)部面見圖1和圖2.振動(dòng)環(huán)境可以是以下一種或幾種：“）耐久掃頻試驗(yàn)；振動(dòng)響應(yīng)檢查，以及由振動(dòng)響應(yīng)檢查得出頻率上的耐久試驗(yàn)；預(yù)定頻率上的耐久試驗(yàn)3試驗(yàn)設(shè)備3.1試驗(yàn)箱的要求3.1.1非散熱試驗(yàn)樣品的試驗(yàn)這類試驗(yàn)箱應(yīng)滿足試驗(yàn)Aa或Ab中給出的要求(見第2章注）3.1.2散熱試驗(yàn)樣品的試驗(yàn)溫度監(jiān)測(cè)點(diǎn)的選擇和監(jiān)測(cè)溫度的確定，可在滿足下述條件a)或者b)的試驗(yàn)箱（或室)中進(jìn)行。）通常提供強(qiáng)迫空氣循環(huán)的試驗(yàn)箱，能在低溫條件下模擬“自由空氣"條件的影響,并滿足試驗(yàn)A中試驗(yàn)Ad的“試驗(yàn)設(shè)備"中給出的要求。b）能保護(hù)試驗(yàn)樣品不受太陽(yáng)輻照及通風(fēng)干擾的試驗(yàn)箱(或室）見5.1.2)。這種試驗(yàn)使用的試驗(yàn)箱,通常應(yīng)有強(qiáng)迫空氣循環(huán)。應(yīng)滿足試驗(yàn)AdGB/T2423.1-2001中的25.1和試驗(yàn)AbGB/T2423.1-2001中的第14章所給出的要求（見第2章注）3.2振動(dòng)系統(tǒng)的要