GB/T 22181.5-2015等離子體顯示器件第5部分:總規(guī)范

ICS31120

L47.

中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)

GB/T221815—2015

代替.

GB/T11482—1989

等離子體顯示器件

第5部分總規(guī)范

:

Plasmadisplaypanels—

Part5Genericsecification

:p

2015-06-02發(fā)布2016-02-01實(shí)施

中華人民共和國(guó)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局發(fā)布

中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)

GB/T221815—2015

.

目次

前言

…………………………Ⅲ

范圍

1………………………1

規(guī)范性引用文件

2…………………………1

術(shù)語定義單位符號(hào)和縮略語

3、、、…………2

術(shù)語和定義

3.1…………………………2

單位符號(hào)和縮略語

3.2、…………………3

總則

4………………………3

優(yōu)先順序

4.1……………3

標(biāo)準(zhǔn)大氣條件

4.2………………………3

標(biāo)志

4.3…………………4

質(zhì)量評(píng)定類別

4.4………………………4

篩選

4.5…………………4

操作

4.6…………………4

質(zhì)量評(píng)定程序

5……………5

總則

5.1…………………5

鑒定批準(zhǔn)和或能力批準(zhǔn)的資格

5.2/……………………5

初始制造階段

5.3………………………5

商業(yè)保密信息

5.4………………………5

檢驗(yàn)批的構(gòu)成

5.5………………………5

結(jié)構(gòu)相似器件

5.6………………………5

零部件

5.7………………5

交貨放行的有效性

5.8…………………5

鑒定批準(zhǔn)試驗(yàn)

5.9………………………5

鑒定批準(zhǔn)的授予

5.10……………………6

質(zhì)量一致性檢驗(yàn)

5.11……………………6

統(tǒng)計(jì)抽樣程序

5.12………………………9

耐久性試驗(yàn)

5.13…………………………9

規(guī)定失效率的耐久性試驗(yàn)

5.14…………9

加速試驗(yàn)程序

5.15……………………10

能力批準(zhǔn)程序

5.16……………………10

試驗(yàn)和測(cè)量程序

6…………………………10

標(biāo)準(zhǔn)條件和一般預(yù)防措施

6.1…………10

物理檢查

6.2……………11

電學(xué)光學(xué)和顯示性能測(cè)量

6.3、………………………11

氣候和機(jī)械試驗(yàn)

6.4……………………11

替代試驗(yàn)方法

6.5………………………11

Ⅰ

GB/T221815—2015

.

耐久性試驗(yàn)

6.6…………………………11

附錄規(guī)范性附錄批允許不合格品率抽樣方案

A()(LTPD)…………12

附錄資料性附錄規(guī)范的基本描述

B()…………………18

表抽樣方案

A.1LTPD…………………13

表等于或小于的小批量超幾何抽樣方案

A.2200……………………15

表和抽樣方案

A.3AQLLTPD…………17

Ⅱ

GB/T221815—2015

.

前言

等離子體顯示器件的預(yù)計(jì)結(jié)構(gòu)如下

GB/T22181《》:

第部分術(shù)語與文字符號(hào)

———1:(GB/T22181.1—2008);

第部分光學(xué)參數(shù)測(cè)量方法

———2-1:(GB/T22181.21—2008);

第部分光電參數(shù)測(cè)量方法

———2-2:(GB/T22181.22—2008);

第部分模塊顯示質(zhì)量測(cè)量方法

———2-3:(GB/T22181.23—2012);

第部分?jǐn)?shù)字電視機(jī)用器件特性測(cè)量方法

———2-4:;

第部分機(jī)械接口

———3-1:;

第部分電子接口

———3-2:;

第部分氣候和機(jī)械試驗(yàn)方法

———4:;

第部分總規(guī)范

———5:(GB/T22181.5—2015);

第部分?jǐn)?shù)字電視機(jī)用等離子體顯示器件空白詳細(xì)規(guī)范

———6:。

本部分是的第部分

GB/T221815。

本部分按照給出的規(guī)則起草

GB/T1.1—2009。

本部分代替交流等離子體顯示器件總規(guī)范可供認(rèn)證用本部分與

GB/T11482—1989《()》。

相比除編輯性修改外主要技術(shù)性變化如下

GB/T11482—1989,,:

增加了術(shù)語平均顯示亮度平均圖像電平色域覆蓋率高灰度色域覆蓋率低灰度色域覆蓋

———:、、、、

率平均功耗視角亮度視角對(duì)比度視角色度視角動(dòng)態(tài)圖像分辨率圖像條紋閃爍和噪

、、、、、、、、

聲及其定義見

,(3.1);

增加了質(zhì)量評(píng)定類別篩選和操作等內(nèi)容見和

———、(4.4、4.54.6);

在質(zhì)量評(píng)定程序中修改了檢驗(yàn)分組的劃分增加了簡(jiǎn)化檢驗(yàn)的補(bǔ)充程序和抽樣方案

———,,LTPD

見和

(5.11.2、5.11.45.12.2);

試驗(yàn)項(xiàng)目和試驗(yàn)方法采用

———GB/T22181.21—2008、GB/T22181.22—2008、GB/T22181.23—

和標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定的項(xiàng)目和方法

2012SJ/T11379—2008;

增加了附錄批允許不合格品率抽樣方案和附錄規(guī)范的基本描述

———A[(LTPD)]B()。

請(qǐng)注意本文件的某些內(nèi)容可能涉及專利本文件的發(fā)布機(jī)構(gòu)不承擔(dān)識(shí)別這些專利的責(zé)任

。。

本部分由中華人民共和國(guó)工業(yè)和信息化部提出

。

本部分由中國(guó)電子技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化研究院歸口

。

本部分起草單位四川虹歐顯示器件有限公司西安交通大學(xué)四川長(zhǎng)虹電器股份有限公司

:、、。

本部分主要起草人鄧新群胡文波王平松趙曉東王麗雯黃長(zhǎng)戈唐禮

:、、、、、、。

本部分所代替標(biāo)準(zhǔn)的歷次版本發(fā)布情況為

:

———GB/T11482—1989。

Ⅲ

GB/T221815—2015

.

等離子體顯示器件

第5部分總規(guī)范

:

1范圍

的本部分是等離子體顯示器件的總規(guī)范它規(guī)定了體系質(zhì)量評(píng)定的通

GB/T22181。IECQ-CECC

用程序并規(guī)定了電學(xué)光學(xué)圖像顯示機(jī)械及環(huán)境性能描述和測(cè)試的通用要求

,、、、。

本部分適用于等離子體顯示器件

。

2規(guī)范性引用文件

下列文件對(duì)于本文件的應(yīng)用是必不可少的凡是注日期的引用文件僅注日期的版本適用于本文

。,

件凡是不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改單適用于本文件

。,()。

計(jì)數(shù)抽樣檢驗(yàn)程序第部分按接收質(zhì)量限檢索的逐批檢驗(yàn)抽樣

GB/T2828.1—20121:(AQL)

計(jì)劃

所有部分電氣簡(jiǎn)圖用圖形符號(hào)

GB/T4728()

等離子體顯示器件第部分術(shù)語與文字符號(hào)

GB/T22181.1—20081:(IEC61988-1:2003,IDT)

等離子體顯示器件第部分光學(xué)參數(shù)測(cè)量方法

GB/T22181.21—20082-1:(IEC61988-2-1:

2002,IDT)

等離子體顯示器件第部分光電參數(shù)測(cè)量方法

GB/T22181.22—20082-2:(IEC61988-2-2:

2003,IDT)

等離子體顯示器件第部分模塊顯示質(zhì)量測(cè)量方法

GB/T22181.23—20122-3:

等離子體顯示器件第部分機(jī)械接口

SJ/T11378—20083-1:

等離子體顯示器件第部分氣候和機(jī)械試驗(yàn)方法

SJ/T11379—20084:

所有部分電工技術(shù)用文字符號(hào)

IEC60027()(Lettersymbolstobeusedinelectricaltechnology)

所有部分國(guó)際電工術(shù)語

IEC60050()(Internationalelectrotechnicalvocabulary)

計(jì)數(shù)檢查抽樣方案和程序

IEC60410:1973(Samplingplansandproceduresforinspectionbyat-

tributes)

半導(dǎo)