標(biāo)準(zhǔn)解讀

《GB/T 22181.21-2008 等離子體顯示器件 第2-1部分：光學(xué)參數(shù)測量方法》相對于《GB/T 11483-1989》在內(nèi)容和技術(shù)要求上進行了更新和細(xì)化，主要體現(xiàn)在以下幾個方面：

  1. 標(biāo)準(zhǔn)適用范圍更加明確。新標(biāo)準(zhǔn)針對等離子體顯示器件的特性，對光學(xué)參數(shù)的測量方法進行了詳細(xì)規(guī)定，而舊標(biāo)準(zhǔn)則更偏向于通用性更強的顯示器件。

  2. 測量項目增加與細(xì)化。根據(jù)等離子體顯示技術(shù)的特點，《GB/T 22181.21-2008》增加了對亮度、對比度、色坐標(biāo)等多個關(guān)鍵光學(xué)性能指標(biāo)的具體測試要求及方法說明，使得測量過程更具指導(dǎo)性和操作性。

  3. 測試條件和環(huán)境要求更加嚴(yán)格。新標(biāo)準(zhǔn)中對于實驗室內(nèi)溫度、濕度等環(huán)境因素提出了更為具體的要求，并且明確了不同測試項下所需使用的儀器設(shè)備及其精度等級，確保了測試結(jié)果的一致性和可比性。

  4. 引入國際先進標(biāo)準(zhǔn)?！禛B/T 22181.21-2008》參考并采納了一些國際上廣泛認(rèn)可的相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)和技術(shù)規(guī)范，如IEC（國際電工委員會）發(fā)布的有關(guān)文件，在保持與國際接軌的同時也提高了國內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)的技術(shù)水平。

  5. 文檔結(jié)構(gòu)優(yōu)化調(diào)整。新版標(biāo)準(zhǔn)按照現(xiàn)代標(biāo)準(zhǔn)化文件編寫規(guī)則重新組織了章節(jié)結(jié)構(gòu)，使得內(nèi)容布局更加合理清晰，便于使用者查閱學(xué)習(xí)。


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  • 廢止
  • 已被廢除、停止使用，并不再更新
  • 2008-06-28 頒布
  • 2008-11-01 實施
?正版授權(quán)
GB/T 22181.21-2008等離子體顯示器件第2-1部分：光學(xué)參數(shù)測量方法_第1頁
GB/T 22181.21-2008等離子體顯示器件第2-1部分：光學(xué)參數(shù)測量方法_第2頁
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GB/T 22181.21-2008等離子體顯示器件第2-1部分：光學(xué)參數(shù)測量方法-免費下載試讀頁

文檔簡介

犐犆犛３１．１２０

犔４７

中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)

犌犅／犜２２１８１．２１—２００８／犐犈犆６１９８８２１：２００２

（部分代替ＧＢ／Ｔ１１４８３—１９８９）

等離子體顯示器件

第２１部分：光學(xué)參數(shù)測量方法

犘犾犪狊犿犪犱犻狊狆犾犪狔狆犪狀犲犾狊—

犘犪狉狋２１：犕犲犪狊狌狉犻狀犵犿犲狋犺狅犱狊—犗狆狋犻犮犪犾

（ＩＥＣ６１９８８２１：２００２，ＩＤＴ）

２００８０６２８發(fā)布２００８１１０１實施

中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局

發(fā)布

中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會

書

犌犅／犜２２１８１．２１—２００８／犐犈犆６１９８８２１：２００２

前言

《等離子體顯示器件》系列標(biāo)準(zhǔn)的預(yù)計結(jié)構(gòu)如下：

第１部分：術(shù)語與文字符號；

第２１部分：光學(xué)參數(shù)測量方法；

第２２部分：光電參數(shù)測量方法；

第２３部分：顯示質(zhì)量測量方法；

第３１部分：機械接口；

第３２部分：電子接口；

第４部分：氣候和機械試驗方法；

第５部分：總規(guī)范。

本部分是《等離子體顯示器件》系列標(biāo)準(zhǔn)的第２１部分。

本部分等同采用ＩＥＣ６１９８８２１：２００２《等離子體顯示器件———第２１部分：光學(xué)參數(shù)測量方法》

（英文版）。

為了便于使用，本部分作了如下編輯性修改：

ａ）刪除國際標(biāo)準(zhǔn)前言；

ｂ）用小數(shù)點“．”代替作為小數(shù)點的逗號“，”。

本部分與ＧＢ／Ｔ２２１８１．２２—２００８《等離子體顯示器件第２２部分：光電參數(shù)測量方法》一起代

替ＧＢ／Ｔ１１４８３—１９８９《交流等離子體顯示器件測試方法》。

本部分與ＧＢ／Ｔ１１４８３—１９８９的相關(guān)內(nèi)容相比主要變化如下：

———本部分針對的是彩色等離子體顯示模塊的測量方法。

本部分由中華人民共和國信息產(chǎn)業(yè)部提出。

本部分由中國電子技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化研究所（ＣＥＳＩ）歸口。

本部分起草單位：中國電子科技集團公司第五十五研究所。

本部分主要起草人：樊衛(wèi)華。

Ⅰ

書

犌犅／犜２２１８１．２１—２００８／犐犈犆６１９８８２１：２００２

等離子體顯示器件

第２１部分：光學(xué)參數(shù)測量方法

１范圍

本部分規(guī)定了彩色等離子體顯示模塊顯示特性的測量方法。

本部分適用于下列５個項目的測量：

ａ）４％窗口亮度；

ｂ）亮度均勻性；

ｃ）暗室對比度；

ｄ）白色色度及色度均勻性；

ｅ）色域。

２規(guī)范性引用文件

下列文件中的條款通過本部分的引用而成為本部分的條款。凡是注日期的引用文件，其隨后所有

的修改單（不包括勘誤的內(nèi)容）或修訂版均不適用于本部分，然而，鼓勵根據(jù)本部分達成協(xié)議的各方研究

是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本適用于本部分。

ＧＢ／Ｔ２２１８１．１等離子體顯示器件第１部分：術(shù)語與文字符號（ＧＢ／Ｔ２２１８１．１—２００８，

ＩＥＣ６１９８８１：２００３，ＩＤＴ）

ＧＢ／Ｔ２４２１—１９９９電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第１部分：總則

ＧＢ／Ｔ１７３０９．１—１９９８電視廣播接收機測量方法第１部分：一般考慮射頻和視頻電性能測量

及顯示性能的測量（ＩＥＣ６０１０７１：１９９５，ＩＤＴ）

ＣＩＥ出版物ＮＯ．１５．２：１９８６色度學(xué)（第２版）（ＩＳＢＮ３９００７３４００３）

３術(shù)語和定義

ＧＢ／Ｔ２２１８１．１、ＧＢ／Ｔ２４２１—１９９９和ＧＢ／Ｔ１７３０９．１—１９９８確立的術(shù)語和定義適用于本部分。

４測量設(shè)備構(gòu)成

試驗設(shè)備和／或操作條件應(yīng)滿足所規(guī)定各項試驗要求。

５標(biāo)準(zhǔn)測量條件

５．１環(huán)境條件

測量必須在標(biāo)準(zhǔn)環(huán)境下經(jīng)過足夠的預(yù)熱時間后方可進行。所謂標(biāo)準(zhǔn)環(huán)境條件是指溫度為２５℃±３℃、

相對濕度２５％～８５％且大氣壓為８６ｋＰａ～１０６ｋＰａ的環(huán)境。若在非標(biāo)準(zhǔn)環(huán)境下測量，則應(yīng)在測量報告中注明。

預(yù)熱時間應(yīng)大于３０ｍｉｎ且按照不進行γ校正的１５％灰度級輸入

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