• 廢止
  • 已被廢除、停止使用,并不再更新
  • 2008-06-28 頒布
  • 2008-11-01 實(shí)施
?正版授權(quán)
GB/T 22181.21-2008等離子體顯示器件第2-1部分:光學(xué)參數(shù)測量方法_第1頁
GB/T 22181.21-2008等離子體顯示器件第2-1部分:光學(xué)參數(shù)測量方法_第2頁
GB/T 22181.21-2008等離子體顯示器件第2-1部分:光學(xué)參數(shù)測量方法_第3頁
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文檔簡介

犐犆犛31.120

犔47

中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)

犌犅/犜22181.21—2008/犐犈犆6198821:2002

(部分代替GB/T11483—1989)

等離子體顯示器件

第21部分:光學(xué)參數(shù)測量方法

犘犾犪狊犿犪犱犻狊狆犾犪狔狆犪狀犲犾狊—

犘犪狉狋21:犕犲犪狊狌狉犻狀犵犿犲狋犺狅犱狊—犗狆狋犻犮犪犾

(IEC6198821:2002,IDT)

20080628發(fā)布20081101實(shí)施

中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局

發(fā)布

中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)

犌犅/犜22181.21—2008/犐犈犆6198821:2002

前言

《等離子體顯示器件》系列標(biāo)準(zhǔn)的預(yù)計(jì)結(jié)構(gòu)如下:

第1部分:術(shù)語與文字符號(hào);

第21部分:光學(xué)參數(shù)測量方法;

第22部分:光電參數(shù)測量方法;

第23部分:顯示質(zhì)量測量方法;

第31部分:機(jī)械接口;

第32部分:電子接口;

第4部分:氣候和機(jī)械試驗(yàn)方法;

第5部分:總規(guī)范。

本部分是《等離子體顯示器件》系列標(biāo)準(zhǔn)的第21部分。

本部分等同采用IEC6198821:2002《等離子體顯示器件———第21部分:光學(xué)參數(shù)測量方法》

(英文版)。

為了便于使用,本部分作了如下編輯性修改:

a)刪除國際標(biāo)準(zhǔn)前言;

b)用小數(shù)點(diǎn)“.”代替作為小數(shù)點(diǎn)的逗號(hào)“,”。

本部分與GB/T22181.22—2008《等離子體顯示器件第22部分:光電參數(shù)測量方法》一起代

替GB/T11483—1989《交流等離子體顯示器件測試方法》。

本部分與GB/T11483—1989的相關(guān)內(nèi)容相比主要變化如下:

———本部分針對(duì)的是彩色等離子體顯示模塊的測量方法。

本部分由中華人民共和國信息產(chǎn)業(yè)部提出。

本部分由中國電子技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化研究所(CESI)歸口。

本部分起草單位:中國電子科技集團(tuán)公司第五十五研究所。

本部分主要起草人:樊衛(wèi)華。

犌犅/犜22181.21—2008/犐犈犆6198821:2002

等離子體顯示器件

第21部分:光學(xué)參數(shù)測量方法

1范圍

本部分規(guī)定了彩色等離子體顯示模塊顯示特性的測量方法。

本部分適用于下列5個(gè)項(xiàng)目的測量:

a)4%窗口亮度;

b)亮度均勻性;

c)暗室對(duì)比度;

d)白色色度及色度均勻性;

e)色域。

2規(guī)范性引用文件

下列文件中的條款通過本部分的引用而成為本部分的條款。凡是注日期的引用文件,其隨后所有

的修改單(不包括勘誤的內(nèi)容)或修訂版均不適用于本部分,然而,鼓勵(lì)根據(jù)本部分達(dá)成協(xié)議的各方研究

是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本適用于本部分。

GB/T22181.1等離子體顯示器件第1部分:術(shù)語與文字符號(hào)(GB/T22181.1—2008,

IEC619881:2003,IDT)

GB/T2421—1999電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第1部分:總則

GB/T17309.1—1998電視廣播接收機(jī)測量方法第1部分:一般考慮射頻和視頻電性能測量

及顯示性能的測量(IEC601071:1995,IDT)

CIE出版物NO.15.2:1986色度學(xué)(第2版)(ISBN3900734003)

3術(shù)語和定義

GB/T22181.1、GB/T2421—1999和GB/T17309.1—1998確立的術(shù)語和定義適用于本部分。

4測量設(shè)備構(gòu)成

試驗(yàn)設(shè)備和/或操作條件應(yīng)滿足所規(guī)定各項(xiàng)試驗(yàn)要求。

5標(biāo)準(zhǔn)測量條件

5.1環(huán)境條件

測量必須在標(biāo)準(zhǔn)環(huán)境下經(jīng)過足夠的預(yù)熱時(shí)間后方可進(jìn)行。所謂標(biāo)準(zhǔn)環(huán)境條件是指溫度為25℃±3℃、

相對(duì)濕度25%~85%且大氣壓為86kPa~106kPa的環(huán)境。若在非標(biāo)準(zhǔn)環(huán)境下測量,則應(yīng)在測量報(bào)告中注明。

預(yù)熱時(shí)間應(yīng)大于30min且按照不進(jìn)行γ校正的15%灰度級(jí)輸入

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