GB/T 19351-2003金屬覆蓋層金屬基體上金覆蓋層孔隙率的測(cè)定-硝酸蒸汽試驗(yàn)

ICS25.220.20A29中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T19351—2003/ISO14647:2000金屬覆蓋層金屬基體上金覆蓋層孔隙率的測(cè)定硝酸蒸汽試驗(yàn)Metalliccoatings-Determinationofporosityingoldcoatingsonmetaisubstrates-Nitricacidvapourtest（ISO14647:2000,IDT)2003-10-29發(fā)布2004-05-01實(shí)施中華人民共和國發(fā)布國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局

GB/T19351-2003/ISO14647:2000次前言國際標(biāo)準(zhǔn)引言1范圍2規(guī)范性引用文件3術(shù)語和定義裝置5試劑安全7程序8精確度9試驗(yàn)報(bào)告附錄A（規(guī)范性附錄)暴露于硝酸蒸汽的時(shí)間附錄B（規(guī)范性附錄）避免使用氯化烴的推薦程序參考文獻(xiàn)……………

GB/T19351-2003/IS014647:2000前本標(biāo)準(zhǔn)等同采用ISO14647：2000（E)《金屬覆蓋層金屬基體上金覆蓋層孔隙率的測(cè)定硝酸蒸汽試驗(yàn)》英文版)。本標(biāo)準(zhǔn)按（B/T1.1的編輯要求對(duì)ISO14647內(nèi)容進(jìn)行重新起草。本標(biāo)準(zhǔn)對(duì)應(yīng)ISO14647作如下修改：-取消了ISO14647的前言內(nèi)容，重新起草了本標(biāo)準(zhǔn)前言;用“本標(biāo)準(zhǔn)"代替“本國際標(biāo)準(zhǔn)"：-為了便于使用·引用了采用國際標(biāo)準(zhǔn)的我國標(biāo)準(zhǔn)本標(biāo)準(zhǔn)由中國機(jī)械工業(yè)聯(lián)合會(huì)提出。本標(biāo)準(zhǔn)由全國金屬與非金屬覆蓋層標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)歸口本標(biāo)準(zhǔn)起草單位：機(jī)械工業(yè)表面覆蓋層產(chǎn)品質(zhì)量監(jiān)督檢測(cè)中心。本標(biāo)準(zhǔn)起草人：姜新華、鐘立暢、宋智玲

GB/T19351-2003/ISO14647:2000國際標(biāo)準(zhǔn)引言金覆蓋層被指定用于可分式電氣接插件和其他器件的觸頭。暴露觸頭上應(yīng)用得最多的是電沉積形態(tài)的金，盡管在觸頭表面上也采用包金和焊金。金固有的情性使之能阻止形成會(huì)影響可靠接觸效果的絕緣氧化物膜。為了保證金固有的情性，除非能做到將觸頭在與環(huán)境隔離的結(jié)構(gòu)中使用.或采用沉積層表面防腐蝕處理.否則金鍍層上能使金屬基體和底鍍層暴露的孔隙、裂紋和其他缺陷應(yīng)極微或沒有。鍍層中可允許的孔隙率取決于環(huán)境對(duì)底鍍層或基體的嚴(yán)酷程度，諸如用于觸點(diǎn)緊密配合的力等觸頭裝置設(shè)計(jì)因素，電路參數(shù)，以及必須保持的觸頭運(yùn)行可靠性。若存在孔隙,則孔隙在表面上的部位也是重要的：若孔隙數(shù)量很少，而且位于配合表面接觸區(qū)域之外,則其存在往往是允許的。若采用的方法能精確確定孔隙的位置和數(shù)量.則這些方法最適于測(cè)定接觸表面孔隙。接觸表面往往是曲面或形狀不規(guī)則表面，試驗(yàn)方法應(yīng)適應(yīng)此情況。此外測(cè)定孔隙的試驗(yàn)的嚴(yán)格性可能不同，本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的試驗(yàn)方法可認(rèn)為是嚴(yán)格方法。特殊試驗(yàn)揭示的孔隙率與接觸行為的關(guān)系應(yīng)由這些試驗(yàn)的用戶借助實(shí)際經(jīng)驗(yàn)或靠判斷來確定。例如,鍍層中不存在孔隙可能是一些應(yīng)用的要求;然而對(duì)于另一些應(yīng)用,在關(guān)鍵表面上存在少量孔隙卻可能是被接受的。這樣的通過(或不通過)的判據(jù)應(yīng)是各個(gè)產(chǎn)品的產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)或要求進(jìn)行的孔隙率試驗(yàn)的-部分。本標(biāo)準(zhǔn)所描述的試驗(yàn)方法十分靈敏，實(shí)際上可檢測(cè)能參與基體腐蝕反應(yīng)的金鍍層中所有孔隙或其他缺陷.它快速、簡(jiǎn)單而且便宜，此外，可用于幾何形狀復(fù)雜的觸頭.例如.插銷式觸頭。然而.最好在試驗(yàn)前將深度凹陷的插座打開，以暴露其關(guān)鍵表面。本標(biāo)準(zhǔn)所描述的試驗(yàn)方法被認(rèn)為是破壞性的,它通過腐蝕產(chǎn)物污染表面以及浸蝕孔隙處的鍍層或未鍍區(qū)邊界來揭示孔隙的存在。任何經(jīng)受此試驗(yàn)的試件都不應(yīng)再使用。本標(biāo)準(zhǔn)所描述的試驗(yàn)方法包含著腐蝕反應(yīng)，在腐蝕反應(yīng)中，腐蝕產(chǎn)物標(biāo)明了鍍層中缺陷的位置。由于這些腐蝕產(chǎn)物的化學(xué)作用和性質(zhì)可能與天然的或服役環(huán)境中出現(xiàn)的不相類似.所以.此試驗(yàn)不推薦用于預(yù)測(cè)觸頭的電性能·除非此試驗(yàn)與服役經(jīng)驗(yàn)的相關(guān)性已事先確定。本標(biāo)準(zhǔn)所描述的試驗(yàn)方法采用相對(duì)濕度低的硝酸蒸汽。氣體混合物與可腐蝕的基體金屬在孔隙處反應(yīng)而產(chǎn)生反應(yīng)產(chǎn)物.這種反應(yīng)產(chǎn)物在金表面呈不連續(xù)斑.可使用透鏡或低倍體視顯微鏡計(jì)數(shù)各個(gè)斑點(diǎn)。本標(biāo)準(zhǔn)所描述的試驗(yàn)方法用于鍍層孔隙率的定量描述(例如單位面積的孔隙數(shù)，或每個(gè)觸頭的孔隙數(shù))時(shí).則其測(cè)量對(duì)象只限于那些孔隙密度足夠低的鍍層,以致于腐蝕位置很分散且容易被確定。作為一般指南，對(duì)于孔隙密度為每平方厘米孔隙數(shù)量<100個(gè)或每100個(gè)觸頭的孔隙數(shù)量<100個(gè)的覆蓋層可用此方法進(jìn)行孔隙率的定量檢測(cè);超過此值·則適用于孔隙率的定性檢測(cè)和對(duì)比。

GB/T19351-2003/IS014647:2000金屬覆蓋層金屬基體上金覆蓋層孔隙率的測(cè)定硝酸蒸汽試驗(yàn)警告：本標(biāo)準(zhǔn)未聲明與使用本標(biāo)準(zhǔn)有關(guān)的一切安全問題。如果存在這些問題·本標(biāo)準(zhǔn)的用戶有責(zé)任在使用本標(biāo)準(zhǔn)前先制訂相關(guān)的安全和健康措施,并確定法規(guī)限制的適用性。特別預(yù)防措施見6和7.4的注2.1范圍本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了利用硝酸蒸汽法測(cè)定金覆蓋層，特別是電觸頭上的電沉積層和包金層孔隙率的設(shè)備和方法。此方法擬用于說明孔隙率是否小于或大于由用戶根據(jù)經(jīng)驗(yàn)提出的.并為具體應(yīng)用對(duì)象所接受的些數(shù)值。本標(biāo)準(zhǔn)適用于金含量多75%的鑲金層或包金層，含金量>95%的電沉積金層或通常在電觸頭中采用的銅、鎳及其合金底鍍層。硝酸蒸汽試驗(yàn)過于嚴(yán)格，而不適用于厚度<0.6“m的金覆蓋層;也不適用于比金或鉑活潑的覆蓋層，例如，鈀及其合金或閃鍍金的鈀及其合金幾種其他孔隙試驗(yàn)方法見GB/T17720和文獻(xiàn)(例如,參考文獻(xiàn)17和[27)2規(guī)范性引用文件下列文件中的條款通過本標(biāo)準(zhǔn)的引用而成為本標(biāo)準(zhǔn)的條款。凡是注日期的引用文件.其隨后所有的修改單(不包括勒誤的內(nèi)容)或修訂版均不適用于本標(biāo)準(zhǔn).然而，鼓勵(lì)根據(jù)本標(biāo)準(zhǔn)達(dá)成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件.其最新版本適用于本標(biāo)準(zhǔn)。GB/T3138金屬鍍覆和化學(xué)處理與有關(guān)過程術(shù)語(參照采用ISO2079及ISO2080)GB/T12334—2001金屬和其他非有機(jī)覆蓋層關(guān)于厚度測(cè)量的定義和一般規(guī)則(idtISO2064:1996）GB/T17720金屬覆蓋層孔隙率試驗(yàn)評(píng)述(eqvISO10308)3術(shù)語和定義GB/T3138和GB/T12334—2001確定的以及以下給出的其他術(shù)語和定義適用于本標(biāo)準(zhǔn)：腐蝕產(chǎn)物Corrosionproducts蒸汽試驗(yàn)暴露之后，突出于或附著于覆蓋層表面的由孔隙中析出