GB/T 17473.2-1998厚膜微電子技術(shù)用貴金屬漿料測(cè)試方法細(xì)度測(cè)定

ICS.77.040.01H21中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)CB/T17473.2-1998厚膜微電子技術(shù)用貴金屬漿料測(cè)試方法細(xì)度測(cè)定Testmethodsofpreciousmetalpastesusedforthickfilmmicroelectronics-Determinationoffineness1998-08-19發(fā)布1999-03-01實(shí)施國(guó)家質(zhì)量技術(shù)監(jiān)督局發(fā)布

GB/T17473.2-1998前貴金屬漿料是厚膜微電子技術(shù)領(lǐng)域的一種重要材料，漿料細(xì)度是漿料的主要參數(shù)之一.目前我國(guó)尚未制定出漿料細(xì)度測(cè)試方法標(biāo)準(zhǔn)，也沒(méi)有檢索到該測(cè)試方法的國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)或國(guó)外先進(jìn)標(biāo)準(zhǔn)。本標(biāo)準(zhǔn)主要參照GB1724一79《涂料細(xì)度測(cè)定方法》GB6753.1-86《涂料研磨細(xì)度測(cè)定》，結(jié)合我國(guó)的實(shí)際應(yīng)用情況而制定的。本標(biāo)準(zhǔn)由中國(guó)有色金屬工業(yè)總公司提出。本標(biāo)準(zhǔn)由中國(guó)有色金屬工業(yè)總公司標(biāo)準(zhǔn)計(jì)量研究所歸口。本標(biāo)準(zhǔn)由昆明貴金屬研究所負(fù)責(zé)起草。本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人：朱曉云、王昆福。

中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)厚膜微電子技術(shù)用貴金屬漿料測(cè)試方法細(xì)度測(cè)定GB/T17473.2-1998Testmethodsofpreciousmetalpastesusedforthickfilmmicroelectronics-Determinationoffineness范圍本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了貴金屬漿料細(xì)度的刮板試驗(yàn)方法。本標(biāo)準(zhǔn)適用于貴金屬漿料細(xì)度測(cè)定。非貴金屬漿料的細(xì)度測(cè)定亦可參照使用。2引用標(biāo)準(zhǔn)下列標(biāo)準(zhǔn)所包含的條文，通過(guò)在本標(biāo)準(zhǔn)中引用而構(gòu)成為本標(biāo)準(zhǔn)的條文。本標(biāo)準(zhǔn)出版時(shí)，所示版本均為有效。所有的標(biāo)準(zhǔn)都會(huì)被修訂，使用本標(biāo)準(zhǔn)的各方應(yīng)探討使用下列標(biāo)準(zhǔn)最新版本的可能性。GB/T8170-1987數(shù)值修約規(guī)則3方法原理漿料置于細(xì)度計(jì)上,用刮板從上至下刮動(dòng)，根據(jù)槽中縱向條紋出現(xiàn)的位暨,目測(cè)確定顆粒的大小。儀器與工具4.1刮板細(xì)度計(jì)：范圍為0～25m,精度為1rm,檢定周期為半年。4.2調(diào)漿刀：鑲有木柄的厚度為1mm不銹鋼材質(zhì)刀。4.3刮板。5試樣5.1將送檢試樣充分?jǐn)嚢杈住?.22試樣不少于5份，每份28-6測(cè)試步驥6.11測(cè)試環(huán)境溫度為15～35℃，相對(duì)濕度為45%～75%，大氣壓力為86～106kPa。6.22用相應(yīng)的化學(xué)純級(jí)清洗劑洗凈刮板細(xì)度計(jì)6.3將試樣均勻地放貿(mào)于細(xì)度計(jì)溝槽最深處。6.4用雙手持刮板于細(xì)度計(jì)溝槽最深處，使刮板與細(xì)度計(jì)表面垂直，并以均勾的速度從溝槽最深處將試樣刮過(guò)細(xì)度計(jì)表面，使試樣充滿溝槽，平板上不留有多余的試樣。整個(gè)操作過(guò)程在3。內(nèi)完成。6.5在3。內(nèi)橫握刮過(guò)的細(xì)度計(jì)并使其傾斜，使視線與