GB/T 15972.50-2008光纖試驗方法規(guī)范第50部分：環(huán)境性能的測量方法和試驗程序-恒定濕熱

犐犆犛３３．１８０．１０

犕３３

中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)

犌犅／犜１５９７２．５０—２００８

部分代替ＧＢ／Ｔ１５９７２．５—１９９８

光纖試驗方法規(guī)范

第５０部分：環(huán)境性能的測量方法和

試驗程序———恒定濕熱

犛狆犲犮犻犳犻犮犪狋犻狅狀狊犳狅狉狅狆狋犻犮犪犾犳犻犫狉犲狋犲狊狋犿犲狋犺狅犱狊—

犘犪狉狋５０：犕犲犪狊狌狉犲犿犲狀狋犿犲狋犺狅犱狊犪狀犱狋犲狊狋狆狉狅犮犲犱狌狉犲狊犳狅狉犲狀狏犻狉狅狀犿犲狀狋犪犾

犮犺犪狉犪犮狋犲狉犻狊狋犻犮狊—犇犪犿狆犺犲犪狋（狊狋犲犪犱狔狊狋犪狋犲）

（ＩＥＣ６０７９３１５０：２００１，Ｏｐｔｉｃａｌｆｉｂｒｅｓ—Ｐａｒｔ１５０：Ｍｅａｓｕｒｅｍｅｎｔｍｅｔｈｏｄｓ

ａｎｄｔｅｓｔｐｒｏｃｅｄｕｒｅｓ—Ｄａｍｐｈｅａｔ（ｓｔｅａｄｙｓｔａｔｅ），ＭＯＤ）

２００８０４１０發(fā)布２００８１１０１實施

中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局

發(fā)布

中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會

書

犌犅／犜１５９７２．５０—２００８

目次

前言!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!Ⅰ

１范圍!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!１

２規(guī)范性引用文件!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!１

３試驗裝置!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!１

４試樣和試樣制備!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!１

５試驗程序!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!２

６合格判定標(biāo)準(zhǔn)!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!２

７結(jié)果!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!３

書

犌犅／犜１５９７２．５０—２００８

前言

ＧＢ／Ｔ１５９７２《光纖試驗方法規(guī)范》由若干部分組成，其預(yù)期結(jié)構(gòu)及對應(yīng)的國際標(biāo)準(zhǔn)和代替的國家標(biāo)

準(zhǔn)為：

———第１０部分～第１９部分：測量方法和試驗程序總則（對應(yīng)ＩＥＣ６０７９３１１０至ＩＥＣ６０７９３１１９；

代替ＧＢ／Ｔ１５９７２．１—１９９８）；

———第２０部分～第２９部分：尺寸參數(shù)的測量方法和試驗程序（對應(yīng)ＩＥＣ６０７９３１２０至

ＩＥＣ６０７９３１２９；代替ＧＢ／Ｔ１５９７２．２—１９９８）；

———第３０部分～第３９部分：機械性能的測量方法和試驗程序（對應(yīng)ＩＥＣ６０７９３１３０至

ＩＥＣ６０７９３１３９；代替ＧＢ／Ｔ１５９７２．３—１９９８）；

———第４０部分～第４９部分：傳輸特性和光學(xué)特性的測量方法和試驗程序（對應(yīng)ＩＥＣ６０７９３１４０至

ＩＥＣ６０７９３１４９；代替ＧＢ／Ｔ１５９７２．４—１９９８）；

———第５０部分～第５９部分：環(huán)境性能的測量方法和試驗程序（對應(yīng)ＩＥＣ６０７９３１５０至

ＩＥＣ６０７９３１５９；代替ＧＢ／Ｔ１５９７２．５—１９９８）。

其中ＧＢ／Ｔ１５９７２．５×由以下部分組成：

———第５０部分：環(huán)境性能的測量方法和試驗程序———恒定濕熱；

———第５１部分：環(huán)境性能的測量方法和試驗程序———干熱；

———第５２部分：環(huán)境性能的測量方法和試驗程序———溫度循環(huán)；

———第５３部分：環(huán)境性能的測量方法和試驗程序———浸水；

———第５４部分：環(huán)境性能的測量方法和試驗程序———伽瑪輻照。

本部分為ＧＢ／Ｔ１５９７２的第５０部分。本部分修改采用國際電工技術(shù)委員會標(biāo)準(zhǔn)ＩＥＣ６０７９３１５０：

２００１《光纖第１５０部分：測量方法和試驗程序———濕熱（穩(wěn)態(tài)）》（英文版）。本部分與ＩＥＣ６０７９３１５０：

２００１主要差異如下：

———適用范圍由Ａ１ａ至Ａ１ｄ類光纖改為Ａ類光纖，Ｂ１至Ｂ４類光纖改為Ｂ類光纖；

———最小彎曲直徑１５０ｍｍ改為繞圈直徑應(yīng)大于１５０ｍｍ；

———在進行基準(zhǔn)測量前應(yīng)使試驗箱和試樣穩(wěn)定在標(biāo)準(zhǔn)大氣條件下改為穩(wěn)定在ＧＢ／Ｔ１５９７２．１０—

２００８規(guī)定的標(biāo)準(zhǔn)大氣條件下；

———在試驗前后要對光纖涂覆層平均剝離力進行測量改為對光纖涂覆層剝離力進行測量；

———糾正了某些不恰當(dāng)?shù)臄⑹觥?/p>

為了便于使用，對ＩＥＣ６０７９３１５０：２００１本部分還做了下列編輯性修改：

———按照我國標(biāo)準(zhǔn)的編排格式和表述要求，對一些內(nèi)容安排做了調(diào)整，刪除“第８章”；

———“ＩＥＣ６０７９３的本部分”改為“ＧＢ／Ｔ１５９７２的本部分”；

———對于ＩＥＣ６０７９３１５０應(yīng)用的其他國際標(biāo)準(zhǔn)中有被修改采用為我國標(biāo)準(zhǔn)的，ＧＢ／Ｔ１５９７２．５０引

用我國的這些國家標(biāo)準(zhǔn)或行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)代替對應(yīng)的國際標(biāo)準(zhǔn)。

本部分由中華人民共和國信息產(chǎn)業(yè)部提出。

本部分由中國通信標(biāo)準(zhǔn)化協(xié)會歸口。

本部分起草單位：武漢郵電科學(xué)研究院。

本部分主要起草人：陳永詩、李海清、劉澤恒、程淑玲。

本部分為第一次修訂，它與ＧＢ／Ｔ１５９７２．５×其他部分一起代替ＧＢ／Ｔ１５９７２．５—１９９８。

Ⅰ

犌犅／犜１５９７２．５０—２００８

光纖試驗方法規(guī)范

第５０部分：環(huán)境性能的測量方法和

試驗程序———恒定濕熱

１范圍

ＧＢ／Ｔ１５９７２的本部分規(guī)定了評估光纖在給定環(huán)境中濕熱性能的測量方法和試驗程序。

本部分適用于確定Ａ１類多模光纖和Ｂ類單模光纖在實際應(yīng)用、貯存和（或）運輸過程中可能發(fā)生

的高溫高濕度環(huán)境條件下的適應(yīng)性能。

注：該試驗對其他類型光纖的適用性在研究中。

２規(guī)范性引用文件

下列文件中的條款通過ＧＢ／Ｔ１５９７２的本部分的引用而成為本部分的條款。凡是注日期的引用文

件，其隨后所有的修改單（不包括勘誤的內(nèi)容）或修訂版均不適用于本部分，然而，鼓勵根據(jù)本部分達(dá)成

協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本適用于本

部分。

ＧＢ／Ｔ２４２３．３—２００６電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第２部分：試驗Ｃａｂ：恒定濕熱試驗（ＩＥＣ６００６８２

７８：２００１）

ＧＢ／Ｔ１５９７２．１０—２００８光纖試驗方法規(guī)范第１０部分：測量方法和試驗程序———總則（ＩＥＣ

６０７９３１１：２００２，Ｏｐｔｉｃａｌｆｉｂｒｅｓ—Ｐａｒｔ１１：Ｍｅａｓｕｒｅｍｅｎｔｍｅｔｈｏｄｓａｎｄｔｅｓｔｐｒｏｃｅｄｕｒｅｓ—Ｇｅｎｅｒａｌａｎｄ

ｇｕｉｄａｎｃｅ，ＭＯＤ）

ＧＢ／Ｔ１５９７２．３２—２００８光纖試驗方法規(guī)范第３２部分：機械性能的測量方法和試驗程序———涂

覆層可剝性（ＩＥＣ６０７９３１３２：２００１，Ｏｐｔｉｃａｌｆｉ