標(biāo)準(zhǔn)解讀
《GB/T 15651.2-2003 半導(dǎo)體分立器件和集成電路 第5-2部分:光電子器件 基本額定值和特性》這一標(biāo)準(zhǔn)主要規(guī)定了光電子器件的基本性能參數(shù)、額定值以及測(cè)試方法等內(nèi)容。然而,您提供的信息中用于對(duì)比的另一標(biāo)準(zhǔn)的具體名稱未給出,這使得直接對(duì)比兩者的具體變更點(diǎn)變得不可能。不過(guò),基于此類標(biāo)準(zhǔn)更新的一般趨勢(shì),可以推測(cè)可能涉及的變更方向包括:
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技術(shù)內(nèi)容更新:新標(biāo)準(zhǔn)可能納入了最新的光電子器件技術(shù)進(jìn)展,包括新型器件類型、提高了性能指標(biāo)要求或新增了測(cè)試項(xiàng)目,以適應(yīng)快速發(fā)展的半導(dǎo)體技術(shù)和市場(chǎng)需求。
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測(cè)試方法優(yōu)化:隨著測(cè)量技術(shù)的進(jìn)步,新標(biāo)準(zhǔn)可能會(huì)引入更精確、高效的測(cè)試方法,或者對(duì)原有測(cè)試程序進(jìn)行修訂,以確保測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性和可重復(fù)性。
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安全與環(huán)保要求:考慮到電子產(chǎn)品的全球流通及使用安全,新標(biāo)準(zhǔn)可能加強(qiáng)了對(duì)光電子器件在電磁兼容性(EMC)、有害物質(zhì)限制(RoHS)等方面的要求。
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標(biāo)準(zhǔn)化與國(guó)際接軌:為了促進(jìn)國(guó)際貿(mào)易和技術(shù)交流,新標(biāo)準(zhǔn)可能會(huì)盡量與國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)如IEC(國(guó)際電工委員會(huì))的相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)保持一致,包括術(shù)語(yǔ)定義、分類體系等。
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規(guī)范性附錄調(diào)整:根據(jù)技術(shù)發(fā)展和實(shí)際應(yīng)用反饋,標(biāo)準(zhǔn)中的附錄部分,如參考電路圖、典型參數(shù)表格等,可能有所增刪或修改,以提供更實(shí)用的指導(dǎo)信息。
如需獲取更多詳盡信息,請(qǐng)直接參考下方經(jīng)官方授權(quán)發(fā)布的權(quán)威標(biāo)準(zhǔn)文檔。
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- 正在執(zhí)行有效
- 2003-11-24 頒布
- 2004-08-01 實(shí)施





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GB/T 15651.2-2003半導(dǎo)體分立器件和集成電路第5-2部分:光電子器件基本額定值和特性-免費(fèi)下載試讀頁(yè)文檔簡(jiǎn)介
ICS31.260L50中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T15651.2-2003/IEC60747-5-2:1997半導(dǎo)體分立器件和集成電路第5-2部分:光電子器件基本額定值和特性Discretesemiconductordevicesandintegratedcireuits-Part5-2:0ptoelectronicdevicesEssentialratingsandcharacteristics(IEC60747-5-2:1997,IDT)2003-11-24發(fā)布2004-08-01實(shí)施中華人民共和國(guó)發(fā)布國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局
GB/T15651.2-2003/IEC60747-5-2:1997次前言范圍2規(guī)范性引用文件3發(fā)光二極管(用于光纖系統(tǒng)或子系統(tǒng)的除外)3.1類型3.2半導(dǎo)體材料3.3顏色….3.4外形和封裝的詳細(xì)資料3.5極限值(絕對(duì)最大系統(tǒng))除非另有規(guī)定.適用整個(gè)工作溫度范圍3.6光電特性3.7補(bǔ)充資料4紅外發(fā)射二極管(用于光纖系統(tǒng)或子系統(tǒng)的除外)4.1類型…4.2半導(dǎo)體材料…………4.3外形和封裝的詳細(xì)資料4.4極限值(絕對(duì)最大系統(tǒng))除非另有規(guī)定.適用整個(gè)工作溫度范圍4.5光電特性4.6補(bǔ)充資料5光電二極管(用于光纖系統(tǒng)或子系統(tǒng)的除外)5.2半導(dǎo)體材料5.3外形和封裝的詳細(xì)資料5.4極限值(絕對(duì)最大系統(tǒng))除非另有規(guī)定·適合整個(gè)工作溫度范圍5.55.6補(bǔ)充資料6光電品體管(用于光纖系統(tǒng)或子系統(tǒng)的除外)6.1型6.2半導(dǎo)體材料6.3極性…6.4外外形和封裝的詳細(xì)資料6.5極限值(絕對(duì)最大系統(tǒng))除非另有規(guī)定.適合整個(gè)工作溫度范圍6.6電特性6.7補(bǔ)充資料7光電合器(帶輸出品體管)7.1類型7.2半導(dǎo)體材料7.3輸出極性7.4外外形和封裝的詳細(xì)資料
GB/T15651.2-2003/IEC60747-5-2:19977.5極限值(絕對(duì)最大系統(tǒng))除非另有規(guī)定,適合整個(gè)工作溫度范圍7.6電特性7.7補(bǔ)充資料8有電沖擊防護(hù)的光電鵝合器8.1型·····8.2半導(dǎo)體材料8.3外形和封裝詳細(xì)資料8.4額定值(在制造商的說(shuō)明書中應(yīng)有說(shuō)明)8.5電特性…8.6電學(xué)的、環(huán)境的和(或)耐久性試驗(yàn)資料(補(bǔ)充資料)9.2半導(dǎo)體….外形和封裝的詳細(xì)資料9.313極限值(絕對(duì)最大系統(tǒng))除非另有規(guī)定·適合整個(gè)工作溫度范圍9.49.59.6補(bǔ)充資料…12附錄A(資料性附錄)標(biāo)準(zhǔn)對(duì)照表·15附錄B(規(guī)范性附錄)輸入或輸出安全試驗(yàn)B.1目的16B.2電路圖B.3:電路說(shuō)明16B.4注意觀察的問(wèn)題B.5測(cè)試程序B.6規(guī)定條件
GB/T15651.2-2003/IEC60747-5-2:1997前本系列標(biāo)準(zhǔn)的預(yù)計(jì)結(jié)構(gòu)為:第第5-1部分:光電子器件總則第5-2部分:光電子器件基本額定值和特性-第5-3部分:光電子器件測(cè)試方法本部分等同采用IEC60747-5-2:1997《半導(dǎo)體分立器件和集成電路第5-2部分:光電子器件本額定值和特性》英文版)為了與GB/T11499規(guī)定的參數(shù)符號(hào)統(tǒng)一·本部分將暗電流的符號(hào)規(guī)定為(ww·為便于使用,本部分作了下列編輯性修改:A)“IEC60747的本部分”字樣改為"本部分";b)用小數(shù)點(diǎn)"."代替原文中作為小數(shù)點(diǎn)的退號(hào)".";C)刪除了原文中的前言部分,增加了本標(biāo)準(zhǔn)的前言:d)所有表格增加了表格順序號(hào)和表題。本部分的附錄八為資料性附錄·附錄B為規(guī)范性附錄。本部分由中華人民共和國(guó)信息產(chǎn)業(yè)部提出本部分由中國(guó)電子技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化研究所(CESI)歸口本部分起草單位:華禹光谷股份有限公司半導(dǎo)體廠本部分主要起草人:陳蘭、那仁、王守華。即將出版。
GB/T15651.2-2003/IEC60747-5-2:1997半導(dǎo)體分立器件和集成電路第5-2部分:光電子器件基本額定值和特性1范圍本部分給出了下列各類及分類的光電子器件的基本額定值和特性,用于光纖系統(tǒng)或子系統(tǒng)的除外半導(dǎo)體光電子發(fā)射器件,包括:發(fā)光二極管(LEDs);紅外發(fā)射二極管(IREDs);激光二極管。華半導(dǎo)體光電探測(cè)器件,包括:光電二極管:光電品體管半導(dǎo)體光敏器件。內(nèi)部進(jìn)行光輻射工作的半導(dǎo)體器件.包括:光電幫合器。2規(guī)范性引用文件下列文件中的條款通過(guò)GB/T15651的本部分的引用而成為本部分的條款。凡是注日期的引用文件·其隨后所有的修改單(不包括勒誤的內(nèi)容)或修訂版均不適用于本部分·然而,鼓勵(lì)根據(jù)本部分達(dá)成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件.其最新版本適用于本部分。電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法GB/T2423.1-2001試驗(yàn)A:低溫(idtIEC60068-2-1:1990)GB/T2423.2-2001電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)B:高溫(idtIEC60068-2-2:1974)GB/T2423.3-1993電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試試驗(yàn)Ca:恒定濕熱試驗(yàn)方法(eqvIEC60068-2-3:1984)電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)GB/T2423.5-1995第2部分:試驗(yàn)方法武驗(yàn)Ea和導(dǎo)則:沖擊(idtIEC60068-2-27:1987)電工電子產(chǎn)品著火危險(xiǎn)試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法GB/T5169.5-1997第2篇:針焰試驗(yàn)(idtIEC60695-2-2:1991)第第5-3部分:光電子器件GB/T15651.3-2003半導(dǎo)體分立器件和集成電路測(cè)試方法(IEC60747-5-3:1997.IDT)GB8898—2001音頻、視頻及類似電子設(shè)備安全要求(eqvIEC60065:1998)IEC60068-2-6:1995環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)試驗(yàn)Fc:振動(dòng)(正弦)環(huán)境
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