標(biāo)準(zhǔn)解讀

《GB/T 14077-1993 雙折射晶體和偏振器件測(cè)試規(guī)范》作為一項(xiàng)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)，為雙折射晶體及偏振器件的性能測(cè)試提供了詳細(xì)的方法與要求。然而，您提供的對(duì)比信息不完整，沒(méi)有明確指出要與哪個(gè)具體的標(biāo)準(zhǔn)版本或文件進(jìn)行比較。因此，直接列出該標(biāo)準(zhǔn)相比于某一未知具體標(biāo)準(zhǔn)的變更點(diǎn)并不可能。

但可以一般性地說(shuō)明，當(dāng)一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)如《GB/T 14077》更新或被新標(biāo)準(zhǔn)替代時(shí)，常見(jiàn)的變更可能涉及以下幾個(gè)方面：

  1. 測(cè)試方法的改進(jìn)：新標(biāo)準(zhǔn)可能會(huì)引入更精確、高效的測(cè)試技術(shù)，以適應(yīng)科技進(jìn)步和行業(yè)發(fā)展的需求。
  2. 參數(shù)定義的明確與調(diào)整：為了提高測(cè)量結(jié)果的一致性和可比性，新標(biāo)準(zhǔn)可能會(huì)對(duì)測(cè)試參數(shù)的定義、測(cè)量單位或允許誤差范圍進(jìn)行修訂。
  3. 新增或刪除測(cè)試項(xiàng)目：根據(jù)技術(shù)進(jìn)步或應(yīng)用領(lǐng)域的需求變化，新標(biāo)準(zhǔn)可能會(huì)增加新的測(cè)試項(xiàng)目，或者去除已不再適用的測(cè)試內(nèi)容。
  4. 校準(zhǔn)與校驗(yàn)要求的更新：為了確保測(cè)試設(shè)備和系統(tǒng)的準(zhǔn)確性，新標(biāo)準(zhǔn)可能會(huì)提出更嚴(yán)格的校準(zhǔn)流程或校驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)。
  5. 標(biāo)準(zhǔn)化語(yǔ)言與格式的統(tǒng)一：隨著國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)化組織(ISO)標(biāo)準(zhǔn)的更新，國(guó)內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)也會(huì)相應(yīng)調(diào)整，以保持與國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)的一致性，包括術(shù)語(yǔ)、符號(hào)和表達(dá)方式的統(tǒng)一。
  6. 環(huán)境條件和樣品處理的規(guī)范：為了減少測(cè)試過(guò)程中的不確定性和變異性，新標(biāo)準(zhǔn)可能會(huì)對(duì)測(cè)試環(huán)境（如溫度、濕度）和樣品預(yù)處理步驟提出更具體的要求。


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  • 現(xiàn)行
  • 正在執(zhí)行有效
  • 1993-02-06 頒布
  • 1993-08-01 實(shí)施
?正版授權(quán)
GB/T 14077-1993雙折射晶體和偏振器件測(cè)試規(guī)范_第1頁(yè)
GB/T 14077-1993雙折射晶體和偏振器件測(cè)試規(guī)范_第2頁(yè)
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9DS.681.785.3N05中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T：14077-93雙折射晶體和偏振器件測(cè)試規(guī)范MeasurementspecificationforbirefractanceCrystalandpolarizer1993-02-06發(fā)布1993-08-01實(shí)施國(guó)家技術(shù)監(jiān)督局發(fā)布

中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)雙折射晶體和偏振器件測(cè)試規(guī)范GB/T14077-93MeasurementspecificationforbirefractanceCrystalandpolarizer主題內(nèi)容與適用范圍本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了雙折射品體和透射型偏振器件在0.25～1.7m光譜區(qū)內(nèi)主要光學(xué)參數(shù)的測(cè)試方本標(biāo)準(zhǔn)適用于光學(xué)、光電子學(xué)和激光技術(shù)中對(duì)雙折射品體的光譜透射曲線(xiàn)和均勾性的測(cè)試,以及對(duì)偏振器件的消光比、偏離角和光輻射損傷閥值的測(cè)試。2引用標(biāo)準(zhǔn)GB3102.6光光及有關(guān)電磁輻射的量和單位3晶體材料的光學(xué)參數(shù)測(cè)試3.1光譜透射曲線(xiàn)3.1.1測(cè)試裝置采用UV-VIS-IR光譜光度計(jì)或者波長(zhǎng)范圍合適的類(lèi)似裝置。應(yīng)附帶一個(gè)樣品夾持架，該架可繞其水平軸旋轉(zhuǎn)。3.1.2樣品制備與測(cè)試3.1.2.1將冰州石品體毛壞沿解理面(1011)部開(kāi),并拋光成光學(xué)表面，其厚度應(yīng)小于10mm.3.1.2.2首先將測(cè)試裝置的波長(zhǎng)鼓調(diào)至550nm附近，然后將樣品置于測(cè)量光束中，這時(shí)可看到分開(kāi)的兩束光，這時(shí)轉(zhuǎn)動(dòng)夾持架，直到兩束光都進(jìn)入狹縫為止。3.1.2.3在200～2000nm波長(zhǎng)范圍內(nèi)進(jìn)行光譜掃描，獲得一條完整的光譜透射曲線(xiàn)3.1.3數(shù)據(jù)處理在光譜透射圖中，透射比大于或等于0.3的波長(zhǎng)區(qū),規(guī)定為該品體的可應(yīng)用光譜區(qū)3.2光學(xué)均勾性3.2.1光學(xué)均勺性測(cè)試裝置測(cè)試裝置使用如圖1所示臺(tái)曼-格林干涉儀，

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