標準解讀

《GB/T 14077-1993 雙折射晶體和偏振器件測試規(guī)范》作為一項國家標準，為雙折射晶體及偏振器件的性能測試提供了詳細的方法與要求。然而，您提供的對比信息不完整，沒有明確指出要與哪個具體的標準版本或文件進行比較。因此，直接列出該標準相比于某一未知具體標準的變更點并不可能。

但可以一般性地說明，當一個標準如《GB/T 14077》更新或被新標準替代時，常見的變更可能涉及以下幾個方面：

  1. 測試方法的改進：新標準可能會引入更精確、高效的測試技術，以適應科技進步和行業(yè)發(fā)展的需求。
  2. 參數(shù)定義的明確與調整：為了提高測量結果的一致性和可比性，新標準可能會對測試參數(shù)的定義、測量單位或允許誤差范圍進行修訂。
  3. 新增或刪除測試項目：根據(jù)技術進步或應用領域的需求變化，新標準可能會增加新的測試項目，或者去除已不再適用的測試內容。
  4. 校準與校驗要求的更新：為了確保測試設備和系統(tǒng)的準確性，新標準可能會提出更嚴格的校準流程或校驗標準。
  5. 標準化語言與格式的統(tǒng)一：隨著國際標準化組織(ISO)標準的更新，國內標準也會相應調整，以保持與國際標準的一致性，包括術語、符號和表達方式的統(tǒng)一。
  6. 環(huán)境條件和樣品處理的規(guī)范：為了減少測試過程中的不確定性和變異性，新標準可能會對測試環(huán)境（如溫度、濕度）和樣品預處理步驟提出更具體的要求。


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  • 現(xiàn)行
  • 正在執(zhí)行有效
  • 1993-02-06 頒布
  • 1993-08-01 實施
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GB/T 14077-1993雙折射晶體和偏振器件測試規(guī)范_第1頁
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文檔簡介

9DS.681.785.3N05中華人民共和國國家標準GB/T：14077-93雙折射晶體和偏振器件測試規(guī)范MeasurementspecificationforbirefractanceCrystalandpolarizer1993-02-06發(fā)布1993-08-01實施國家技術監(jiān)督局發(fā)布

中華人民共和國國家標準雙折射晶體和偏振器件測試規(guī)范GB/T14077-93MeasurementspecificationforbirefractanceCrystalandpolarizer主題內容與適用范圍本標準規(guī)定了雙折射品體和透射型偏振器件在0.25～1.7m光譜區(qū)內主要光學參數(shù)的測試方本標準適用于光學、光電子學和激光技術中對雙折射品體的光譜透射曲線和均勾性的測試,以及對偏振器件的消光比、偏離角和光輻射損傷閥值的測試。2引用標準GB3102.6光光及有關電磁輻射的量和單位3晶體材料的光學參數(shù)測試3.1光譜透射曲線3.1.1測試裝置采用UV-VIS-IR光譜光度計或者波長范圍合適的類似裝置。應附帶一個樣品夾持架，該架可繞其水平軸旋轉。3.1.2樣品制備與測試3.1.2.1將冰州石品體毛壞沿解理面(1011)部開,并拋光成光學表面，其厚度應小于10mm.3.1.2.2首先將測試裝置的波長鼓調至550nm附近，然后將樣品置于測量光束中，這時可看到分開的兩束光，這時轉動夾持架，直到兩束光都進入狹縫為止。3.1.2.3在200～2000nm波長范圍內進行光譜掃描，獲得一條完整的光譜透射曲線3.1.3數(shù)據(jù)處理在光譜透射圖中，透射比大于或等于0.3的波長區(qū),規(guī)定為該品體的可應用光譜區(qū)3.2光學均勾性3.2.1光學均勺性測試裝置測試裝置使用如圖1所示臺曼-格林干涉儀，

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