標(biāo)準(zhǔn)解讀

《GB/T 12085.11-2010 光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗方法 第11部分：長霉》相比于《GB/T 12085.11-1989 光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗方法 長霉》主要在以下幾個方面進行了更新與調(diào)整：

  1. 標(biāo)準(zhǔn)結(jié)構(gòu)的調(diào)整：2010版標(biāo)準(zhǔn)按照當(dāng)時最新的國家標(biāo)準(zhǔn)編寫規(guī)則進行了重新編排，增加了更為詳細的前言、范圍、規(guī)范性引用文件等內(nèi)容，使標(biāo)準(zhǔn)結(jié)構(gòu)更加清晰規(guī)范。

  2. 試驗條件的細化：新標(biāo)準(zhǔn)對長霉試驗的條件，如溫濕度、霉菌種類、培養(yǎng)時間等，給出了更具體的要求和推薦值，以適應(yīng)現(xiàn)代光學(xué)儀器對防霉性能更嚴(yán)格的需求，提高了測試的準(zhǔn)確性和可重復(fù)性。

  3. 試驗方法的優(yōu)化：2010版標(biāo)準(zhǔn)引入了更為科學(xué)合理的長霉評估方法，包括霉菌生長的觀察、評價標(biāo)準(zhǔn)及試驗后的處理程序，這些改進有助于更客觀地評價光學(xué)儀器在特定環(huán)境下的長霉抵抗能力。

  4. 安全與環(huán)保要求：新標(biāo)準(zhǔn)強調(diào)了在進行長霉試驗時的安全措施和環(huán)境保護要求，確保試驗過程不對操作人員健康和環(huán)境造成不良影響，體現(xiàn)了標(biāo)準(zhǔn)制定與時俱進的社會責(zé)任感。

  5. 參考國際標(biāo)準(zhǔn)：2010版標(biāo)準(zhǔn)在制定過程中參考了更多的國際標(biāo)準(zhǔn)和先進國家的標(biāo)準(zhǔn)實踐，提高了其國際兼容性和認(rèn)可度，有利于促進光學(xué)儀器的國際貿(mào)易和技術(shù)交流。

  6. 術(shù)語和定義的更新：為適應(yīng)技術(shù)進步和行業(yè)發(fā)展的需要，新標(biāo)準(zhǔn)對相關(guān)專業(yè)術(shù)語進行了修訂和完善，使得術(shù)語表述更加準(zhǔn)確、統(tǒng)一，便于讀者理解和應(yīng)用。


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  • 2011-01-14 頒布
  • 2011-05-01 實施
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GB/T 12085.11-2010光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗方法第11部分：長霉_第1頁
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GB/T 12085.11-2010光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗方法第11部分：長霉-免費下載試讀頁

文檔簡介

ICS37.020N30中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T12085.11—2010代替GB/T12085.11-1989光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗方法第11部分:長霉Opticsandopticalinstruments--EnyironmentaltestmethodsPart11:Mouldgrowth(ISO9022-11:1994.MOD)2011-01-14發(fā)布2011-05-01實施中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局發(fā)布中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會

GB/T12085.11-2010前GB/T12085《光學(xué)和光學(xué)儀器：環(huán)境試驗方法》分為以下16個部分：-第1部分：術(shù)語、試驗范圍;第2部分：低溫、高溫、濕熱;第3部分：機械作用力；第第4部分：鹽霧;第第5部分：低溫、低氣壓綜合試驗；第6部分：砂塵；第7部分：滴水、淋雨：-第8部分：高壓、低壓、浸沒;第9部分：太陽輻射；第10部分：振動(正弦)與高溫、低溫綜合試驗：第11部分：長霉;第第12部分：污染;-第13部分：沖擊、碰撞或自由跌落與高溫、低溫綜合試驗：第第14部分：露、霜、冰；-第15部分：寬帶隨機振動(數(shù)字控制)與高溫、低溫綜合試驗;-第16部分：彈跳或恒加速度與高溫、低溫綜合試驗。本部分為GB/T12085的第11部分本部分修改采用ISO9022-11:1994《光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗方法第11部分：長霉》本部分與ISO9022-11:1994的主要差異如下：-刪除國際標(biāo)準(zhǔn)的序言和前言：根據(jù)ISO9022-11第1章及我國標(biāo)準(zhǔn)用語習(xí)慣作了重新編寫：“國際標(biāo)準(zhǔn)本部分"一詞改為"本部分"本部分代替GB/T12085.11—1989《光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗方法：長霉》,與GB/T12085.11-1989的主要差異為：合并了范圍與試驗?zāi)康模赫{(diào)整了標(biāo)準(zhǔn)編寫結(jié)構(gòu)；-增加了試驗程序的總則及相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)依據(jù)：-增加了環(huán)境試驗的標(biāo)記名稱·修改了相應(yīng)標(biāo)準(zhǔn)號的編寫：修改了附錄A相關(guān)內(nèi)容，增加了長霉原因及防霉措施。本部分的附錄A為資料性附錄。本部分由中國機械工業(yè)聯(lián)合會提出。本部分由全國光學(xué)和光子學(xué)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(SAC/TC103)歸口。本部分起草單位：上海理工大學(xué)、寧波永新光學(xué)股份有限公司。本部分主要起草人：章慧賢、馮瓊輝、曾麗珠、葉慧。本部分所代替標(biāo)準(zhǔn)的歷次版本發(fā)布情況為：GB/T12085.11-1989。

GB/T12085.11-2010光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗方法第11部分：長霉1范圍本部分規(guī)定了長霉試驗用的菌種,試驗條件、條件試驗、試驗程序及環(huán)境試驗標(biāo)記本部分適用于光學(xué)儀器、裝有光學(xué)零部件的儀器和光學(xué)零部件。本部分不適用于常規(guī)生產(chǎn)檢查。本試驗?zāi)康氖茄芯块L霉對試樣的光學(xué)、化學(xué)、機械和電氣的工作性能的影響程度，以及估價霉菌代謝產(chǎn)物(比如酶或酸性物質(zhì))導(dǎo)致對零件的腐蝕程度或引起線路板的短路等嚴(yán)重程度，2規(guī)范性引用文件下列文件中的條款通過GB/T12085的本部分的引用而成為本部分的條款。凡是注日期的引用文件,其隨后所有的修改單(不包括勒誤的內(nèi)容)或修訂版均不適用于本部分.然而，鼓勵根據(jù)本部分達成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本適用于本部分。GB/T12085.1光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗方法第1部分：術(shù)語試驗范圍（GB/T12085.1-2010，1SO9022-1:1994，MOD）3試驗條件3.1試驗菌種試驗選用光學(xué)鏡片表面常見的菌種見表1。試驗時.表1所列的所有菌種應(yīng)同時混合使用表1綠色木登家青桔青霉擬青香球毛殼雅敗苗散餐霉青莓狀曲零由于菌種隨時間的推移會出現(xiàn)變性，所以.本部分僅規(guī)定了試驗用菌的種

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