標準解讀
《GB/T 10263-2006 核輻射探測器環(huán)境條件與試驗方法》相比于之前的一系列標準(GB/T 10263.1-1988至GB/T 10263.10-1988),主要在以下幾個方面進行了整合與更新:
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標準合并:最顯著的變化是將原來分散的十項標準合并為一項綜合性的標準,便于用戶查閱和執(zhí)行,提高了標準使用的便捷性和統(tǒng)一性。
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內容更新:新標準根據(jù)技術進步和實際應用需求,對核輻射探測器的環(huán)境適應性和試驗方法進行了修訂和完善。這包括了對探測器工作溫度范圍、濕度條件、機械振動、沖擊耐受性、電磁兼容性等方面的最新要求和測試方法。
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試驗方法優(yōu)化:標準中詳細描述了更為科學合理的試驗程序和評估指標,旨在更準確地反映核輻射探測器在各種環(huán)境下的性能穩(wěn)定性與可靠性。這些優(yōu)化可能涉及到了具體測試設備的選擇、測試步驟的細化以及數(shù)據(jù)處理方法的改進。
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安全與環(huán)保要求:考慮到環(huán)境保護和操作人員安全,新標準可能加入了更多關于輻射防護、設備安全操作及廢棄處理的相關指導原則,確保探測器從設計到使用全過程符合當前的安全環(huán)保標準。
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國際接軌:為了促進國際貿易和技術交流,GB/T 10263-2006在制定過程中參考了國際上的先進標準和實踐,力求與國際標準相協(xié)調,提升我國核輻射探測器產品的國際競爭力。
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術語和定義:對相關專業(yè)術語和定義進行了整理和統(tǒng)一,以避免理解歧義,增強標準的準確性和適用性。
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- 現(xiàn)行
- 正在執(zhí)行有效
- 2006-03-02 頒布
- 2006-08-01 實施
文檔簡介
ICS10.040F80中華人民共和國國家標準GB/T:10263—2006代替GB/T10263.1~10263.10—1988核輻射探測器環(huán)境條件與試驗方法Environmentalconditionsandtestproceduresfornuclearradiationdetectors2006-03-02發(fā)布2006-08-01實施中華人民共和國國家質量監(jiān)督檢驗檢疫總局愛布中國國家標準化管理委員會
中華人民共和國國家標準核輻射探測器環(huán)境條件與試驗方法GGB/T10263-2006中國標準出版社出版發(fā)行北京西城區(qū)復興門外三里河北街16號郵政編碼:100045電話:01051299090.685220062006年8月第一版書號:155066·1-27815版版權專有侵權必究舉報電話:(010)68522006
GB/T10263一2006前言范圍2規(guī)范性引用文件3術語和定義環(huán)境條件4.1深測器應用環(huán)境條件4.2探測器環(huán)境條件的嚴酷等級和環(huán)境參數(shù)4.3環(huán)境條件及其嚴醋等級或環(huán)境參數(shù)的確定5環(huán)境試驗總則………………5.1參考條件和標準試驗條件5.2試驗設備·5.3試驗項目及其順序5.4試驗樣品的準備5.5樣品在試驗中的工作狀態(tài)5.6試驗程序5.7試驗結論和報告5.8試驗中斷處理5.9產品標準應給出的信息6,環(huán)境試驗方法6.1低溫試驗6.2高溫試驗6.3恒定濕熱試驗………106.4振動試驗………126.5146.6包裝運輸試驗·自由跌落試驗……6.716低氣壓試驗…6.8166.9高氣壓試驗……溫度變化試驗6.1018太陽輻射試驗6.11206.12水(滴水或降雨、沖水、浸水)試驗206.13沙塵試驗6.14長霉試驗鹽霧試驗6.156.16核輻射照射試驗光效應試驗6.17電磁試驗6.18參考文獻
GB/T10263-2006圖1探測器環(huán)境試驗的設備示意圖圖2半正弦波沖擊脈沖的波形·…24規(guī)定轉移時間的溫度變化試驗的循環(huán)周期圖3圖4規(guī)定變化速率的溫度變化試驗的循環(huán)周期25表1基本氣候環(huán)境條件及其嚴醋等級和環(huán)境參數(shù)25表22可選氣候環(huán)境條件及其嚴酷等級和環(huán)境參數(shù)表3基本機械環(huán)境條件及其嚴醋等級和環(huán)境參數(shù)26表4可選機械環(huán)境條件及其嚴醋等級和環(huán)境參數(shù)26表5機械活性物質環(huán)境條件及其嚴酷等級和環(huán)境參數(shù)27北化學活性物質環(huán)境條件及其嚴酷等級和環(huán)境參數(shù)表6小表7生生物環(huán)境條件及其嚴酷等級和環(huán)境參數(shù)27表8核輻射照射環(huán)境條件及其嚴酷等級和環(huán)境參數(shù)表9光效應環(huán)境條件及其嚴酷等級和環(huán)境參數(shù)表10環(huán)境試驗的參考條件和標準試驗條件
GB/T10263-2006前本標準是對國家標準GB/T10263.1~10263.10—1988《輻射探測器環(huán)境試驗基本要求與方法》(以下簡稱原標準)的全面修訂.并代替原標準本標準在原標準文本的基礎上.總結原標準貫徹、實施的經驗.并結合十幾年來核輻射探測技術的進步和產品的發(fā)展進行編寫。本標準修訂遵循的指導思想是突出核輻射探測器(以下簡稱探測器)的環(huán)境條件與試驗方法的特殊性,在環(huán)境條件的嚴酷等級和環(huán)境參數(shù)以及相應的試驗方法等方面實現(xiàn)與國際接軌。深測器是核儀器系統(tǒng)探測和測量核輻射的部件.它也可以是獨立設計、生產、試驗、檢驗和銷售的產品.同一產品的使用環(huán)境非常廣泛,不同產品之間差別極大。特別是有些探測器對溫度變化極為敏感.有些探測器在環(huán)境變化時容易受損等。當探測器與核儀器在相同環(huán)境下工作時,其嚴酷等級應高于核儀器;特別是探測器所處的環(huán)境條件通常更嚴醋和更復雜.包括反應堆堆芯、井下、水下等特殊使用環(huán)境,可能要經受高核輻射、高氣壓、水壓等環(huán)境條件。由于探測器使用環(huán)境的特殊性,本標準將其環(huán)境條件分為基本環(huán)境條件和可選環(huán)境條件,而將其嚴醋等級分為A~F共6級。每個等級的環(huán)境參數(shù)考慮了探測器各類應用環(huán)境的需要。A級~E級的氣候環(huán)境、機械環(huán)境、機械活性物質、化學活性物質和生物條件的環(huán)境參數(shù)主要選自GB/T4796—2001《電工電子產品環(huán)境參數(shù)分類及其嚴酷程度分級》idtIEC60721-1:1990).并符合GB/T4798《電工電子產品應用環(huán)境條件》IEC60721-3)(共10部分)關于應用環(huán)境條件分類和分級的規(guī)定;但充分考慮了探測器的特殊適用性。而核輻射照射和光效應的環(huán)境參數(shù)則按原標準適當修改。F級的環(huán)境參數(shù)則留給產品標準等技術文件另行規(guī)定。本標準的試驗方法符合GB/T2421—1999《電工電子產品環(huán)境試驗第1部分:總則》(idtIEC60068-1:1988)的要求。本標準對多數(shù)常用試驗項目依據(jù)GB/T2423《電工電子產品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法》IEC60068-2)(共50部分)給出了規(guī)范、詳細的試驗方法,而對其余部分試驗項目(例如沙塵、水、長霉、鹽霧、太陽輻射等),則引用GB/T2423提供的方法并給出試驗要點。另外,試驗方法充分考慮了探測器的特殊性,例如探測器在多數(shù)試驗中不處于工作狀態(tài)本標準對原標準的其他修改如下:-將原10個分標準合并為一個標準,標準名稱改為《核輻射探測器環(huán)境條件與試驗方法》;增加存和運輸環(huán)境條件,補充了高溫、低溫等貼存的試驗方法:在使用環(huán)境條件中增加可選環(huán)境條件及其環(huán)境參數(shù),包括氣候環(huán)境條件中的溫度變化、低氣壓、高氣壓、浸水,機械環(huán)境中的自由跌落以及機械活性物質和生物條件等,并補充相應的試驗方法:將工頻磁場的環(huán)境條件擴充為電磁環(huán)境條件,其嚴酷等級或環(huán)境參數(shù)以及試驗方法則直接引用GB/T11684-2003《核儀器電磁環(huán)境條件與試驗方法》。本標準由全國核儀器儀表標準化技術委員會提出并歸口。本標準起草單位:核工業(yè)標準化研究所、北京核儀器廠、深圳市計量質量檢測研究院本標準起草人:熊正隆、周家典、李名兆。本標準首次發(fā)布于1988年。
GB/T10263—2006核輻射探測器環(huán)境條件與試驗方法范圍本標準規(guī)定了核輻射探測器的應用環(huán)境條件及其嚴酷等級和環(huán)境參數(shù),并給出了相應的試驗方法本標準適用于核輻射探測器和探測器部件(以下統(tǒng)稱探測器)。本標準不適用于探測器外部火災、爆炸和其他意外事故所造成的環(huán)境條件范性引用文件下列文件中的條款通過本標準的引用而成為本標準的條款。凡是注日期的引用文件.其隨后所有的修改單(不包括勒誤的內容)或修訂版均不適用于本標準,然而,鼓勵根據(jù)本標準達成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本適用于本標準。GB/T2422—1995電工電子產品環(huán)境試驗術語(eqvIEC60068-5-2:1990)GB/T2423.16電工電子產品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗」和導則:長霉(GB/T2423.16-1999.idtIEC60068-2-10:1988)GB/T2423.17電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Ka:鹽霧試驗方法(GB/T2423.17-1993.cqvIEC60068-2-11:1981)GB/T2423.24電工電子產品環(huán)境試驗第二部分:試驗方法武試驗Sa:模擬地面上的太陽輻射(GB/T2423.24-1995.idtIEC60068-2-5:1975)GB/T2423.37電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗L:砂塵試驗方法(GB/T2423.37-1989.neqDIN40046:1978)GB/T2423.38電工電子產品環(huán)境試驗:第2部分:試驗方法試驗R:水試驗方法和導則(GB/T2423.38-2005.IEC60068-2-18:2000.IDT)(B/T2423.43電工電子產品環(huán)境試驗第二部分:試驗方法元件、設備和其他產品在沖擊(Ea)碰撞(Eb)、振動(Fe和Fb)和穩(wěn)態(tài)加速度(Ca)等動力學試驗中的安裝要求和導則(GB/T2423.43—1995.idtIEC60068-2-47:1982)GB/T4796電工電子產品環(huán)境參數(shù)分類及其嚴酷程度分級(GB/T4796-2001.idtIEC60721-1:1990)GB/T8993—1998核儀器環(huán)境條件與試驗方法GB/T10257核儀器和核輻射探測器質量檢驗規(guī)則GB/T11684核儀器電磁環(huán)境條件與試驗方法GB/T11804—1989
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