光學(xué)顯微分析資料

光學(xué)顯微分析

雙目立體顯微鏡:將被觀察的物體放大，形成正立的有立體感的像，工作距離長(zhǎng)，較大的視場(chǎng)。常用于檢驗(yàn)、裝配和修理細(xì)小的精密零件以及電子線路的焊接等工作．

1、各種各樣的顯微鏡

金相顯微鏡：

用以觀察金屬磨片等非透明物體試樣不透明，照明光束從上面照射非透明物體．

單目與雙目光學(xué)金相顯微鏡

XJP-6A光學(xué)顯微鏡→光學(xué)適配鏡→CCD圖像采集→圖像數(shù)字化處理→USB口傳輸→計(jì)算機(jī)處理→顯示器→打印XJP-6A數(shù)碼顯微鏡：干涉顯微鏡：由顯微鏡和干涉儀組合而成，基于測(cè)量干涉條紋的彎曲量而測(cè)量表面的微觀不平度及透明物體的折射率不均勻性等，干涉顯微鏡分反射型和透射型兩種類型．

偏光顯微鏡：1、載物臺(tái)之下有一個(gè)下偏光鏡、使入射的自然光變?yōu)槠窆狻?、物鏡上有一個(gè)正交于下偏光鏡的上偏光鏡。3、目鏡下面有一個(gè)小的鏡并附有鎖光圈裝置稱勃氏(Bertrand)鏡．上偏光鏡與勃氏鏡可以推進(jìn)或拉出。

熒光顯微鏡：熒光物質(zhì)把入射的紫外線變?yōu)榭梢姽?，使熒光顯微鏡對(duì)可見光成像?？梢圆捎贸Ｒ?guī)的物鏡和目鏡．

X射線顯微鏡：1．波長(zhǎng)短（10-8cm數(shù)量級(jí)），因而可以達(dá)到極高的分辨率．2．試樣可以是透明的，也可以是不透明的，3．由于孔徑角小，可以有很大的焦深，能采用比較厚的試樣，易于實(shí)現(xiàn)立體攝影．4．X射線的吸收率與元素的原子序數(shù)有關(guān)，當(dāng)存在晶狀組織時(shí)，產(chǎn)生微衍射．X射線顯微鏡與微衍射及微吸收技術(shù)的結(jié)合，是研究生物和冶金的一個(gè)新的有力工具。

2、基本結(jié)構(gòu)

普通金相顯微鏡的構(gòu)造主要分為三部分：機(jī)械部分、照明部分和光學(xué)部分。XJP—3A型金相顯微鏡的構(gòu)造1載物臺(tái)2物鏡3目鏡4視場(chǎng)光欄5孔徑光欄6底座7物鏡轉(zhuǎn)換器8縱動(dòng)手輪9橫動(dòng)手輪10粗調(diào)焦手輪11細(xì)調(diào)焦手輪12燈泡13變壓器XJP—3A型金相顯微鏡光學(xué)系統(tǒng)工作原理目鏡組物鏡組輔助物鏡片（1）半透反光鏡聚光鏡組（2）濾色片聚光鏡組（1）燈泡雙目棱鏡組棱鏡消雜光欄輔助物鏡片（2）視場(chǎng)光欄孔徑光欄反光鏡光的二向色性晶體對(duì)相互垂直的兩個(gè)光振動(dòng)分量具有選擇吸收的性能稱為二向色性。將二向色性的晶體涂敷于透明薄片上，就成為偏振片。偏振片是常用的起偏器和檢偏器，每個(gè)偏振片上都標(biāo)有偏振化方向。自然光I0線偏振光I偏振化方向線偏振光I'起偏器檢偏器

3、特殊顯微技術(shù)---偏光顯微鏡

物質(zhì)發(fā)出的光波具有一切可能的振動(dòng)方向，且各方向振動(dòng)矢量的大小相等，稱為自然光。當(dāng)矢量固定在一個(gè)固定的平面內(nèi)只沿一個(gè)固定方向作振動(dòng)時(shí)，這種光稱為偏振光。偏振光的光矢量振動(dòng)方向和傳播方向所構(gòu)成的面稱為振動(dòng)面。

自然光通過(guò)偏振棱鏡或人造偏振片可獲得偏振光。利用偏光原理，可對(duì)某些物質(zhì)具有的偏光性進(jìn)行觀察的顯微鏡，就稱為偏振光顯微鏡。金相顯微鏡的偏光裝置

下圖是偏光顯微鏡結(jié)構(gòu)示意圖.與普通光學(xué)顯微鏡相比,偏光顯微鏡增加了兩個(gè)附件--起偏鏡和檢偏鏡.

2、偏振光顯微鏡的應(yīng)用

1、組織與晶粒的顯示各向異性金屬的多晶體，其晶粒在正交偏振光下可看到不同亮度。亮度不同，表明晶粒位向不同，而具有相同亮度的兩個(gè)晶粒，有相同的位向。2、多相合金的相分析

(a)兩相合金中一相為各向同性，另一相為各向異性，極易由偏振光鑒別。

(b)兩相都屬各向同性。經(jīng)適當(dāng)?shù)幕瘜W(xué)浸蝕后，使一相被浸蝕后具有光學(xué)各向異性，而對(duì)另一相并不發(fā)生浸蝕作用。3、非金屬夾雜物的鑒別

非金屬夾雜物，具有各種光學(xué)特性，如反射能力、透明度、固有色彩均質(zhì)及非均質(zhì)性等。利用偏振光可觀察到這些夾雜物的特性，如鑒別鋼中非金屬夾雜物。4、塑性變形、擇優(yōu)取向及晶粒位向的測(cè)定

可以利用光度計(jì)測(cè)量整個(gè)視野反射光的總強(qiáng)度，記錄它隨載物臺(tái)轉(zhuǎn)動(dòng)時(shí)的變化。無(wú)擇優(yōu)取向的多晶體反射光的總強(qiáng)度不隨載物臺(tái)轉(zhuǎn)動(dòng)而變化，有擇優(yōu)取向的多晶體反射光強(qiáng)度將隨載物臺(tái)在轉(zhuǎn)動(dòng)一周中交替產(chǎn)生四次明亮四次黑暗的變化。明暗差別越顯著，表明擇優(yōu)取向程度越高。

4、金相試樣的制備取樣原則：研究金屬及合金顯微組織的金相試樣應(yīng)從材料或零件在使用中最重要的部分截取，或在偏析夾雜等缺陷最嚴(yán)重的部位截取。分析損壞原因時(shí)，則應(yīng)在損壞的地方與完整的部位分別截取試樣，以探究其損壞或失效的原因。對(duì)于有些產(chǎn)生長(zhǎng)裂紋的部件，則應(yīng)在裂紋發(fā)源處、擴(kuò)展處、或裂紋尾端分別取樣。對(duì)于大型的金相分析項(xiàng)目或較重要的金相檢驗(yàn)項(xiàng)目，在報(bào)告中都應(yīng)有圖或文字說(shuō)明試樣選取的部位及方向。

橫向試樣常用于觀察：(a)試樣中心邊緣組織分布的漸變情況;(b)表面滲層、硬化層、鍍層等表面處理的深度及其組織；(c)表面缺陷,如裂紋、脫碳、氧化、過(guò)燒等疵病的深度;(d)非金屬夾雜物在整個(gè)端面上的分布情況;(e)測(cè)定晶粒度等．縱向試樣常用于觀察：(a)非金屬夾雜物大小、變形情況及其含量；(b)帶狀組織的存在或消除情況；(c)塑性變形引起的晶粒或組織變形的情況．制樣過(guò)程

金相試樣較理想的形狀是圓柱體或正方體，其直徑或邊長(zhǎng)約10-20mm,高約