晶體礦物的光學性質(zhì)二

第一節(jié)單偏光鏡下晶體光學性質(zhì)第五章晶體礦物的光學性質(zhì)第三節(jié)錐光下的晶體光學性質(zhì)一、晶體礦物的形態(tài)二、解理及解理夾角的測定三、顏色及多色性四、礦物的邊緣、貝克線、糙面及突起第二節(jié)正交光下的晶體光學性質(zhì)一、消光現(xiàn)象及消光位二、正交偏光鏡間礦片的干涉原理三、光程差公式四、干涉色及干涉色色譜表五、補色法則及常用補色器六、正交偏光鏡間主要光學性質(zhì)的觀察和測定一、一軸晶干涉圖二、二軸晶主要類型干涉圖第四節(jié)透明礦物薄片系統(tǒng)鑒定一、透明礦物薄片系統(tǒng)觀察的內(nèi)容二、鑒定未知礦物的一般程序

四、礦物的邊緣、貝克線、糙面及突起（一）礦物的邊緣與貝克線1、礦物的邊緣在單偏光系統(tǒng)下，兩個不同折射率介質(zhì)的接觸處往往會出現(xiàn)一條暗色封閉的條帶，這就構成了礦物的邊緣。

礦物邊緣的明顯程度，取決于？樹膠的折光率是1.539酸性斜長石Nm=1.529-1.548普通角閃石Nm=1.636-1.691鋯石No=1.925-1.960，

礦物折光率與樹膠折光率的差別。2、貝克線

在薄片中礦物顆粒比較黑暗的邊緣附近能見到一圈明亮的細線，這條線稱為貝克線或稱光帶。光線在接觸處均向折光率高的一方折射

貝克線移動的規(guī)律：上升鏡筒（下降載物臺）時,貝克線向折光率高的介質(zhì)移動；下降鏡筒（上升載物臺）時，貝克線向折光率低的介質(zhì)移動。注意：觀察貝克線需要縮小光圈，使用中－高倍的物鏡。（二）糙面在單偏光鏡下觀察巖石薄片中礦物時，有些礦物表面較光滑，有些礦物表面較粗糙呈麻點狀，像桔皮一樣，礦物表面這種光滑程度不同的現(xiàn)象稱為糙面。輝石二長巖糙面產(chǎn)生的原因？

糙面的明顯程度描述：顯著、較顯著、不顯著

糙面的明顯程度取決于？礦物與樹膠折射率的差值及表面的磨光程度。（三）突起

在薄片中，不同礦物顆粒的表面好象高低不平,有的礦物突出一些，有的礦物低平一些，這種現(xiàn)象叫做礦物的突起。影響因素：

礦物與樹膠折光率相差愈大，邊緣愈寬，糙面愈顯著，礦物的突起顯得愈高；相反，邊緣愈細，糙面不顯著，礦物的突起顯得愈低。

突起的直觀描述：高、中、低突起產(chǎn)生的原因？

礦物的折光率大于樹膠為正突起，小于樹膠為負突起。突起劃分為六個等級。高負突起低負突起低正突起中正突起高正突起極高正突起突起等級折光率范圍糙面及邊緣情況

礦物舉例高負突起1.41-1.47糙面及邊緣都明顯螢石(N=1.434)低負突起1.47-1.54表面光滑，邊緣不明顯正長石(N=1.517-1.525)酸性斜長石(N=1.525-1.544)低正突起1.55-1.59表面光滑，邊緣不明顯石英(N=1.544-1.553)中性斜長石(N=1.546-1.553)中-基性斜長石(N=1.555-1.588)中正突起1.59-1.66表面大致光滑，邊緣清楚磷灰石（N=1.63-1.66）角閃石(N=1.61-1.63)高正突起1.66-1.75表面粗糙，邊緣明顯且粗輝石(N=1.651-1.739)橄欖石(N=1.67-1.715)極高正突起＞1.75表面極粗糙，邊緣明顯，出現(xiàn)粗的暗帶榍石(N=1.888-2.054)石榴石(N=1.705-2.01)鋯石(N=1.923-1.96)表5-1薄片中常見礦物的折光率和突起糙面情況（樹膠折光率為1.539）

高負低負低正中正高正極高正（四）閃突起在單偏光鏡下，轉(zhuǎn)動載物臺，非均質(zhì)體礦物的突起等級發(fā)生明顯改變，旋轉(zhuǎn)一周變化四次的現(xiàn)象。方解石:

一軸晶礦物No=1.658，Ne=1.486。閃突起產(chǎn)生的原因？