與非門電路的測試

每次實驗請注意1請按指定桌號就坐。2

實驗結(jié)束后請整理實驗臺,恢復(fù)原樣；關(guān)閉儀器電源及電源接插板開關(guān)；椅子推入實驗桌面。3實驗結(jié)束時間一到，即刻拉閘結(jié)束實驗。實驗?zāi)康募由顚εc非門基本特性和主要參數(shù)的理解，掌握主要參數(shù)的測試方法。

與非門電路的測試

數(shù)字邏輯實驗箱數(shù)碼管（帶譯碼）數(shù)碼管（無譯碼）向上輸出高電平向下輸出低電平接高電平燈亮，接低電平燈滅按下是“0”CD4011四2輸入與非門

CD4011芯片74LS00四2輸入與非門

芯片74LS00

集成電路：引腳和電源引腳號排列：正讀雙列直插式集成電路型號，左下角引腳為1，按逆時針方向依次增加，左上角引腳號最大。把集成電路引腳垂直插入插座（到底）。VDD（或VCC）接5V電源，GND接地。輸入不允許有負電壓。不用的輸入端應(yīng)接確定電平，不得懸空。實驗內(nèi)容必做：測量CMOS與非門CD4011的平均延遲時間實驗內(nèi)容中的（1）選做一：測量CMOS與非門CD4011的電壓傳輸特性實驗內(nèi)容中的（2）注意：只要求測出電壓傳輸特性曲線，VOFF、VON等具體值不要求測量。選做二：測量TTL與非門74LS00的平均延遲時間和電壓傳輸特性。實驗內(nèi)容中的（3）和（4）CMOS與非門平均延遲時間的測量vI1MHz方波取自信號發(fā)生器的“TTL“輸出端口vO用示波器的CH1和CH2通道雙蹤顯示輸入、輸出波形；探頭用“x10”檔。50%50%平均延遲時間的測量1信號發(fā)生器的“TTL“輸出端口，探頭用“x10”檔（注意：同時在示波器上要設(shè)置探頭衰減常數(shù)為10:1）2調(diào)出頻率為1MHz的方波（調(diào)好后接到實驗電路中）3按下Auto

Scale4按測量Meas按鍵->在測量菜單里，按類型軟鍵->選延遲時間；按設(shè)置軟鍵，在測量設(shè)置菜單里，源1選1，選上升沿；源2選2，選下降沿->按

Back按鈕返回上一級測量菜單，按添加測量軟鍵，即可得到tPHL5按設(shè)置軟鍵，在測量設(shè)置菜單里，源1選1，選下降沿；源2選2，選上升沿

->按Back按鈕返回上一級測量菜單，按添加測量軟鍵，即可得到tPLH

平均延遲時間tpd＝(tpHL＋tpLH)/2TTL與非門平均延遲時間的測量

輸入Vi為2MHz方波電壓傳輸特性的測量VOHVIVOHminVOLmaxVOLmaxVOFFVONVOHminVNLVNHVOVOL0實際的曲線很陡，VOFF和VON非常接近。4.95V0.05V高電平噪聲容限電壓VNH=VOHmin-VON低電平噪聲容限電壓VNL=VOFF-VOLmax電壓傳輸特性的測量vIvORL10K100Hz，0-5V的三角波取自信號發(fā)生器的”50?“輸出端口探頭用“x1”檔。信號發(fā)生器的波形選擇按鈕選擇“三角波”先用示波器監(jiān)測輸入信號，通過調(diào)節(jié)信號發(fā)生器的APML和OFFSET旋鈕，保證輸入沒有負電壓.所施加給電路信號的幅值都以示波器測量為準。.三角波信號未調(diào)好前，不能接入芯片。

圖1電壓傳輸特性的測試電路

vIvORL10kCH1CH20V5VvI＋2.5V-2.5V0VvI×t圖1圖2電壓傳輸特性的測量vIvORL10K

vI和vO分別接示波器的CH1和CH2通道

把示波器切換到XY顯示方式（按Horiz按鍵->按軟鍵中的時基模式，選XY），即可得電壓傳輸特性曲線。示波器、信號發(fā)生器和被測電路共地。CH1CH20×10×1注意事項把集成電路引腳垂直插入插座（到底）不要忘記給芯片接電源和地不許帶電接插線及更換元件電路工作不正常時，首先測試芯片的電源和地引腳。測試點應(yīng)是集成電路的管腳處寫入實驗報告的思考題：P824.1.8(3)提交實驗報