X射線熒光光譜分析分析-課件

X射線熒光光譜分析——儀器分析林夢婕王巧煌2014.04.111ppt課件X射線熒光光譜分析林夢婕王巧煌1ppt課件5.X射線熒光光譜分析的應(yīng)用4.X射線熒光光譜儀3.X射線熒光光譜原理2.X射線的特征1.概述2ppt課件5.X射線熒光光譜分析的應(yīng)用4.X射線熒光光譜儀3.X射線概述

X射線光譜分析發(fā)展大事記

1895年，倫琴發(fā)現(xiàn)X射線。

1908年，巴克拉（C.G.Barkla）和沙特拉（Sadler）發(fā)現(xiàn)物質(zhì)受X射線輻照后會發(fā)射出和物質(zhì)中組成元素相關(guān)的特征譜線。

1912年，勞厄（M.VonLoue）發(fā)現(xiàn)了晶體對X

射線的衍射現(xiàn)象，證實(shí)了X射線是一種電磁波，具有波動性，并可用晶體作為X射線衍射光柵。

1913年，布拉格（W.L.Bragg，W.H.Bragg）父子建立布拉格定律。3ppt課件概述X射線光譜分析發(fā)展大事記1895年，倫琴發(fā)現(xiàn)X射概述

X射線光譜分析發(fā)展大事記

1913年，莫塞萊（Moseley）研究了各種元素的特征光譜，發(fā)現(xiàn)了莫塞萊定律，奠定了X射線光譜分析的基礎(chǔ)。

1928年，蓋革（H.Geiger）等首次提出用充氣記數(shù)管代替照相干板法來進(jìn)行X射線的測量。

1948年，弗里德曼（H.Friedman）和伯克斯制出第一臺商品X射線熒光光譜儀。

1966年，勃?jiǎng)诼˙rowman）等將發(fā)射性同位素源和Si（Li）探測器結(jié)合使用。4ppt課件概述X射線光譜分析發(fā)展大事記1913年，莫塞萊（Mos概述

X射線光譜分析發(fā)展大事記1969年，伯克斯（Birks）等研制出第一臺能量射線熒光光譜儀。

1971年，首次報(bào)導(dǎo)將全反射技術(shù)應(yīng)用在少量樣品的痕量分析上。

1974年，首先把偏振技術(shù)應(yīng)用于能量色散X射線熒熒光分析。5ppt課件概述X射線光譜分析發(fā)展大事記1969年，伯克斯（Bir概述

布拉格定律：

布拉格定律（Bragg’slaw）是反映晶體衍射基本關(guān)系的理論推導(dǎo)定律。1912年英國物理學(xué)家布拉格父子（W.H.Bragg和W.L.Bragg）推導(dǎo)出了形式簡單，能夠說明晶體衍射基本關(guān)系的布拉格定律。此定律是波長色散型X熒光儀的分光原理，使不同元素不同波長的特征X熒光完全分開，使譜線處理工作變得非常簡單，降低了儀器檢出限。6ppt課件概述布拉格定律：布拉格定律（Bragg’s概述

布拉格定律：

n：衍射次數(shù)，為整數(shù)λ：入射波的波長

d：原子晶格內(nèi)的平面間距θ：入射波與散射平面間的夾角7ppt課件概述布拉格定律：n：衍射次數(shù)，為整數(shù)概述

圖1布拉格衍射

兩束相同波長及相的輻射，向著固態(tài)晶體前進(jìn)，最后被里面的兩個(gè)原子所散射出去。下面的束被散射后，比上面的束多行了2dsinθ的距離。當(dāng)這個(gè)距離等于輻射波長的倍數(shù)時(shí)，散射后的兩束輻射就會產(chǎn)生相長干涉。8ppt課件概述圖1布拉格衍射兩束相概述

莫塞萊定律：

莫塞萊定律（Moseley’slaw），是反映各元素X射線特征光譜規(guī)律的實(shí)驗(yàn)定律。1913年H.G.J莫塞萊研究從鋁到金的38種元素的X射線特征光譜K和L線，得出譜線頻率的平方根與元素在周期表中排列的序號成線性關(guān)系。Z為元素的原子序數(shù)；

ν是頻率，主譜線或K

殼層

X-射線發(fā)射譜線的頻率；

K1﹑K2是依不同種類的譜線而設(shè)定的常數(shù)。9ppt課件概述莫塞萊定律：莫塞萊定律（概述

莫塞萊定律：

莫塞萊認(rèn)識到這些X射線特征光譜是由于內(nèi)層電子的躍遷產(chǎn)生的，表明X射線的特征光譜與原子序數(shù)是一一對應(yīng)的，使X熒光分析技術(shù)成為定性分析方法中最可靠的方法之一。10ppt課件概述莫塞萊定律：莫塞萊認(rèn)識到這些X射線概述

我國X射線光譜分析的發(fā)展

起步于20世紀(jì)50年代末中科院長春應(yīng)用化學(xué)研究所等單位先后從蘇聯(lián)引進(jìn)原級X射線光譜儀。

20世紀(jì)60年代初李安模、馬光祖等人著手進(jìn)行我國第一臺X射線熒光光譜儀的研制。此后，相關(guān)研究所歐洲和日本等引進(jìn)商品X射線熒光光譜儀，進(jìn)行大量應(yīng)用研究和技術(shù)開發(fā)。11ppt課件概述我國X射線光譜分析的發(fā)展起步于20世紀(jì)50年代末概述

我國X射線光譜分析的發(fā)展

20世紀(jì)80年代我國X射線熒光光譜分析研究非?；钴S并取得長足進(jìn)步，在理論研究，輕元素分析，基體軟件的開發(fā)，國外交流取得巨大進(jìn)步。

現(xiàn)在

X射線熒光光譜分析應(yīng)用十分廣泛，研發(fā)和應(yīng)用工作正緊緊和世界先進(jìn)水平同步進(jìn)行。12ppt課件概述我國X射線光譜分析的發(fā)展20世紀(jì)80年代12ppt5.X射線熒光光譜分析的應(yīng)用4.X射線熒光光譜儀3.X射線熒光光譜原理2.X射線的特征1.概述13ppt課件5.X射線熒光光譜分析的應(yīng)用4.X射線熒光光譜儀3.X射線X射線的特征

X射線波長14ppt課件X射線的特征X射線波長14ppt課件X射線的特征

X射線特性

感光作用X射線能使照相底片感光變黑電離作用X射線能電離氣體熒光作用X射線照射NaI、ZnS等物質(zhì)產(chǎn)生接近可見光熒光

衍射作用X射線通過晶體時(shí)發(fā)生衍射折射率接近1X射線通過不同介質(zhì)時(shí)幾乎不折射穿透能力強(qiáng)X射線能夠穿透許多材料15ppt課件X射線的特征X射線特性感光作用X射線X射線的特征

X射線強(qiáng)度

在X射線熒光光譜分析中，X射線強(qiáng)度是以單位時(shí)間通過探測器窗口的入射X射線光子數(shù)，即計(jì)數(shù)率來表示。

計(jì)數(shù)率cps或kcps，是指每秒計(jì)數(shù)或千每秒計(jì)數(shù)

X射線強(qiáng)度所用的符號通常為I，Ii是指i元素的

強(qiáng)度。16ppt課件X射線的特征X射線強(qiáng)度在X射線熒光光譜分析中，X射線強(qiáng)度光譜是一系列有規(guī)律排布的光，如雨后的彩虹。17ppt課件17ppt課件X射線熒光光譜原理

X射線光譜

X射線的產(chǎn)生

當(dāng)高速運(yùn)動的電子或帶電粒子(如質(zhì)子、α粒子等)轟擊物質(zhì)時(shí)其運(yùn)動受阻，和物質(zhì)發(fā)生能量交換，電子的一部分動能轉(zhuǎn)變成為X射線光子輻射能，以X射線形式輻射出來。

18ppt課件X射線熒光光譜原理X射線光譜X射線的產(chǎn)生18ppt課件X射線熒光光譜原理

真空條件下，在陽極靶和陰極燈絲之間加上一高電壓，陰極燈絲在管電流的作用下，發(fā)射出大量加速電子，轟擊靶面，產(chǎn)生X射線。圖2X射線的產(chǎn)生

從X射線管輻射的一次X射線(也被稱作初級X射線，原級X射線)是由兩種本質(zhì)完全不同的X射線組成。一種為連續(xù)譜線，另一種是特征譜線。19ppt課件X射線熒光光譜原理真空條件下，在陽極靶和陰極燈X射線熒光光譜原理

連續(xù)光譜①X射線管中所加的管電壓在較低時(shí)只產(chǎn)生連續(xù)光譜。②由某個(gè)最短波長為起端包括強(qiáng)度隨波長連續(xù)變化的譜線組成。

特征X射線①所加管電壓≥X射線管的陽極材料激發(fā)電勢時(shí)，特征X射線光譜以疊加在連續(xù)譜之上的形式出現(xiàn)。②是若干波長一定而強(qiáng)度較大的X射線線譜。20ppt課件X射線熒光光譜原理連續(xù)光譜20ppt課件X射線熒光光譜原理

特征熒光X射線同樣為特征譜線，特征熒光X射線和靶材的特征譜線不同之處在于前者是射線陰極發(fā)出的電子對靶材元素原子內(nèi)層的激發(fā)，而特征熒光X射線是由X射線管發(fā)出的一次X射線（原級X射線）激發(fā)樣品而產(chǎn)生的具有樣品元素特征的二次X射線。21ppt課件X射線熒光光譜原理特征熒光X射線同樣為特征譜線，特征熒光XX射線熒光光譜原理

X射線熒光的產(chǎn)生

原子中的內(nèi)層（如K層）電子被X射線輻射電離后在K層產(chǎn)生一個(gè)空穴。外層（L層）電子填充K層空穴時(shí)，會釋放出一定的能量，當(dāng)該能量以X射線輻射釋放出來時(shí)產(chǎn)生具有該元素特征的二次X射線，也就是特征熒光X射線。

圖3特征熒光X射線的產(chǎn)生22ppt課件X射線熒光光譜原理X射線熒光的產(chǎn)生圖3特征熒光X射線的產(chǎn)X射線熒光光譜原理

特征X射線的符號23ppt課件X射線熒光光譜原理特征X射線的符號23ppt課件X射線熒光光譜原理特征X射線譜系的命名：位于某殼層的電子被激發(fā)稱為某系激發(fā)，產(chǎn)生的X射線輻射稱為某系譜線。例如：一次X射線逐出K層電子，外層向K層躍遷產(chǎn)生的熒光X射線為K系線，逐出L層電子，外層向L層躍遷的為L系線……。24ppt課件X射線熒光光譜原理特征X射線譜系的命名：24ppt課件X射線熒光光譜原理特征譜線線系中的某條譜線是指由外層、次外層……電子填充空穴，就在對應(yīng)譜線下方注上希臘字母α、

β、

γ……例如：L層向K層躍遷為Kα，M層向K層為Kβ。而譜線右下方所標(biāo)的是支能級序數(shù)，是指電子填空前處于電子層的各支能級。例如：L層有三個(gè)支能級，其中LI能級穩(wěn)定，不產(chǎn)生電子躍遷，電子從LⅢ、LⅡ躍遷產(chǎn)生Ka1和Ka2

。25ppt課件X射線熒光光譜原理特征譜線線系中的某條譜線是指由外層、次外層X射線熒光光譜分析的特點(diǎn)優(yōu)點(diǎn)：是一種無損檢測技術(shù)；分析速度快，分析精度高，重現(xiàn)性好；可分析塊狀、粉末、液體樣品，適于各類固體樣品主、次、痕量多元素同時(shí)測定；可分析鍍層和薄膜的組成和厚度；制作方法簡單。X射線熒光光譜法缺點(diǎn)：檢出限不夠低，不適于分析輕元素；依賴標(biāo)樣，分析液體樣品比較麻煩。26ppt課件X射線熒光光譜分析的特點(diǎn)優(yōu)點(diǎn)：X射線熒光光譜法缺點(diǎn)：26pp5.X射線熒光光譜分析的應(yīng)用4.X射線熒光光譜儀3.X射線熒光光譜原理2.X射線的特征1.概述27ppt課件5.X射線熒光光譜分析的應(yīng)用4.X射線熒光光譜儀3.X射線X射線熒光光譜儀

波長色散X射線熒光光譜儀

能量色散X射線熒光光譜儀28ppt課件X射線熒光光譜儀波長色散X射線熒光光譜儀能量色散X射線熒X射線熒光光譜儀

波長色散X射線熒光光譜儀

簡介根據(jù)X射線衍射原理，用分光晶體為色散元件，以布拉格定律2dsinθ=nλ為基礎(chǔ)，對不同波長特征譜線進(jìn)行分光，然后進(jìn)行探測。

有分辨率好，靈敏度高等優(yōu)點(diǎn)29ppt課件X射線熒光光譜儀波長色散X射線熒光光譜儀簡介根據(jù)X射線熒光光譜儀

波長色散X射線熒光光譜儀

簡介分類——掃描型譜儀多元素同時(shí)分析儀（多道譜儀）

圖4掃描型譜儀

圖5多元素同時(shí)分析譜儀30ppt課件X射線熒光光譜儀波長色散X射線熒光光譜儀簡介分類——X射線熒光光譜儀

波長色散X射線熒光光譜儀

儀器組成圖6波長色散型譜儀原理圖示31ppt課件X射線熒光光譜儀波長色散X射線熒光光譜儀儀器組成圖6波X射線熒光光譜儀

波長色散X射線熒光光譜儀

儀器組成激發(fā)系統(tǒng)分光系統(tǒng)探測系統(tǒng)儀器控制和數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)發(fā)出一次X射線，激發(fā)樣品對來自樣品元素特征X射線進(jìn)行分辨對樣品元素的特征X射線進(jìn)行強(qiáng)度探測處理探測器信號，給出分析結(jié)果32ppt課件X射線熒光光譜儀波長色散X射線熒光光譜儀儀器組成激發(fā)系統(tǒng)X射線熒光光譜儀

波長色散X射線熒光光譜儀

儀器組成（1）激發(fā)系統(tǒng)：X射線發(fā)生器、X射線管和熱交換器等部件組成。（2）分光系統(tǒng)：分光晶體、限制光欄、準(zhǔn)直器和衰減器等。（3）探測系統(tǒng)：探測高壓、探測器、次級準(zhǔn)直器和相關(guān)電子學(xué)線路等組成。（4）儀器控制及數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)33ppt課件X射線熒光光譜儀波長色散X射線熒光光譜儀儀器組成（1）激X射線熒光光譜儀

波長色散X射線熒光光譜儀X射線發(fā)生器

給X射線提供高壓和電流并保持電壓和電流穩(wěn)定的裝置，是儀器的一項(xiàng)重要指標(biāo)。

一般X射線發(fā)生器最大輸出功率有3kW或4kW。與之相配的最大額定電壓為60～100kV，最大額定電流為80～160mA。

34ppt課件X射線熒光光譜儀波長色散X射線熒光光譜儀X射線發(fā)生器X射線熒光光譜儀

波長色散X射線熒光光譜儀X射線管根據(jù)X射線出口窗的位置，X射線管分為側(cè)窗型(sidewindowtube，SWT)和端窗型(endwindowtube，EWT)。

圖7側(cè)窗型X射線管

圖8端窗型X射線管

35ppt課件X射線熒光光譜儀波長色散X射線熒光光譜儀X射線管X射線熒光光譜儀

波長色散X射線熒光光譜儀X射線管X射線管輻射的X射線強(qiáng)度和電子轟擊靶面的入射角和X射線的出射角、Be窗的厚度、Be窗和靶面的距離以及Be窗和樣品的距離有關(guān)

透射靶X射線管：窗口與陽極靶零距離，提高激發(fā)效率，應(yīng)用于低功率波長色散譜儀。

圖9陽極元素在鈹窗上的沉積36ppt課件X射線熒光光譜儀波長色散X射線熒光光譜儀X射線管X射線熒光光譜儀

波長色散X射線熒光光譜儀

熱交換器

陽極靶的冷卻作用

端窗型X射線管：電導(dǎo)率很低的去離子水

側(cè)窗型X射線管：普通水

37ppt課件X射線熒光光譜儀波長色散X射線熒光光譜儀熱交換器X射線熒光光譜儀

波長色散X射線熒光光譜儀

準(zhǔn)直器

圖10準(zhǔn)直器38ppt課件X射線熒光光譜儀波長色散X射線熒光光譜儀準(zhǔn)直器圖X射線熒光光譜儀

波長色散X射線熒光光譜儀

準(zhǔn)直器一級準(zhǔn)直器二級準(zhǔn)直器在樣品和晶體之間（該準(zhǔn)直器又稱為入射狹縫）作用：是將樣品發(fā)射出的X射線熒光通過準(zhǔn)直器變?yōu)槠叫泄馐丈涞骄w在分光晶體之后（又稱為出射狹縫）作用：是將晶體分光后的光束變?yōu)槠叫泄馐M(jìn)入探測器39ppt課件X射線熒光光譜儀波長色散X射線熒光光譜儀準(zhǔn)直器一級準(zhǔn)直器X射線熒光光譜儀

波長色散X射線熒光光譜儀

分光晶體一種單色器，相當(dāng)于光學(xué)發(fā)射光譜中的分光單元棱鏡或光柵，把來自樣品各元素的特征譜線按照布拉格衍射原理進(jìn)行分光，被測元素在特定的布拉格角被探測。40ppt課件X射線熒光光譜儀波長色散X射線熒光光譜儀分光晶體X射線熒光光譜儀

波長色散X射線熒光光譜儀

分光晶體選擇：衍射強(qiáng)度大分辨率高峰背比高溫度效應(yīng)小合適的波長范圍41ppt課件X射線熒光光譜儀波長色散X射線熒光光譜儀分光晶體選擇：X射線熒光光譜儀

波長色散X射線熒光光譜儀不同波長的熒光X射線必須選擇與其匹配的分光晶體42ppt課件X射線熒光光譜儀波長色散X射線熒光光譜儀不同波長的熒光X射X射線熒光光譜儀

波長色散X射線熒光光譜儀

分光晶體分類：平面晶體：結(jié)構(gòu)簡單，掃描型譜儀

曲面晶體：衍射強(qiáng)度和分辨率較高

多層晶體：常用于長波段輕元素或

超輕元素分析43ppt課件X射線熒光光譜儀波長色散X射線熒光光譜儀分光晶體分類：X射線熒光光譜儀

波長色散X射線熒光光譜儀

探測器一種變化能量形式的裝置把X射線光子信號轉(zhuǎn)換成可計(jì)量測定的電脈沖信號44ppt課件X射線熒光光譜儀波長色散X射線熒光光譜儀探測器一X射線熒光光譜儀

波長色散X射線熒光光譜儀

探測器分類：充氣型正比計(jì)數(shù)器閃爍計(jì)數(shù)器氣流型正比計(jì)數(shù)器封閉型正比計(jì)數(shù)器PC（gasProportionalCounter）FPC（gasFlowProportionalCounter）SPC（SealedProportionalCounter）SC（ScitillationCounter）45ppt課件X射線熒光光譜儀波長色散X射線熒光光譜儀探測器分類：X射線熒光光譜儀

波長色散X射線熒光光譜儀

探測器充氣型正比計(jì)數(shù)器常用來對長波和超長波X射線探測，尤其是氣流型正比計(jì)數(shù)器有較高的能量分辨率并對輕元素有較高的技術(shù)效率

閃爍計(jì)數(shù)器常用于探測較高原子序數(shù)的元素，探測波長相對較短。46ppt課件X射線熒光光譜儀波長色散X射線熒光光譜儀探測器充X射線熒光光譜儀

波長色散X射線熒光光譜儀

測角儀測角儀是按照分光幾何學(xué)的要求，驅(qū)動或配置與分析元素相匹配的分光晶體及探測器等的精密機(jī)械裝置。

多道同時(shí)分析型譜儀，由于元素分析線已確定，分光晶體、狹縫及探測器的相對位置固定；

對掃描型儀器，由于其配件位置的可變性，測角儀是保證分析精度和準(zhǔn)確性的一個(gè)十分關(guān)鍵的部件。47ppt課件X射線熒光光譜儀波長色散X射線熒光光譜儀測角儀測X射線熒光光譜儀

波長色散X射線熒光光譜儀日本島津國際貿(mào)易有限公司型號：XRF-180048ppt課件X射線熒光光譜儀波長色散X射線熒光光譜儀日本島津國際貿(mào)易有X射線熒光光譜儀

波長色散X射線熒光光譜儀主要配置：LiF、Ge、PET、TAP、SX-52及SX-98N6塊分光晶體；FPC、SC檢測器；液體樣品盒；微區(qū)刻度尺主要性能指標(biāo)：1、檢測元素范圍：4Be-92U2、元素含量范圍：0.0001%-100%3、最大掃描速度：300°/min49ppt課件X射線熒光光譜儀波長色散X射線熒光光譜儀主要配置：49ppX射線熒光光譜儀

波長色散X射線熒光光譜儀

能量色散X射線熒光光譜儀50ppt課件X射線熒光光譜儀波長色散X射線熒光光譜儀能量色散X射線熒X射線熒光光譜儀

能量色散X射線熒光光譜儀

簡介

其儀器能量選擇是以下列公式為基礎(chǔ)：式中：VPH為探測器輸出的脈沖高度；E為被探測x射線能量(keV)；λ為波長(nm)。：51ppt課件X射線熒光光譜儀能量色散X射線熒光光譜儀簡介其儀器能量X射線熒光光譜儀

能量色散X射線熒光光譜儀

簡介

來自樣品元素的熒光X射線進(jìn)入探測器，多道分析器各通道同時(shí)計(jì)數(shù)，進(jìn)行多元素同時(shí)測量，通過探測不同能量水平的脈沖及數(shù)值進(jìn)行定性和定量分析。52ppt課件X射線熒光光譜儀能量色散X射線熒光光譜儀簡介來X射線熒光光譜儀

能量色散X射線熒光光譜儀

特點(diǎn)結(jié)構(gòu)緊湊、移動方便?？捎霉β瘦^小的激發(fā)源。

半導(dǎo)體探測器

多道分析器分析從11Na到92U，濃度范圍從0.Xppm到100％。53ppt課件X射線熒光光譜儀能量色散X射線熒光光譜儀特點(diǎn)結(jié)構(gòu)X射線熒光光譜儀

能量色散X射線熒光光譜儀

儀器組成圖11能量色散型譜儀原理圖示54ppt課件X射線熒光光譜儀能量色散X射線熒光光譜儀儀器組成圖11X射線熒光光譜儀

能量色散X射線熒光光譜儀

儀器組成（1）X射線發(fā)生激發(fā)部分（2）樣品元素譜線的探測部分（3）數(shù)據(jù)處理部分55ppt課件X射線熒光光譜儀能量色散X射線熒光光譜儀儀器組成（1）XX射線熒光光譜儀

能量色散X射線熒光光譜儀

激發(fā)源各種不同類型的能量色散熒光光譜分析系統(tǒng)有不同的配置，激發(fā)源有X射線管、同位素放射源、加速器產(chǎn)生的帶電粒子激發(fā)及同步輻射等。主要討論應(yīng)用比較廣泛的X射線管激發(fā)和同位素激發(fā)源。56ppt課件X射線熒光光譜儀能量色散X射線熒光光譜儀激發(fā)源各X射線熒光光譜儀

能量色散X射線熒光光譜儀

激發(fā)源①X射線管：

初級線的強(qiáng)度較高，相應(yīng)的能量范圍也較寬，并可調(diào)，分析靈敏度較高，適合于多元素分析，并具有使用安全可靠，便于攜帶等優(yōu)點(diǎn)

激發(fā)方式：直接激發(fā)、二次靶激發(fā)和偏振激發(fā)等。57ppt課件X射線熒光光譜儀能量色散X射線熒光光譜儀激發(fā)源①X射線管X射線熒光光譜儀

能量色散X射線熒光光譜儀

激發(fā)源②放射性同位素激發(fā)源：

放射性同位素激發(fā)源的工作原理是利用源物質(zhì)放射性衰變過程中發(fā)射的X射線、γ射線或β粒子等作為激發(fā)源。

結(jié)構(gòu)簡單，體積小，本身不需要外部電源，但為了安全，選用放射源活性和輻射通量不能太高，且源輻射的能量比較窄，所以一種源往往只適用少數(shù)元素。58ppt課件X射線熒光光譜儀能量色散X射線熒光光譜儀激發(fā)源②放射性同X射線熒光光譜儀

能量色散X射線熒光光譜儀

探測器

樣品輻射的不同元素的熒光X射線具有不同的能量

探測器是利用其產(chǎn)生脈沖信號的幅度和入射X射線光子能量成正比而被采用

常用固態(tài)半導(dǎo)體探測器：如鋰漂移硅或鍺探測器(Si(Li)、Ge(Li))59ppt課件X射線熒光光譜儀能量色散X射線熒光光譜儀探測器X射線熒光光譜儀

能量色散X射線熒光光譜儀

探測器

半導(dǎo)體探測器有兩個(gè)電極，加有一定的偏壓。當(dāng)入射粒子進(jìn)入半導(dǎo)體探測器的靈敏區(qū)時(shí)，即產(chǎn)生電子-空穴對。在兩極加上電壓后，電荷載流子就向兩極作漂移運(yùn)動﹐收集電極上會感應(yīng)出電荷，從而在外電路形成信號脈沖。

半導(dǎo)體探測器中，入射粒子產(chǎn)生一個(gè)電子－空穴對所需消耗的平均能量為氣體電離室產(chǎn)生一個(gè)離子對所需消耗的十分之一左右，因此半導(dǎo)體探測器比閃爍計(jì)數(shù)器和氣體電離探測器的能量分辨率好得多。60ppt課件X射線熒光光譜儀能量色散X射線熒光光譜儀探測器半X射線熒光光譜儀

能量色散X射線熒光光譜儀

多道分析器一個(gè)多窗口、多通道的分析器，

不同元素、不同能量的X射線光子具有不同的脈沖高度，進(jìn)入模一數(shù)轉(zhuǎn)換器ADC(Analog—to-DigitalConverter)后，以數(shù)字的形式進(jìn)入并存儲在多道分析器各自的通道，相同的脈沖高度進(jìn)入同一通道。61ppt課件X射線熒光光譜儀能量色散X射線熒光光譜儀多道分析器X射線熒光光譜儀

能量色散X射線熒光光譜儀62ppt課件X射線熒光光譜儀能量色散X射線熒光光譜儀62ppt課件5.X射線熒光光譜分析的應(yīng)用4.X射線熒光光譜儀3.X射線熒光光譜原理2.X射線的特征1.概述63ppt課件5.X射線熒光光譜分析的應(yīng)用4.X射線熒光光譜儀3.X射線X射線熒光光譜分析的應(yīng)用

XRF分析主要應(yīng)用領(lǐng)域

電子和磁性材料：存儲器、磁盤、硅片、集成電路等。

化學(xué)工業(yè)：催化劑、聚合物、醫(yī)藥、涂料、油脂、洗滌劑、化妝品。

陶瓷和水泥工業(yè)：高鋁材料、玻璃、耐火材料、水泥等。

鋼鐵工業(yè)：普通鋼、特種鋼、鐵合金、鐵礦石、爐渣等。

非鐵合金：記憶合金、銅合金、貴金屬等。

地質(zhì)礦業(yè)：礦石、巖石、火山灰等。64ppt課件X射線熒光光譜分析的應(yīng)用XRF分析主要應(yīng)用領(lǐng)域電子和磁性X射線熒光光譜分析的應(yīng)用

XRF分析主要應(yīng)用領(lǐng)域

石油和煤：油脂、潤滑油、燃料油、重油、煤、煤灰等。

環(huán)境：自來水、海水、排放水、大氣飄塵、工業(yè)廢棄物物等。

其它：土壤、植物、生物體、食物、文物、核電等。65ppt課件X射線熒光光譜分析的應(yīng)用XRF分析主要應(yīng)用領(lǐng)域石油和煤：X射線熒光光譜分析的新應(yīng)用

在材料及毒性物品監(jiān)測中的應(yīng)用

XRF技術(shù)適于監(jiān)控相關(guān)材料中的有毒有害元素的含量，已廣泛應(yīng)用于實(shí)際生產(chǎn)質(zhì)量控制。作為一種無損檢測技術(shù)，XRF可直接用于安檢、珠寶文物、大型器件探傷等原位分析。66ppt課件X射線熒光光譜分析的新應(yīng)用在材料及毒性物品監(jiān)測中的應(yīng)用XX射線熒光光譜分析的新應(yīng)用

在生物、生命及環(huán)境領(lǐng)域中的應(yīng)用

XRF技術(shù)已成功應(yīng)用于環(huán)境、食物鏈、動植物、人體組織細(xì)胞及器官、生物醫(yī)學(xué)材料、代謝產(chǎn)物中的無機(jī)元素測定。

XRF分析專家們已廣泛開展分析數(shù)據(jù)與所包含信息的相關(guān)性研究，為環(huán)境預(yù)測與治理等提供科學(xué)依據(jù)。67ppt課件X射線熒光光譜分析的新應(yīng)用在生物、生命及環(huán)境領(lǐng)域中的應(yīng)用思考題⑴簡述X射線熒光光譜法的優(yōu)缺點(diǎn)。答：優(yōu)點(diǎn)有：是一種無損檢測技術(shù)；分析速度快，分析精度高，重現(xiàn)性好；可分析塊狀、粉末、液體樣品，適于各類固體樣品主、次、痕量多元素同時(shí)測定；可分析鍍層和薄膜的組成和厚度；制作方法簡單。缺點(diǎn)有：檢出限不夠低，不適于分析輕元素；依賴標(biāo)樣，分析液體樣品比較麻煩。68ppt課件思考題⑴簡述X射線熒光光譜法的優(yōu)缺點(diǎn)。答：優(yōu)點(diǎn)有：是一種無思考題⑵簡述波長型與能量型的X射線熒光光譜分析的差異。答：在X射線產(chǎn)生的物理基礎(chǔ)方面，波長型和能量型的X射線熒光光譜分析相同，所不同的是波長色散型儀器是根據(jù)布拉格定律用分光晶體對樣品中不同元素所輻射的熒光X射線進(jìn)行色散、探測，而能量色散型儀器是用固體半導(dǎo)體探測器等直接探測X射線，通過多道分析器進(jìn)行能量甄別與測量。69ppt課件思考題⑵簡述波長型與能量型的X射線熒光光譜分析答：在敬請老師同學(xué)批評指正！謝謝！70ppt課件敬請老師同學(xué)批評指正！70ppt課件X射線熒光光譜分析——儀器分析林夢婕王巧煌2014.04.1171ppt課件X射線熒光光譜分析林夢婕王巧煌1ppt課件5.X射線熒光光譜分析的應(yīng)用4.X射線熒光光譜儀3.X射線熒光光譜原理2.X射線的特征1.概述72ppt課件5.X射線熒光光譜分析的應(yīng)用4.X射線熒光光譜儀3.X射線概述

X射線光譜分析發(fā)展大事記

1895年，倫琴發(fā)現(xiàn)X射線。

1908年，巴克拉（C.G.Barkla）和沙特拉（Sadler）發(fā)現(xiàn)物質(zhì)受X射線輻照后會發(fā)射出和物質(zhì)中組成元素相關(guān)的特征譜線。

1912年，勞厄（M.VonLoue）發(fā)現(xiàn)了晶體對X

射線的衍射現(xiàn)象，證實(shí)了X射線是一種電磁波，具有波動性，并可用晶體作為X射線衍射光柵。

1913年，布拉格（W.L.Bragg，W.H.Bragg）父子建立布拉格定律。73ppt課件概述X射線光譜分析發(fā)展大事記1895年，倫琴發(fā)現(xiàn)X射概述

X射線光譜分析發(fā)展大事記

1913年，莫塞萊（Moseley）研究了各種元素的特征光譜，發(fā)現(xiàn)了莫塞萊定律，奠定了X射線光譜分析的基礎(chǔ)。

1928年，蓋革（H.Geiger）等首次提出用充氣記數(shù)管代替照相干板法來進(jìn)行X射線的測量。

1948年，弗里德曼（H.Friedman）和伯克斯制出第一臺商品X射線熒光光譜儀。

1966年，勃?jiǎng)诼˙rowman）等將發(fā)射性同位素源和Si（Li）探測器結(jié)合使用。74ppt課件概述X射線光譜分析發(fā)展大事記1913年，莫塞萊（Mos概述

X射線光譜分析發(fā)展大事記1969年，伯克斯（Birks）等研制出第一臺能量射線熒光光譜儀。

1971年，首次報(bào)導(dǎo)將全反射技術(shù)應(yīng)用在少量樣品的痕量分析上。

1974年，首先把偏振技術(shù)應(yīng)用于能量色散X射線熒熒光分析。75ppt課件概述X射線光譜分析發(fā)展大事記1969年，伯克斯（Bir概述

布拉格定律：

布拉格定律（Bragg’slaw）是反映晶體衍射基本關(guān)系的理論推導(dǎo)定律。1912年英國物理學(xué)家布拉格父子（W.H.Bragg和W.L.Bragg）推導(dǎo)出了形式簡單，能夠說明晶體衍射基本關(guān)系的布拉格定律。此定律是波長色散型X熒光儀的分光原理，使不同元素不同波長的特征X熒光完全分開，使譜線處理工作變得非常簡單，降低了儀器檢出限。76ppt課件概述布拉格定律：布拉格定律（Bragg’s概述

布拉格定律：

n：衍射次數(shù)，為整數(shù)λ：入射波的波長

d：原子晶格內(nèi)的平面間距θ：入射波與散射平面間的夾角77ppt課件概述布拉格定律：n：衍射次數(shù)，為整數(shù)概述

圖1布拉格衍射

兩束相同波長及相的輻射，向著固態(tài)晶體前進(jìn)，最后被里面的兩個(gè)原子所散射出去。下面的束被散射后，比上面的束多行了2dsinθ的距離。當(dāng)這個(gè)距離等于輻射波長的倍數(shù)時(shí)，散射后的兩束輻射就會產(chǎn)生相長干涉。78ppt課件概述圖1布拉格衍射兩束相概述

莫塞萊定律：

莫塞萊定律（Moseley’slaw），是反映各元素X射線特征光譜規(guī)律的實(shí)驗(yàn)定律。1913年H.G.J莫塞萊研究從鋁到金的38種元素的X射線特征光譜K和L線，得出譜線頻率的平方根與元素在周期表中排列的序號成線性關(guān)系。Z為元素的原子序數(shù)；

ν是頻率，主譜線或K

殼層

X-射線發(fā)射譜線的頻率；

K1﹑K2是依不同種類的譜線而設(shè)定的常數(shù)。79ppt課件概述莫塞萊定律：莫塞萊定律（概述

莫塞萊定律：

莫塞萊認(rèn)識到這些X射線特征光譜是由于內(nèi)層電子的躍遷產(chǎn)生的，表明X射線的特征光譜與原子序數(shù)是一一對應(yīng)的，使X熒光分析技術(shù)成為定性分析方法中最可靠的方法之一。80ppt課件概述莫塞萊定律：莫塞萊認(rèn)識到這些X射線概述

我國X射線光譜分析的發(fā)展

起步于20世紀(jì)50年代末中科院長春應(yīng)用化學(xué)研究所等單位先后從蘇聯(lián)引進(jìn)原級X射線光譜儀。

20世紀(jì)60年代初李安模、馬光祖等人著手進(jìn)行我國第一臺X射線熒光光譜儀的研制。此后，相關(guān)研究所歐洲和日本等引進(jìn)商品X射線熒光光譜儀，進(jìn)行大量應(yīng)用研究和技術(shù)開發(fā)。81ppt課件概述我國X射線光譜分析的發(fā)展起步于20世紀(jì)50年代末概述

我國X射線光譜分析的發(fā)展

20世紀(jì)80年代我國X射線熒光光譜分析研究非?；钴S并取得長足進(jìn)步，在理論研究，輕元素分析，基體軟件的開發(fā)，國外交流取得巨大進(jìn)步。

現(xiàn)在

X射線熒光光譜分析應(yīng)用十分廣泛，研發(fā)和應(yīng)用工作正緊緊和世界先進(jìn)水平同步進(jìn)行。82ppt課件概述我國X射線光譜分析的發(fā)展20世紀(jì)80年代12ppt5.X射線熒光光譜分析的應(yīng)用4.X射線熒光光譜儀3.X射線熒光光譜原理2.X射線的特征1.概述83ppt課件5.X射線熒光光譜分析的應(yīng)用4.X射線熒光光譜儀3.X射線X射線的特征

X射線波長84ppt課件X射線的特征X射線波長14ppt課件X射線的特征

X射線特性

感光作用X射線能使照相底片感光變黑電離作用X射線能電離氣體熒光作用X射線照射NaI、ZnS等物質(zhì)產(chǎn)生接近可見光熒光

衍射作用X射線通過晶體時(shí)發(fā)生衍射折射率接近1X射線通過不同介質(zhì)時(shí)幾乎不折射穿透能力強(qiáng)X射線能夠穿透許多材料85ppt課件X射線的特征X射線特性感光作用X射線X射線的特征

X射線強(qiáng)度

在X射線熒光光譜分析中，X射線強(qiáng)度是以單位時(shí)間通過探測器窗口的入射X射線光子數(shù)，即計(jì)數(shù)率來表示。

計(jì)數(shù)率cps或kcps，是指每秒計(jì)數(shù)或千每秒計(jì)數(shù)

X射線強(qiáng)度所用的符號通常為I，Ii是指i元素的

強(qiáng)度。86ppt課件X射線的特征X射線強(qiáng)度在X射線熒光光譜分析中，X射線強(qiáng)度光譜是一系列有規(guī)律排布的光，如雨后的彩虹。87ppt課件17ppt課件X射線熒光光譜原理

X射線光譜

X射線的產(chǎn)生

當(dāng)高速運(yùn)動的電子或帶電粒子(如質(zhì)子、α粒子等)轟擊物質(zhì)時(shí)其運(yùn)動受阻，和物質(zhì)發(fā)生能量交換，電子的一部分動能轉(zhuǎn)變成為X射線光子輻射能，以X射線形式輻射出來。

88ppt課件X射線熒光光譜原理X射線光譜X射線的產(chǎn)生18ppt課件X射線熒光光譜原理

真空條件下，在陽極靶和陰極燈絲之間加上一高電壓，陰極燈絲在管電流的作用下，發(fā)射出大量加速電子，轟擊靶面，產(chǎn)生X射線。圖2X射線的產(chǎn)生

從X射線管輻射的一次X射線(也被稱作初級X射線，原級X射線)是由兩種本質(zhì)完全不同的X射線組成。一種為連續(xù)譜線，另一種是特征譜線。89ppt課件X射線熒光光譜原理真空條件下，在陽極靶和陰極燈X射線熒光光譜原理

連續(xù)光譜①X射線管中所加的管電壓在較低時(shí)只產(chǎn)生連續(xù)光譜。②由某個(gè)最短波長為起端包括強(qiáng)度隨波長連續(xù)變化的譜線組成。

特征X射線①所加管電壓≥X射線管的陽極材料激發(fā)電勢時(shí)，特征X射線光譜以疊加在連續(xù)譜之上的形式出現(xiàn)。②是若干波長一定而強(qiáng)度較大的X射線線譜。90ppt課件X射線熒光光譜原理連續(xù)光譜20ppt課件X射線熒光光譜原理

特征熒光X射線同樣為特征譜線，特征熒光X射線和靶材的特征譜線不同之處在于前者是射線陰極發(fā)出的電子對靶材元素原子內(nèi)層的激發(fā)，而特征熒光X射線是由X射線管發(fā)出的一次X射線（原級X射線）激發(fā)樣品而產(chǎn)生的具有樣品元素特征的二次X射線。91ppt課件X射線熒光光譜原理特征熒光X射線同樣為特征譜線，特征熒光XX射線熒光光譜原理

X射線熒光的產(chǎn)生

原子中的內(nèi)層（如K層）電子被X射線輻射電離后在K層產(chǎn)生一個(gè)空穴。外層（L層）電子填充K層空穴時(shí)，會釋放出一定的能量，當(dāng)該能量以X射線輻射釋放出來時(shí)產(chǎn)生具有該元素特征的二次X射線，也就是特征熒光X射線。

圖3特征熒光X射線的產(chǎn)生92ppt課件X射線熒光光譜原理X射線熒光的產(chǎn)生圖3特征熒光X射線的產(chǎn)X射線熒光光譜原理

特征X射線的符號93ppt課件X射線熒光光譜原理特征X射線的符號23ppt課件X射線熒光光譜原理特征X射線譜系的命名：位于某殼層的電子被激發(fā)稱為某系激發(fā)，產(chǎn)生的X射線輻射稱為某系譜線。例如：一次X射線逐出K層電子，外層向K層躍遷產(chǎn)生的熒光X射線為K系線，逐出L層電子，外層向L層躍遷的為L系線……。94ppt課件X射線熒光光譜原理特征X射線譜系的命名：24ppt課件X射線熒光光譜原理特征譜線線系中的某條譜線是指由外層、次外層……電子填充空穴，就在對應(yīng)譜線下方注上希臘字母α、

β、

γ……例如：L層向K層躍遷為Kα，M層向K層為Kβ。而譜線右下方所標(biāo)的是支能級序數(shù)，是指電子填空前處于電子層的各支能級。例如：L層有三個(gè)支能級，其中LI能級穩(wěn)定，不產(chǎn)生電子躍遷，電子從LⅢ、LⅡ躍遷產(chǎn)生Ka1和Ka2

。95ppt課件X射線熒光光譜原理特征譜線線系中的某條譜線是指由外層、次外層X射線熒光光譜分析的特點(diǎn)優(yōu)點(diǎn)：是一種無損檢測技術(shù)；分析速度快，分析精度高，重現(xiàn)性好；可分析塊狀、粉末、液體樣品，適于各類固體樣品主、次、痕量多元素同時(shí)測定；可分析鍍層和薄膜的組成和厚度；制作方法簡單。X射線熒光光譜法缺點(diǎn)：檢出限不夠低，不適于分析輕元素；依賴標(biāo)樣，分析液體樣品比較麻煩。96ppt課件X射線熒光光譜分析的特點(diǎn)優(yōu)點(diǎn)：X射線熒光光譜法缺點(diǎn)：26pp5.X射線熒光光譜分析的應(yīng)用4.X射線熒光光譜儀3.X射線熒光光譜原理2.X射線的特征1.概述97ppt課件5.X射線熒光光譜分析的應(yīng)用4.X射線熒光光譜儀3.X射線X射線熒光光譜儀

波長色散X射線熒光光譜儀

能量色散X射線熒光光譜儀98ppt課件X射線熒光光譜儀波長色散X射線熒光光譜儀能量色散X射線熒X射線熒光光譜儀

波長色散X射線熒光光譜儀

簡介根據(jù)X射線衍射原理，用分光晶體為色散元件，以布拉格定律2dsinθ=nλ為基礎(chǔ)，對不同波長特征譜線進(jìn)行分光，然后進(jìn)行探測。

有分辨率好，靈敏度高等優(yōu)點(diǎn)99ppt課件X射線熒光光譜儀波長色散X射線熒光光譜儀簡介根據(jù)X射線熒光光譜儀

波長色散X射線熒光光譜儀

簡介分類——掃描型譜儀多元素同時(shí)分析儀（多道譜儀）

圖4掃描型譜儀

圖5多元素同時(shí)分析譜儀100ppt課件X射線熒光光譜儀波長色散X射線熒光光譜儀簡介分類——X射線熒光光譜儀

波長色散X射線熒光光譜儀

儀器組成圖6波長色散型譜儀原理圖示101ppt課件X射線熒光光譜儀波長色散X射線熒光光譜儀儀器組成圖6波X射線熒光光譜儀

波長色散X射線熒光光譜儀

儀器組成激發(fā)系統(tǒng)分光系統(tǒng)探測系統(tǒng)儀器控制和數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)發(fā)出一次X射線，激發(fā)樣品對來自樣品元素特征X射線進(jìn)行分辨對樣品元素的特征X射線進(jìn)行強(qiáng)度探測處理探測器信號，給出分析結(jié)果102ppt課件X射線熒光光譜儀波長色散X射線熒光光譜儀儀器組成激發(fā)系統(tǒng)X射線熒光光譜儀

波長色散X射線熒光光譜儀

儀器組成（1）激發(fā)系統(tǒng)：X射線發(fā)生器、X射線管和熱交換器等部件組成。（2）分光系統(tǒng)：分光晶體、限制光欄、準(zhǔn)直器和衰減器等。（3）探測系統(tǒng)：探測高壓、探測器、次級準(zhǔn)直器和相關(guān)電子學(xué)線路等組成。（4）儀器控制及數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)103ppt課件X射線熒光光譜儀波長色散X射線熒光光譜儀儀器組成（1）激X射線熒光光譜儀

波長色散X射線熒光光譜儀X射線發(fā)生器

給X射線提供高壓和電流并保持電壓和電流穩(wěn)定的裝置，是儀器的一項(xiàng)重要指標(biāo)。

一般X射線發(fā)生器最大輸出功率有3kW或4kW。與之相配的最大額定電壓為60～100kV，最大額定電流為80～160mA。

104ppt課件X射線熒光光譜儀波長色散X射線熒光光譜儀X射線發(fā)生器X射線熒光光譜儀

波長色散X射線熒光光譜儀X射線管根據(jù)X射線出口窗的位置，X射線管分為側(cè)窗型(sidewindowtube，SWT)和端窗型(endwindowtube，EWT)。

圖7側(cè)窗型X射線管

圖8端窗型X射線管

105ppt課件X射線熒光光譜儀波長色散X射線熒光光譜儀X射線管X射線熒光光譜儀

波長色散X射線熒光光譜儀X射線管X射線管輻射的X射線強(qiáng)度和電子轟擊靶面的入射角和X射線的出射角、Be窗的厚度、Be窗和靶面的距離以及Be窗和樣品的距離有關(guān)

透射靶X射線管：窗口與陽極靶零距離，提高激發(fā)效率，應(yīng)用于低功率波長色散譜儀。

圖9陽極元素在鈹窗上的沉積106ppt課件X射線熒光光譜儀波長色散X射線熒光光譜儀X射線管X射線熒光光譜儀

波長色散X射線熒光光譜儀

熱交換器

陽極靶的冷卻作用

端窗型X射線管：電導(dǎo)率很低的去離子水

側(cè)窗型X射線管：普通水

107ppt課件X射線熒光光譜儀波長色散X射線熒光光譜儀熱交換器X射線熒光光譜儀

波長色散X射線熒光光譜儀

準(zhǔn)直器

圖10準(zhǔn)直器108ppt課件X射線熒光光譜儀波長色散X射線熒光光譜儀準(zhǔn)直器圖X射線熒光光譜儀

波長色散X射線熒光光譜儀

準(zhǔn)直器一級準(zhǔn)直器二級準(zhǔn)直器在樣品和晶體之間（該準(zhǔn)直器又稱為入射狹縫）作用：是將樣品發(fā)射出的X射線熒光通過準(zhǔn)直器變?yōu)槠叫泄馐丈涞骄w在分光晶體之后（又稱為出射狹縫）作用：是將晶體分光后的光束變?yōu)槠叫泄馐M(jìn)入探測器109ppt課件X射線熒光光譜儀波長色散X射線熒光光譜儀準(zhǔn)直器一級準(zhǔn)直器X射線熒光光譜儀

波長色散X射線熒光光譜儀

分光晶體一種單色器，相當(dāng)于光學(xué)發(fā)射光譜中的分光單元棱鏡或光柵，把來自樣品各元素的特征譜線按照布拉格衍射原理進(jìn)行分光，被測元素在特定的布拉格角被探測。110ppt課件X射線熒光光譜儀波長色散X射線熒光光譜儀分光晶體X射線熒光光譜儀

波長色散X射線熒光光譜儀

分光晶體選擇：衍射強(qiáng)度大分辨率高峰背比高溫度效應(yīng)小合適的波長范圍111ppt課件X射線熒光光譜儀波長色散X射線熒光光譜儀分光晶體選擇：X射線熒光光譜儀

波長色散X射線熒光光譜儀不同波長的熒光X射線必須選擇與其匹配的分光晶體112ppt課件X射線熒光光譜儀波長色散X射線熒光光譜儀不同波長的熒光X射X射線熒光光譜儀

波長色散X射線熒光光譜儀

分光晶體分類：平面晶體：結(jié)構(gòu)簡單，掃描型譜儀

曲面晶體：衍射強(qiáng)度和分辨率較高

多層晶體：常用于長波段輕元素或

超輕元素分析113ppt課件X射線熒光光譜儀波長色散X射線熒光光譜儀分光晶體分類：X射線熒光光譜儀

波長色散X射線熒光光譜儀

探測器一種變化能量形式的裝置把X射線光子信號轉(zhuǎn)換成可計(jì)量測定的電脈沖信號114ppt課件X射線熒光光譜儀波長色散X射線熒光光譜儀探測器一X射線熒光光譜儀

波長色散X射線熒光光譜儀

探測器分類：充氣型正比計(jì)數(shù)器閃爍計(jì)數(shù)器氣流型正比計(jì)數(shù)器封閉型正比計(jì)數(shù)器PC（gasProportionalCounter）FPC（gasFlowProportionalCounter）SPC（SealedProportionalCounter）SC（ScitillationCounter）115ppt課件X射線熒光光譜儀波長色散X射線熒光光譜儀探測器分類：X射線熒光光譜儀

波長色散X射線熒光光譜儀

探測器充氣型正比計(jì)數(shù)器常用來對長波和超長波X射線探測，尤其是氣流型正比計(jì)數(shù)器有較高的能量分辨率并對輕元素有較高的技術(shù)效率

閃爍計(jì)數(shù)器常用于探測較高原子序數(shù)的元素，探測波長相對較短。116ppt課件X射線熒光光譜儀波長色散X射線熒光光譜儀探測器充X射線熒光光譜儀

波長色散X射線熒光光譜儀

測角儀測角儀是按照分光幾何學(xué)的要求，驅(qū)動或配置與分析元素相匹配的分光晶體及探測器等的精密機(jī)械裝置。

多道同時(shí)分析型譜儀，由于元素分析線已確定，分光晶體、狹縫及探測器的相對位置固定；

對掃描型儀器，由于其配件位置的可變性，測角儀是保證分析精度和準(zhǔn)確性的一個(gè)十分關(guān)鍵的部件。117ppt課件X射線熒光光譜儀波長色散X射線熒光光譜儀測角儀測X射線熒光光譜儀

波長色散X射線熒光光譜儀日本島津國際貿(mào)易有限公司型號：XRF-1800118ppt課件X射線熒光光譜儀波長色散X射線熒光光譜儀日本島津國際貿(mào)易有X射線熒光光譜儀

波長色散X射線熒光光譜儀主要配置：LiF、Ge、PET、TAP、SX-52及SX-98N6塊分光晶體；FPC、SC檢測器；液體樣品盒；微區(qū)刻度尺主要性能指標(biāo)：1、檢測元素范圍：4Be-92U2、元素含量范圍：0.0001%-100%3、最大掃描速度：300°/min119ppt課件X射線熒光光譜儀波長色散X射線熒光光譜儀主要配置：49ppX射線熒光光譜儀

波長色散X射線熒光光譜儀

能量色散X射線熒光光譜儀120ppt課件X射線熒光光譜儀波長色散X射線熒光光譜儀能量色散X射線熒X射線熒光光譜儀

能量色散X射線熒光光譜儀

簡介

其儀器能量選擇是以下列公式為基礎(chǔ)：式中：VPH為探測器輸出的脈沖高度；E為被探測x射線能量(keV)；λ為波長(nm)。：121ppt課件X射線熒光光譜儀能量色散X射線熒光光譜儀簡介其儀器能量X射線熒光光譜儀

能量色散X射線熒光光譜儀

簡介

來自樣品元素的熒光X射線進(jìn)入探測器，多道分析器各通道同時(shí)計(jì)數(shù)，進(jìn)行多元素同時(shí)測量，通過探測不同能量水平的脈沖及數(shù)值進(jìn)行定性和定量分析。122ppt課件X射線熒光光譜儀能量色散X射線熒光光譜儀簡介來X射線熒光光譜儀

能量色散X射線熒光光譜儀

特點(diǎn)結(jié)構(gòu)緊湊、移動方便。可用功率較小的激發(fā)源。

半導(dǎo)體探測器

多道分析器分析從11Na到92U，濃度范圍從0.Xppm到100％。123ppt課件X射線熒光光譜儀能量色散X射線熒光光譜儀特點(diǎn)結(jié)構(gòu)X射線熒光光譜儀

能量色散X射線熒光光譜儀

儀器組成圖11能量色散型譜儀原理圖示124ppt課件X射線熒光光譜儀能量色散X射線熒光光譜儀儀器組成圖11X射線熒光光譜儀

能量色散X射線熒光光譜儀

儀器組成（1）X射線發(fā)生激發(fā)部分（2）樣品元素譜線的探測部分（3）數(shù)據(jù)處理部分125ppt課件X射線熒光光譜儀能量色散X射線熒光光譜儀儀器組成（1）XX射線熒光光譜儀

能量色散X射線熒光光譜儀

激發(fā)源各種不同類型的能量色散熒光光譜分析系統(tǒng)有不同的配置，激發(fā)源有X射線管、同位素放射源、加速器產(chǎn)生的帶電粒子激發(fā)及同步輻射等。主要討論應(yīng)用比較廣泛的X射線管激發(fā)和同位素激發(fā)源。126ppt課件X射線熒光光譜儀能量色散X射線熒光光譜儀激發(fā)源各X射線熒光光譜儀

能量色散X射線熒光光譜儀

激發(fā)源①X射線管：

初級線的強(qiáng)度較高，相應(yīng)的能量范圍也較寬，并可調(diào)，分析靈敏度較高，適合于多元素分析，并具有使用安全可靠，便于攜帶等優(yōu)點(diǎn)

激發(fā)方式：直接激