PC3000中文版說明書

PC3000中文版說明書PC－3000的使用您購置了一款絕妙的硬盤修復工具――PC3000。假設您以前常常修理硬盤，很可能你跳――“IDE(ATA)HDD。技術說明，IDE〔ATA〕HDD修理的根底”PC－3000簡潔的“指引”修理硬盤，不要急于動用特地的技術設備。首先，任何硬盤都要用PC－3000AT通用測試器〔包括在PC3000里〕檢查一遍。這能幫你找到缺陷并打算接下來的動作的結果。為了到達這個目的，把硬盤連接到測試板PC3000PROPC300AT.exe〔零軌道搜尋〔梭型馬達不轉(zhuǎn)或不向上旋轉(zhuǎn)或聽到磁頭撞擊的聲音Part2.2技術附錄中介紹的方法。硬盤讀取檢查后〔DRDY=DSC=1,BUSY=0〕,程序會討善從硬盤描述區(qū)域讀取數(shù)據(jù)。如“IDE(ATA)HDD技術說明，IDE(ATA)HDD修理根底”2.2.1這段介紹的方法。假設，盡管能受到硬盤讀取信號，但不能讀取硬盤描述數(shù)據(jù)〔“硬盤參數(shù)沒有打算”〕或參數(shù)讀取〔在相關的技術設備幫助下固件的數(shù)據(jù)可以恢復〕然而，可能磁盤沒有一個硬盤描寫區(qū)域〔這主要是老的KALOK/XBEC型號〕或磁盤包含的參數(shù)不能用于硬盤操作〔例如，ConnerCP-3000〕在這種狀況下就要人PC3000－AT的數(shù)據(jù)庫中提取才能使測試過程順當進展。用PC3000-AT測試后和對它的缺陷作出一各初步的打算后〔方法在“IDE(ATA)HDD。技術說明，IDE〔ATA〕HDD修理的根底”Part2.1〕你就可以開始用技術設備來作出進一步的診斷或恢復硬盤固件的數(shù)據(jù)和相關的方法在設備說明局部。PC－3000開發(fā)團隊祝福你成功！HDD的通用測試器目的PC3000－ATPC3000的根本程序，它的功能有：IDE硬盤50H命令低水平格式化的恢復隱蔽支持“作業(yè)”HDD的壞扇區(qū)輸入/輸出類型的自動硬盤測試〔綜合測試〕軟件PC3000－ATPC3000同時工作。工作前的預備PC3000PROIDE接口上把電源電纜連接到硬盤上PC-SHELLPC3000－ATPC3000AT輸出信息PC屏幕上的信息，以儀器前板的模式顯示，包括以下局部：顯示——顯示測試過程的有關信息，在顯示的上部你可以看到“模式”線，這條線包括了正在測試的硬盤的類型和參數(shù)的信息；柱體號碼(CYL),磁頭〔HEAD〕扇區(qū)〔SEC〕.LBA模式——LBACYL，HEAD,SEC參數(shù)的是可用扇區(qū)的總數(shù)目，這個數(shù)目顯示在模式上。在顯示的下部是狀態(tài)欄，包括狀態(tài)的有關信息：可讀/忙。當測試進展是以百分比的形式〔已做〕顯示當前測試執(zhí)行的持續(xù)時間，CYL,HEAD,SEC,偵測到的磁盤錯誤的數(shù)目〔ERRS〕LBA模式下的只有一個當前扇區(qū)數(shù)目被顯示來代替當前扇區(qū)的CYL,HEAD,SEC參數(shù)。兩行LED——顯示硬盤的狀態(tài)和錯誤〔中心臨時器〕的有關信息，它能監(jiān)視硬盤的狀態(tài)和指LED狀態(tài)是藍色〔活動的〕黃色，或紅色，紅色LED是錯誤的HDDIDE的當前狀態(tài)。中心暫存器的值將在執(zhí)行每各命令后升級.錯誤中心暫存器表示執(zhí)行命令后HDD的狀態(tài),假設“錯誤”字節(jié)在狀態(tài)中心暫存器被設定的話.小鍵盤 對應鍵盤右邊的數(shù)字鍵盤,按鍵改變的目的取決于測試器當前的狀態(tài).以下的鍵的目的保持不變:Enter:參數(shù)輸入,各種測試的開頭Cancel:取消當前測試的執(zhí)行或正在設定的參數(shù),ESC鍵取代Exit:取消當前測試的執(zhí)行或正在設定的參數(shù),退到“模式選擇”菜單HDD的參數(shù)輸入測試開頭時，當啟動掌握程序時，在CHS模式下測試器查找測試硬盤的類型和參數(shù)，查找“模式選擇”主菜單。按下“LBA”LBALBA模式，“LBA”鍵將不會顯示在屏幕上。假設由于硬盤功能失靈而找不到硬盤的類型和參數(shù)，以下的信息就會消滅：按下任意鍵將會找不到硬盤參數(shù)，從測試器模式切換到：硬盤類型選擇DRV用戶類型ConnerFujitsuMaxtorQuantum用“Up”“Down”和“Enter”等鍵你能實現(xiàn)：DRVHDD參數(shù)HDD參數(shù)從已有的參數(shù)庫中選擇硬盤類型和參數(shù)“LBA模式“在輸入數(shù)據(jù)庫的參數(shù)和硬盤類型期間LBA扇區(qū)的數(shù)目將用Cyl,Head,Sec參數(shù)的乘法運算來計算，找到硬盤參數(shù)后，掌握程序前進到“模式選擇”主菜單。PC3000AT操作模式操作模式選擇操作模式選擇里在“Up”“Down”和“Enter”等鍵的幫助下從主菜單執(zhí)行的，你可以通過按“Cancel”和“Exit”鍵退出已選擇的操作模式。主菜單模式選擇硬盤類型選擇硬盤測試掌握器測試綜合測試缺陷重置格式化退出模式選擇——參數(shù)的查找或輸入模式硬盤類型選擇——讀/寫通道、定位系統(tǒng)、梭形馬達和掌握芯片的測試和修復模式硬盤測試——界面掌握器、MPU、讀/RAM的測試和修復模式掌握器測試——硬盤輸入/輸出掌握的模式綜合測試——在這個模式下，測試器重置硬盤里支持作業(yè)模式的壞扇區(qū)缺陷重置——在這個模式下，測試器執(zhí)行支持50H命令的硬盤低于格式化的數(shù)據(jù)的正確恢復退出——PC—SHELLDOS按鍵“Smart”和“Passp”Smart參數(shù)和描區(qū)域，這些參數(shù)能用“DRV”命令ATA－4專業(yè)版完全解密。S.M.A.R.T參數(shù)按下“Smart”Smart參數(shù)：ID——掌握器參數(shù)識別符兩數(shù)硬盤的識別符對應以下參數(shù)：ID——掌握器參數(shù)1——讀取錯誤率4——開頭/停頓總計5——重置扇區(qū)總計10——向上旋轉(zhuǎn)總計11——硬盤刻度重試總計199——DMACRC錯誤率200——多區(qū)域錯誤率富士通硬盤的識別符對應以下參數(shù)：ID——掌握參數(shù)1——讀取錯誤率2——通過量計算3——向上旋轉(zhuǎn)時間4——梭形馬達被激活的次數(shù)5——可選擇扇區(qū)的數(shù)量7——查找錯誤率8——查找時間計算9——電源翻開的時間10——激活梭形馬達重試的次數(shù)12——電源關閉的時間199——ATACRC錯誤率200——寫入錯誤率屬性質(zhì)——1到253。首先屬性有最大值，隨后的消耗或預失失敗的狀況會意味著硬盤的牢靠性低和功能失控的可能性高最大的牢靠屬性值常常是100〔IMBQuantumFujitsu〕253〔三星〕。然而，也有例外。例如兩數(shù)WDAC34000，WDAC33100WDAC31600這幾種型號的第一個牢靠屬性有最大值200，而其余的都是100HDDHDD類型打算的?！扒笆?報告”Bit的狀態(tài)，硬盤有三種狀態(tài)由前失敗/報告來區(qū)分：“前失敗/報告”Bit＝0，牢靠屬性值在相關的下限值之上該下限值顯示了硬盤的高牢靠性來源“前失敗/報告”Bit=0,牢靠屬性值在相關的下限值之下,該下限值顯示了硬盤的低牢靠性來源“前失敗/報告”Bit=1,牢靠屬性值在相關的下限值之下,指明前壞硬盤的狀態(tài).結果——每個已掌握參數(shù)的普遍結果，可能有以下值：OK——屬性值比相關的下限值高！——屬性值比相關的下限值低，“前失敗/報告”Bit=0?。?！——屬性值比相關的下限值低，“前失敗/報告”Bit=1SMART診斷，按下“SMART”ABRT錯誤和以下消滅在屏幕上的信息：SMART。硬盤測試硬盤測試〔HAD,PCB〕－測試和修復的模式：讀/寫通道 定位系統(tǒng)梭形馬達和它的掌握芯片測試信息顯示在狀態(tài)上：已預備好/忙――BSYbit：找出硬盤狀態(tài)CYL――當前〔活動〕柱體的值HEAD――當前〔活動〕磁頭的值ERRS――找到的錯誤的數(shù)量按鍵目的按下右邊的測試器微鍵盤的鍵將執(zhí)行以下功能：『Tran』――硬盤翻譯器測試『Step』――把磁頭定位在減去－step當前柱體值的地方『X->0』--硬盤，就是說，0柱體上磁頭的位置『A<->B』―― 位置在兩個給出的柱體中『RND』――隨機位置在兩個給出的柱體中『ERAS』――0000到各個扇區(qū)『View』――查看扇區(qū)的內(nèi)容『Wrt』――把已選擇的代碼寫到當前的軌道『HD』――磁頭開關〔選擇〕『T』――測試磁盤旋轉(zhuǎn)時間〔毫秒〕和速度〔rev/秒〕給出柱體上的定位——在少數(shù)柱體上的定位能用『Step＋』和『Step－』很便利的執(zhí)行。當需要定位大量柱體時，就要按下『X->A』鍵－你要輸入柱體A的數(shù)量，柱體AEnter』，你就可以按『刪除鍵』來刪除輸錯的符號。在兩個給出柱體上的定位——你要先按下『A<->B』。接入輸入柱體A和B的數(shù)目，ABCancel』或『exit』可以從RND』，執(zhí)行為第一個和最終一cyclic定位模式。寫入——按下『Wrt』會跳出模式選擇菜單：寫入模式：0000FFFF5555AAAA6DB69999按下『Enter』后寫入操作將會在硬盤當前軌道的各個扇區(qū)執(zhí)行。觀察扇區(qū)內(nèi)容——按下『View』后你必需輸入開頭柱體、磁頭扇區(qū)的數(shù)量，扇區(qū)的轉(zhuǎn)儲會消滅在屏幕少年上，『Up』和『Down』鍵可以觀察以前和接下來的扇區(qū)，按下『Cancel』或『exit』回到主菜單。去除——按下『Eras』以下信息會消滅：確定？按『Enter』或『Cancel』按下『Enterrecalibrated00磁頭開頭，退出去除過程可以按下『Cancel』或『exit』回到主菜單。硬盤翻譯器測試——TranPassPassPass讀出已寫的數(shù)目并與計算出的數(shù)目比照。假設數(shù)目不匹配，就會發(fā)出錯誤報告。測試磁盤的旋轉(zhuǎn)時間和速度——按下『T』后，以下信息消滅：索引xx,xxms旋轉(zhuǎn)yyyyRPMxx,xx時磁盤的旋轉(zhuǎn)時間〔每毫秒〕yyyy是轉(zhuǎn)速(rev/分)IDE硬盤不能形成索引信號，他們不能測試時間和速度并且按下『T』后測試器保持空“LBA模式”LBACYLHEAD參數(shù)，由『Ver』代替『HD』鍵來開關磁頭－意味著當前的LBA扇區(qū)驗證，全部的定位模式用于LBA扇區(qū)間的定位而不是柱體間。操控者測試PCB——ATA界面掌握器，mcu;寫/讀通道，RAM緩沖的測試模式。菜單：Cyclic狀態(tài)注冊，扇區(qū)緩沖測試，CyclicCyclic讀取，IRQ測試，硬盤自診，硬盤重啟，退出Cyclic狀態(tài)注冊——HOST—HDD入的命令活錯誤會釋命令。HDD始終在“忙”——BSYbit〔狀態(tài)欄中〕始終是活動的，在測試一個短的讀取后，以下信息會消滅測試器顯示上：進展狀態(tài)注冊讀取循環(huán)測試