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文檔簡介

1、SPC 常用術語1、高級統計方法(Advanced Statistical Methods)-制圖技術、回歸分析、試驗設計、先進的解決問題的技術等。2、計數型數據(Attributes Data)(即可以作為計量型數據處理只是其結果用簡單的“是/不通過量規(guī)來檢p、np、cu 控制圖來分析(參見計量型數據。3、均值Averag(Mean)數值的總和被其個數(樣本容量)除,在被平均的值的符號上加一橫線表示。例如,在一個子組內的x)組平均值的平均值,X(X)為子組中位數的平均值。R 為子組極差的平均值。4、認知(AwarenesS和達到持續(xù)改進的統計思想上。5、基本的統計方法(Basic Stati

2、stical Methods)通過使用基本的解決問題的技術和統計過程控制來應用變差理論,包(適用于計量型數據和計數型數據6、二項分布(Binomial Distribution)pnp圖的基礎。7、因果圖(Cause-Effect Diagram)(以其形狀命名川圖(以其發(fā)明者命名。8、中心線(Central Line)控制圖上的一條線,代表所給數據平均值。9、特性(Characteristic)一個過程或其輸出的明顯特性,可按這個特性收集計量型或計數型數據。10、普通原因(Common Cause)造成變差的一個原因,它影響被研究過程輸出的所有單值;在控制圖分析中,它表現為隨機過程變差的一部

3、分。11、連續(xù)的(Consecutive)連續(xù)生產的產品單元,是選擇子組樣本的基礎。-12、質量和生產率持續(xù)改進(Continual Improvement in Quality and Productivity)顯然地或隱含地一些特殊的不合格中不可避免的。13、控制(Control)III類錯誤的凈經濟損失。它有兩個基本的用途:一是用來判定一個過程是否一直受統計控制;二是用來幫助過程保持受控狀態(tài)。14、控制圖(Control Limit控制圖上的一條線(或幾條線,作為制定一個過程是否穩(wěn)定的基礎。是通過過程數據計算出來的,不要與工程的技術規(guī)范相混淆。15、累計和(CUSUM)它把當前和最近的數

4、據看得同等重要。-16、探測(找出(Detection)(事后輸出,并將其與好的輸出分開(參見預防。17、分布(Distrbution)描述具有穩(wěn)定系統變差的輸出的一種方式,其中單個值是不可預測的, 但一組單值就可形成一種圖形,并可用位置、分布寬度和形狀這些術語來描述。位置一般用均值來表示,或者用中位數表示。分布寬度用樣本的標準差或樣本極差表示,形狀包括許多特性,比如對稱性及峰度,但經常使用常見分布的名稱來概括,如:正態(tài)分布,二項分布,或泊松分布。-18、單值(Individual一個單個的產品或一個特性的一次測量,通常用符號 X 表示。19、位置(Location分布中心趨勢典型值的一般概念

5、。20、平均值(Mean) 一組測量值的均值。21、中位數(Median)將一組測量值從小到大排列后,中間的值即為中位數。如果數據庫的個數為偶數,一般將中間兩個數的平均值作為中位數。子組中位數是構成簡單的有關過程位置的控制圖的基礎。中位數加波浪號()的符號表示;如X 就是一分組的中位數22、移動極差(Moving Range)六西格瑪品質論壇 (連續(xù)的點來計算移動極差。-23、不合格品(Nonconformity)一個具體出現的不符合規(guī)范要求或其他檢驗標準的情況,有時稱為缺 (例如:一扇門也許有幾處凹痕格的系統,用c 和u24、正態(tài)分布(Normal Distribution)68.26% 的

6、測量值落在平均值處正負一個標準差的區(qū)間內,大約 95.44%的測量值將落在平均值處于正負兩個標準差的區(qū)間內;大約 99.73%的值將落在平(因為即使整個輸出的全部數據不服從正態(tài)分布,但其子組平均值趨向于正態(tài)分布,而且是許多過程能力確定的基礎(因為許多工業(yè)過程的輸出服從正態(tài)分布。)25、可操作的定義(Operational Definition)清楚地交流質量期望和性能信息的方式;它由以下三部分組成(1適(2一個決定:是或不是這一個體或組是否符合上述要求。26、排列圖(Pareto Chart)(或變差少量關鍵的原因上,而暫忽視多數不重要的原因。27、泊松分布(Poisson Distribut

7、ion)應用于不合格數的計數型數據概率分布,是 c 和u 控制圖的基礎。28、預防(Prevention)(事前量和生產率。預防是與持續(xù)改進的宗旨是一致的(參見檢驗。29、解決問題(Problim-Solving)從癥狀分析到產生的原因(特殊的或普通的)再到改進性能措施的過程??捎玫幕炯夹g有:排列圖,因果圖及統計過程控制技術。30、過程(Process)能產生輸出一種給定的產品或服務的人、設備、材料、方法和環(huán)境的組合。過程可涉及到我們業(yè)務的合格各個方面,管理過程的一個有力工具即為統計過程控制。31、過程均值(Process Average)X示。32、過程能力(Process Capabil

8、ity)一個穩(wěn)定過程的固有變差(6 R/d2)的總范圍。對于計量型數據(Variables Data Case)6 R/d2;符合規(guī)范的過程能力(即輸出符合規(guī)范的百分數%)可以通過考慮過程中心及分布寬度(如CPK)有估算這個值更精確的方法。對于計數型數據(Attributes Data Case)過程能力通常用不合格的平均比例或比率表示。例如,從控制圖上來p,c 或u的平均比例或比率(1p。33、過程控制(Process Control) 參見統計過程控制。-34、過程性能(Process Performance)一具過程總變差的總范圍 6 R/d2。35、過程分布寬度(Process Spr

9、ead差來表示(例如:X3 。36、二次方程式(Qadratic)屬于二次冪的數學關系式,二次方程式最普通的例子即為拋物線。37、隨機性(Randomess)單值是不可預測的狀態(tài),盡管它可能符合某種分布規(guī)律。38、隨機抽樣(Ramdom Sampling)使得所考慮的幾個個體的所有組合被抽作樣本的機會是相同的機樣過程。-39、極差(Range)一個子組、樣本或總體中最大與最小值之差。40、合理子組(Rational Subgroup)按下列方式組成的子組:給予最大機會使得每個子組中測量相同,并且給予最大機會使得子組之間彼此不同。這種分組方法提出了一種確定一個過程的變差是否來自一個恒定系統的偶然

10、原因的要求。41、鏈(Run)控制圖上一系列連續(xù)上升或下降,或中中心線之上或之下的點。它是分析是否存在造成變差的特殊原因的依據。42、鏈圖(Run Chart)據(通常是單值)和一條中心線(通常是測量值的中位數,可用來進(參見控制圖)43、樣本(Smaple)應用于過程控制時,它是子組的同義詞,這個用法的目的完全不同對于一大群人或項目等的估計。-44、形狀(Shape)數值分布形成的總體圖形的一般概念。45、 (Singma用于代表標準差的希臘字母。46、特殊原因(Special Cause)47、規(guī)范(Specification)判定一特定的特性是否可接受的工程技術要求。規(guī)范不能與控制限混(

11、內部的或外部的連,或者兼容。48、分布寬度(Spread)和個分布中從最小值到最大值之間的間距(參見過程分布寬度。49、穩(wěn)定性(Stability)六西格瑪品質論壇不存在變差的特殊原因;處于統計控制的狀態(tài)。50、穩(wěn)定過程(Stable Process)處于統計控制狀態(tài)的過程。51、標準差(Standard Deviation)(例如:子組均值s(用于樣本標準差)表示。52、統計值(Statistic)由樣本數據計算得到的值(例如:子組均值或極差出的過程,而這個樣本也是來自這個輸出。53、統計控制(Statistical Control)控制圖上表現為不存在超出控制限的點或在控制限范圍內不存在非

12、隨 機性圖形。54、統計過程控制(Statistical Process Control)使用諸如控制圖等統計技術來分析過程或其輸出以便采取適當的措施達到并保持統計控制狀態(tài)從而提高過程能力。55、子組(Subgroup,同時使得各子組間過(即特殊原因變差組成,盡管有時采用隨機抽樣。-56、I 類錯誤(Type Erroy)拒絕一個真實的假設;例如:采取了一個適用于特殊原因的措施而實際上的過程還沒有發(fā)生變化;過度控制。57、II 類錯誤(Type Error)牛頓表示關門的力,用百分數表示電解液的濃度,用牛頓件的力矩,XRXs。58、變差(Variation)過程的單個輸出之間不可避免的差別;變

13、差的原因可分成兩類:普通原因和特殊原因。59、固有變差(Inherent Variation僅由普通原因造成的過程變差,由 6 R/d2 來估計:60、總變差(Total Variation)由于普通和特殊兩個原因造成的變差,用 s 估計。61、區(qū)域分析(Zone Analysis控制圖詳細分析的一種方法,它將X ”區(qū)域( 為平均分布標準差,而不是單值。只要數據服從正態(tài)分布(即受控)則期望一0.34130.136,落在最近一個區(qū)域的概率0.02135,落在上、下控制限之外區(qū)域的概率各是。那么可以根據與這些區(qū)域相關的數據點來檢驗數據中是否有些不自然的趨Western Electric“統計質量控2531,180183(附錄H7。使用的符號:A2計算均值控制限時REREA3計算均值控制限時sEB4s表。C樣本中的不合格數,cIII3c樣本容量恒定為 n 時,樣本的平均不合格數C4估計過程標準差時s 的除數,見附錄 E 表。- CP穩(wěn)定過程能力指數。 CPK穩(wěn)定過程的能力指數,通常定義為CPU 或CPLCPL能力指數下限。CPU能力指數下限。 CRd2估計過程標準差時R 的除數,見附錄 E 表。D4REE2用來計算單位控制限時R 的乘數,見附錄 E 的表。k用來計算控制限時子組的個數。 LCLLCL

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