海思終端芯片ATE技術(shù)手冊(cè)

1、文檔說(shuō)明：本文參照業(yè)界通用做法，定義了海思終端芯片類COT的推薦ATE測(cè)試策略，以及此類芯片在測(cè)試程序開(kāi)發(fā)及量產(chǎn)時(shí)各版本的的測(cè)試規(guī)范及測(cè)試項(xiàng)目要求。因技術(shù)和芯片規(guī)格持續(xù)發(fā)展，各IP的測(cè)試規(guī)范不斷添加和完善。對(duì)于成熟IP，程序開(kāi)發(fā)時(shí)需要遵守該規(guī)范，新IP測(cè)試規(guī)范建立時(shí)可參考對(duì)應(yīng)的測(cè)試規(guī)范。文檔目的：支撐終端芯片媒體類產(chǎn)品達(dá)成HcDa測(cè)試芯片斶出管咻拉狀態(tài)下漏電DCJOZL.PlTODHcD0測(cè)試芯片輸出管腳上拉狀態(tài)下漏電PLLPLL.FREQc冽試JLL的時(shí)鐘箍出管腳跖率及:口口信號(hào)是否正常通NJTA喳波PLL工作將PLL的輸出口rv分頻以后，引到芯片PA粒行測(cè)試，卷蓋PLL頻率輸出和Loci:

2、借三PLLFREQLOCK口e.RTCRTC_HAS00a測(cè)優(yōu)E.TC題字道輯漏電通過(guò)ITA喳匿RTC,RTC_X1Nrtc_xoutH驚量測(cè)RrC_K0UT電流RTCJREQc*.oc測(cè)成LTC輸出時(shí)鐘是否正常通過(guò)IT丹嚙匿RTCsRT_7roUT輸入爰.而8K時(shí)鐘在RTC_CLKpad進(jìn)行觀測(cè)-DDRDDR4_BIST_IKT_AGHigiiSpeed)DDR二ADDRChlDTJATA內(nèi)環(huán)回E151蓋,由于Pnjflfi已由卬環(huán)覆未，內(nèi)環(huán)只測(cè)試最高速DDR4_BIST_IKT_DXi：HigiiSpeed)DD：R4_BIST_MID_AC(Pr0Hr)y*ocUDRuADDR.ChlD

3、.DATA中環(huán)回BIS1差蓋，同時(shí)整反DURPiofik算點(diǎn)根據(jù)項(xiàng)目實(shí)際需求選口加34036&節(jié)為6619601333MH2J,品終根據(jù)量產(chǎn)顫據(jù)筑計(jì)情況進(jìn)行精簡(jiǎn)DDR4_BIST_MID_DXi；pEoflE00DDR4_BIST_EXT_AC(MilSpeed*D0DR二.4口DR.CMD.口ATA外環(huán)回EEST建蓋，考慮到外環(huán)回對(duì)測(cè)試環(huán)境（阻抗匹配太敏感，口環(huán)只考慮測(cè)試卬低速5如果CP上有更好的匹配（如管腳懸空則可以考慮在CP上覆蓋外環(huán)高速DDR4_BIST_EXT_DX(MilSpeed*00EDR4_BI5T_EEiAJ.*/j外掛DDR痢粒進(jìn)行DRAMBIW測(cè)試DDR3_0IST_I

4、NT_AC(High.Spieed)yEDJ!_ADDR.CblirDATA內(nèi)環(huán)回月EST差蓋，由于Prcflr已由中環(huán)覆差？?jī)?nèi)以二測(cè)認(rèn)品高速DDR3_BIST_1NT_DS；HigkSpeed.)J*DDR3_BIST_L11D_AC(Ppffc)DaDDKADDfLChUXDATA中環(huán)回BIS1差蓋，同時(shí)覆蓋DDAPiofik頻點(diǎn)DDR3_BIST_L11D_DX(pEffc)JDaDDR3_BIST_EXT_AC*0aDDRJADDRCMDDATA外環(huán)回BI6T覆蓋，考慮到外環(huán)回對(duì)測(cè)試環(huán)境印且抗匹配本地感,外弁Q考慮測(cè)試中衽速J如果B上有更好的匹配1如管加懸空）則可以考慮在up上覆蓋外弁

5、DDR3_BIST_EXT_DX*0aDDR3_BIST_DRAM*外掛DDR3顆粒進(jìn)行DRAM日1ST測(cè)記USB3.DUSB3_BSIBEKT*/J誤的溫EI5T測(cè)試USB3_BST_INT_LPBKj*ocIk-io-Rx內(nèi)環(huán)回汨iUSB2.0USB2_BIST_HSJUSBHS(highsp=d)模式7的印缸測(cè)試USB2_BEIFS*/USBFS(Fullspeed)模式下的BIST測(cè)試PCIEPCIE_B1ST_BERT隆碼理El”測(cè)試PCE_B1ST_INT_LPBKTk-gRE內(nèi)環(huán)回再！ISPCIE_IOj*./JPCIEREFCLK輸出頻率測(cè)試VideoDACINLc*/j測(cè)試V

6、ideciDAC靜態(tài)參數(shù)：出分非線性口yrc*./J測(cè)試VidfoDAC靜態(tài)變數(shù)：差分非線性O(shè)FFSETERRORc*/J測(cè)甫血eWAC靜態(tài)參數(shù)：IfiSFSRc*./J測(cè)試VideWAC靜態(tài)變教：病用范圍GAINERROR0/l測(cè)ifividmDAC靜態(tài)曼數(shù)：知益誤差KFCTOtOHK0*/l.用iTYideDAC描您攀數(shù)：里調(diào)性Mhmafth0*/l制式VideDAC靜態(tài)曼數(shù)：一致性SNR0*/l.用iTVideDAC動(dòng)感攀數(shù)：信噪比THD0*/l洲港VidmDAC動(dòng)態(tài)曼數(shù)：諧波失百SFDR0e/測(cè)試YidkOA匚動(dòng)態(tài)餐數(shù)：無(wú)金故幼至范圍SINAD0e/范試VideDA匚動(dòng)芯整頓：信號(hào)噪聲

7、失直比AurfioDACINL0e/測(cè)試AmboDAt熟態(tài)禁敕：積分非線性XL0e/測(cè)優(yōu).4iKboDAt粉芯替觸：差分非線性SNR0e/測(cè)試AndioDAC動(dòng)態(tài)禁敕：信啤比SFDR口*測(cè)試人研cDA動(dòng)態(tài)琴敷：無(wú)雜散動(dòng)冬三國(guó)IHDc測(cè)試工面出可？動(dòng)態(tài)堡題：諧避失真QAM_ADCINLc*測(cè)忒4亡靜態(tài)參勘二雙分非線性DNLc測(cè)試5靜態(tài)參制|二差分非線性GNRc*測(cè)忒AD亡動(dòng)態(tài)參獨(dú);信噪比SFDRc/測(cè)試5亡動(dòng)態(tài)冬制!二無(wú)雜散動(dòng)態(tài)范圍IHDc*/J測(cè)試ADC動(dòng)態(tài)嬖蜀!：諧激失具HDLnHDM1_TX0/測(cè)試HDMITXPHYJJ謊罡舌正常需要后速扳卡captureHDfl_RXc測(cè)試HDMIRXP

8、H丫功能是否正常需要外接1%調(diào)遂人原始信號(hào)LVDSLVDS_TK0*/測(cè)優(yōu)IV口51?勘能是否正常需要圖速樞卡captureMPMIPIRXc測(cè)試MIPI艮俎就是否正常需.要高速板卡情人相應(yīng)碼型VBOVBO_TXc*/J測(cè)試VBOTX功能是否正常需要高速扳卡captureE叫mtorDA.CINL0./測(cè)試EuqaErDA.匚態(tài)荽蟻；積分非線性：I?；L.0e/測(cè)優(yōu)EuqatornA.匚態(tài)荽蚣：差分非線性SNR0./測(cè)試EuqaErDA匚動(dòng)態(tài)荽蟻；倡喔比SFDR0e/測(cè)優(yōu)EuqatornA.匚動(dòng)態(tài)荽蚣：無(wú)雜觸動(dòng)態(tài)范圍GAINERXOR0./測(cè)試EuqaErDA.匚態(tài)荽徽；熠益誤差OUTSETE

9、RRORc測(cè)施uq的rEiAC酬態(tài)夢(mèng)做二8Llisinjjtch.c測(cè)力在uqaJxrDAC靜態(tài)繁極:一軟性INLc測(cè)guqaLorADC前二爹數(shù)：積=E線1性u(píng):，_c浙拉uqaJxrADC靜工禁極二差線性5NRc測(cè)句讓uqULorADC動(dòng)態(tài)井做二信噪比SFDRc.!測(cè)試LijqamrAJDC動(dòng)態(tài)夢(mèng)覲二無(wú)雜散動(dòng)態(tài)苑圍GAINERRORc*/J測(cè)血曄mrADC靜態(tài)夢(mèng)數(shù)：相益誤差OFFSETIRKORc./J測(cè)ijtEuqMarADC靜態(tài)夢(mèng)數(shù)：ffiHCBUSCBUSc*oc測(cè)試CEU$模坡，用于支持期HL捌格AJICARCc.oc測(cè)試ARC模塊，用于音痂回傳IIPHYFEPtHLBBTc*oc測(cè)施EFHT功能罡否正常DIE_IDDIE_ID_IRC0*.東道TrstFlDW測(cè)試之前叨始談職完全FadLow-啟動(dòng)條件（需同時(shí)滿足條件1和2,或滿足條件3，投入產(chǎn)出比要合算）：1、發(fā)貨總量超過(guò)XXK，且最新測(cè)試程序版本連續(xù)XXlot測(cè)試良率波動(dòng)Xsigma2、FDPPM連續(xù)XX月維持低水準(zhǔn)（降成本策略：整體策略：RTP前期以快速質(zhì)量達(dá)標(biāo)為優(yōu)先，逐步進(jìn)行測(cè)試降成本。1、根據(jù)AP/BB降成本路標(biāo)和規(guī)劃，在項(xiàng)目前期