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1、第3章 數(shù)字電路學(xué)習(xí)要求熟悉CMOS邏輯門的構(gòu)成和特性參數(shù)了解TTL邏輯門的構(gòu)成和特性參數(shù)了解有關(guān)數(shù)字電路電氣方面的基礎(chǔ)知識,以便構(gòu)建出符合實(shí)際要求的電路和系統(tǒng)了解CMOS電路電氣特性的幾個指標(biāo)熟悉噪聲容限、扇入、扇出等含義掌握影響速度的兩個因素:轉(zhuǎn)換時間與傳播速度 理解三態(tài)門、傳輸門、漏極開路門等工作原理學(xué)習(xí)內(nèi)容邏輯信號與門電路邏輯系列CMOS邏輯CMOS電路的電氣特性和動態(tài)電氣特性三態(tài)門、傳輸門、漏極開路門雙極邏輯晶體管-晶體管邏輯TTL系列目的掌握有關(guān)數(shù)字電路電氣方面的堅(jiān)實(shí)的工作知識,構(gòu)建出實(shí)際電路和系統(tǒng)作業(yè)3.15,3.19,3.21,3.37, 3.38, 3.61,3.80,3.8
2、3思考1、普通門能進(jìn)行線與連接嗎?2、不同的CMOS邏輯門不用的輸入端的處理?3、不同的TTL邏輯門不用的輸入端的處理?4、三態(tài)門與漏極開路門結(jié)合應(yīng)用舉例中,如何保證使能端只能有一位輸入而同時禁止其它位3.1 邏輯信號與門電路數(shù)字邏輯(digital logic)將物理量實(shí)際值的無窮集映射為兩個子集,對應(yīng)于2個可能的數(shù)或邏輯值(logic values):0和1,優(yōu)點(diǎn):隱藏了模擬世界的缺陷。通過采用開關(guān)代數(shù)、表及其他抽象方法來描述電路中簡單的0和1運(yùn)算,就可以對數(shù)字邏輯電路進(jìn)行功能上的分析與設(shè)計(jì)。通常,稱邏輯值0或1為二進(jìn)制數(shù)字(binary digit)或一位(b i t)若應(yīng)用中需要兩個以
3、上的離散值,可增加位數(shù),n位數(shù)可代表2n個不同的組合值。關(guān)于0和1、高和低低:代數(shù)上表示低電壓范圍的信號,解釋為邏輯0;高:代數(shù)上表示高電壓范圍的信號,解釋為邏輯1。正邏輯(positive logic)用0對應(yīng)低、1對應(yīng)高負(fù)邏輯(negative logic)1對應(yīng)低、0對應(yīng)高(不太常用)邏輯電路可簡單地表示為具有一定數(shù)目輸入輸出端的“黑匣子”數(shù)字電路分類組合電路時序電路組合電路-輸出只依賴于當(dāng)前輸入的邏輯電路其運(yùn)算操作可由真值表(truth table)完全描述真值表是一種由邏輯變量所有可能的取值組合與對應(yīng)的邏輯函數(shù)值所構(gòu)成的表格.時序電路-輸出不僅依賴于當(dāng)前輸入、還依賴于過去輸入的順序(
4、有記憶的電路)電路的特性可由狀態(tài)表(state table)和狀態(tài)圖(狀態(tài)表的另一種表示形式)來描述。狀態(tài)表列出了電路的輸出和下一狀態(tài),而此時的輸出和狀態(tài)是當(dāng)前狀態(tài)和輸入的函數(shù)。次 態(tài) y2 (n+1)y1 (n+1)0 00 11 01 1現(xiàn) 態(tài) y2 y1 x = 0 x = 10 11 01 10 01 10 00 11 00001101101100110 x3種基本邏輯函數(shù)“與”(A N D)、“或”(O R)和“非”(N O T)能夠用來構(gòu)建任何組合數(shù)字邏輯電路“簡單邏輯門電路”的功能 與門(A N D g a t e):當(dāng)且僅當(dāng)所有輸入為1時,產(chǎn)生輸出1。 或門(O R g a t
5、 e):當(dāng)且僅當(dāng)一個或多個輸入為1時,就產(chǎn)生輸出1。 非門(N O T g a t e):通常稱為反相器(i n v e r t e r),它產(chǎn)生一個與輸入值相反的輸出。反相器符號輸出處的小圓圈稱為反相圈,表示“反相”特性復(fù)合邏輯門電路 復(fù)合門在邏輯功能上是簡單邏輯門的組合,實(shí)際性能上有所提高。常用的復(fù)合門有與非門,或非門、與或非門和異或門等。(a) 異或門 (b) 異或非門定時圖(timing diagram)顯示了電路如何對時變模式的輸入信號產(chǎn)生響應(yīng)。邏輯信號在0和1之間的變化不是立即發(fā)生的,而且輸出對輸入變化的響應(yīng)會有一點(diǎn)延遲3.2 邏輯系列設(shè)計(jì)電子邏輯電路的方法有很多2 0世紀(jì)3 0年
6、代貝爾實(shí)驗(yàn)室開發(fā)的第一部電控邏輯電路是基于繼電器邏輯的 2 0世紀(jì)4 0年代中期的首部電子數(shù)字計(jì)算機(jī)( E n i a c)是基于真空管的邏輯電路。2 0世紀(jì)5 0年代末期發(fā)明的半導(dǎo)體二極管和雙極結(jié)型晶體管2 0世紀(jì)6 0年代發(fā)明的集成電路(integrated circuit, IC)將二極管、晶體管以及其他元件都制作在一塊芯片上,2 0世紀(jì)6 0年還出現(xiàn)了第1個集成電路邏輯系列。2 0世紀(jì)6 0年首先出現(xiàn)的T T L2 0世紀(jì)9 0年代,T T L已基本被C M O S所取代2 0世紀(jì)8 0年代中期開始, M O S電路,尤其是互補(bǔ)M O S(complementary MOS)的進(jìn)步,大
7、大提高了其性能和通用性新的大規(guī)模集成電路,如微處理器和存儲器,大多采用C M O S電路采用T T L邏輯系列設(shè)計(jì)的小、中規(guī)模應(yīng)用場合,現(xiàn)在則也有可能采用C M O S器件,C M O S電路能實(shí)現(xiàn)同樣的功能,而速度更高、功耗更低 C M O S電路已占領(lǐng)了絕大部分世界I C市場C M O S邏輯是最容易理解并最適合商業(yè)數(shù)字邏輯技術(shù)的邏輯3.3 CMOS邏輯電平:電壓等級的高或低高電平:+5v (TTL邏輯理想情況下)低電平: 0v(TTL邏輯理想情況下)正邏輯:高電平用1表示,低電平用0表示典型的C M O S邏輯電路在5 V電源下工作,MOS晶體管M O S晶體管可被模型化為一種3端子壓控
8、電阻器件,將輸入電壓加到一個端子上,去控制其他兩端子間的電阻工作狀態(tài)電阻特別高(即晶體管“斷開”狀態(tài))或特別低(即晶體管“導(dǎo)通”狀態(tài))M O S晶體管分類n溝道型和p溝道型。M O S晶體管的柵極具有非常高的阻抗無論柵電壓如何,igs、isd0,Rgs、Rgd ,(大于兆歐)。流過這個電阻的電流非常小,典型值為低于1微安(A ,1 0-6A),該電流被稱為漏電流M O S晶體管的柵與源和漏之間有電容性耦合基本的C M O S反相器電路N M O S和P M O S晶體管以互補(bǔ)的方式共用就形成C M O S邏輯VinVoutVdd=+5.0VQ2 p溝道Q1 n溝道INOUT圖3-10 CMOS
9、反相器電路原理圖和邏輯符號VinQ1Q2Vout0.0(L)offon5.0(H)5.0(H)onoff0.0(L)電路功能Q2 p溝道,當(dāng)in為低電平時“導(dǎo)通”Q1 n溝道,當(dāng)Vin為高電平時“導(dǎo)通”“與非門”和“或非門”與非門或非門C M O S與非門和或非門具有不同的性能。對于相同的硅面積, n溝道晶體管的“導(dǎo)通”電阻比p溝道晶體管的要低當(dāng)晶體管串聯(lián)時, k個n溝道晶體管的“導(dǎo)通”電阻比k個p溝道晶體管的“導(dǎo)通”電阻低結(jié)果, k輸入的與非門通常比k輸入的或非門速度更快扇入在特定的邏輯系列中,門電路所具有的輸入端的數(shù)目,被稱為該邏輯系列的扇入實(shí)際上串聯(lián)晶體管“導(dǎo)通”電阻的可加性限制了C M
10、 O S門的扇入數(shù)典型地,或非門最多可有4個輸入,與非門最多可有6個輸入。非反相門CMOS“與或非”門AOI和“或與非”門OAIC M O S“與或非”門( A O I)、“或與非”門( O A I)的速度及其他電氣特性,與單獨(dú)的C M O S與非門或者或非門很具有可比性??稍谝患壯舆t下實(shí)現(xiàn)二級邏輯(與-或”或“或-與”)一般使用“與或非”門由于許多硬件描述語言( H D L)綜合工具能在合適條件下,自動地將與/或邏輯轉(zhuǎn)化為與或非門,所以CMOS VLSI器件內(nèi)部通常都使用這些門電路3.4 CMOS電路的電氣特性 CMOS電路的電氣特性提供在很多場合下適用的工程設(shè)計(jì)容限(engineering
11、 design margins)這是電路在最壞的條件下仍能正常工作的保證有關(guān)CMOS電路的電氣特性參數(shù)包括:邏輯電壓電平、直流噪聲容限、扇出、速度、噪聲、靜電放電、漏極開路輸出、三態(tài)輸出CMOS穩(wěn)態(tài)電氣特性邏輯電壓電平正常條件下運(yùn)作的C M O S器件,能確保產(chǎn)生的輸出電壓電平處在定義好的“低”和“高”電壓范圍內(nèi),而且能夠在更寬的范圍內(nèi)識別“低”和“高”的輸入電壓電平定義:低輸入電平2.4V 高輸入電平2 . 6伏 2.4 V2.6 V,反相器產(chǎn)生非邏輯輸出電壓。工程實(shí)踐表明,對低態(tài)和高態(tài),應(yīng)采用更為保守的規(guī)格。用如表3 - 3所列出的數(shù)據(jù)表來說明這些參數(shù),參數(shù)定義如下:VO H m i n
12、輸出為高態(tài)時的最小輸出電壓。VI H m i n 能保證被識別為高態(tài)時的最小輸入電壓。VI L m a x 能保證被識別為低態(tài)時的最大輸入電壓。VO L m a x 輸出為低態(tài)時的最大輸出電壓。輸入電壓主要由兩種晶體管的開關(guān)門限電壓決定輸出電壓主要由晶體管的“導(dǎo)通”電阻決定。典型C M O S邏輯系列( H C系列)的保守規(guī)格供電軌道電源電壓VC C與“地”之間的通路C M O S電平就是典型的供電軌道的函數(shù):VOHmin VCC-0.1 VVIHmin VCC的7 0 %VILmax VCC的3 0 %VOLmax 地+0.1 V表3 - 3中的VOHmin為4.4 V,比VCC僅下降了0.
13、1 V,這是在VCC最小值(5 . 0-10% = 4.5 V)條件下指定的最壞值。直流噪聲容限是一種對噪聲程度的度量,表示多大的噪聲會使最壞輸出電壓被破壞成為不可識別的輸入值非負(fù)的直流噪聲容限能確保:由輸出所產(chǎn)生的低電壓最高值,總是要比可靠地解釋為“低”的輸入最高值還要低;而輸出所產(chǎn)生的高電壓最低值,總是要比可靠地解釋為“高”的輸入最低值還要高HC系列C M O S的低態(tài)狀態(tài),低態(tài)直流噪聲容限=VILmax-VOLmax= 1.35 V -0 . 1 V=1.25 V高態(tài)直流噪聲容限=VOHmin-VIHmin =(4.5-0.1)-4.570%=4.4-3.15=1.25v通常,驅(qū)動其他C
14、 M O S輸入時,C M O S輸出的直流噪聲容限都非常好。IIH 高態(tài)時流入輸入端的最大電流。IIL 低態(tài)時流入輸入端的最大電流。表3 - 3中所示的H C 0 0的輸入電流僅為 1 A 。C M O S器件的功耗遠(yuǎn)遠(yuǎn)小于雙極邏輯電路(如T T L和E C L)VOHmin3.5VVIHmin 1VOLmax1.5VVILmax 001VOHmin 輸出為高態(tài)時的最小輸出電壓。VIHmin 能保證被識別為高態(tài)時的最小輸入電壓。VILmax 能保證被識別為低態(tài)時的最大輸入電壓。VOLmax 輸出為低態(tài)時的最大輸出電壓。實(shí)際上是給出各種輸出狀態(tài)(高態(tài)或低態(tài))下的最大負(fù)載,并確保該負(fù)載下最壞情況
15、的輸出電壓。負(fù)載以電流的形式給出:IOLmax 輸出低態(tài)且仍能維持輸出電壓不大于VOLmax時,輸出端能吸收的最大電流。IOHmax 輸出高態(tài)且仍能維持輸出電壓不小于VOHmin時,輸出端可提供的最大電流。當(dāng)電流從電源流經(jīng)負(fù)載、再流進(jìn)器件輸出端到地時,就稱器件輸出是吸收電流當(dāng)電流從電源流出器件輸出端、再經(jīng)負(fù)載到地時,就稱器件輸出是提供電流扇出邏輯門的扇出(f a n o u t)是指該門電路在不超出其最壞情況負(fù)載規(guī)格的條件下,能驅(qū)動的輸入端個數(shù)。扇出不僅依賴于輸出端的特性,還依賴于它驅(qū)動的輸入端的特性。如果與輸出相連的輸入數(shù)目過多,則電路的直流噪聲容限將變得不合適。扇出還會影響輸出在不同狀態(tài)間
16、的轉(zhuǎn)換速度扇出的計(jì)算必須考慮輸出的兩種可能狀態(tài):高電平狀態(tài)和低電平狀態(tài)門電路的總扇出是高態(tài)扇出和低態(tài)扇出中的較小值。表3-4中是2 0直流扇出輸出在“常態(tài)”(高或低)時能驅(qū)動的輸入端數(shù)目交流扇出輸出端對寄生電容的充放電能力即使直流扇出能滿足規(guī)格,要驅(qū)動大量輸入端的C M O S輸出,不一定能滿意地實(shí)現(xiàn)從低態(tài)到高態(tài)(或者相反)的轉(zhuǎn)換,所以,必須考慮交流扇出不用的輸入端方法4:將不用的輸入端直接連接到電源或地上。注意:不用的C M O S輸入端絕不能懸空3.6 CMOS動態(tài)電氣特性C M O S器件的速度和功耗在很大程度上取決于器件及其負(fù)載的動態(tài)特性,即輸出端在不同狀態(tài)間轉(zhuǎn)換時電路的行為速度CMO
17、S 電路的輸出在低/高電壓之間轉(zhuǎn)換的速度,依賴于器件的內(nèi)部結(jié)構(gòu)及它要驅(qū)動的其他器件的特性,甚至受到與輸出相連的連線或印制電路板上的線跡的影響,它取決于兩個特性:轉(zhuǎn)換時間和傳播延遲轉(zhuǎn)換時間邏輯電路的輸出從一種狀態(tài)變?yōu)榱硪环N狀態(tài)所需的時間,需要時間為其驅(qū)動的連線或其他部件的寄生電容充電上升時間tr輸出從低態(tài)到高態(tài)的轉(zhuǎn)換時間 下降時間tf從高態(tài)到低態(tài)的轉(zhuǎn)換時間上升時間和下降時間很可能不相同。(a) 零時間轉(zhuǎn)換的理想情況(b) 更接近現(xiàn)實(shí)的近似(c) 實(shí)際的時序(表示出上升和下降時間)決定C M O S輸出的上升和下降時間主要的兩個因素:晶體管的“導(dǎo)通”電阻和負(fù)載電容。寄生電容有時也稱為電容負(fù)載(capacitive load)或交流負(fù)載(AC load)。傳播延遲信號通路(signal path)一個特定輸入信號到邏輯元件的特定輸出信號所經(jīng)歷的電氣通路傳播延遲(tp, propagation delay)指從輸入信號變化到產(chǎn)生輸出信號變化所需的時間。tpHL:輸出從高到低變化時,輸入變化引起相應(yīng)輸出變化的時
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