統(tǒng)計制程管制(SPC)

1、品質(zhì)管理之統(tǒng)計技術(shù)培訓(xùn)直方圖、控制圖、制程能力 SPC的應(yīng)用步驟1.確立製造流程2.決定管制項(xiàng)目3.實(shí)施標(biāo)準(zhǔn)化問題分析解決Cpk1.334.製程能力調(diào)查Cp、Cpk製程條件變動時Cpk1.335.管制圖的運(yùn)用6.問題分析解決7.製程之繼續(xù)管制工序能力工序能力是指：工序的加工品質(zhì)滿足技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)的能力。工序能力指數(shù)是指：表示工序能力滿足產(chǎn)品品質(zhì)標(biāo)準(zhǔn)（規(guī)格，公差）的程度。一般以Cp或Cpk表示。 Cp適用于品質(zhì)標(biāo)準(zhǔn)的中心與實(shí)測數(shù)據(jù)的分布中心一致，即無偏離的情況下. Cpk適用于品質(zhì)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)格的中心與實(shí)測數(shù)據(jù)的分布中心值不一致，即有偏離的情況下。 當(dāng)工序處于穩(wěn)定狀態(tài)時，產(chǎn)品的計量特性值有99.73%落在u

2、3的范圍內(nèi),也就是說,我們可以反復(fù)用測定的數(shù)值來判定工序是否處于穩(wěn)定狀態(tài)下,而工序穩(wěn)定是品質(zhì)穩(wěn)定的前提保證. 工序是否穩(wěn)定取決于4M1E(人,材料.機(jī)器.方法,環(huán)境)是否處于最佳狀態(tài),而想要4M1E永遠(yuǎn)都保持在最佳狀況是不容易辦到,它意味著要消耗高昂的成本。所以人們以把工序能力指數(shù)Cp=1.33時作為理想控制目標(biāo).Cp值的范圍判定應(yīng)采取對策Cp1.67工序能力過高可考慮抽檢或免檢1.67Cp1.33工序能力充分繼續(xù)維持現(xiàn)狀1.33Cp1.0工序能力尚可要注意各個生產(chǎn)要素的變化情況,產(chǎn)品要加嚴(yán)檢查1.0Cp0.67工序能力不足找出影響因素,采取對策,產(chǎn)品必須全檢0.67Cp工序能力嚴(yán)重不足必要時

3、,停止生產(chǎn),直到找到原因,確實(shí)加以對策,產(chǎn)品要全檢工序能力的判定及對策計算工序能力:1.當(dāng)品質(zhì)規(guī)格雙側(cè)都有公差,即有規(guī)格上、下限時(采樣實(shí)測中心值與品質(zhì)規(guī)格中心值無偏離:Cp=T/6=(Tu-TL)/6T/6S其中T為公差范圍,Tu為上限,TL為下限,為工序的標(biāo)準(zhǔn)偏差,的計算可用樣本的標(biāo)準(zhǔn)偏差S來代替, 六、決定管制項(xiàng)目管制項(xiàng)目的決定有助於1.消除內(nèi)部縱、橫向之工作浪費(fèi)2.不要忽略必須做的事3.明白區(qū)分優(yōu)先度，指引工作重點(diǎn)方向4.溝通良好5.將工作評價的重點(diǎn)放在過程的評價而非僅評價結(jié)果3.當(dāng)品質(zhì)規(guī)格只有上限單側(cè)公差時:如果 Tu時，計算所得Cp值無意義,證明工序能力為0.4.當(dāng)品質(zhì)規(guī)格只有下限

4、單側(cè)公差時:如果 TL時，計算所得Cp值無意義,證明工序能力為0.2.當(dāng)品質(zhì)規(guī)格雙側(cè)都有公差，即有規(guī)格上、下限時(采樣實(shí)測中心值與品質(zhì)中心值有偏離):5.工序能力與不良率的關(guān)系:工序能力越高,不良率越低,工序能力越低,不良率超高1.制程能力製程能力定義使製程標(biāo)準(zhǔn)化，除去異常因素，當(dāng)製程維持在穩(wěn)定狀態(tài)時，所實(shí)現(xiàn)的品質(zhì)程度。明確的目的選定調(diào)查對象4M的標(biāo)準(zhǔn)化標(biāo)準(zhǔn)作業(yè)的教育4M：人(Man)機(jī)械(Machine)材料(Material)方法(Method)標(biāo)準(zhǔn)作業(yè)的實(shí)施數(shù)據(jù)的收集、分析製程處於管制狀態(tài)時製程處於非管制狀態(tài)時找出偶然因素標(biāo)準(zhǔn)化活動及再發(fā)防止製程能力的把握能力足夠能力不足Cpk1.33C

5、pk1.33(註：視Cpk之值而會有不同之處置)先掌握機(jī)械能力，並追究原因原因不明，且無法採取技術(shù)性的措施調(diào)節(jié)製程管制檢討規(guī)格公差修正檢驗(yàn)等等標(biāo)準(zhǔn)化活動製程能力生產(chǎn)前查核工程品質(zhì)管理表作業(yè)標(biāo)準(zhǔn)決定管制項(xiàng)目作業(yè)標(biāo)準(zhǔn)工程品質(zhì)管理表效果確認(rèn)改善製程保養(yǎng)機(jī)器公告再發(fā)防止製造能力調(diào)查檢 驗(yàn)調(diào)查原因開始作業(yè)的查核(作業(yè)狀況)查核(管制項(xiàng)目)解析市場品質(zhì)的評估非管制狀態(tài)作 業(yè)製程能力Cp (Capability of Precision)Cp在衡量製程之變異寬度與規(guī)格公差範(fàn)圍相差之情形。(1)Cp之計算Cp 雙邊規(guī)格時Cp或Cp 單邊規(guī)格時(2)等級判定Cp值愈大，品質(zhì)愈佳。依Cp值大小分為六級規(guī)格公差6個

6、標(biāo)準(zhǔn)差(4)處置原則A+級：考慮管理的簡單化或成本降低的方法A級：維持原狀B級：改進(jìn)為A級C級：需全數(shù)選別，並管理、改善工程D級：進(jìn)行品質(zhì)的改善，探求原因，需要採取緊急對策，並且重新檢討規(guī)格(3)CP等及之說明6D級SL規(guī)格下限Su規(guī)格上限規(guī)格中心值6 C級6B級6A級6A+級(5)某電鍍品其鍍金厚度規(guī)格為502.0，昨日產(chǎn)之生產(chǎn)實(shí)績?yōu)閄3S531.5，本日之生產(chǎn)實(shí)績?yōu)?12.3求Cp值。昨日Cp值 1.33(A級)本日Cp值 0.87(C級)製程能力指數(shù)Cpk綜合Ca與Cp兩值之指數(shù)Cpk之計算式1.Cpk(1K) K(1 Ca )Cp當(dāng)Ca0時 CpkCp單邊規(guī)格時，Cpk即以Cp值計2.

7、ZUSL ZLSL Cpk 與的最小值(2)等級判定Cpk值愈大，品質(zhì)愈佳，依Cpk值大小分為六級(3)處置原則：A+級：考慮管理的簡單化或成本降低的方法A 級：維持原狀B 級：改進(jìn)為A級C 級：需全數(shù)選別並管理、改善工程D 級：進(jìn)行品質(zhì)的改善，探求原因，需要採取緊急對策，並且重新檢討規(guī)格。(4)某電鍍品其鍍銅厚度規(guī)格為0.700.2；製程實(shí)績?yōu)閄3S0.7380.2175求CPK值。製程精密度(Cp值)與不良率之關(guān)係十、管制圖的運(yùn)用管制圖的由來 管制圖是1924年由蕭華特博士(Dr. W. A. Shewhart)，在研究產(chǎn)品品質(zhì)特性之次數(shù)分配時所發(fā)現(xiàn)。正常的工程所生產(chǎn)出來產(chǎn)品之品質(zhì)特性，其

8、分配大都呈常態(tài)分配的，會超出三個標(biāo)準(zhǔn)差(3)的產(chǎn)品只有0.27。依據(jù)此原理，將常態(tài)曲線圖旋轉(zhuǎn)90度，在三個標(biāo)準(zhǔn)差的地方加上兩條界限，並將抽樣之?dāng)?shù)據(jù)順序點(diǎn)繪而成為管制圖。A區(qū)B區(qū)C區(qū)C區(qū)A區(qū)B區(qū)2.14%13.59%34.135%34.135%2.14%13.59%LCLCLUCL-2-3 +3 +2 +規(guī)格範(fàn)圍管制圖定義一種用於調(diào)查製造過程是否在穩(wěn)定狀態(tài)下，或者維持製造過程在穩(wěn)定狀態(tài)上所用之圖。數(shù) 據(jù) 分 為計量值：一種品質(zhì)特性之?dāng)?shù)值，可用連續(xù)量(Continuous quantity)計量者。計數(shù)值：一種品質(zhì)特性之?dāng)?shù)值，可用以間斷數(shù)據(jù)計數(shù)者。數(shù)值數(shù)據(jù)管制圖的種類計量值管制圖XR Chart(

9、平均值與全距管制圖) 常用XR Chart(中位數(shù)與全距管制圖)XRm Chart(個別值與移動全距管制圖)XS Chart(平均值與標(biāo)準(zhǔn)差管制圖)計數(shù)管制圖PChart(不良率管制圖) 常用nPChart(不良數(shù)管制圖)CChart(缺點(diǎn)數(shù)管制圖)UChart(單位缺點(diǎn)數(shù)管制圖)管制圖點(diǎn)繪原則依照下述這些原則點(diǎn)繪管制圖，容易整齊劃一有助於資料之整理與研判製程名稱、管制特性、測定單位、規(guī)格值、設(shè)備號碼、操作者、測定者、抽樣方法、樣本數(shù)、期間、製程要因、(人員、設(shè)備、材料、方法、環(huán)境)之任何變更資料需清楚填入，以便資料之分析整理。中心線(CL)記以實(shí)線，管制上限(UCL)及管制下限(LCL)記以

10、虛線，中心線及管制上、下限，分別記入其數(shù)值及CL、UCL、LCL等符號。CL、UCL、LCL之位數(shù)比測定位數(shù)多兩位即可。XR Chart(平均值與全距管制圖)適用製程可用以管制分組之計量數(shù)據(jù)，即每次同時取得幾個數(shù)據(jù)之工程。是把握工程狀態(tài)最有效的一種管制圖。XR管制圖公式X管制圖：中心線(CL)X管制上限(UCL)XA2R管制下限(LCL)XA2RR管制圖：中心線(CL)X管制上限(UCL)D4R管制下限(LCL)D3R建立XR管制圖步驟建立解析用管制圖的步驟：(1)搜集數(shù)據(jù)依測定時間順序排列(2)數(shù)據(jù)分組以35個數(shù)據(jù)為一組最佳(3)記入管制圖的數(shù)據(jù)欄內(nèi)(4)計算平均值X求各組的平均值X(5)計

11、算全距R求各組的全距R(6)計算總平均值X求各組均值X的總平均值X(7)計算全距的平均值R求各組全距R的平均值R(8)查係數(shù)A2，D4，D3並代入公式計算管制界限(9)繪制管制界限及中心線X管制圖在上，R管制圖在下(10)點(diǎn)繪點(diǎn)在其數(shù)值之位置並以直線連接之(11)管制界限檢討如流程圖管制圖分析流程(R管制圖)註：摘自SPC Simplified 全距均在管制界限內(nèi)嗎？是否只有一個或二個點(diǎn)在管制界限外？是否3個以上的點(diǎn)在管制界限外剔除這一或二個全距值的樣本重新計算X、R的全距管制界限全距失控停止計算平均值的管制界限限外其餘的全距值均在界限內(nèi)嗎？找出亦修正非機(jī)遇原因重新收集資計算平均值的管制界限是

12、否全距值均在控制中計算平均值的管制圖平均值管制圖分析流程建立製程管制用管制圖步驟(1)記上必要事項(xiàng)(2)繪入管制界限(3)繪點(diǎn)(4)狀態(tài)之判定(5)改正措施(6)管制界限的延續(xù)使用XR Chart(中位數(shù)與全距管制圖)適用製程與XR Chart同，但檢出力較差，故多以XR Chart代之。公式：X管制圖：中 心 線(CL)X管制上限(UCL)Xm3A2R管制下限(LCL)Xm3A2RR管制圖：中心線(CL)R管制上限(UCL)D4R管制下限(LCL)D3RXS Chart(平均值與標(biāo)準(zhǔn)差管制圖)適用製程與XR管制圖同，但當(dāng)n10，則使用XS管制圖X管制圖：中 心 線(CL)X管制上限(UCL)XA3S管制下限(LCL)XA3SS管制圖：中 心 線(CL)S管制上限(UCL)B4S管制下限(LCL)B3SSC4管制圖的判讀1.管制圖之管制(安定)狀態(tài)之判別：沒有點(diǎn)子逸出管制界限外點(diǎn)子的分呈隨機(jī)分佈(無規(guī)則可循)2.管制圖之不正常型態(tài)之鑑別是根據(jù)或然率之理論而加以判定的，符合下述之一項(xiàng)者，即為不正常之型態(tài)，應(yīng)采取行