無線通訊產(chǎn)品老化測(cè)試規(guī)范課件

1、無線通訊產(chǎn)品老化測(cè)試規(guī)范一目的本規(guī)範(fàn)定義Motorola手機(jī)等無線通信產(chǎn)品加速老化測(cè)試以及持續(xù)加速老化測(cè)試的方法及允收標(biāo)準(zhǔn), 以保證所提供之產(chǎn)品符合客戶之需求. 二概述 1 本規(guī)范提供了無線通訊產(chǎn)品加速老化測(cè)試和持續(xù)加速老化測(cè)試的完整程序以認(rèn)可PCS(個(gè)人通訊產(chǎn)品)和iDEN便攜式無線通訊產(chǎn)品.加速老化測(cè)試程序參考附件A和B,持續(xù)加速老化測(cè)試程序參考附件C和D. 對(duì)于本規(guī)范各測(cè)試步驟更詳細(xì)的說明可參考相關(guān)的12M文件.二概述 2 本規(guī)范定義了便攜式蜂窩式電話無線尋呼iDEN, 以及兩通道產(chǎn)品進(jìn)行加速老化測(cè)試的要求. 老化測(cè)試提交有兩種類型一種為加速老化測(cè)試, 另一種為持續(xù)加速老化測(cè)試.加速老化

2、測(cè)試主要是在發(fā)貨之前對(duì)產(chǎn)品的質(zhì)量可靠性健壯性設(shè)計(jì)進(jìn)行鑒定持續(xù)加速老化測(cè)試主要是証明到貨產(chǎn)品保持了已經(jīng)通過加速老化測(cè)試測(cè)試的質(zhì)量和可靠性(詳情見文件12M09177A68). 二概述 兩種測(cè)試均為通過多種環(huán)境和機(jī)械強(qiáng)化測(cè)試以測(cè)試其對(duì)產(chǎn)品功能的影響. 設(shè)計(jì)這些強(qiáng)化的環(huán)境條件使產(chǎn)品在可接受的極限里產(chǎn)生老化和疲勞這個(gè)極限是基于材料規(guī)格以往性能以及客戶期望. 測(cè)試后的結(jié)果可以用于評(píng)估產(chǎn)品的失效率. 二概述 3加速老化測(cè)試的目的不是用于証實(shí)產(chǎn)品達(dá)到了所有的要求或驗(yàn)証軟件的性能. 進(jìn)行這些測(cè)試是為了檢測(cè)產(chǎn)品在強(qiáng)化條件下產(chǎn)生的可察覺的失效. 成功完成了加速老化測(cè)試并証明達(dá)到了新產(chǎn)品預(yù)期的區(qū)域失效率要求(PFF

3、R), 就可以簽發(fā)加速老化測(cè)試允受核準(zhǔn)單(附件R). 開發(fā)工程師應(yīng)保証產(chǎn)品得到完全一致的測(cè)試. 三產(chǎn)品提交 樣品可由產(chǎn)發(fā)制造或者由可靠性工程師要求。對(duì)新產(chǎn)品的加速老化測(cè)試的提交樣品數(shù)量一般應(yīng)為40件對(duì)認(rèn)可產(chǎn)品制程的持續(xù)加速老化測(cè)試的提交樣品數(shù)量一般應(yīng)為14件。所提交產(chǎn)品性能應(yīng)一致并達(dá)到客戶要求。附表I即為全球測(cè)試數(shù)據(jù)庫中的電子提交表格, 這份表格目的為描述產(chǎn)品的名稱制造地理由以及誰為電氣和機(jī)械經(jīng)理和工程師聯(lián)系方式. 所有的變更硬件和軟件都要輸入這個(gè)表格. 所有設(shè)計(jì)和零件重要問題都應(yīng)在這表格里提供証明否則可以認(rèn)為產(chǎn)品已功能完全和達(dá)到所有的要求. 三產(chǎn)品提交 產(chǎn)品應(yīng)該包括輔助零件如天線電池后蓋和S

4、IM卡. 產(chǎn)發(fā)工程師應(yīng)提供和保証操作系統(tǒng)軟件和系統(tǒng)的相對(duì)靈敏性. 對(duì)于試驗(yàn)和產(chǎn)品階段的老化測(cè)試產(chǎn)品應(yīng)該在被消費(fèi)者接受的條件下提交. 因此樣品必須要有標(biāo)簽即使這些附件是外協(xié)加工的或者它們從來就不會(huì)提交原型實(shí)驗(yàn)和第二階段的老化測(cè)試可由產(chǎn)發(fā)工程師提交. 上述的提交任務(wù)可由可靠性工程經(jīng)理批準(zhǔn)取消. 三產(chǎn)品提交 每項(xiàng)任務(wù)將由老化測(cè)試可靠性經(jīng)理分配一個(gè)跟蹤碼跟蹤碼在老化測(cè)試批準(zhǔn)進(jìn)行后即產(chǎn)生. 老化持續(xù)老化四職責(zé) 1 老化測(cè)試可靠性工程經(jīng)理 應(yīng)確保測(cè)試符 合本規(guī)范應(yīng)明確分配本規(guī)范要求的測(cè)試項(xiàng)目給相應(yīng)的工程師和技朮員應(yīng)評(píng)審最終檢驗(yàn)結(jié)果確認(rèn)其是否通過如果確認(rèn)通過不論有無條件應(yīng)簽發(fā)確認(rèn)通告(見附件R)或者采用其他

5、等效的方法如果確認(rèn)不通其應(yīng)直接與責(zé)任工程師進(jìn)行溝通四職責(zé) 2老化測(cè)試工程師技術(shù)員 老化測(cè)試工程師技術(shù)員應(yīng)進(jìn)行本規(guī)范要求的測(cè)試項(xiàng)目應(yīng)填寫由相關(guān)網(wǎng)站全球數(shù)據(jù)庫提供的電子老化測(cè)試工程報(bào)告表信息和結(jié)果應(yīng)與實(shí)際測(cè)試日期一致 任何問題出現(xiàn)其都應(yīng)通知 老化測(cè)試工程經(jīng)理.四職責(zé) 3 設(shè)計(jì)工程師 設(shè)計(jì)工程師應(yīng)對(duì)所有提交樣品是否滿 足本規(guī)范要求負(fù)責(zé)應(yīng)評(píng)審和進(jìn)行失 效分析決定糾正措施並對(duì)所有已 報(bào)告的缺陷和失效采取措施並應(yīng)在 老化測(cè)試工程報(bào)告表上失效分析和糾 正措施欄上填寫相關(guān)紀(jì)記錄應(yīng)完成 所有的糾正措施以關(guān)閉老化測(cè)試 四職責(zé) 4 制造工程師 制造工程師職責(zé)除持續(xù)老化測(cè)試 外與設(shè)計(jì)工程師一樣 五 定義和縮寫 AMP

6、S-高級(jí)移動(dòng)電話服務(wù) CDMA-碼多路訪問 ESD-靜電釋放 GSM-全球通 IDEN-整體快速提升網(wǎng)絡(luò)五 定義和縮寫 MEK-丁酮 NPLC-新產(chǎn)品開發(fā)中心 PCS- -個(gè)人通信 SIM-用戶特性模塊芯片 。 包含用戶信息呼叫信息以及服務(wù)信息 TDMA-時(shí)分多路訪問八測(cè)試樣品標(biāo)識(shí) 建議所有被測(cè)試產(chǎn)品應(yīng)按以下規(guī)則進(jìn)行標(biāo)識(shí)以保証可以正確地追蹤被測(cè)試產(chǎn)品該標(biāo)識(shí)規(guī)則幫助技術(shù)人員通過一個(gè)容易的方法知道哪個(gè)產(chǎn)品處于哪個(gè)環(huán)境產(chǎn)品提交時(shí)應(yīng)用標(biāo)簽予以標(biāo)識(shí)標(biāo)簽上應(yīng)有老化測(cè)試的流水碼(三位數(shù):連字符+數(shù)字編號(hào)). 八測(cè)試樣品標(biāo)識(shí) 對(duì)于老化測(cè)試數(shù)字編號(hào)為140對(duì)于持續(xù)老化測(cè)試數(shù)字編號(hào)為114測(cè)試產(chǎn)品然后被分為11個(gè)

7、組即AK組每組所包含的產(chǎn)品如下表每個(gè)產(chǎn)品所屬組號(hào)應(yīng)添加到標(biāo)簽上持續(xù)老化測(cè)試與老化測(cè)試相似只是產(chǎn)品數(shù)量較少 八測(cè)試樣品標(biāo)識(shí) 下表為按產(chǎn)品數(shù)字編號(hào)（老化測(cè)試為140持續(xù)老化測(cè)試為114）分配各組可以允許采用多種方法進(jìn)行標(biāo)識(shí)如涂筆法或貼標(biāo)簽標(biāo)簽以及膠層必須能抵抗所有的ALT測(cè)試的環(huán)境涂筆法應(yīng)采用不透明的油基的標(biāo)記筆標(biāo)簽以及膠層必須能抵抗所有的老化測(cè)試的環(huán)境並能容易識(shí)別, 且膠不允許覆蓋在蓋板上電池上和鏡片上以確保測(cè)試過程中產(chǎn)生的間隙暴露出來八測(cè)試樣品標(biāo)識(shí) 老化測(cè)試持續(xù)老化測(cè)試九測(cè)試 1 測(cè)試產(chǎn)品分類所有測(cè)試產(chǎn)品被分為兩個(gè)單元第一單元包含第AJ組第二單元包含第K組 九測(cè)試 2 測(cè)試概述 A 參數(shù)測(cè)試

8、在正常情況下參數(shù)性能測(cè)試僅在老化測(cè)試進(jìn)行到第7天時(shí)進(jìn)行但在產(chǎn)品的老化測(cè)試設(shè)計(jì)循環(huán)裏的不同時(shí)間段在第一單元進(jìn)行強(qiáng)化環(huán)境測(cè)試前必須在室溫條件下進(jìn)行初始參數(shù)測(cè)試判定初始室溫條件下參數(shù)測(cè)試的標(biāo)準(zhǔn)稱之為“Stage Gate Criteria”見如下定義 九測(cè)試首先“Stage Gate Criteria”要求在初始室溫條件下NPLC樣件和量試產(chǎn)品的參數(shù)測(cè)試結(jié)果應(yīng)完全符合要求這個(gè)測(cè)試有兩個(gè)目的它証實(shí)了老化和NPLC之間測(cè)試參數(shù)的相關(guān)性同時(shí)也允許對(duì)老化測(cè)試的進(jìn)程中參數(shù)的變化進(jìn)行計(jì)算 九測(cè)試其次“Stage Gate Criteria”要求每一個(gè)生產(chǎn)設(shè)施和進(jìn)行ALT測(cè)試的設(shè)備初始室溫參數(shù)測(cè)試的結(jié)果完全符合要

9、求. 如達(dá)到此要求則在以后因?yàn)樯a(chǎn)設(shè)備的原因而提交老化測(cè)試時(shí)不必再行提供 如果利用老化測(cè)試組的通用設(shè)備不能核實(shí)無線產(chǎn)品的符合性則在下一提交的老化測(cè)試任務(wù)中測(cè)試組必須設(shè)法獲得100的核實(shí) 九測(cè)試按照 ”Stage Gate Criteria” 完成老化測(cè)試是產(chǎn)品原型的驗(yàn)証和出貨許可的要求 初始室溫參數(shù)同樣適用于持續(xù)老化測(cè)試在要測(cè)試初始室溫參數(shù)的情況下對(duì)每個(gè)頻道每個(gè)模式大約會(huì)增加一天左右的測(cè)試時(shí)間在進(jìn)行溫度沖擊測(cè)試前所有第一單元的產(chǎn)品都要通過開機(jī)測(cè)試 九測(cè)試 B開機(jī)測(cè)試開機(jī)測(cè)試包括用盡可能容易的方法開機(jī)和驗(yàn)証測(cè)試產(chǎn)品相關(guān)功能對(duì)移動(dòng)電話開機(jī)后應(yīng)能夠引起話筒打開震動(dòng)器或揚(yáng)聲器激活顯示屏和按鍵的背景燈打

10、開且顯示屏上所有顯示像素打開對(duì)于iDEN產(chǎn)品必須能夠訪問當(dāng)?shù)販y(cè)試系統(tǒng)或模擬系統(tǒng)對(duì)于無線尋呼產(chǎn)品尋呼應(yīng)得到響應(yīng) 九測(cè)試 C環(huán)境和機(jī)械性能測(cè)試描述 第1單元和第2單元首先在一起通過熱沖擊 環(huán)境測(cè)試然后第1單元和第2單元分開進(jìn)行測(cè)試第1單元進(jìn)行后續(xù)熱環(huán)境測(cè)試溫度濕度輻射跌落測(cè)試(時(shí)間約7天)第2單元?jiǎng)t進(jìn)行機(jī)械性能測(cè)試也包括溫度濕度輻射跌落測(cè)試它只是其側(cè)重于模擬消費(fèi)者使用的環(huán)境第1單元和第2單元的區(qū)別只是其側(cè)重點(diǎn)不同 九測(cè)試 D環(huán)境和機(jī)械性能的失效性測(cè)試 環(huán)境和機(jī)械性能的測(cè)試可以分為三種類型功能信號(hào)和參數(shù)就是在這些步驟裏可檢測(cè)到失效并且引起注意由于本規(guī)范覆蓋的范圍較廣所以在一般情況下只能指定需要驗(yàn)証的

11、功能可以提供每個(gè)功能類型的例子但由于每個(gè)被測(cè)試產(chǎn)品特性和參數(shù)都不一樣所以其他本規(guī)范沒有提到的性能也有可能被測(cè)試 九測(cè)試 D環(huán)境和機(jī)械性能的失效性測(cè)試 從事該測(cè)試工作的員工應(yīng)該得到全面的測(cè)試產(chǎn)品的使用和操作培訓(xùn)這會(huì)使測(cè)試的覆蓋范圍更廣并且增加產(chǎn)品最終結(jié)果的可信度在提交產(chǎn)品附有新電池和附件的情況下測(cè)試到的電池和附件的失效項(xiàng)應(yīng)作為觀察項(xiàng)列入老化測(cè)試數(shù)據(jù)表這些失效可以包括周期性的出錯(cuò)關(guān)閉電源電池分離或者功能失效該測(cè)試的目的是為了發(fā)現(xiàn)消費(fèi)者可以察覺的缺陷保証產(chǎn)品的一致性和進(jìn)行老化測(cè)試 九測(cè)試 3功能測(cè)試 功能測(cè)試包括所有能夠決定產(chǎn)品的機(jī)械性能和電氣 性能的測(cè)試該測(cè)試包括但不限于以下方面 蜂窩式/iDEN

12、 電話機(jī) 1 按鍵和開關(guān)應(yīng)有正確的外觀 和聲音并且反饋一致的動(dòng)作和觸覺2. 顯示屏和背景燈功能應(yīng)正常且一致3. 3機(jī)械特性例如翻蓋和天線固有的機(jī)電功能以及動(dòng)作的自由性4. 轉(zhuǎn)換器應(yīng)檢查其充分的性能和失真度5. 5如果可能 應(yīng)驗(yàn)証充電器, 耳機(jī), 蜂鳴器的接口連接的有效性 6. 6內(nèi)部電路如內(nèi)部充電電路應(yīng)工作正常且有正確的視覺和聽覺反饋7. 檢查塑料外殼和鏡片的變形以及裂紋九測(cè)試 3功能測(cè)試 無線尋呼機(jī) 1. 批尋呼2. 聲壓等級(jí) (SPL)3. 開關(guān)和控制按鍵功能 / 觸覺 (操作的容易程度)4. 電池蓋活動(dòng)5. 外觀項(xiàng)目 (標(biāo)簽, 鏡片上的碎片以及蓋板質(zhì)地) 等.6. 振動(dòng)或靜止模式功能 /

13、 感覺7. 顯示屏的亮度8. 記憶的保持能力9. 顯示片段九測(cè)試 4 信號(hào)測(cè)試 信號(hào)測(cè)試要求使用的測(cè)試設(shè)備能夠產(chǎn)生電話信號(hào)且 能夠模擬基礎(chǔ)系統(tǒng)的功能該測(cè)試包括但不限于以下方面 蜂窩式/ iDEN 電話 1呼叫源, 每個(gè)通信模式的呼叫和終止 2呼叫源, 呼叫, 發(fā)送 和終止3進(jìn)入頻道和頻道間越區(qū)轉(zhuǎn)接 的能力 4電源水平改變的能力5改變模式和回退的能力九測(cè)試 4 信號(hào)測(cè)試 無線尋呼機(jī) 顯示聲音質(zhì)量和正確的數(shù)據(jù)傳送都應(yīng)得到測(cè)試如果 可能這些測(cè)試應(yīng)在有輻射的環(huán)境下測(cè)試 1. 尋呼的靈敏性 2. 振動(dòng)測(cè)試 3. 振動(dòng)或靜止模式功能 /感覺 4. 聲壓等級(jí) (SPL) 5. 顯示屏亮度九測(cè)試 5 參數(shù)測(cè)試

14、 進(jìn)行參數(shù)測(cè)試是為了確保產(chǎn)品維持了指定的與主要電氣參數(shù)有關(guān)的性能. 在每個(gè)老化測(cè)試最后的參數(shù)測(cè)試就是執(zhí)行產(chǎn)品或技朮控制的極限值附件 N 列出了AMPs, GSM, CDMA, iDEN和TDMA 設(shè)定的最小參數(shù)作為測(cè)試所有蜂窩式電話最小要求. 無論是否進(jìn)行了初始參數(shù)測(cè)試以滿足“ Stage Gate Criteria “都應(yīng)進(jìn)行參數(shù)測(cè)試. 這些參數(shù)以及變動(dòng)范圍應(yīng)是最小的它不是限制參數(shù)測(cè)試而是保証所有PCS測(cè)試的區(qū)域可以用來糾正區(qū)域之間的數(shù)據(jù)交換. 在每個(gè)測(cè)試區(qū)域亦可能進(jìn)行其他測(cè)試. 十環(huán)境和機(jī)械性能強(qiáng)化測(cè)試 這里有兩個(gè)明顯不同的測(cè)試單元. 一個(gè) 是環(huán)境單元亦即第一單元另一個(gè)是機(jī) 械單元亦即第二

15、 單元. 十環(huán)境和機(jī)械性能強(qiáng)化測(cè)試 1溫度環(huán)境測(cè)試 A熱沖擊 程序熱沖擊應(yīng)在有兩個(gè)隔間的恆溫室內(nèi)完成其 中一個(gè)隔間的溫度設(shè)為-40 C另一個(gè)為+85 C. 測(cè)試產(chǎn)品應(yīng)沒電先放進(jìn)熱的隔間45分鐘再在8秒鐘內(nèi)將其放進(jìn)冷的隔間45分鐘. 這樣重復(fù)27個(gè)循環(huán)且在熱的隔間結(jié)束. 產(chǎn)品應(yīng)以多種配置方式放于恆溫室內(nèi)如天線向上天線向下翻蓋打開翻蓋關(guān)閉等. 所有產(chǎn)品均應(yīng)面朝上不允許產(chǎn)品放于已打開翻蓋的產(chǎn)品上. 十環(huán)境和機(jī)械性能強(qiáng)化測(cè)試 1溫度環(huán)境測(cè)試 A熱沖擊 允收標(biāo)準(zhǔn)第9.3節(jié)定義的功能測(cè)試應(yīng)在該測(cè)試之后進(jìn)行. 該測(cè)試完成后不得有任何故障和明顯的物理變形. 十環(huán)境和機(jī)械性能強(qiáng)化測(cè)試 1溫度環(huán)境測(cè)試 B第一次跌

16、落測(cè)試 程序測(cè)試產(chǎn)品將被分為5組進(jìn)行手工和機(jī)器跌落測(cè)試測(cè)試環(huán)境(見下表)在進(jìn)行跌落測(cè)試前應(yīng)將產(chǎn)品按指定的溫度放于恆溫室內(nèi)30分鐘.按附件K記錄跌落的順序. 測(cè)試件應(yīng)裝有電池且開機(jī). 如果測(cè)試件有擴(kuò)展特性如翻蓋和(或)天線則應(yīng)均勻分組以覆蓋所有可能的配置. 每個(gè)測(cè)試產(chǎn)品都將指定是哪種跌落形式和哪個(gè)平面跌落是什么配置以及電池是什么類型. 十環(huán)境和機(jī)械性能強(qiáng)化測(cè)試 1溫度環(huán)境測(cè)試 B第一次跌落測(cè)試 在隨機(jī)手工跌落測(cè)試時(shí)測(cè)試件將按6個(gè)面跌落6次每面一次. 測(cè)試時(shí)應(yīng)使要碰撞的面朝下并與地面平行.注意在釋放測(cè)試件時(shí)往往會(huì)引起測(cè)試件旋轉(zhuǎn)這樣就會(huì)有測(cè)試件某個(gè)邊或角與地面碰撞的可能. 機(jī)器表面跌落是利用平面跌落

17、夾具. 該夾具能定位測(cè)試件并使選定的跌落平面平行于跌落面因此它能夠碰撞測(cè)試平面而不旋轉(zhuǎn). 十環(huán)境和機(jī)械性能強(qiáng)化測(cè)試 1溫度環(huán)境測(cè)試 B第一次跌落測(cè)試 有溫度要求(非室溫)的跌落測(cè)試應(yīng)在從恆溫箱拿出后30秒內(nèi)開始進(jìn)行并應(yīng)在3分鐘內(nèi)完成. 跌落高度為5英尺手工跌落面應(yīng)為平整的混泥土地面機(jī)械跌落平面應(yīng)為厚度1/2”鋼平面. 十環(huán)境和機(jī)械性能強(qiáng)化測(cè)試 1溫度環(huán)境測(cè)試 B第一次跌落測(cè)試 老化測(cè)試持續(xù)老化測(cè)試編號(hào)十環(huán)境和機(jī)械性能強(qiáng)化測(cè)試 1溫度環(huán)境測(cè)試 B第一次跌落測(cè)試允收標(biāo)準(zhǔn)電池和蓋板可能在跌落后分離但更換了電池和蓋板后應(yīng)能開機(jī). 每次跌落后應(yīng)粗略地檢查測(cè)試件的操作性在允許的時(shí)間內(nèi)應(yīng)盡可能多的檢查其開機(jī)

18、以及相關(guān)功能. 這檢查是為了保証測(cè)試件沒有明顯的電氣性能降低和機(jī)械性失效如裂紋破碎彎曲或裂開等. 機(jī)械和電氣性能的完整性應(yīng)能得到保持. 十環(huán)境和機(jī)械性能強(qiáng)化測(cè)試 1溫度環(huán)境測(cè)試 C第一次平臺(tái)振動(dòng)和ESD測(cè)試 本測(cè)試將第一單元32個(gè)測(cè)試件中的3個(gè)進(jìn)行ESD測(cè)試另外29個(gè)進(jìn)行平臺(tái)振動(dòng)測(cè)試.其中9個(gè)將進(jìn)行X軸振動(dòng)測(cè)試10個(gè)將進(jìn)行Y軸振動(dòng)測(cè)試, 10個(gè)將進(jìn)行Z軸振動(dòng)測(cè)試.振動(dòng)方向見附件J各測(cè)試件的分配見附件E. 應(yīng)確定固定好的測(cè)試件軸線的正方向朝向振動(dòng)平臺(tái)平面. 當(dāng)有一個(gè)或多個(gè)軸線不實(shí)用時(shí)可以采用相關(guān)的軸線. 十環(huán)境和機(jī)械性能強(qiáng)化測(cè)試 1溫度環(huán)境測(cè)試 C第一次平臺(tái)振動(dòng)和ESD測(cè)試 例如大多數(shù)蜂窩式電話

19、Z軸方向電話內(nèi)部天線使得在不結(jié)合其他軸線的情況下幾乎不可能進(jìn)行Z軸方向振動(dòng)測(cè)試.對(duì)3個(gè)ESD測(cè)試件其中2個(gè)最后轉(zhuǎn)到溫度循環(huán)環(huán)境測(cè)試另一個(gè)轉(zhuǎn)到溫濕度環(huán)境測(cè)試. 這3個(gè)測(cè)試件經(jīng)過室溫跌落測(cè)試因此預(yù)防了在ESD測(cè)試過程中測(cè)試件內(nèi)部收縮的可能性. 在以下后續(xù)老化 / 持續(xù)老化測(cè)試?yán)镞@3個(gè)測(cè)試件不要進(jìn)行防塵測(cè)試. 十環(huán)境和機(jī)械性能強(qiáng)化測(cè)試 1溫度環(huán)境測(cè)試 C第一次平臺(tái)振動(dòng)和ESD測(cè)試 C1 ESD測(cè)試 程序指定的測(cè)試件的ESD測(cè)試應(yīng)在+/-5kV 和+/-15kV下進(jìn)行在空氣中放電. 測(cè)試件應(yīng)在每個(gè)電壓和極性下在所有確定的測(cè)試位置(最多10個(gè))應(yīng)放電10次測(cè)試位置應(yīng)在設(shè)計(jì)測(cè)試初期確定設(shè)計(jì)工程師和可靠性工

20、程師應(yīng)利用歷史數(shù)據(jù)和實(shí)際產(chǎn)品的ESD測(cè)試數(shù)據(jù)以確定測(cè)試位置要說明選擇測(cè)試位置的原因 十環(huán)境和機(jī)械性能強(qiáng)化測(cè)試 1溫度環(huán)境測(cè)試 C第一次平臺(tái)振動(dòng)和ESD測(cè)試 C1 ESD測(cè)試 當(dāng)出現(xiàn)新參數(shù)可能需要改變測(cè)試位置時(shí)(如果可能)可以在測(cè)試前紀(jì)記錄下產(chǎn)品測(cè)試位置保存相關(guān)信息利用附件M記錄下測(cè)試的相關(guān)記錄記錄下各測(cè)試件以及獲得的相關(guān)數(shù)據(jù)如果測(cè)試件很明顯失去了外殼則要考慮采用附件E中備用測(cè)試件更詳細(xì)的說明請(qǐng)參考12M09158A58（class 1C和 class 3） 十環(huán)境和機(jī)械性能強(qiáng)化測(cè)試 1溫度環(huán)境測(cè)試 C第一次平臺(tái)振動(dòng)和ESD測(cè)試 C1 ESD測(cè)試 測(cè)試件應(yīng)保持待機(jī)（開機(jī)）和傳送模式（如果可能如打

21、電話）兩種狀態(tài)如果測(cè)試件有多種模式和波段則應(yīng)測(cè)試每種模式和波段的功能進(jìn)行ESD測(cè)試的選擇如下表 老化測(cè)試編號(hào)持續(xù)老化測(cè)試編號(hào)十環(huán)境和機(jī)械性能強(qiáng)化測(cè)試 1溫度環(huán)境測(cè)試 C第一次平臺(tái)振動(dòng)和ESD測(cè)試 C1 ESD測(cè)試 允收標(biāo)準(zhǔn) 通常在5KV下不允許有軟件失效在15KV下不允許有硬件失效定期測(cè)試測(cè)試件的所有功能和信號(hào)以確定測(cè)試件是否發(fā)生了軟件或硬件失效並提供失效的位置配置和放電極性在15KV下允許電池失效但5KV下不允許丟失地址本信息時(shí)間日期等都應(yīng)認(rèn)為是失效 十環(huán)境和機(jī)械性能強(qiáng)化測(cè)試 1溫度環(huán)境測(cè)試 C第一次平臺(tái)振動(dòng)和ESD測(cè)試 C1 ESD測(cè)試 允收標(biāo)準(zhǔn)如果展示品丟失地址本信息時(shí)間日期等應(yīng)重新裝配

22、后繼續(xù)測(cè)試相反如果發(fā)生鎖住的情形則不再變換或重新裝配提交的測(cè)試數(shù)據(jù)也不應(yīng)改變最后應(yīng)確認(rèn)通過測(cè)試靈敏性檢查了所有電路的功能操作 十環(huán)境和機(jī)械性能強(qiáng)化測(cè)試 1溫度環(huán)境測(cè)試 C第一次平臺(tái)振動(dòng)和ESD測(cè)試 C2第一次平臺(tái)振動(dòng)程序振動(dòng)平臺(tái)（型號(hào)BRVD-48 或等同的）應(yīng)設(shè)置為30Hz振動(dòng)位移為0.06”, 測(cè)試時(shí)間為60分鐘測(cè)試件應(yīng)放進(jìn)一個(gè)盒子以與振動(dòng)平臺(tái)剛性接觸應(yīng)保持測(cè)試件在測(cè)試過程中的方向不變測(cè)試件電源應(yīng)充滿電並處于開機(jī)狀態(tài)如果使用多個(gè)電池應(yīng)將電池混合隨機(jī)裝上測(cè)試件測(cè)試件測(cè)試平面應(yīng)貼上記號(hào)帶並用筆做好記號(hào)振動(dòng)5分鐘后檢查是否仍處于開機(jī)狀態(tài)地址本時(shí)間日期信息是否保持然后再測(cè)試55分鐘建議持續(xù)監(jiān)視起始

23、5分鐘十環(huán)境和機(jī)械性能強(qiáng)化測(cè)試 1溫度環(huán)境測(cè)試 C第一次平臺(tái)振動(dòng)和ESD測(cè)試 C2第一次平臺(tái)振動(dòng)程序更詳細(xì)的信息參考12M09174A85測(cè)試件的分配方案如下表 老化測(cè)試編號(hào)持續(xù)老化測(cè)試編號(hào)十環(huán)境和機(jī)械性能強(qiáng)化測(cè)試 1溫度環(huán)境測(cè)試 C第一次平臺(tái)振動(dòng)和ESD測(cè)試 C2第一次平臺(tái)振動(dòng)允收標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試件在前5分鐘測(cè)試后應(yīng)保持開機(jī)狀態(tài)且保留所有的地址信息記憶但在后55分鐘測(cè)試后可以允許電源關(guān)閉但不允許功能和信號(hào)失效如果測(cè)試中翻蓋閉合保護(hù)了按鍵和鏡片時(shí)還出現(xiàn)外觀質(zhì)量的降低這應(yīng)視為失效烤漆層磨穿應(yīng)視為觀察項(xiàng) 十環(huán)境和機(jī)械性能強(qiáng)化測(cè)試 1溫度環(huán)境測(cè)試 D防塵測(cè)試 防塵測(cè)試件數(shù)量為16本測(cè)試與第一單元的前半部分1

24、6個(gè)測(cè)試件的功能和信號(hào)測(cè)試同時(shí)進(jìn)行這會(huì)提高整個(gè)測(cè)試的速度這16個(gè)測(cè)試件中不應(yīng)包括C 節(jié)經(jīng)過ESD測(cè)試的測(cè)試件(測(cè)試件分配件下表) 十環(huán)境和機(jī)械性能強(qiáng)化測(cè)試 1溫度環(huán)境測(cè)試 D防塵測(cè)試 十環(huán)境和機(jī)械性能強(qiáng)化測(cè)試 1溫度環(huán)境測(cè)試 D防塵測(cè)試 程序?qū)⒅付y(cè)試件放入防塵測(cè)試室內(nèi)1小時(shí)將其中的一半翻蓋打開另一半則天線拉出分散（向上向下朝4個(gè)90度方向）擺放在支撐面上（應(yīng)是隨機(jī)的）如果測(cè)試件已有很明顯的蓋板失效則不應(yīng)進(jìn)行此測(cè)試詳細(xì)說明參考文件12M05019A87 十環(huán)境和機(jī)械性能強(qiáng)化測(cè)試 1溫度環(huán)境測(cè)試 D防塵測(cè)試 允收標(biāo)準(zhǔn) 所有動(dòng)作件均應(yīng)保持操作自由顯示屏應(yīng)保持顯示清晰 十環(huán)境和機(jī)械性能強(qiáng)化測(cè)試 1溫

25、度環(huán)境測(cè)試 E溫度循環(huán)測(cè)試（-40-75OC,45分鐘保溫,溫度變化17 OC/分鐘,88H.包括霧化循環(huán)測(cè)試.） 程序?qū)BCDE組的測(cè)試件放于機(jī)內(nèi)架子上同時(shí)在測(cè)試件周圍應(yīng)保留與測(cè)試件相等的空間測(cè)試件應(yīng)被固定以避免在測(cè)試過程中在測(cè)試件表面凝集水滴在測(cè)試過程中測(cè)試件應(yīng)有正確的電源和內(nèi)部激活的自動(dòng)開機(jī)軟件 十環(huán)境和機(jī)械性能強(qiáng)化測(cè)試 1溫度環(huán)境測(cè)試 E溫度循環(huán)測(cè)試程序由于產(chǎn)品不同詳細(xì)情況見相關(guān)12M文件這里需用到開機(jī)電線下表即為一個(gè)PCS產(chǎn)品開機(jī)程序的例子 十環(huán)境和機(jī)械性能強(qiáng)化測(cè)試 1溫度環(huán)境測(cè)試 E溫度循環(huán)測(cè)試 程序附表F提供了不同產(chǎn)品詳細(xì)的自動(dòng)開機(jī)循環(huán)程序建議和技術(shù)要求附件G為溫度循環(huán)的全過程

26、這里要求最小的溫度變化量為17 OC分鐘 允收標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行功能測(cè)試以確保所有的電氣和機(jī)械行性能在本測(cè)試完成后都得到保持不允許有失效發(fā)生 十環(huán)境和機(jī)械性能強(qiáng)化測(cè)試 1溫度環(huán)境測(cè)試 F溫濕度測(cè)試(+65OC/90%RH, 88小時(shí)) 程序?qū)GHIJ組的測(cè)試件放于測(cè)試室內(nèi)架子上不允許重疊堆放測(cè)試件應(yīng)被固定以避免在測(cè)試過程中在測(cè)試件表面凝集水滴在測(cè)試過程中測(cè)試件應(yīng)有正確的電源和內(nèi)部激活的自動(dòng)開機(jī)軟件自動(dòng)開機(jī)程序同E 允收標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行功能測(cè)試以確保所有的電氣和機(jī)械行性能在本測(cè)試完成后都應(yīng)得到保持不允許有失效發(fā)生 十環(huán)境和機(jī)械性能強(qiáng)化測(cè)試 1溫度環(huán)境測(cè)試 G第二次跌落測(cè)試 程序 第二次跌落測(cè)試程序與B第一次跌落

27、測(cè)試一樣 允收標(biāo)準(zhǔn) 與第一次跌落測(cè)試允收標(biāo)準(zhǔn)相同 十環(huán)境和機(jī)械性能強(qiáng)化測(cè)試 1溫度環(huán)境測(cè)試 H第二次平臺(tái)振動(dòng)和ESD測(cè)試 第二次平臺(tái)振動(dòng)和ESD測(cè)試與第一次有所變化同樣在29個(gè)測(cè)試件中的9個(gè)將進(jìn)行X軸振動(dòng)測(cè)試10個(gè)將進(jìn)行Y軸振動(dòng)測(cè)試, 10個(gè)將進(jìn)行Z軸振動(dòng)測(cè)試. 振動(dòng)方向見附件J各測(cè)試件的分配見附件E. 注意第二次測(cè)試應(yīng)確定固定好的測(cè)試件的軸線的負(fù)方向朝向振動(dòng)平臺(tái)平面其余同第一次 十環(huán)境和機(jī)械性能強(qiáng)化測(cè)試 1溫度環(huán)境測(cè)試 H第二次平臺(tái)振動(dòng)和ESD測(cè)試 對(duì)于ESD測(cè)試同樣3個(gè)測(cè)試件要重新進(jìn)行測(cè)試但它們都應(yīng)通過D節(jié)防塵測(cè)試其中2個(gè)應(yīng)通過F節(jié)溫濕度測(cè)試且其中一個(gè)應(yīng)通過E節(jié)溫度循環(huán)測(cè)試由于這里測(cè)試與C

28、1節(jié)靜電放電測(cè)試不同它們必須通過C2節(jié)振動(dòng)測(cè)試這里選擇的9個(gè)測(cè)試件中的8個(gè)（每個(gè)軸線方向上都有）將重復(fù)C2節(jié)振動(dòng)測(cè)試另一個(gè)則不是它將是經(jīng)過C1節(jié)靜電放電測(cè)試的 十環(huán)境和機(jī)械性能強(qiáng)化測(cè)試 1溫度環(huán)境測(cè)試 H1靜電放電測(cè)試 程序同C1節(jié)靜放電測(cè)試3個(gè)測(cè)試件分配如下表允收標(biāo)準(zhǔn)同C1節(jié)允收標(biāo)準(zhǔn) 老化測(cè)試編號(hào)持續(xù)老化測(cè)試編號(hào)十環(huán)境和機(jī)械性能強(qiáng)化測(cè)試 1溫度環(huán)境測(cè)試 H2振動(dòng)測(cè)試 程序同C2節(jié)靜放電測(cè)試測(cè)試件分配如下表允收標(biāo)準(zhǔn)同C2節(jié)允收標(biāo)準(zhǔn) 老化測(cè)試編號(hào)持續(xù)老化測(cè)試編號(hào)老化測(cè)試編號(hào)持續(xù)老化測(cè)試編號(hào)十環(huán)境和機(jī)械性能強(qiáng)化測(cè)試 1溫度環(huán)境測(cè)試 I最終參數(shù)和信號(hào)測(cè)試 程序所有兩個(gè)單元測(cè)試件應(yīng)均勻分開一半放于冷恆

29、溫箱內(nèi)另一半放于熱恆溫箱內(nèi). 所有測(cè)試件不允許重疊堆放且不供電保持至少1小時(shí)以使測(cè)試件溫度分布均勻如果是大測(cè)試件則可能需要更長(zhǎng) 時(shí)間. 再按附表N提供電源并測(cè)每個(gè)測(cè)試件擁有的每個(gè)模式每個(gè)波段的顯示通道的參數(shù). 十環(huán)境和機(jī)械性能強(qiáng)化測(cè)試 1溫度環(huán)境測(cè)試 I最終參數(shù)和信號(hào)測(cè)試 程序測(cè)試件的分配見下表 允收標(biāo)準(zhǔn) 所有參數(shù)功能和信號(hào)測(cè)試都應(yīng)進(jìn)行所有的測(cè)試件都應(yīng)達(dá)到規(guī)范要求. 十環(huán)境和機(jī)械性能強(qiáng)化測(cè)試 2機(jī)械性能測(cè)試 進(jìn)行這部分測(cè)試是証明測(cè)試產(chǎn)品保持了最低的性能水平. 它不替代產(chǎn)品的驗(yàn)証要求. 以下的 強(qiáng)化測(cè)試只是針對(duì)第K組的編號(hào)為33-40的測(cè)試件. 十環(huán)境和機(jī)械性能強(qiáng)化測(cè)試 2機(jī)械性能測(cè)試 A65O

30、C/90%RH 濕度測(cè)試 程序?qū)y(cè)試件朝上不帶電放于65OC/90%RH 的恆溫恆濕箱里保持48小時(shí)如果測(cè)試件表面有涂層則第39號(hào)測(cè)試件應(yīng)涂上一層SUNTAN油. 允收標(biāo)準(zhǔn)這是對(duì)大部分部件的老化環(huán)境測(cè)試每個(gè)部件不允許有失效產(chǎn)生. 應(yīng)粗略檢查其功能和外觀不允許有明顯的質(zhì)量降低. 十環(huán)境和機(jī)械性能強(qiáng)化測(cè)試 2機(jī)械性能測(cè)試 B抗化學(xué)溶劑測(cè)試 程序測(cè)試件(編號(hào)33-36)中將有一個(gè)暴露在”生物化學(xué)和表面油”化學(xué)強(qiáng)化環(huán)境下(見12M09175A70)一段時(shí)間以模擬其影響每個(gè)測(cè)試件都將用油酸弄濕的擦布擦一遍并用干的擦布擦干淨(jìng). 暴露測(cè)試完后應(yīng)繼續(xù)進(jìn)行1小時(shí)的擠壓測(cè)試. 應(yīng)按順序進(jìn)行測(cè)試以防止重復(fù)測(cè)試. 十

31、環(huán)境和機(jī)械性能強(qiáng)化測(cè)試 2機(jī)械性能測(cè)試 B抗化學(xué)溶劑測(cè)試 允收標(biāo)準(zhǔn)本測(cè)試完成后應(yīng)進(jìn)行所有的功能和信號(hào)測(cè)試. 另外粗略檢查其外觀應(yīng)無任何塑料破碎標(biāo)簽或涂層表層脫落或分層或者涂層質(zhì)量降低(如果有涂層). 十環(huán)境和機(jī)械性能強(qiáng)化測(cè)試 2機(jī)械性能測(cè)試 C擠壓測(cè)試 程序化學(xué)強(qiáng)化測(cè)試（2B節(jié))后的測(cè)試件(編號(hào)33-36)將會(huì)經(jīng)過1000次循環(huán)擠壓測(cè)試. 如果可能測(cè)試過程中測(cè)試件應(yīng)裝有電池(不必帶電)通常應(yīng)用最輕最薄的電池正確的設(shè)置和操作程序見12M09175A65. 測(cè)試件方向分配如下 十環(huán)境和機(jī)械性能強(qiáng)化測(cè)試 2機(jī)械性能測(cè)試 C擠壓測(cè)試 程序第3334號(hào)翻蓋面朝上長(zhǎng)方向平行于tampo頭部長(zhǎng)方向(垂直于吊

32、床長(zhǎng)度方向) 第3536號(hào)翻蓋面朝下長(zhǎng)方向平行于tampo頭部長(zhǎng)度方向(垂直于吊床長(zhǎng)度方向) 持續(xù)老化測(cè)試的第11121314號(hào)應(yīng)分別 同上述第33343536號(hào)一樣進(jìn)行測(cè)試. 翻蓋測(cè)試應(yīng)在擠壓測(cè)試完成后2小時(shí)內(nèi)進(jìn)行. 十環(huán)境和機(jī)械性能強(qiáng)化測(cè)試 2機(jī)械性能測(cè)試 C擠壓測(cè)試 允收標(biāo)準(zhǔn)本測(cè)試完成后應(yīng)進(jìn)行所有的功能和信號(hào)測(cè)試. 不允許有任何功能和機(jī)械性能失效的外部可視標(biāo)記. 可參考12M09175A65的”1次循環(huán)擠壓測(cè)試”中關(guān)于擠壓測(cè)試失效的判定.十環(huán)境和機(jī)械性能強(qiáng)化測(cè)試 2機(jī)械性能測(cè)試 D翻蓋測(cè)試 程序擠壓測(cè)試后的測(cè)試件(編號(hào)33-36)將被裝到夾具上模擬翻蓋的循環(huán)動(dòng)作. 循環(huán)次數(shù)為3500次(

33、參考12M09182A40). 進(jìn)行翻蓋測(cè)試和下節(jié)跌落測(cè)試的時(shí)間間隔應(yīng)小于24小時(shí). 允收標(biāo)準(zhǔn)本測(cè)試完成后應(yīng)進(jìn)行所有的功能 和信號(hào)測(cè)試. 所有的機(jī)構(gòu)件均應(yīng)保持工作正 常不允許有任何鎖住破裂或塑料裂開. 十環(huán)境和機(jī)械性能強(qiáng)化測(cè)試 2機(jī)械性能測(cè)試 E跌落測(cè)試 程序翻蓋測(cè)試后的測(cè)試件(編號(hào)33-36)將進(jìn)行手工跌落測(cè)試跌落面為平整混泥土面每次測(cè)試一個(gè)面每個(gè)測(cè)試件測(cè)試6次. 如果測(cè)試件有翻蓋則第3335號(hào)測(cè)試件跌落時(shí)應(yīng)打開翻蓋第3436號(hào)則盒上翻蓋. 對(duì)于CALT測(cè)試則第111213號(hào)與第3335號(hào)一樣第14號(hào)與第3436號(hào)一樣. 允收標(biāo)準(zhǔn)本測(cè)試完成后應(yīng)進(jìn)行所有功能和信號(hào)測(cè)試. 所有機(jī)構(gòu)件均應(yīng)工作正常

34、并有可接受的外觀. 十環(huán)境和機(jī)械性能強(qiáng)化測(cè)試 2機(jī)械性能測(cè)試 F按鍵測(cè)試 程序?qū)⒓?7-40在夾具上固定按順序在每個(gè)按鍵上施加3lb力完整的測(cè)試需施加15,000次/鍵. 測(cè)試時(shí)需開機(jī)因此在整個(gè)測(cè)試過程中可能需要電源供應(yīng) 正確的設(shè)置和測(cè)試程序參考12M09175A68 允收標(biāo)準(zhǔn)本測(cè)試完成后應(yīng)進(jìn)行所有功能和信號(hào)測(cè)試應(yīng)用人工或自動(dòng)測(cè)試設(shè)備監(jiān)視測(cè)試件的狀態(tài)以獲得更多的產(chǎn)品信息. 測(cè)試件電源關(guān)閉或有意外的電流變化都應(yīng)認(rèn)為是失效并做記錄. 不允許有任何功能和機(jī)械性能失效的外部可視標(biāo)記 十環(huán)境和機(jī)械性能強(qiáng)化測(cè)試 2機(jī)械性能測(cè)試 G天線測(cè)試 程序?qū)y(cè)試件(編號(hào)38-39)將進(jìn)行1,000 次末端彎曲循環(huán)測(cè)試

35、正確的設(shè)置和測(cè)試程序參考12M09181A10. 允收標(biāo)準(zhǔn)本測(cè)試完成后應(yīng)進(jìn)行所有功能和信號(hào)測(cè)試. 不允許有任何功能和機(jī)械性能失效的外部可視標(biāo)記. 天線彎曲和扭轉(zhuǎn)不應(yīng)引起內(nèi)部天線組件以外的零部件的相對(duì)位移如果懷疑有質(zhì)量降低發(fā)生應(yīng)進(jìn)一步檢查封裝天線如果零件使用初次材料任何在初始檢查中認(rèn)可的觀察項(xiàng)應(yīng)清除 十環(huán)境和機(jī)械性能強(qiáng)化測(cè)試 2機(jī)械性能測(cè)試 H涂層測(cè)試 程序?qū)⒌?0號(hào)測(cè)試件將進(jìn)行涂層測(cè)試參考ES04-181(REV.A)涂層區(qū)域應(yīng)暴露在MEK下2分鐘 允收標(biāo)準(zhǔn)本測(cè)試完成后應(yīng)無任何証據(jù)表明MEK已經(jīng)在2分鐘內(nèi)穿透涂層這些証據(jù)為涂層冒泡起皺或分解 十環(huán)境和機(jī)械性能強(qiáng)化測(cè)試 2機(jī)械性能測(cè)試 I選擇測(cè)試

36、項(xiàng)(并非每批都要測(cè)試) I1圖像靈敏性測(cè)試 程序第37號(hào)測(cè)試件應(yīng)按12M05004D18要求測(cè)試其圖像靈敏性利用光照可能會(huì)引起封裝電路的光電反應(yīng)光照強(qiáng)度應(yīng)為9170 830 燭光英尺顯示屏必須垂直光束並有盡可能多的像素建議使用的字符為“8WM8WM8WM8WM8WM”光照時(shí)間為5秒 十環(huán)境和機(jī)械性能強(qiáng)化測(cè)試 2機(jī)械性能測(cè)試 I選擇測(cè)試項(xiàng)(并非每批都要測(cè)試) I1圖像靈敏性測(cè)試 程序本測(cè)試應(yīng)在產(chǎn)品首次送檢時(shí)測(cè)試以后每5批測(cè)一次測(cè)試失效為原型產(chǎn)品驗(yàn)証提供預(yù)警對(duì)持續(xù)老化測(cè)試應(yīng)每批測(cè)試1件 允收標(biāo)準(zhǔn)本測(cè)試完成后不允許有任何功能失效任何失效都應(yīng)記錄在老化數(shù)據(jù)表上作為觀察項(xiàng) 十環(huán)境和機(jī)械性能強(qiáng)化測(cè)試 2機(jī)

37、械性能測(cè)試 I選擇測(cè)試項(xiàng)(并非每批都要測(cè)試) I2鏡片耐刮測(cè)試 （見12M09176A66） 程序第37號(hào)測(cè)試件將進(jìn)行鏡片的耐刮性測(cè)試（見12M09176A66）如“鋼絲絨耐括測(cè)試“和“鉛筆硬度測(cè)試“本測(cè)試應(yīng)在產(chǎn)品首次送檢測(cè)試以后則每5批測(cè)一次測(cè)試失效則為原型產(chǎn)品驗(yàn)証提供預(yù)警 允收標(biāo)準(zhǔn)鏡片硬度應(yīng)大于5H能承受20次鋼絲絨耐括磨損關(guān)于失效等級(jí)的判定任何失效都應(yīng)記錄在數(shù)據(jù)表上作為觀察項(xiàng) 十環(huán)境和機(jī)械性能強(qiáng)化測(cè)試 2機(jī)械性能測(cè)試 I選擇測(cè)試項(xiàng)(并非每批都要測(cè)試) I3按鍵標(biāo)簽和塗層的耐磨耗測(cè)試 程序第37號(hào)測(cè)試件將進(jìn)行按鍵標(biāo)簽和塗層的耐磨耗測(cè)試見ES04194.REV.A）本測(cè)試應(yīng)在產(chǎn)品的首次送檢時(shí)

38、測(cè)試以后則每5批測(cè)一次測(cè)試失效則為原型產(chǎn)品驗(yàn)証提供預(yù)警 允收標(biāo)準(zhǔn)耐磨材料應(yīng)能承受酬40次循環(huán)磨損（見ES04194）任何失效都應(yīng)記錄作為觀察項(xiàng)十環(huán)境和機(jī)械性能強(qiáng)化測(cè)試 2機(jī)械性能測(cè)試 I選擇測(cè)試項(xiàng)(并非每批都要測(cè)試) I4球沖擊測(cè)試 程序第37號(hào)測(cè)試件應(yīng)能承受所有球跌落沖擊測(cè)試（見12M09176A22）測(cè)試跌落高度應(yīng)按規(guī)范要求不要求在同一個(gè)位置進(jìn)行多種跌落測(cè)試也不可能逐漸增加力量同一個(gè)測(cè)試件將在幾個(gè)位置測(cè)試所以在測(cè)試完成后應(yīng)注意測(cè)試該測(cè)試件本測(cè)試應(yīng)在產(chǎn)品的首次送檢時(shí)測(cè)試以后則每5批測(cè)一次測(cè)試失效則為原型產(chǎn)品驗(yàn)証提供預(yù)警十環(huán)境和機(jī)械性能強(qiáng)化測(cè)試 2機(jī)械性能測(cè)試 I選擇測(cè)試項(xiàng)(并非每批都要測(cè)試)

39、 I4球沖擊測(cè)試 允收標(biāo)準(zhǔn) 如果有翻蓋保護(hù)鏡片中央和顯示屏周圍應(yīng)能承受25厘米球的跌落如果沒有翻蓋保護(hù)鏡片中央和顯示屏周圍應(yīng)能承受50厘米球的跌落在測(cè)試完成后應(yīng)進(jìn)行完全的功能和信號(hào)測(cè)試任何失效都應(yīng)記錄在ALT數(shù)據(jù)表上作為觀察項(xiàng) 十環(huán)境和機(jī)械性能強(qiáng)化測(cè)試 2機(jī)械性能測(cè)試 J一般檢查 程序 檢查每個(gè)測(cè)試件的外觀任何傷痕蓋板劃傷或變形都應(yīng)記為失效項(xiàng) K最終參數(shù)和信號(hào)測(cè)試 所有測(cè)試件都回到主流程測(cè)試見I 十一最終檢驗(yàn) 最終檢驗(yàn)為檢查外部檢測(cè)不到的項(xiàng)目包括內(nèi)部劃傷松動(dòng)和零件丟失標(biāo)記弄髒或有異物和潛在的與裝配相關(guān)的項(xiàng)目 十一最終檢驗(yàn) 1最后環(huán)境檢驗(yàn) 至少拆裝4件測(cè)試件（分別來自BDEF組）這應(yīng)在干淨(jìng)的有光

40、照的環(huán)境裏進(jìn)行這樣能夠看到任何松動(dòng)的零件或小的塑料碎片如有拆裝前未被發(fā)現(xiàn)的嚴(yán)重項(xiàng)目會(huì)引起最終的故障和性能降低應(yīng)被列為附加失效項(xiàng)小的項(xiàng)目應(yīng)被列入產(chǎn)品文件裏 十一最終檢驗(yàn) 2最后機(jī)械性能檢驗(yàn) 經(jīng)過機(jī)械性能的測(cè)試的8個(gè)測(cè)試件將被拆裝與上述第1節(jié)提到的相似的項(xiàng)目應(yīng)被注意特別是本檢驗(yàn)將側(cè)重于由擠壓和按鍵測(cè)試引起的的與焊接相關(guān)的疲勞失效進(jìn)行過失效分析培訓(xùn)的人將負(fù)責(zé)本測(cè)試 十二維修和替代方針 預(yù)測(cè)產(chǎn)品的失效率需要知道測(cè)試時(shí)期裝置的使用時(shí)數(shù)為最大化老化測(cè)試時(shí)裝置的使用時(shí)數(shù)失效產(chǎn)品應(yīng)盡快維修以重新進(jìn)行測(cè)試但是維修的緊急性將隨失效項(xiàng)種類變化嚴(yán)重的失效式應(yīng)首先維修那些只是讓消費(fèi)者不舒服而不影響使用和后續(xù)測(cè)試的失效項(xiàng)可以不必維修在一些情況下如對(duì)缺陷材料進(jìn)行失效分析和糾正措施時(shí)這些失效項(xiàng)也應(yīng)進(jìn)行維修 十二維修和替代方針 1取消老化測(cè)試 如果有超過25的測(cè)試件需要維修應(yīng)暫停老化測(cè)試直到重新有足夠的測(cè)試件時(shí)再重新測(cè)試或經(jīng)老化測(cè)試經(jīng)理同意終止測(cè)試 十二維修和替代方針 2損失日數(shù)（老化測(cè)試失效率計(jì)算） 如果測(cè)試件已不能進(jìn)行ALT測(cè)試那么應(yīng)計(jì)算損失的裝置日數(shù)並從總的裝置日數(shù)裏減去以計(jì)算ALT失效率對(duì)于少數(shù)測(cè)試件錯(cuò)過短時(shí)間測(cè)試這結(jié)果是預(yù)測(cè)