(完整版)無(wú)損檢測(cè)超聲波檢測(cè)二級(jí)(UT)試題庫(kù)帶答案

1、無(wú)損檢測(cè)超聲波試題（UT二級(jí)）一、是非題1.1受迫振動(dòng)的頻率等于策動(dòng)力的頻率。V1.2波只能在彈性介質(zhì)中產(chǎn)生和傳播。X（應(yīng)該是機(jī)械波）由于機(jī)械波是由機(jī)械振動(dòng)產(chǎn)生的，所以波動(dòng)頻率等于振動(dòng)頻率。V由于機(jī)械波是由機(jī)械振動(dòng)產(chǎn)生的，所以波長(zhǎng)等于振幅。X傳聲介質(zhì)的彈性模量越大，密度越小，聲速就越高。V1.6材料組織不均勻會(huì)影響聲速，所以對(duì)鑄鐵材料超聲波探傷和測(cè)厚必須注意這一問(wèn)題。V一般固體介質(zhì)中的聲速隨溫度升高而增大。X1.8由端角反射率試驗(yàn)結(jié)果推斷，使用Kl,5的探頭探測(cè)單面焊焊縫根部未焊透缺陷，靈敏度較低，可能造成漏檢。V超聲波擴(kuò)散衰減的大小與介質(zhì)無(wú)關(guān)。V超聲波的頻率越高，傳播速度越快。X介質(zhì)能傳播橫

2、波和表面波的必要條件是介質(zhì)具有切變彈性模量。V頻率相同的縱波，在水中的波長(zhǎng)大于在鋼中的波長(zhǎng)。X既然水波能在水面?zhèn)鞑ィ敲闯暠砻娌ㄒ材苎匾后w表面?zhèn)鞑?。X1.14因?yàn)槌暡ㄊ怯蓹C(jī)械振動(dòng)產(chǎn)生的，所以超聲波在介質(zhì)中的傳播速度即為質(zhì)點(diǎn)的振動(dòng)速度。X1.15如材質(zhì)相同，細(xì)鋼棒（直徑Z1的界面時(shí)，聲壓透過(guò)率大于1,說(shuō)明界面有增強(qiáng)聲壓的作用。X1.35超聲波垂直入射到異質(zhì)界時(shí)，聲壓往復(fù)透射率與聲強(qiáng)透射率在數(shù)值上相等。V1.36超聲波垂直入射時(shí)，界面兩側(cè)介質(zhì)聲阻抗差愈小，聲壓往復(fù)透射率愈低。X1.37當(dāng)鋼中的氣隙（如裂紋）厚度一定時(shí)，超聲波頻率增加，反射波高也隨著增加。V（聲壓反射率也隨頻率增加而增加）超聲波

3、傾斜入射到異質(zhì)界面時(shí)，同種波型的反射角等于折射角。X超聲波傾斜入射到異質(zhì)界面時(shí)，同種波型的折射角總大于入射角。1.40超聲波以10角入射至水/鋼界面時(shí)，反射角等于10。V1.41超聲波入射至鋼/水界面時(shí)，第一臨界角約為14.5。X（水/鋼界面時(shí)，al=14.5；鋼/水界面不存在第一臨界角一說(shuō)，因?yàn)闄M波不在水中傳播）1.42第二介質(zhì)中折射的橫波平行于界面時(shí)的縱波入射角為第一臨界角。X如果有機(jī)玻璃/鋁界面的第一臨界角大于有機(jī)玻璃/鋼界面第一臨界角，則前者的第二臨界角也一定大于后者。X（鋁的縱波速度鋼的縱波速度，鋁的橫波速度鋼的橫波速度）只有當(dāng)?shù)谝唤橘|(zhì)為固體介質(zhì)時(shí)，才會(huì)有第三臨界角。V橫波斜入射至鋼

4、，空氣界面時(shí)，入射角在30左右時(shí)，橫波聲壓反射率最低。V1.46超聲波入射到C1VC2的凹曲面時(shí)，其透過(guò)波發(fā)散。X（聚焦）1.47超聲波入射到C1C2的凸曲面時(shí)，其透過(guò)波集聚。V1.48以有機(jī)玻璃作聲透鏡的水浸聚焦探頭，有機(jī)玻璃/水界面為凹曲面。X（水浸聚焦探頭就是利用平面波入射到C1C2的凸曲面上）1.49介質(zhì)的聲阻抗愈大，引起的超聲波的衰減愈嚴(yán)重。X（成反比）1.50聚焦探頭輻射的聲波，在材質(zhì)中的衰減小X（衰減大，因?yàn)榫劢固筋^有涉及發(fā)散波）1.51超聲波探傷中所指的衰減僅為材料對(duì)聲波的吸收作用。X1.52超聲平面波不存在材質(zhì)衰減。X（不存在擴(kuò)散衰減）2.1超聲波頻率越高，近場(chǎng)區(qū)的長(zhǎng)度也就越

5、大V（個(gè)人感覺(jué)答案有錯(cuò)，沒(méi)有前提無(wú)法對(duì)比）對(duì)同一個(gè)直探頭來(lái)說(shuō)，在鋼中的近場(chǎng)長(zhǎng)度比在水中的近場(chǎng)長(zhǎng)度大。XTOC o 1-5 h z聚焦探頭的焦距應(yīng)小于近場(chǎng)長(zhǎng)度。V探頭頻率越高，聲束擴(kuò)散角越小。V超聲波探傷的實(shí)際聲場(chǎng)中的聲束軸線上不存在聲壓為零的點(diǎn)。V聲束指向性不僅與頻率有關(guān)，而且與波型有關(guān)。V超聲波的波長(zhǎng)越長(zhǎng)，聲束擴(kuò)散角就越大，發(fā)現(xiàn)小缺陷的能力也就越強(qiáng)。X因?yàn)槌暡〞?huì)擴(kuò)散衰減，所以檢測(cè)應(yīng)盡可能在其近場(chǎng)區(qū)進(jìn)行。X因?yàn)榻鼒?chǎng)區(qū)內(nèi)有多個(gè)聲壓變?yōu)榱愕狞c(diǎn)，所以探傷時(shí)近場(chǎng)區(qū)缺陷往往會(huì)漏檢。X如超聲波頻率不變，晶片面積越大，超聲波的近場(chǎng)長(zhǎng)度越短。X面積相同，頻率相同的圓晶片和方晶片，超聲場(chǎng)的近場(chǎng)長(zhǎng)度一樣長(zhǎng)。V面

6、積相同，頻率相同的到晶片和方晶片，其聲束指向角亦相同。X超聲場(chǎng)的近場(chǎng)長(zhǎng)度愈短，聲束指向性愈好。X聲波輻射的超聲波的能量主要集中在主聲束內(nèi)。V2.15聲波輻射的超聲波，總是在聲束中心軸線上的聲壓為最高。X（近場(chǎng)區(qū)內(nèi)軸線上的聲壓不一定最高）2.16探傷采用低頻是為了改善聲束指向性，提高探傷靈敏度。X（應(yīng)是提高頻率）2.17超聲場(chǎng)中不同橫截面上的聲壓分布規(guī)律是一致的。X（近場(chǎng)區(qū)與遠(yuǎn)場(chǎng)區(qū)各橫截面上聲壓分布不同）在超聲場(chǎng)的未擴(kuò)散區(qū)，可將聲源輻射的超聲波看成平面波，平均聲壓不隨距離增加而改變。V斜角探傷橫波聲場(chǎng)中假想聲源的面積大于實(shí)際聲源面積。X頻率和晶片尺寸相同時(shí)，橫波聲束指向性比縱波好。V圓晶片斜探頭

7、的上指向角小于下指向角。X如斜探頭入射點(diǎn)到晶片的距離不變，入射點(diǎn)到假想聲源的距離隨入射角的增加而減小。V200mm處4長(zhǎng)橫孔的回波聲壓比100mm處2長(zhǎng)橫孔的回波聲壓低。V球孔的回波聲壓隨距離的變化規(guī)律與平底孔相同。V同聲程理想大平面與平底孔回波聲壓的比值隨頻率的提高而減小。V2.26軸類工件外圓徑向探傷時(shí)，曲底面回波聲壓與同聲程理想大平面相同。V2.27對(duì)空心圓柱體在內(nèi)孔探傷時(shí)，曲底面回波聲壓比同聲程大平面低。X3.1超聲波探傷中，發(fā)射超聲波是利用正壓電效應(yīng)，接收超聲波是利用逆壓電效應(yīng)。X3.2增益100dB就是信號(hào)強(qiáng)度放大100倍。X（調(diào)節(jié)增益作用是改變接收放大器的放大倍數(shù)）3.3與鋯鈦酸

8、鉛相比，石英作為壓電材料性能穩(wěn)定、機(jī)電耦合系數(shù)高、壓電轉(zhuǎn)換能量損失小等優(yōu)點(diǎn)。X與普通探頭相比，聚焦探頭的分辨力較高。V使用聚焦透鏡能提高靈敏度和分辨力，但減小了探測(cè)范圍。V3.6點(diǎn)聚焦探頭比線聚焦探頭靈敏度高。V3.7雙晶探頭只能用于縱波檢測(cè)。XB型顯示能夠展現(xiàn)工件內(nèi)缺陷的埋藏深度。VC型顯示能展現(xiàn)工件中缺陷的長(zhǎng)度和寬度，但不能展現(xiàn)深度。V通用AVG曲線采用的距離是以近場(chǎng)長(zhǎng)度為單位的歸一化距離，適用于不同規(guī)格的探頭。V在通用AVG曲線上，可直接查得缺陷的實(shí)際聲程和當(dāng)量尺寸。XA型顯示探傷儀，利用DGS曲線板可直觀顯示缺陷的當(dāng)量大小和缺陷深度。V電磁超聲波探頭的優(yōu)點(diǎn)之一是換能效率高，靈敏度高。X

9、3.14多通道探傷儀是由多個(gè)或多對(duì)探頭同時(shí)工作的探傷儀X（應(yīng)是交替工作）探傷儀中的發(fā)射電路亦稱為觸發(fā)電路。X（同步電路又稱觸發(fā)電路）探傷儀中的發(fā)射電路亦可產(chǎn)生幾百伏到上千伏的電脈沖去激勵(lì)探頭晶片振動(dòng)。V3.17探傷儀的掃描電路即為控制探頭在工件探傷面上掃查的電路。X（掃描電路又稱時(shí)基電路，用來(lái)產(chǎn)生鋸齒波電壓施加到示波管水平偏轉(zhuǎn)板上，產(chǎn)生一條水平掃描時(shí)基線）3.18探傷儀發(fā)射電路中的阻尼電阻的阻值愈大，發(fā)射強(qiáng)度愈弱。X（改變阻尼是調(diào)節(jié)發(fā)射脈沖的電壓幅度和脈沖寬度，阻值越大，發(fā)射強(qiáng)度越強(qiáng)，發(fā)射聲能越多，分辨力越小。）3.19調(diào)節(jié)探傷儀“深度細(xì)調(diào)”旋鈕時(shí)，可連續(xù)改變掃描線掃描速度V（從而使熒光屏上回

10、波間距大幅度地壓縮或擴(kuò)展）調(diào)節(jié)探傷儀“抑制”旋鈕時(shí)，抑制越大，儀器動(dòng)態(tài)范圍越大。X調(diào)節(jié)探傷儀“延遲”旋鈕時(shí)，掃描線上回波信號(hào)間的距離也將隨之改變。X3.22不同壓電晶體材料中聲速不一樣，因此不同壓電材料的頻率常數(shù)也不相同。V不同壓電材料的頻率常數(shù)不一樣，因此用不同壓電材料制作的探頭其標(biāo)稱頻率才能相同。X3.24壓電晶片的壓電應(yīng)變常數(shù)（d33）大，貝V說(shuō)明該晶片接收性能好X（壓電應(yīng)變常數(shù)d33大，發(fā)射性能好，發(fā)射靈敏度高）3.25壓電晶片的壓電電壓常數(shù)（g33）大，剛說(shuō)明該晶片接收性能好V（則接收靈敏度就高）3.26探頭中壓電晶片背面加吸收塊是為了提高機(jī)械品質(zhì)因素Qm,減少機(jī)械能損耗。X（加吸收

11、塊是為了減小機(jī)械品質(zhì)因素，Qm小就表示損耗大，脈沖寬度小，分辨率高）3.27工件表面比較租糙時(shí)，為防止探頭磨損和保護(hù)晶片，宜選用硬保護(hù)膜。X3.28斜探頭楔塊前部和上部開(kāi)消聲槽的目的是使聲波反射回晶片處，減少聲能損失。X（目的是為了減少雜波）3.29由于水中只能傳插縱波，所以水浸探頭只能進(jìn)行縱波探傷。X雙晶直探頭傾角越大，交點(diǎn)離探測(cè)面距離愈遠(yuǎn)復(fù)蓋區(qū)愈大。X有機(jī)玻璃聲透鏡水浸聚焦探頭，透鏡曲率半徑愈大，焦距愈大。V3.32利用IIW試塊上50mm孔與兩側(cè)面的距離，僅能測(cè)定直探頭盲區(qū)的大致范圍。V3.33當(dāng)斜探頭對(duì)準(zhǔn)IIW2試塊上R5曲面時(shí)，熒光屏上的多次反射回波是等距離的。X中心切槽的半圓試塊，

12、其反射特點(diǎn)是多次回波總是等距離出現(xiàn)。V3.35與IIW試塊相比CSK-IA試塊的優(yōu)點(diǎn)之一是可以測(cè)定斜探頭分辨力。V3.36調(diào)節(jié)探傷儀的“水平”旋鈕，將會(huì)改變儀器的水平線性。X（調(diào)節(jié)水平旋鈕只是使掃描線連掃描線上的回波一起左右移動(dòng)一段距離，但不改變回波間距，故也不會(huì)改變水平線性）3.37測(cè)定儀器的“動(dòng)態(tài)范圈”時(shí)，應(yīng)將儀器的“抑制”、“深度補(bǔ)償”旋鈕置于“關(guān)”的位置。V3.38盲區(qū)與始波寬度是同一概念。X（盲區(qū)是指從檢測(cè)面到能夠發(fā)現(xiàn)缺陷的最小距離，盲區(qū)的大小與儀器的阻塞時(shí)間和始脈沖寬度有關(guān)）3.39測(cè)定組合靈敏度時(shí)，可先調(diào)節(jié)儀器的“抑制”旋鈕，使電噪聲電平10%，再進(jìn)行測(cè)試。X3.40測(cè)定“始波寬

13、度”對(duì)，應(yīng)將儀器的靈敏度調(diào)至最大。X（靈敏度應(yīng)調(diào)到標(biāo)準(zhǔn)“0”點(diǎn)）3.41為提高分辨力，在滿足探傷靈敏度要求情況下，儀器的發(fā)射強(qiáng)度應(yīng)盡量調(diào)得低一些。V在數(shù)字化智能超聲波探傷儀中，脈沖重復(fù)頻率又稱為采樣頻率。X雙晶探頭主要用于近表面缺陷的探測(cè)。V3.44溫度對(duì)斜探頭折射角有影響，當(dāng)溫度升高對(duì)，折射角將變大。V3.45日前使用最廣泛的測(cè)厚儀是共振式測(cè)厚儀。X（應(yīng)是脈沖反射式測(cè)厚儀）3.46在鋼中折射角為60。的斜探頭，用于探測(cè)鋁時(shí)，其折射角將變大。X（斜探頭在鋼中折射角為橫波折射角，鋁的橫波折射角比鋼的小）3.47“發(fā)射脈沖寬度”就是指發(fā)射脈沖的持續(xù)時(shí)間。V3.48軟保護(hù)膜探頭可減少粗糙表面對(duì)探傷的

14、影響。V3.49脈沖反射式和穿透式探傷，使用的探頭是同一類型的X（穿透式探傷的探頭發(fā)射的是連續(xù)波）3.50聲束指向角較小且聲柬截面較窄的探頭稱作窄脈沖探頭。X在液浸式檢測(cè)中，返回探頭的聲能還不到最初值的1%。V垂直探傷時(shí)探傷面的粗糙度對(duì)反射波高的影響比斜角探傷嚴(yán)重。V超聲脈沖通過(guò)材料后，其中心頻率將變低。V串列法探傷適用于檢查垂直于探測(cè)面的平面缺陷。V“靈敏度”意味著發(fā)現(xiàn)小缺陷的能力，因此超聲波探傷靈敏度越高越好。X（靈敏度太高雜波多）所謂“幻影回波”，是由于探傷頻率過(guò)高或材料晶粒粗大引起的。X（原因是重復(fù)頻率過(guò)高）4.7當(dāng)量法用來(lái)測(cè)量大于聲束截面的缺陷的尺寸。X（當(dāng)量法適用于面積小于截面的缺

15、陷尺寸評(píng)定）半波高度法用來(lái)測(cè)量小于聲束截面的缺陷的尺寸。X串列式雙探頭法探傷即為穿透法X厚焊縫采用串列法掃查時(shí)，如焊縫余高磨平，則不存在死區(qū)。X（上下表面都存在盲區(qū)）曲面工件探傷時(shí)，探傷面曲率半徑愈大，耦合效果愈好。V4.12實(shí)際探傷中，為提高掃查速度減少雜波的干擾，應(yīng)將探傷靈敏度適當(dāng)降低X（可以采用更換探頭方法來(lái)鑒別探頭雜波）采用當(dāng)量法確定的缺陷尺寸一般小于缺陷的實(shí)際尺寸。V4.14只有當(dāng)工件中缺陷在各個(gè)方向的尺寸均大于聲束截面時(shí)，才能采用測(cè)長(zhǎng)法確定缺陷長(zhǎng)度X（測(cè)長(zhǎng)法適用于面積大于聲束截面或長(zhǎng)度大于聲束截面直徑的缺陷的評(píng)定）絕對(duì)靈敏度法測(cè)量缺陷指示長(zhǎng)度時(shí)，測(cè)長(zhǎng)靈敏度高，測(cè)得的缺陷長(zhǎng)度大。V當(dāng)

16、工件內(nèi)存在較大的內(nèi)應(yīng)力時(shí)，將使超聲被的傳播速度及方向發(fā)生變化。V超聲波傾斜入射至缺陷表面時(shí)，缺陷反射波高隨入射角的增大而增高。X5.1鋼板探傷時(shí)，通常只根據(jù)缺陷波情況判定缺陷。X（還可根據(jù)底波衰減情況來(lái)判定缺陷）5.2當(dāng)鋼板中缺陷大于聲束截面時(shí)，由于缺陷多次反射波互相干涉容易出現(xiàn)“疊加效應(yīng)”。X（超聲波脈沖相對(duì)于薄層較窄時(shí)，薄層兩側(cè)的各次反射波、透射波互不干涉，當(dāng)鋼板中缺陷大于聲束截面時(shí)同理）厚鋼板探傷中，若出現(xiàn)缺陷的多次反射波，說(shuō)明缺陷的尺寸一定較大。V5.4較薄鋼板采用底波多次法探傷時(shí)，如出現(xiàn)“疊加效應(yīng)”，說(shuō)明鋼板中缺陷尺寸一定很大。X復(fù)合鋼扳探傷時(shí)，可從母材一側(cè)探傷，也可從復(fù)合材料一側(cè)探

17、傷。V5.6用板波法探測(cè)厚度5mm以下薄鋼板時(shí)，不僅能檢出內(nèi)部缺陷，同時(shí)能檢出表面缺陷。V鋼管水浸聚焦法探傷時(shí)，不宜采用線聚焦探頭探測(cè)較短缺陷。V5.8采用水浸聚焦探頭檢驗(yàn)鋼管時(shí)，聲透鏡的中心部分厚度應(yīng)為k/2的整數(shù)倍。V5.9鋼管作手工接觸法周向探傷時(shí)，應(yīng)從順、逆時(shí)針兩個(gè)方向各探傷一次。V5.10鋼管水浸探傷時(shí)，水中加入適量活性劑是為了調(diào)節(jié)水的聲阻抗，改善透聲性。X（為了增強(qiáng)水對(duì)鋼管表面的潤(rùn)濕作用）5.11鋼管水浸探傷時(shí)，如鋼管中無(wú)缺陷，熒光屏上只有始波和界面波。V用斜探頭對(duì)大口徑鋼管作接觸法周向探傷時(shí)，其跨距比同厚度平板大。V對(duì)軸類鍛件探傷，一般來(lái)說(shuō)以縱波直探頭從徑向探測(cè)效果最佳。V使用斜

18、探頭對(duì)軸類鍛件作圓柱面軸向探測(cè)時(shí)，探頭應(yīng)采用正反兩個(gè)方向掃查。V對(duì)餅形鍛件，采用直探頭作徑向探測(cè)是最佳的探傷方法。X6.4調(diào)節(jié)鍛件探傷靈敏度的底波法，其含義是鍛件掃查過(guò)程中依據(jù)底波變化情況評(píng)定鍛件質(zhì)量等級(jí)。X（應(yīng)是根據(jù)缺陷回波情況評(píng)定質(zhì)量等級(jí)）6.5鍛件探傷中，如缺陷引起底波明顯下降或消失時(shí)，說(shuō)明鍛件中存在較嚴(yán)重的缺陷。V6.6鍛件探傷時(shí)，如缺陷被探傷人員判定為白點(diǎn).則應(yīng)按密集缺陷評(píng)定鍛件等級(jí)。X鑄鋼件超聲波探傷，一般以縱波直探頭為主。V7.1焊縫橫波探傷中，裂紋等危害性缺陷的反射波輻一般很高。V7.2焊縫橫波探傷時(shí)，如采用直射法，可不考慮結(jié)構(gòu)反射，變型波等干擾同波的影響。X采用雙探頭串列法掃

19、查焊縫時(shí)，位于焊縫深度方向任何部位的缺陷，其反射波均出現(xiàn)在熒光屏上同位置。V7.4焊縫探傷所用斜探頭，當(dāng)楔塊底面前部磨損較大時(shí)，其K值將變小。V7.5焊縫橫波探傷時(shí)常采用液態(tài)耦合劑，說(shuō)明橫渡可以通過(guò)液態(tài)介質(zhì)薄層。X7.6當(dāng)焊縫中的缺陷與聲束成一定角度時(shí)，探測(cè)頻率較高時(shí)，缺陷回波不易被探頭接收。V7.7窄脈沖聚焦探頭的優(yōu)點(diǎn)是能量集中，穿透力強(qiáng)，所以適合于奧氏體鋼焊縫檢測(cè)X(聚焦探頭的優(yōu)點(diǎn)是聲束細(xì)，靈敏度高，信噪比高)一股不采用從堆焊層一側(cè)探測(cè)的方法檢測(cè)堆焊層缺陷。V鋁焊縫探傷應(yīng)選用較高頻率的橫波專用斜探頭。V裂縫探傷中，裂紋的回波比較尖銳，探頭轉(zhuǎn)動(dòng)時(shí)，波很快消失。X二、選擇題以下關(guān)于諧振動(dòng)的敘述

20、-哪一條是錯(cuò)誤的(A)A、諧振動(dòng)就是質(zhì)點(diǎn)在作勻速圓周運(yùn)動(dòng)。B、任何復(fù)雜振動(dòng)都可視為多個(gè)諧振動(dòng)的合成C、在諧振動(dòng)中，質(zhì)點(diǎn)在位移最大處受力最大，速度為零。D、在諧振動(dòng)中，質(zhì)點(diǎn)在平衡位置速度最大，受力為零。以下關(guān)于阻尼振動(dòng)的敘述，哪一條是錯(cuò)誤的(D)A、阻尼使振動(dòng)物體的能量逐漸減小。B、阻尼使振動(dòng)物體的振幅逐漸減小。C、阻尼使振動(dòng)物體的運(yùn)動(dòng)速率逐漸減小。D、阻尼使振動(dòng)周期逐漸變長(zhǎng).超聲波是頻率超出入耳聽(tīng)覺(jué)的彈性機(jī)械波，其頻率范圍約為：(A)A、高于2萬(wàn)赫芝B、110MHzC、高于200HzD、0.2515MHz在金屬材料的超聲波探傷中，使用最多的頻率范圍是：(C)A、1025MHzB、110001K

21、HzC、15MHzD大于20000MHz機(jī)械波的波速取決于(D)A、機(jī)械振動(dòng)中質(zhì)點(diǎn)的速度B、機(jī)械振動(dòng)中質(zhì)點(diǎn)的振幅C、機(jī)械振動(dòng)中質(zhì)點(diǎn)的振動(dòng)頻率D、彈性介質(zhì)的特性1.6在同種固體材料中，縱波聲速CL.橫渡聲速Cs,表面波聲速Cn之間的關(guān)系是：(C)A、CRCsCLB、CsCLCRC、ClCsCrD、以上都不對(duì)在下列不同類型超聲波中，哪種渡的傳播速度隨頻率的不同而改變？(B)A、表面波B、板波C、疏密波(縱波)D、剪切波(橫波)超聲波入射到異質(zhì)界面時(shí)，可能發(fā)生(D)A、反射B、折射C、波型轉(zhuǎn)換D、以上都是超聲波在介質(zhì)中的傳播速度與(D)有關(guān)。A、介質(zhì)的彈性B介質(zhì)的密度C、超聲波波型D、以上全部在同一

22、固體材料中，縱、橫渡聲速之比，與材料的(C)有關(guān)？A、密度B、彈性模量C、泊松比D、以上全部質(zhì)點(diǎn)振動(dòng)方向垂直于波的傳播方向的波是(B)A、縱波B、橫波C、表面波D、蘭姆波1.12在流體中可傳插：(A)A、縱波B、橫波C、縱波、橫波及表面波D、切變波超聲縱波、橫波和表面波速度主要取決于：(C)A、頻率B、傳聲介質(zhì)的幾何尺寸C、傳聲材料的彈性模量和密度D、以上都不全面，須視具體情況而定板波的速度主要取決于：（D）A、頻率B、傳聲介質(zhì)的幾何尺寸C、傳聲材料的彈性和質(zhì)量D、以上都不全面，須視具體情況定1.15鋼中超聲波縱波聲速為590000cm/s，若頻率為10MHz則其波長(zhǎng)為：（C）A、59mmB、

23、5.9mmC、0.59mmD、2.36mm下面哪種超聲波的波長(zhǎng)最短（A）A、水中傳播的2MHz縱波B、鋼中傳播的2.5MHz橫波C、鋼中傳播的5MHz縱波D、鋼中傳播的2MHz表面波一般認(rèn)為表面波作用于物體的深度大約為（C）A、半個(gè)波長(zhǎng)B、一個(gè)波長(zhǎng)C、兩個(gè)波長(zhǎng)D、3.7個(gè)波長(zhǎng)鋼中表面波的能量大約在距表面多深的距離會(huì)降低到原來(lái)的1/25。（B）A、五個(gè)波長(zhǎng)B、一個(gè)波長(zhǎng)C、1/10波長(zhǎng)D、0.5波長(zhǎng)脈沖反射法超聲波探傷主要利用超聲波傳播過(guò)程中的（B）A、散射特性B、反射特性C、透射特性D、擴(kuò)散特性超聲波在彈性介質(zhì)中傳播時(shí)有（D）A、質(zhì)點(diǎn)振動(dòng)和質(zhì)點(diǎn)移動(dòng)B、質(zhì)點(diǎn)振動(dòng)和振動(dòng)傳遞C、質(zhì)點(diǎn)振動(dòng)和能量傳播D、

24、B和C超聲波在彈性介質(zhì)中的速度是（B）A、質(zhì)點(diǎn)振動(dòng)的速度B、聲能的傳播速度C、波長(zhǎng)和傳播時(shí)間的乘積D、以上都不是若頻率一定，下列哪種波型在固體彈性介質(zhì)中傳播的波長(zhǎng)最短：（D）A、剪切波B、壓縮波C、橫渡D、瑞利表面波（表面波）材料的聲速和密度的乘積稱為聲阻抗，它將影響超聲波（B）A、在傳播時(shí)的材質(zhì)衰減B、從一個(gè)介質(zhì)到達(dá)另一個(gè)介質(zhì)時(shí)在界面上的反射和透射C、在傳播時(shí)的散射D、擴(kuò)散角大小聲阻抗是：（C）A、超聲振動(dòng)的參數(shù)B、界面的參數(shù)C、傳聲介質(zhì)的參數(shù)D、以上都不對(duì)當(dāng)超聲縱波由水垂直射向鋼時(shí)，其透射系數(shù)大于1，這意味著：（D）A、能量守恒定律在這里不起作用B、透射能量大于入射能量C、A與B都對(duì)D、以

25、上都不對(duì)當(dāng)超聲縱波由鋼垂直射向水時(shí)，其反射系數(shù)小于0，這意味著：（B）A、透射能量大于入射能量B、反射超聲波振動(dòng)相位與入射聲波互成180。C、超聲波無(wú)法透入水中D、以上都不對(duì)垂直入射于異質(zhì)界面的超聲波束的反射聲壓和透射聲壓：（C）A、與界面二邊材料的聲速有關(guān)B、與界面二邊材料的密度有關(guān)C、與界面二邊材料的聲阻抗有關(guān)D、與入射聲波波型有關(guān)在液浸探傷中，哪種波會(huì)迅速衰減：（C）（衰減系數(shù)與波速、密度成反比，頻率的平方成正比）A、縱波B、橫波C、表面波D、切變波超聲波傳播過(guò)程中，遇到尺寸與波長(zhǎng)相當(dāng)?shù)恼系K物時(shí)，將發(fā)生（B）A、只繞射，無(wú)反射B、既反射又繞射C、只反射無(wú)繞射D、以上都可能在同一固體介質(zhì)中

26、，當(dāng)分別傳播縱、橫波時(shí)，它的聲阻抗將是（C）A、一樣B、傳播橫波時(shí)大C、傳播縱波時(shí)大D、無(wú)法確定超聲波垂直入射到異質(zhì)界面時(shí)，反射波與透過(guò)波聲能的分配比例取決于（C）A、界面兩側(cè)介質(zhì)的聲速B、界面兩側(cè)介質(zhì)的衰減系數(shù)C、界面兩側(cè)介質(zhì)的聲阻抗D、以上全部1.32在同一界面上，聲強(qiáng)透過(guò)率T與聲壓反射率r之間的關(guān)系是（B）A、T=r2B、T=1-r2C、T=1+rD、T=1-r1.33在同一界面上聲強(qiáng)反射率R與聲強(qiáng)透過(guò)率T之間的關(guān)系是（D）A、R+T=1B、T=1-RC、R=1-TD、以上全對(duì)超聲波傾斜入射至異質(zhì)界面時(shí)，其傳播方向的改變主要取決于（B）A、界面兩側(cè)介質(zhì)的聲阻抗B、界面兩側(cè)介質(zhì)的聲速C、界

27、面兩側(cè)介質(zhì)衰減系數(shù)D、以上全部?jī)A斜入射到異質(zhì)界面的超聲波束的反射聲壓與透射聲壓與哪一因素有關(guān)（D）A、反射波波型B、入射角度C、界面兩側(cè)的聲阻抗D、以上都是縱波垂直入射水浸法超聲波探傷，若工件底面全反射，計(jì)算底面回波聲壓公式：（）T=4Z1Z2/（Z1+Z2）2一般地說(shuō)，如果頻率相同，則在粗晶材料中穿透能力最強(qiáng)的振動(dòng)波型為（B）A、表面波B、縱波C、橫波D、三種波型的穿透力相同不同振動(dòng)頻率，而在鋼中有最高聲速的波型是：（A（在同一介質(zhì)中，波速與頻率無(wú)關(guān)）A、0.5MHz的縱波B、2.5MHz的橫波C、10MHz的爬波D、5MHz的表面波1.39在水/鋼界面上，水中入射角為17,在鋼中傳播的主要

28、振動(dòng)波型為（C答案為什么不是B呢）A、表面波B、橫波C、縱波D、B和C當(dāng)超聲縱波由有機(jī)玻璃以入射角15射向鋼界面時(shí)，可能存在（D）A、反射縱波B、反射橫波C、折射縱波和折射橫渡D、以上都有如果將用于鋼的K2探頭去探測(cè)鋁（CFe=3.23km/s,CAl=3.10km/s）則K值會(huì)（B）。A、大于2B、小于2C、仍等于2D、還需其它參數(shù)才能確定如果超聲縱波由水以20入射到鋼界面，則在鋼中橫波折射角為（A）。A、約48B、約24C、39D以上都不對(duì)第一臨界角是：（C）A、折射縱波等于90時(shí)的橫波入射角B、折射橫渡等于90時(shí)的縱波入射角C、折射縱波等于90時(shí)的縱波入射角D、入射縱波接近口0時(shí)的折射角

29、第二臨界角是：（B）A、折射縱波等于90時(shí)的橫波入射角B、折射橫波等于90時(shí)的縱波入射角C、折射縱波等于90時(shí)的縱波入射角D、入射縱波接近90對(duì)的折射角1.45要在工件中得到純橫波，探頭入射角a必須：（C）A、大于第二臨界角B、大于第一臨界角C、在第一、第二臨界角之間D、小于第二臨界角1.46般均要求斜探頭楔塊材料的縱波速度小于被檢材料的縱波聲速，因?yàn)橹挥羞@樣才有可能（A）A、在工件中得到純橫波B、得到良好的聲束指C、實(shí)現(xiàn)聲束聚焦D、減少近場(chǎng)區(qū)的影響1.47縱波以20。入射角自水入射至鋼中，下圖中哪一個(gè)聲束路徑是正確的？（D1.48題U7圖橫波不能在水中傳播（D）1.49直探頭縱波探測(cè)具有傾斜

30、底面的鍛鋼件，下圖中哪一個(gè)聲束路徑是正確的？（B題1.49閤1.50第一介質(zhì)為有機(jī)玻璃（CL=2700m/s）,第二介質(zhì)為銅（CL=4700m/s;Cs=2300m/s），則第II臨界角為（B）】2700a=sinx4700t2300r=sin2700.2700r=sin角扎2300D.以上都不對(duì)1.51用4MHz鋼質(zhì)保護(hù)膜直探頭經(jīng)甘油耦合后，對(duì)鋼試件進(jìn)行探測(cè)，若要得到最佳透聲效果，其耦臺(tái)層厚度為（甘油CL=1920m/s）（D）A、1.45mmB、0.20mmC、0.7375mmD、0.24mm1.52用直探頭以水為透聲楔塊使鋼板對(duì)接焊縫中得到橫檢測(cè)，此時(shí)探頭聲束軸線相對(duì)于探測(cè)面的傾角范圍為

31、：（B）A、14.7。27.7B、62.375.3C、27.2。56.7D、不受限制1.53有一不銹鋼復(fù)合鋼板，不銹鋼復(fù)合層聲阻抗Z1，基體鋼板聲阻抗Z2，今從鋼板一側(cè)以2.5MHz直探頭直接接觸法探測(cè)，則界面上聲壓透射率公式為：（C）A-Z|+ZjB-zT+X召17.C.D如.ZJ+zZ3+乙1.54由材質(zhì)衰減引起的超聲波減弱db數(shù)等于：（A）A、衰減系數(shù)與聲程的乘積B、衰減系數(shù)與深度的乘積C、e-a（卩為衰減系數(shù)，s為聲程）D以上都不對(duì)1.55超聲波（活塞波）在非均勻介質(zhì)中傳播，引起聲能衰減的原因是：（D）A、介質(zhì)對(duì)超聲波的吸收B、介質(zhì)對(duì)超聲波的散射C、聲束擴(kuò)散D、以上全部1.56斜探頭直

32、接接觸法探測(cè)鋼板焊縫時(shí)，其橫波：（D）A、在有機(jī)玻璃斜楔塊中產(chǎn)生B、從晶片上直接產(chǎn)生C、在有機(jī)玻璃與耦合層界面上產(chǎn)生D、在耦合層與鋼板界面上產(chǎn)生1.57制作凹曲面的聚焦透鏡時(shí)，若透鏡材料聲速為C1，第二透聲介質(zhì)聲速為C2，則兩者材料應(yīng)滿足如下關(guān)系：（A）A、C1C2B、C1CaC,C；Cj2N近似正確B、S3N基本正確C、S6N正確D、以上都對(duì)2.8在超聲探頭遠(yuǎn)場(chǎng)區(qū)中：（B）A、聲束邊緣聲壓較大B、聲束中心聲壓最大C、聲束邊緣與中心強(qiáng)度一樣D、聲壓與聲束寬度成正比2.9活塞波聲場(chǎng)，聲束軸線上最后一個(gè)聲壓極大值到聲源的距離稱為（A）A、近場(chǎng)長(zhǎng)度B、未擴(kuò)散區(qū)C、主聲束D、超聲場(chǎng)2.10下列直探頭，

33、在鋼中指向性最好的是（C）A、2.5P20ZB、3P14ZC、4P20ZD、5P14Z2.11下面有關(guān)擴(kuò)散角的敘述-哪一條是錯(cuò)誤的（BA、用第一零輻射角表示B、為指向角的一半C、與指向角相同D、是主聲束輻射錐角之半2.12超聲場(chǎng)的未擴(kuò)散區(qū)長(zhǎng)度（C）A、約等于近場(chǎng)長(zhǎng)度B、約等于近場(chǎng)長(zhǎng)度0.6倍C、約為近場(chǎng)長(zhǎng)度1.6倍D、約等于近場(chǎng)長(zhǎng)度3倍2.13遠(yuǎn)場(chǎng)范圍的超聲波可視為（C）A、平面波B、柱面波C、球面波D、以上都不對(duì)2.14在探測(cè)條件相同的情況下面積比為2的兩個(gè)平底孔，其反射波高相差（A）A、6dBB、12dBC、9dBD、3dB2.15在探測(cè)條件相同的情況下，孔徑比為4兩個(gè)球形人工缺陷，其反射

34、波高相差（B）A、6dBB、l2dBC、24dBD、8dB2.16在探測(cè)條件相同的情況下，直徑比為2的兩個(gè)實(shí)心圓柱體，其曲底面同波相差（C）A、12dBB、9dBC、6dBD、3dB；2.17外徑為D,內(nèi)徑為d的實(shí)心圓柱體，以相同的靈敏度在內(nèi)壁和外圓探測(cè)，如忽略耦合差異，則底波高度比為（D）1J書C槨D.號(hào)2.18同直徑的平底孔在球面波聲場(chǎng)中距聲源距離增大1倍則回波減弱：（B）TOC o 1-5 h z HYPERLINK l bookmark54 o Current Document A、6dbB、12dbC、3dbD、9db2.19同直徑的長(zhǎng)橫孔在球面波聲場(chǎng)中距離聲源距離增大1倍回波減弱（

35、答案是A,但是覺(jué)得應(yīng)該是D HYPERLINK l bookmark58 o Current Document A、6dbB、12dbC、3dbD、9db2.20在球面波聲場(chǎng)中B平底距聲源距離增大1倍回波減弱：（A） HYPERLINK l bookmark64 o Current Document A、6dbB、12dbC、3dbD、9db對(duì)于柱面波，距聲源距離增大1倍，聲壓變化是：（D）A、增大6dbB、減小6dbC、增大3dbD、減小3db對(duì)于球面波，距聲源距離增大1倍，聲壓變化是：（B）A、增大6dbB、減小6dbC、增大3dbD、減小3db2.23比3mm平底孔回波小7db的同聲程平

36、底孔直徑是：（B）A、1mmB、2mmC、4mmD、0.5mm2.24比3mm長(zhǎng)橫孔反射小7db的同聲程長(zhǎng)橫孔直徑是（A）A、0.6mmB、1mmC、2mmD、0.3mm以下敘述中哪一條不是聚焦探頭的優(yōu)點(diǎn)（C）A、靈敏度高B、橫向分辨率高C、縱向分辨高D、探測(cè)粗晶材料時(shí)信噪比高以下敘述中，哪一條不是聚焦探頭的缺點(diǎn)（C）A、聲束細(xì)，每次掃查探測(cè)區(qū)域小，效率低B、每只探頭僅適宜探測(cè)某一深度范圍缺陷，通用性差C、由于聲波的干涉作用和聲透鏡的球差，聲束不能完全匯聚一點(diǎn)D、以上都是A型掃描顯示中，從熒光屏上直接可獲得的信息是：（C）A、缺陷的性質(zhì)和大小B、缺陷的形狀和取向C、缺陷回波的大小和超聲傳播的時(shí)

37、問(wèn)D、以上都是A型掃描顯示，“盲區(qū)”是指：（C）A、近場(chǎng)區(qū)B、聲束擴(kuò)散角以外區(qū)域C、始脈沖寬度和儀器阻塞恢復(fù)時(shí)間D、以上均是A型掃描顯示中，熒光屏上垂直顯示大小表示：（A）A、超聲回波的幅度大小B、缺陷的位置C、被探材料的厚度D、超聲傳播時(shí)間A型掃描顯示中，水平基線代表：（C）A、超聲回波的幅度大小B、探頭移動(dòng)距離C、聲波傳播時(shí)間D、缺陷尺寸大小脈沖反射式超聲波探傷儀中，產(chǎn)生觸發(fā)脈沖的電路單元叫做（C）A、發(fā)射電路B、掃描電路C、同步電路D、顯示電路脈沖反射超聲波探傷儀中，產(chǎn)生時(shí)基線的電路單元叫做（A）A、掃描電路B、觸發(fā)電路C、同步電路D、發(fā)射電路發(fā)射電路輸出的電脈沖，其電壓通?？蛇_(dá)（A）A

38、、幾百伏到上千伏B、幾十伏C、幾伏D、1伏發(fā)射脈沖的持續(xù)時(shí)間叫：（A）A、始脈沖寬度B、脈沖周期C、脈沖振幅D、以上都不是探頭上標(biāo)的2.5MHz是指：（B）A、重復(fù)頻率B、工作頻率C、觸發(fā)脈沖頻率D、以上都不對(duì)影響儀器靈敏度的旋紐有：（D）A、發(fā)射強(qiáng)度和增益旋紐B、衰減器和抑制C、深度補(bǔ)償D、以上都是儀器水平線性的好壞直接影響：（C）A、缺陷性質(zhì)判斷B、缺陷大小判斷C、缺陷的精確定位D、以上都對(duì)儀器的垂直線性好壞會(huì)影響：（A）A、缺陷的當(dāng)量比較B、AVG曲線面板的使用C、缺陷的定位D、以上都對(duì)接收電路中，放大器輸入端接收的同波電壓約有（D）A、幾百伏B、100V左右C、10V左右D、0.001

39、IV同步電路每秒鐘產(chǎn)生的觸發(fā)脈沖數(shù)為（B）A、12個(gè)B、數(shù)十個(gè)到數(shù)千個(gè)C、與工作頻率相同D、以上都不對(duì)調(diào)節(jié)儀器面板上的“抑制”旋鈕會(huì)影響探傷儀的（D）A、垂直線性B、動(dòng)態(tài)范圍C、靈敏度D、以上全部3.16放大器的不飽和信號(hào)高度與缺陷面積成比例的范圍叫做放放大器的（B）A、靈敏度范圍B、線性范圍C、分辨力范圍D、選擇性范圍單晶片直探頭接觸法探傷中，與探測(cè)面十分接近的缺陷往往不能有效地檢出，這是因?yàn)椋海–）A、近場(chǎng)干擾B、材質(zhì)衰減C、盲區(qū)D、折射同步電路的同步脈沖控制是指：（D）A、發(fā)射電路在單位時(shí)間內(nèi)重復(fù)發(fā)射脈沖次數(shù)B、掃描電站每秒鐘內(nèi)重復(fù)掃描次數(shù)C、探頭晶片在單位時(shí)間內(nèi)向工件重復(fù)幅射超聲波次數(shù)

40、D、以上全部都是表示探傷儀與探頭組合性能的指標(biāo)有：（B）A、水平線性、垂直線性、衰減器精度B、靈敏度余量、盲區(qū)、遠(yuǎn)場(chǎng)分辨力C、動(dòng)態(tài)范圍、頻帶寬度、探測(cè)寬度D、垂直極限、水平極限、重復(fù)頻率3.20使儀器得到滿幅顯示時(shí)Y軸偏轉(zhuǎn)板工作電壓為80V，現(xiàn)晶片接收到的缺陷信號(hào)電壓為40mv，若要使此缺陷以50%垂直幅度顯示，儀器放大器應(yīng)有多大增益量？（C）A、74dBB、66dBC、60dBD、80dB脈沖反射式超聲波探傷儀同步脈沖的重復(fù)頻率決定著：（C）A、掃描長(zhǎng)度B、掃描速度C、單位時(shí)間內(nèi)重復(fù)掃描次數(shù)D、鋸齒波電壓幅度壓電晶片的基頻是：（A）A、晶片厚度的函數(shù)B、施加的脈沖寬度的函數(shù)C、放大器放大特性

41、的函數(shù)D、以上都不對(duì)探頭的分辨力：（B（頻帶寬度大，則脈沖越窄，分辨力越好）A、與探頭晶片直徑成正比B、與頻帶寬度成正比C、與脈沖重復(fù)頻率成正比D、以上都不對(duì)當(dāng)激勵(lì)探頭的脈沖幅度增大時(shí)：（B）A、儀器分辨力提高B、儀器分辨力降低，但超聲強(qiáng)度增大C、聲波穿透力降低D對(duì)試驗(yàn)無(wú)影響3.25探頭晶片背面加上阻尼塊會(huì)導(dǎo)致：（D（Qm值降低，盲區(qū)減?。〢、Qm值降低.靈敏度提高B、Qm值增大，分辨力提高C、Qm值增大，盲區(qū)增大D、Qm值降低，分辨力提高為了從換能器獲得最高靈敏度：（C）A、應(yīng)減小阻尼塊B、應(yīng)使用大直徑晶片C、應(yīng)使壓電晶片在它的共振基頻上激勵(lì)D、換能器頻帶寬度應(yīng)盡可能大超聲試驗(yàn)系統(tǒng)的靈敏度：

42、（A）A、取決于探頭高頻脈沖發(fā)生器和放大器B、取決于同步脈沖發(fā)生器C、取決于換能器機(jī)械阻尼D、隨分辨力提高而提高換能器尺寸不變而頻率提高時(shí)：（C）A、橫向分辨力降低B、聲束擴(kuò)散角增大C、近場(chǎng)長(zhǎng)度增大D、指向性變鈍一般探傷時(shí)不使用深度補(bǔ)償是因?yàn)樗鼤?huì)：(B)A、影響缺陷的精確定位B、影響AVG曲線或當(dāng)量定量法的使用C、導(dǎo)致小缺陷漏撿D、以上都不對(duì)晶片共振波長(zhǎng)是晶片厚度的(A)A、2倍B、1/2倍C、l倍D、4倍已知PZT-4的頻率常數(shù)是2000m/s,2.5MHz的PZT-4晶片厚度約為：(A)(N=txf0)A、0.8mmB、l.25mmC、1.6mmD、0.4mm在毛面或曲面工件上作直探頭探傷

43、時(shí),應(yīng)使用：(B)A、硬保護(hù)膜直探頭B、軟保護(hù)膜直探頭C、大尺寸直探頭D、高頻直探頭目前工業(yè)超聲波探傷使用較多的壓電材料是：(C)A、石英B鈦酸鋇C、鋯鈦酸鉛D硫酸鋰聯(lián)合雙直探頭的最主要用途是：(A)A、探測(cè)近表面缺陷B、精確測(cè)定缺陷長(zhǎng)度C、精確測(cè)定缺陷高度D、用于表面缺陷探傷超聲波探傷儀的探頭晶片用的是下面哪種材料：(C)A、導(dǎo)電材料B磁致伸縮材料C、壓電材料D磁性材料下面哪種材料最適宜做高溫探頭：(D)A、石英B、硫酸鋰C、鍺鈦酸鉛D、鈮酸鋰下面哪種壓電材料最適宜制作高分辨率探頭：(C)A、石英B鋯鈦酸鉛C、偏鈮酸鉛D、鈦酸鋇下列壓電晶體中哪一種作高頻探頭較為適宜(B)A、鈦酸鋇(CL=5

44、470m/s)B、鈮酸鋰(CL=7400m/s)C、PZT(CL=4400m/s)D、鈦酸鉛(CL=4200m/S)表示壓電晶體發(fā)射性能的參數(shù)是(C)A、壓電電壓常數(shù)g33B、機(jī)電耦合系數(shù)KC、壓電應(yīng)變常數(shù)d33D、以上全部以下關(guān)于爬波探頭的敘述,哪一條是錯(cuò)誤的(B)A、爬波探頭的外形和結(jié)構(gòu)與橫渡斜探頭類似B、當(dāng)縱波入射角大于或等于第二臨界角時(shí)，在第二介質(zhì)中產(chǎn)生爬波(應(yīng)是以第一臨界角附近的角度)C、爬波用于探測(cè)表層缺陷D、爬波探測(cè)的深度范圍與頻率f和晶片直徑D有關(guān)。窄脈沖探頭和普通探頭相比(D)A、Q值較小B、靈敏度較低C、頻帶較寬D、以上全部采用聲透鏡方式制作聚焦探頭時(shí)，設(shè)透鏡材料為介質(zhì)1，

45、欲使聲束在介質(zhì)2中聚焦，選用平凹透鏡的條件是(C)A、ZlZ2B、C1C2D、Z1Zz探頭軟保護(hù)膜和硬保護(hù)膜相比，突出優(yōu)點(diǎn)是(C)A、透聲性能好B、材質(zhì)衰減小C、有利消除耦合差異D、以上全部以下哪一條，不屬于數(shù)字化智能超聲波探傷儀的優(yōu)點(diǎn)(B)A、檢測(cè)精度高，定位定量準(zhǔn)確B、頻帶寬，脈沖窄C、可記錄存貯信號(hào)D、儀器有計(jì)算和自檢功能以下哪一條，不屬于雙晶探頭的優(yōu)點(diǎn)(A)A、探測(cè)范圍大B、盲區(qū)小C、工件中近場(chǎng)長(zhǎng)度小D、雜波少以下哪一條，不屬于雙晶探頭的性能指標(biāo)(D)A、工作頻率B、晶片尺寸C、探測(cè)深度D、近場(chǎng)長(zhǎng)度斜探頭前沿長(zhǎng)度和K值測(cè)定的兒種方法中，哪種方法精度最高：（A）A、半圓試塊和橫孔法B、雙

46、孔法C、直角邊法D、不一定，須視具體情況而定超聲探傷系統(tǒng)區(qū)別相鄰兩缺陷的能力稱為（D）A、檢測(cè)靈敏度B、時(shí)基線性C、垂直線性D、分辨力用以標(biāo)定或測(cè)試超聲探傷系統(tǒng)的，含有模擬缺陷的人工反射體的金屬塊叫（C）A、晶體準(zhǔn)直器B、測(cè)角器C、參考試塊D、工件對(duì)超聲探傷試塊材質(zhì)的基本要求是：（D）A、其聲速與被探工件聲速基本一致B、材料中沒(méi)有超過(guò)2mm平底孔當(dāng)量的缺陷C、材料衰減不太大且均勻D、以上都是CSK-IIA試塊上的1x6橫孔，在超聲遠(yuǎn)場(chǎng).其反射波高隨聲程的變化規(guī)律與（D）相同。（平底孔、短橫孔、球孔孔徑一定時(shí)，聲壓變化隨距離變化一致）A、k值孔B、平底孔C、球孔D、以上B和C采用什么超聲探傷技術(shù)

47、不能測(cè)出缺陷深度？（D）A、直探頭探傷法B、脈沖反射法C、斜探頭探傷法D、穿透法超聲檢驗(yàn)中，當(dāng)探傷面比較粗糙時(shí)，宜選用（D）A、較低頻探頭B、較粘的耦合劑C、軟保護(hù)膜探頭D、以上都對(duì)超聲檢驗(yàn)中，選用晶片尺寸大的探頭的優(yōu)點(diǎn)是（C）A、曲面探傷時(shí)可減少耦合損失B、可減少材質(zhì)衰減損失C、輻射聲能大且能量集中D、以上全部探傷時(shí)采用較高的探測(cè)頻率，可有利于（D）A、發(fā)現(xiàn)較小的缺陷B、區(qū)分開(kāi)相鄰的缺陷C、改善聲束指向性D、以上全部工件表面形狀不同時(shí)耦合效果不一樣，下面的說(shuō)法中，哪點(diǎn)是正確的（A）A、平面效果最好B、凹曲面居中C、凸曲面效果最差D、以上全部缺陷反射聲能的大小，取決于（D）A、缺陷的尺寸B、缺

48、陷的類型C、缺陷的形狀和取向D、以上全部聲波垂直入射到表面粗糙的缺陷時(shí)，缺陷表面粗糙度對(duì)缺陷反射波高的影響是：（C）A、反射波高隨粗糙度的增大而增加B、無(wú)影響C、反射波高隨粗糙度的增大而下降D、以上A和C都可能4.8如果聲波在耦合介質(zhì)中波長(zhǎng)為九，為使透聲效果好，耦合層厚度為（D）A、九/4的奇數(shù)倍B、九/2整數(shù)倍C、小于X/4且很薄D、以上B和C表面波探傷時(shí)，儀器熒光屏上出現(xiàn)缺陷波的水平刻度值通常代表（B）A、缺陷深度B、缺陷至探頭前沿距離C、缺陷聲程D、以上都可以探頭沿圓柱曲面外壁作周向探測(cè)時(shí)，如儀器用平試塊按深度1：1調(diào)掃描，下面哪種說(shuō)法正確？（A）A、缺陷實(shí)際徑向深度總是小于顯示值B、顯

49、示的水平距離總是大于實(shí)際弧長(zhǎng)C、顯示值與實(shí)際值之差，隨顯示值的增加而減小D、以上都正確4.11采用底波高度法（F/B百分比法）對(duì)缺陷定量時(shí)，下面哪種說(shuō)法正確（B）?A、F/B相同，缺陷當(dāng)量相同B該法不能給出缺陷的當(dāng)量尺寸C、適于對(duì)尺寸較小的缺陷定量D、適于對(duì)密集性缺陷的定量4.12在頻率一定和材料相同情況下，橫波對(duì)小缺陷探測(cè)靈敏度高于縱波的原因是：（C）A、橫波質(zhì)點(diǎn)振動(dòng)方向?qū)θ毕莘瓷溆欣鸅、橫渡探傷雜波少C、橫波波長(zhǎng)短（靈敏度=入/2）D、橫波指向性好4.13采用下列何種頻率的直探頭在不銹鋼大鍛件超探時(shí)，可獲得較好的穿透能力：（A）A、1.25MHzB、2.5MHzC、5MHzD、10MHz（

50、頻率越大，衰減越大，穿透能力就越小）4.14在用5MHz10晶片的直探頭作水浸探傷時(shí)，水層厚度為20mm，此時(shí)在鋼工件中的近場(chǎng)區(qū)長(zhǎng)度還有:（C）（N=N2-LC1/C2）A、10.7mmB、1.4mmC、16.3mmD、以上都不對(duì)4.15使用半波高度法測(cè)定小于聲束直徑的缺陷尺寸時(shí)，所測(cè)的結(jié)果：（B）A、小于實(shí)際尺寸B、接近聲束寬度（測(cè)長(zhǎng)法適用于面積大于聲束面或長(zhǎng)度大于聲束面直徑的缺陷）C、稍大于實(shí)際尺寸D、等于晶片尺寸4.16棱邊再生波主要被用于測(cè)定：（D）A、缺陷的長(zhǎng)度B、缺陷的性質(zhì)C、缺陷的位置D、缺陷的高度4.17從A型顯示熒光屏上不能直接獲得缺陷性質(zhì)信息。超聲探傷對(duì)缺陷的定性是通過(guò)下列

51、方法來(lái)進(jìn)行:（DA、精確對(duì)缺陷定位B、精確測(cè)定缺陷形狀C、測(cè)定缺陷的動(dòng)態(tài)波形D、以上方法須同時(shí)使用4.18單斜探頭探傷時(shí)，在近區(qū)有幅度波動(dòng)較快，探頭移動(dòng)時(shí)水平位置不變的回波，它們可能是：（B）A、來(lái)自工件表面的雜波B、來(lái)自探頭的噪聲C、工件上近表面缺陷的回波D、耦合劑噪聲4.19確定脈沖在時(shí)基線上的位置應(yīng)根據(jù)：（B）A、脈沖波峰B、脈沖前沿C、脈沖后沿D、以上都可以4.20用實(shí)測(cè)折射角71的探頭探測(cè)板厚為25mm的對(duì)接焊縫，熒光屏上最適當(dāng)?shù)穆暢虦y(cè)定范圍是：（D）A、l00mmB、125mmC、l50mmD、200mm4.21用IIW2調(diào)整時(shí)間軸，當(dāng)探頭對(duì)準(zhǔn)R50圓弧面時(shí)，示波屏上的回波位置（聲

52、程調(diào)試）應(yīng)在；（B）A/B.C題m圖4.22能使K2斜探頭得到圖示深度l：1調(diào)節(jié)波形的鋼半圓試塊半徑R為（C）（d=R/（1+K2）%A、50mmB、60mmC、67mmD、40mm（波圖水平刻度少個(gè)0，應(yīng)為30，90）4.23在厚焊縫斜探頭探傷時(shí)，一般宜使用什么方法標(biāo)定儀器時(shí)基線？（B）A、水平定能法B、深度定位法C、聲程定位法D、一次波法在中薄板焊縫斜探頭探傷時(shí)，宜使用什么方法標(biāo)定儀器時(shí)基線？（A）A、水平定位法B、深度定位法C、聲程定位法D、二次被法對(duì)圓柱形簡(jiǎn)體環(huán)縫探測(cè)時(shí)的缺陷定位應(yīng)：（A（當(dāng)采用橫波斜探頭檢測(cè)圓柱曲面時(shí)，若沿軸向檢測(cè)，缺陷定位A、按平板對(duì)接焊縫方法B、作曲面定位修正與平

53、面相同；若沿周向檢測(cè)，缺陷定位則與平面不同，作曲面修正）C、使用特殊探頭D、視具體情況而定采用各種方法在探測(cè)球形封頭上焊縫中的橫向缺陷時(shí)，缺陷定位應(yīng)：（B）A、按平板對(duì)接焊縫方法B、作曲面修正C、使用特殊探頭D、視具體情況決定是否采用曲面修正在筒身外壁作曲面周向探傷時(shí)，缺陷的實(shí)際深度比按平扳探傷時(shí)所得讀數(shù)：（B）A、大B、小C、相同D、以上都可能在筒身內(nèi)壁作曲面周向探傷，所得缺陷的實(shí)際深度比按平板探傷時(shí)的讀數(shù)（A）A、大B、小C、相同D、以上都可艟在筒身外壁作曲面周向探傷時(shí)，實(shí)際的缺陷前沿距離比按平扳探傷時(shí)所得讀數(shù)（A）A、大B、小C、相同D、以上都可能在筒身內(nèi)壁作曲面周向探傷時(shí)，實(shí)際的缺陷前

54、沿距離比按平板探傷時(shí)所得讀數(shù)（B）A、大B、小C、相同D、以上都可能為保證易于探出垂直于焊縫表面的平面型缺陷，凹曲面周向斜探頭探傷應(yīng)選用（B）A、小K值探頭B、大K值探頭C、較保護(hù)膜探頭D、高頻探頭在鍛件直探頭探傷時(shí)可能定不準(zhǔn)近側(cè)面缺陷的位置，其原因是：（A）A、側(cè)面反射波帶來(lái)干涉B、探頭太大，無(wú)法移至邊緣C、頻率太高D、以上都不是在斜探頭厚焊縫探傷時(shí)，為提高缺陷定位精度可采取措施是：（D）A、提高探頭聲束指向性B、校準(zhǔn)儀器掃描線性C、提高探頭前沿長(zhǎng)度和K值測(cè)定精度D、以上都對(duì)當(dāng)量大的缺陷實(shí)際尺寸：（A）A、一定大B不一定大C、一定不大D等于當(dāng)量尺寸當(dāng)量小的缺陷實(shí)際尺寸：（B）A、一定小B、不

55、一定小C、一定不小D、等于當(dāng)量尺寸在超聲探傷時(shí)，如果聲束指向不與平面缺陷垂直，則缺陷尺寸一定時(shí)，缺陷表面越平滑反射回波越：（B（缺陷波高與缺陷波的指向性有關(guān)，缺陷表面光滑與否，對(duì)反射指向性無(wú)影響）D、大B、小C不影響D、不一定4.37當(dāng)聲束指向不與平面缺陷垂直時(shí)，在一定范圍內(nèi)，缺陷尺寸越大，其反射回波強(qiáng)度越：（B）A、大B、小C、無(wú)影響D、不一定4.38焊縫探傷中一般不宜選用較高頻率是因?yàn)轭l率越高（D）A、探頭及平面缺陷型缺陷指性向越強(qiáng)，缺陷方向不利就不易探出B、裂紋表面不光潔對(duì)回波強(qiáng)度影響越大C、雜波太多D、AB都對(duì)4.39厚度為600mm的鋁試件，用直探頭測(cè)得一回波的傳播時(shí)間為165ys若

56、縱波在鋁中聲速為6300m/S則此回波是（C）A、底面回波B、底面二次回波C、缺陷回波D、遲到回波4.40直探頭縱波探傷時(shí)，工件上下表面不平行會(huì)產(chǎn)生：（A）A、底面回波降低或消失B、底面回波正常C、底面回波變寬D、底面回波變窄4.41直探頭探測(cè)厚100mm和400mm的兩平底面鍛件，若后者探測(cè)面粗糙，與前者耦合差為5db，材質(zhì)衰減均為0.01dB/mm（雙程），今將前者底面回波調(diào)至滿幅（100%）高，貝V后者的底面回波應(yīng)是滿幅度的：（C（20lg100/x=5+0.01（400-100）+20lg100/400）A、40%B、20%C、10%D、5%4.42厚度均為400mm,但材質(zhì)衰減不同的

57、兩個(gè)鍛件，采用各自底面校正400/2靈敏度進(jìn)行分別探測(cè),現(xiàn)兩個(gè)鍛件中均發(fā)現(xiàn)缺陷，且回波高度和缺陷聲程均相同，則：（B）A、兩個(gè)缺陷當(dāng)量相同B、材質(zhì)衰減大的鍛件中缺陷當(dāng)量小C、材質(zhì)衰減小的鍛件中缺陷當(dāng)量小D、以上都不對(duì)4.43在脈沖反射法探傷中可根據(jù)什么判斷缺陷的存在？（D）A、缺陷回波B、底波或參考回波的減弱或消失C、接收探頭接收到的能量的減弱D、AB都對(duì)4.4在直接接觸法直探頭探傷時(shí)，底波消失的原因是：（D）A、耦合不良B、存在與聲束不垂直的平面缺陷C、存住與始脈沖不能分開(kāi)的近表面缺陷D、以上都是在直探頭探傷時(shí)，發(fā)現(xiàn)缺陷回波不高，但底波降低較大，則該缺陷可能是：（C）A、與表面成較大角度的平

58、面缺陷B、反射條件很差的密集缺陷C、AB都對(duì)D、AB都不對(duì)影響直接接觸法耦合損耗的原因有：（D）A、耦合層厚度，超聲波在耦合介質(zhì)中的波長(zhǎng)及耦合介質(zhì)聲阻抗B、探頭接除面介質(zhì)聲阻抗C、工件被探測(cè)面材料聲阻抗D、以上都對(duì)被檢工件晶粒粗大，通常會(huì)引起：（D）A、草狀回波增多B、信噪比下降C、底波次數(shù)減少D、以上全部為減少凹面探傷時(shí)的耦合損耗，通常采用以下方法：（D）A、使用高聲阻抗耦合劑B、使用軟保護(hù)膜探頭C、使用較低頻率和減少探頭耦合面尺寸D、以上都可以在平整光潔表面上作直探頭探傷時(shí)宜使用硬保護(hù)膜探頭，因?yàn)檫@樣：（B）A、雖然耦合損耗大，但有利于減小工件中噪聲B、脈沖窄，探測(cè)靈敏度高C、探頭與儀器匹

59、配較好D、以上都對(duì)應(yīng)用有人工反射體的參考試塊主要目的是：（A）A、作為探測(cè)時(shí)的校準(zhǔn)基準(zhǔn)，并為評(píng)價(jià)工件中缺陷嚴(yán)重程度提供依據(jù)B、為探傷人員提供一種確定缺陷實(shí)際尺寸的工具C、為檢出小于某一規(guī)定的參考反射體的所有缺陷提供保證D、提供一個(gè)能精確模擬某一臨界尺寸自然缺陷的參考反射體下面哪種參考反射體與入射聲束角度無(wú)關(guān)：（C）A、平底孔B、平行于探測(cè)面且垂直于聲束的平底槽C、平行于探測(cè)面且垂直于聲束的橫通孔D、平行于探測(cè)面且垂直于聲束的V型缺口測(cè)定材質(zhì)衰減時(shí)所得結(jié)果除材料本身衰減外，還包括：（D）A、聲束擴(kuò)散損失B、耦合損耗C、工件幾何形狀影響D、以上都是4.53沿細(xì)長(zhǎng)工件軸向探傷時(shí)，遲到波聲程Ax的計(jì)算

60、公式是：（D）4.54換能器尺寸不變而頻率提高時(shí)：（D應(yīng)選C吧）A、橫向分辨力降低B、聲束擴(kuò)散角增大C、近場(chǎng)區(qū)增大D、指向性變鈍4.55在確定缺陷當(dāng)量時(shí)，通常在獲得缺陷的最高回波時(shí)加以測(cè)定，這是因?yàn)椋海―A、只有當(dāng)聲束投射到整個(gè)缺陷反射面上才能得到反射回波最大值B、只有當(dāng)聲束沿中心軸線投射到缺陷中心才能得到反射回波最大值C、只有當(dāng)聲束垂直投射到工件內(nèi)缺陷的反射面上才能得到反射回波最大值D、人為地將缺陷信號(hào)的最高回波規(guī)定為測(cè)定基準(zhǔn)4.56考慮靈敏度補(bǔ)償?shù)睦碛墒牵―A、被檢工件厚度太大B、工件底面與探測(cè)面不平行C、耦合劑有較大聲能損耗D、工件與試塊材質(zhì)，表面光潔度有差異4.57探測(cè)粗糙表面的工件時(shí)