無損檢測(cè)之射線探傷上

1、射線探傷無損檢測(cè)之1NDTNDT 無損檢測(cè)，non-destructive testing.NDT是對(duì)材料或工件實(shí)施一種不損害或不影響其未來使用性能或用途的檢測(cè)手段。 2射線探傷基礎(chǔ)知識(shí)射線探傷原理：X射線、高能X射線、射線、中子射線等在真空中貫穿物質(zhì)，與物質(zhì)相互作用，強(qiáng)度逐漸減小。當(dāng)一種射線貫穿不同厚度、不同材質(zhì)的材料時(shí)，強(qiáng)度減弱的程度不同，而工件中的缺陷總是引起工件厚度和材質(zhì)的局部改變，因此，測(cè)量和顯示穿透射線的強(qiáng)度及其分布，即可發(fā)現(xiàn)和判別缺陷。 X射線機(jī) 高能X射線機(jī) 射線機(jī) 射線探傷的顯示：射線能使膠片感光、能激發(fā)熒光物質(zhì)、能使氣體電離等性質(zhì)，由于感光、熒光物質(zhì)、電離等作用隨射線強(qiáng)度增

2、大而增強(qiáng)，在一定的條件下，可以把射線強(qiáng)度的分布狀況，變?yōu)榭梢姷膱D像或數(shù)據(jù)，觀察圖像和分析數(shù)據(jù)，便能發(fā)現(xiàn)和鑒別缺陷。 射線照相法 工業(yè)射線電視法 。3X射線：X射線是有韌致輻射產(chǎn)生的。電子由低速加速到高速，快速運(yùn)動(dòng)被物質(zhì)阻止時(shí)，電子運(yùn)動(dòng)速度急劇減小，電子的原有動(dòng)能一部分或全部轉(zhuǎn)化為電磁波輻射出去，此即為韌致輻射。X射線4高能X射線 當(dāng)電子獲得1兆電子伏的能量時(shí)，由韌致輻射產(chǎn)生的X射線即高能X射線?？嵘渚€射線（咖嗎射線）：由核衰變產(chǎn)生的。放射性同為元素在發(fā)生衰變是會(huì)自動(dòng)輻射出射線，即產(chǎn)生衰變。 鈷-60、銥-192、銫-1375 射線照相6 X射線機(jī)7 象質(zhì)計(jì)又稱透度計(jì)，用來衡量射線照片的質(zhì)量。

3、即計(jì)測(cè)射線照相靈敏度。象質(zhì)計(jì)種類：線狀、環(huán)狀、塊狀、槽狀。常用的是線狀。8 膠片和增感屏膠片： 是由透明的聚酯或酸醋纖維物雙面涂靈敏的感光材料（鹵化銀）而成。 2. 增感屏： 作用：縮短曝光時(shí)間、吸收散射線。 有金屬增感屏、熒光增感屏、金屬熒光增感屏 鉛增感屏，前后各一，金屬面與膠片相貼。 200KV1Mev，前后增感屏的最小厚度為0.127mm。 200KV以下，屏的厚度可以更小，可不用前屏。9 射線照相方法 1. 工件的要求： 鑄件表面必需清理干凈，外觀必需合格。 2. 射線照相靈敏度的要求： - 射線照相靈敏度是指在射線照射方向發(fā)現(xiàn)被檢零件內(nèi)部最小缺陷的能力。 - 用K表示，K越小表明射線照相靈敏度越高。 - 是用來檢查射線照相底片質(zhì)量的。 - 靈敏射線照相靈敏度取決于射線照相底片的對(duì)比度和清晰度。 K=d/d*100=/d*100 K 以百分?jǐn)?shù)表示的射線照相靈敏度，%d 在射線照射方向發(fā)現(xiàn)的工件內(nèi)部最小缺陷厚度尺寸d 工件被透照處的厚度 底片上可辨認(rèn)的象質(zhì)計(jì)最小鋼絲直徑 ASTM E94對(duì)射線照相靈敏度的要求： 小于等于2%10 3. 象質(zhì)計(jì)選用、放置： - 放在靠射線源的一側(cè)工件表面上， - 細(xì)絲朝外側(cè)， - 放在有效透照范圍的邊緣，大約1/4處， - 每張底片上都要有， - 如果不能放在射線源一側(cè)，可以放在膠片一側(cè)的工件表面上，但