ICT 培訓(xùn)資料

1、 ICT培訓(xùn)教材培訓(xùn)教材目錄目錄一一.ICT的基本認識的基本認識二二ICT的測試原理的測試原理三三ICT測試程序的制作測試程序的制作四四ICT誤測分析誤測分析五五ICT的轉(zhuǎn)機流程的轉(zhuǎn)機流程六六.ICT程序調(diào)試時注意事項程序調(diào)試時注意事項七七ICT常見故障檢修常見故障檢修八八. 文件放置指引文件放置指引九九.覆蓋率的定義覆蓋率的定義一一.ICT的基本認識的基本認識 1. ICT即在線測試儀（In Circuit Tester）,是一大堆高級電表的組合。但它能對在線電路板上的元件測試進行有效的隔 離(Guarding),而萬用表則不能.所以,萬用表能測的它也能測,萬 用表不能測的,它可能能測. 2

2、. ICT能測:Open/Short;R;C;L;D;Q;IC等. 3. ICT與ATE的區(qū)別: ICT只作靜態(tài)測試,而ATE則作動態(tài)測試.即ICT對被測板不通電,而ATE要對被測板通電才能測試,二二ICT的測試原理的測試原理 當(dāng)Rx有旁路（R1)時， Ix=Is-I1Is 故：Vx/IsRx此時取A 點電位Va, 送至C 點, 令Vc=Va, 則： I1=(Va-Vc)/R1=0, Is=Ix 從而： Vx/Is=Rx如圖:Vx+-IsIxI1ABCICTVaVbVcWhen Vc=Va I1=(Va-Vc)/R1=0RxR1+-U?326741. Guarding(隔離隔離)的實現(xiàn)的實現(xiàn)：

3、 2. 量測電阻量測電阻R： (1).單個單個R(mode D1,D2): 直流定電流源: 利用Vx=IsRx（歐姆定律）， 則Rx=Vx/Is. 信號源Is取恒流 （0.1uA5mA）,量回Vx即可算出Rx值.如下圖一.+-Vx=?IsRx+-Vs=0.2VIxRxC圖一圖一 圖二圖二 (2). R/C(mode V5,CV): 直流定電壓源: 信號源Vs取恒壓 （0.2V），量回 Ix，則Rx=Vs/Ix=0.2V/Ix，算出Rx值.如上圖二.(3).R/L(mode P1,P2,P3,P4,P5): 相位法測試:信號源取交流電壓源Vs，籍相位法輔助.|Y|Cos=YRx=1/Rx,并|Y

4、|=Ix/Vs故：Rx=1/|Y|Cos 如下圖:VsIxRxL3. 量測電容量測電容C&電感電感L： (1).單個單個C&L（Mode A1.A2.A3.A4.A5 ）： 交流定電壓:交流電壓源一定Vs,Vs/Ix=Zc=1/2fCx,求得：Cx=Ix/2fVs.Vs/Ix=Zl=2fLx, 求得：Lx=Vs/2fIx. 注:3UF以上電容用(Model DC) VsIxIxVsCxLx(2).C/R或或L/R:(P1.P2.P3.P4.P5)相位法測試: 1. |Y|Sin=|Ycx|,即CxSin=Cx 求得：Cx=CxSin (Cx=Ix/2fVs) 2.|Y|Sin=|Ycx|,即S

5、in/Cx=1/Cx 求得：Lx=Lx/Sin(Lx=Vs/2fIx) 如下圖:VsIxCxRIxVsLxR4. 量測量測PN結(jié)：結(jié)：（D、Q、IC） 信號源0-10V/3mA or 30mA可程式電壓源,量PN結(jié)導(dǎo)通電壓 一般順向電壓0.7V;反向電壓2.2V.這里主要講下三極管的三端量測法晶體管做三端點量測時 ,假設(shè)晶體管為NPN type,實際值(ACTval)設(shè)定值為DA1所送電壓，標(biāo)準(zhǔn)值(STDval)設(shè)定值即為晶體管的VCES電壓值。改變實際值(ACTval)(從0.5V往上增加) ，直到晶體管飽和導(dǎo)通(測試值應(yīng)低于0.2V)。如果晶體管為PNP type，改變實際值(ACTval

6、)欄的電壓(從4.5V往下減少) ，直到晶體管飽和導(dǎo)通（測試值應(yīng)低0.2V）。 5. 量測量測Open/Short： 即以阻抗判定：先對待測板上所有Pin點進行學(xué)習(xí),R20即歸為Short Group，然后Test時進行比較，R80判為Open.短路1080開路20學(xué)習(xí)參考點 6.低壓測試方法低壓測試方法(LV) 低壓功能測試是允許你供應(yīng)某一定電壓到零件兩端，同時測量零件兩端的電壓，如測電容反向、Zener二極管、或IC都可使用此法。 假設(shè)我們要測一個6V的穩(wěn)壓二極管,我們可以在實際值中填入9V,標(biāo)準(zhǔn)值中填入6,當(dāng)實際植的單位是V,而標(biāo)準(zhǔn)值不是0時,系統(tǒng)會送出一個9V電壓至穩(wěn)壓二極管兩端,然后

7、量測穩(wěn)壓二極管的電壓是否為5.6V,從而判定好壞.LV模式最大送出電壓為10V 7.高壓測試方法高壓測試方法(HV) 高壓測試的原理與設(shè)定方法與低壓相似,只是在模式里選(HV),高壓最大送出電壓為50V跳線測試跳線測試(Jumper Test) 跳線測試(Jumper Test)采用一個比較器硬件線路，因此，測試的結(jié)果只有、四個值，單位以JP表示，其代表的意義如下： JP： 10 歐姆(ohm) JP： 10歐姆(ohm)， 20歐姆( ohm) JP： 20歐姆(ohm)， 80歐姆( ohm) JP： 80歐姆(ohm) 三三ICT測試程序的制作測試程序的制作 （一）準(zhǔn)備好2PCS空PCB

8、板，1PCS實板，1份BOM及原理圖（邦線圖），提供給供應(yīng)商分析 （二）供應(yīng)商根據(jù)我們的要求制作測試機架及原始程序 （三）根據(jù)BOM，電路圖，針點圖進行相對應(yīng)的測試程序的調(diào)試1單板的調(diào)試 按“Ctrl+E”進入元件編輯界面 先熟悉一下界面對照壞機故障，加深印象 A 元件（元件（Component）的調(diào)試）的調(diào)試(R,C,L,D,Q) 電阻（電阻（R）Debug:(1).根據(jù)R的大小,系統(tǒng)自動調(diào)整測試電流大小. F9:單步測試 Alt+F9:整頁測試 F5:對調(diào)AB點 F10自動Guarding. Alt+H:查看串連元件.Alt+J:查看并聯(lián)元件. (2).R/C:Model(CV&V5)(3

9、).R/D:Model(D2&V5).(4).R/L:Model(P1.P2.P3.P4.P5) 電容（電容（C）Debug: (1).單個電容3uf以上信號源既可用交流也可用直流.300uf以上只可用DC模式.470pf以下用A4&A5; 470pf3uf用A1.A2.A3模式. (2).C/R:Model(A1.A2.A3.A4.A5) (3).C/L:Model(P1.P2.P3.P4.P5) (4).C/D:Model(DC&A1A5)470PF3UF300UFA1.A2.A3.A4.A5DCDC.A1.A2D&Q&IC的的Debug (1).單個D&Q&IC正向:0.7V左右;反向2

10、V以上. (2).D/C:Model(LV低電壓) (3).D/D:Model(CM,除正向?qū)y試,還需做電流測試 (4).Zerer:需作反向電流測試.10V48V的Zerer可用 HV(高電壓)測試. (5).Q的CE極:需判斷Q的類型(PNP&NPN) 為了使CE極飽和導(dǎo)通,NPN偏置電壓為0.7V1V; PNP偏置電壓為 4.5V2V;反向在0.5V以上. B. IC的學(xué)習(xí)的學(xué)習(xí) a 按“Ctrl+I”進入IC編輯界面 按F4選出IC相對應(yīng)的參考地（GND）或電源（VCC） 按F3保存后退出b.進入元件編輯界面,然后按”ALT+I進行保護二極體的學(xué)習(xí),根據(jù)提示,按測試要求選擇對話框,

11、完成IC的自動學(xué)習(xí)并保存注意:IC的參考點GND,VCC必須選對,檢查IC腳位是否和測試針點相對應(yīng),否則將產(chǎn)生錯誤的程序G NDIC腳針點C. OPEN/SHORT的學(xué)習(xí)的學(xué)習(xí)在測試界面按CTRL+L,電腦將提示放入好板并進行學(xué)習(xí)，學(xué)習(xí)后保存退出注意：系統(tǒng)只會針對有測試點的網(wǎng)絡(luò)進行學(xué)習(xí)。當(dāng)單板程序調(diào)試穩(wěn)定后，我們就可以產(chǎn)生多連板啦！2多連板的產(chǎn)生多連板的產(chǎn)生A 在測試界面單擊設(shè)定，選擇“產(chǎn)生多連板程序”命令將彈出以下對話框你只用根據(jù)你的要求填入數(shù)字就可以啦比如要做一個8連板的程序，你就填入4-2，到時電腦將自動產(chǎn)生一個8連板的程序B 接下來將彈出一個對話框，提示輸入第二塊板的最小針點號對照針點

12、圖找到第二塊的最小針點，填入對話框在下面對話框里填入0接下來是選擇新文檔存貯的路徑，假如默認的話，文件將產(chǎn)生一個新的程序并保存在原文件夾中，不用擔(dān)心會把原單板程序覆蓋最后把程序保存，一個完整的程序就完成啦！假如還有個別不穩(wěn)定的項目，參考前面調(diào)試的方法，Debug直到穩(wěn)定四四ICT誤測分析誤測分析 1. ICT無法測試部分： 記憶體IC（EPROM、SRAM、DRAM） 并聯(lián)大10倍以上大電容的小電容 并聯(lián)小20倍以上小電阻的大電阻 單端點之線路斷線 D/L，D無法量測 (6). 跳線并連 (7)IC之功能測試.2. PCB之測點或過孔綠油未打開，或PCB吃錫不好。3. 壓床壓入量不足。探針壓入

13、量應(yīng)以1/2-2/3為佳。4經(jīng)過免洗制程的PCB板上松香致探針接觸不良。5PCB板定位柱松動，造成探針觸位偏離焊盤。6治具探針不良損壞。7. 零件廠牌變化（可放寬+-%，IC可重新 Learning）。8. 治具未Debug好（再進行Debug）。9. ICT本身故障。五五ICT的轉(zhuǎn)機流程的轉(zhuǎn)機流程1將待測Model 的機架準(zhǔn)備好. 2將紅外線保護開關(guān)拔至OFF位置,依次序取下原測試機架上模和下模.的34Pin排線紅外線保護開關(guān)64Pin排線3將待測機架放入,對好上,下模位置并固定好,再依次序插好34Pin排線固定夾具螺絲64pin排線4.固定好機架后,放一待測板在機架上,再調(diào)整行程控制感應(yīng)開

14、關(guān),使上模,待測板,下模三者充分接觸好后,再固定好感應(yīng)開關(guān).行程控制開關(guān)6.將紅外線保護開關(guān)拔至ON位置,在D:目錄下調(diào)出待測板的測試程序.紅外線保護開關(guān)試測試5-10片待測板,PASS后交由測試員操作六六.ICT程序調(diào)試時注意事項程序調(diào)試時注意事項換上新機架時換上新機架時,程序出現(xiàn)不穩(wěn)定的現(xiàn)象程序出現(xiàn)不穩(wěn)定的現(xiàn)象,這時我們需作程這時我們需作程式調(diào)整式調(diào)整,但需注意如下幾項但需注意如下幾項: 1 首先要確定測試針是否良好,測試點是否接觸良好,元件是否假焊,漏料,錯料等不良. 2 按“Ctrl +E”進入元件編輯,再按“Alt +R” 跳至測試不良項,按F9進行當(dāng)前項測試. 3 調(diào)整程式時,要采

15、用對比方式進行,即用多塊板進行對比調(diào)試. 4 調(diào)試時,只能在模式(MD)(光標(biāo)移至此欄)按Space 進行選擇,檔位進 行 選 擇 (光標(biāo)移至此欄)按Space 進行選擇,延遲時間,A.B 點對調(diào)(F5)加隔離點(F10) 五項中進行調(diào)試. 5 必要時,可調(diào)整上限,下限及標(biāo)準(zhǔn)植. 6 PF級電容調(diào)試時,不可改動標(biāo)準(zhǔn)值及實際值,只作雜散電容補償調(diào)整,使用 “Alt+Y ” 自動補償 7 級電阻,測試時不穩(wěn)定時,可根據(jù)實際情況作跳線測試,即實際值欄改為 “JP” 測試, JP標(biāo)準(zhǔn): 1JP10 ; 102JP 20 ; 20 3JP 80 . 8 電感測試不穩(wěn)定時,也可作跳線測試,其方法與 級電阻

16、設(shè)定相同,也可用頻率 (A2/A3/A4/A5) 進行調(diào)試. 如遇電感并聯(lián)電容.電阻則用(P1/P2/P3/P4/P5) 模式進行調(diào)試七七ICT常見故障檢修常見故障檢修1系統(tǒng)板，自檢板，DC板，AC板，開關(guān)板的偵測 A打開JET下的Jet300a.dat文件進行系統(tǒng)測試 如果是電阻，二極管，三極管壞或不穩(wěn)，多為DC板故障 如果是電容壞或不穩(wěn)，多為AC板故障 兩者都有，則有可能是系統(tǒng)板或自檢板的故障 B打開下圖中的自我測試將會出現(xiàn) 其中MEAS TEST 就是系統(tǒng)板，自檢板，DC板，AC板 的檢測 RELAY TEST 是多塊開關(guān)板的檢測，填入開關(guān)板的數(shù)量，就會顯示測試結(jié)果 當(dāng)然，機臺，卡槽也有可能影響測試 2常用快捷捷鍵常用快捷捷鍵 進入元件編輯界面 CTRL+E 進入短路編輯界面 CTRL+P 進入不測點編輯界面 CTRL+S 進入IC編輯界面 CTRL+I 進入開/短路路學(xué)習(xí) CTRL+L 在元件編輯中常用的快捷鍵 尋找針點 ALT+P 顯示并聯(lián)元件 ALT+J 顯示串聯(lián)元件 ALT+H 學(xué)習(xí)電容補償值 ALT+Y 單項測試 F9 整頁測試 ALT+F9 尋找隔離點 F10 取消隔離點 F4AB點對調(diào) F5選區(qū) ALT+L取消選區(qū) ALT+U移動選區(qū) ALT+M自動校正 ALT+D排序 ALT+S區(qū)域編輯 CTRL+F取消不