核輻射的主要測量方法(1)

1、 放射性樣品放射性樣品測量測量（活度、發(fā)射率）； 輻射場量輻射場量的測量的測量（空間分布、注量率） ； 輻射能量或輻射能量或的測量的測量（粒子能量、能譜） ； 輻射輻射劑量劑量的測量的測量（輻射能量吸收） ； 的測量的測量（入射位置、其它物理量） ； 的測量的測量（入射時間、半衰期、飛行時間） ； 粒子鑒別粒子鑒別（鑒別未知粒子、區(qū)分不同粒子）12.1 1、相對法測量和絕對法測量相對法測量和絕對法測量簡便簡便，但，但條件苛刻條件苛刻：必：必須有一個須有一個與被測樣品相同與被測樣品相同的的已知活度已知活度的的標(biāo)準(zhǔn)源，且標(biāo)準(zhǔn)源，且測量條件必須相同測量條件必須相同。：需要一個已知活度：需要一個已知活

2、度A0標(biāo)準(zhǔn)源，在同樣條件下測量標(biāo)準(zhǔn)源和被標(biāo)準(zhǔn)源，在同樣條件下測量標(biāo)準(zhǔn)源和被測樣品的計數(shù)率測樣品的計數(shù)率 n0、n， 根據(jù)根據(jù)計數(shù)率與計數(shù)率與活度成正比活度成正比，可求出樣品的活度：，可求出樣品的活度： AA0n/n02、絕對測量中影響活度測量的因素、絕對測量中影響活度測量的因素點源點源復(fù)雜復(fù)雜，需要考慮很多影，需要考慮很多影響測量的因素，但絕對測量法是活度測響測量的因素，但絕對測量法是活度測量的量的基本方法基本方法。000112 sin d(1cos)442gf 2) 2) (1) 對脈沖工作狀態(tài)對脈沖工作狀態(tài)：本征探測效率：本征探測效率 (2) 對電流工作狀態(tài)對電流工作狀態(tài)：靈敏度：靈敏度

3、積的粒子數(shù)積的粒子數(shù)單位時間內(nèi)進(jìn)入靈敏體單位時間內(nèi)進(jìn)入靈敏體測到的脈沖計數(shù)率測到的脈沖計數(shù)率100 入入射射粒粒子子流流強強度度值值或或電電壓壓信信號號電電流流)( 單單位位照照射射量量率率/ )(VA 有關(guān)影響因素：入射粒子的有關(guān)影響因素：入射粒子的種類種類與與能量能量；探測器的種類、運行狀況、幾何尺寸；電子儀探測器的種類、運行狀況、幾何尺寸；電子儀器的狀態(tài)（如器的狀態(tài)（如甄別閾的大小甄別閾的大小）等。）等。3) 3) 射線從產(chǎn)生到入射到探測器的靈敏體積所射線從產(chǎn)生到入射到探測器的靈敏體積所經(jīng)過的經(jīng)過的為：為：u樣品材料本身的吸收樣品材料本身的吸收(樣品的自吸收樣品的自吸收)；u樣品和探測器

4、之間空氣的吸收；樣品和探測器之間空氣的吸收；u探測器窗的吸收。探測器窗的吸收。探測器樣品中間介質(zhì)，如：空氣探測器的窗：能量降低，可能無法到達(dá)探測器：能量降低，低能被衰減：數(shù)量減少樣品盤周圍介質(zhì)4) 4) 放射性樣品發(fā)射的射線可被其放射性樣品發(fā)射的射線可被其周圍介質(zhì)周圍介質(zhì)所所，對測量造成影響。，對測量造成影響。散射對測量結(jié)果的影響有兩類：散射對測量結(jié)果的影響有兩類：正向散射正向散射反向散射反向散射使射向探測器靈敏區(qū)的射線使射向探測器靈敏區(qū)的射線偏離而偏離而不能進(jìn)入不能進(jìn)入靈敏區(qū)，使計數(shù)率靈敏區(qū)，使計數(shù)率減少減少。使原本不射向探測器的射線使原本不射向探測器的射線經(jīng)散射經(jīng)散射后進(jìn)入后進(jìn)入靈敏區(qū)，使

5、計數(shù)率靈敏區(qū)，使計數(shù)率增加增加。探測器5)5) 死時間修正因子死時間修正因子 ( (f ) ) nmnf 1 式中式中n 為實際測量到的計數(shù)率，為實際測量到的計數(shù)率，m為真計數(shù)為真計數(shù)率，率， 為測量裝置的分辨時間。為測量裝置的分辨時間。6)6) 本底計數(shù)率本底計數(shù)率 （nb）0sbnnn3 3、 / / 放射性樣品活度的測量方法放射性樣品活度的測量方法1) 1) 小立體角法小立體角法TbsnnA 其中：其中： ffffbagT 對于對于薄薄 放射性樣品，放射性樣品，%100 1 af1 bf對于對于厚厚 放射性樣品和放射性樣品和 放射性樣品的測放射性樣品的測量需考慮各種修正因子。量需考慮各種

6、修正因子。修正因子多，測量誤差大，達(dá)修正因子多，測量誤差大，達(dá)5101-PMT；2-光導(dǎo)；3-準(zhǔn)直器；4-阻擋環(huán)；5-源；6-長管；7-閃爍體源發(fā)射：各向同性探測器：塑料閃爍體，ZnS(Ag)，CsI(Tl)，金硅面壘探測器，薄窗正比管點源：要求源探距離遠(yuǎn)，管子長度幾十cm避免吸收和散射：抽真空sbgnnAff測定活度的小立體角裝置活度測量時，需注意其特點：指數(shù)衰減電離能力弱：dE/dx 1/v21-；2-；3-計數(shù)管；4-云母窗；5-源支架；6-準(zhǔn)直器；7-源托板；8-源；9-源承托膜。測放射性的小立體角裝置u粒子射程長，源探距離可以加大，使點源條件更加符合u不要求真空條件u探測器探測器：鐘

7、罩式G-M管，流氣正比計數(shù)管，塑料閃爍體。()/sbAnngmbainf f f f f f gmbainffffffmf坪斜修正因子0/mfn nbf反散射修正因子 源應(yīng)選擇盡可能薄的有機膜：30g/cm2 或者，索性更厚，使反散射飽和高能：0.2Rmax低能：0.4Rmax圖12-6 G-M計數(shù)管的坪曲線和坪斜計數(shù)率工作電壓V0abcnn0gmbainffffffaf吸收校正因子單能電子逐漸損失能量，不會“突然”消失。射線是連續(xù)能譜，在其路徑上，不斷衰減。射線在介質(zhì)中的被吸收規(guī)律近似服從指數(shù)規(guī)律0m mtnn e(1) 源的自吸收01(1)m mtasm mnfent1m mt/2m mt

8、asfe源的自吸收穿透tm/2的吸收體（2）其它吸收的修正mequmairmwmmtttt總的吸收厚度為：2tmequmttt總的吸收校正因子：01 m ttam tnfetn空氣探測器窗源覆蓋膜gmbainfffffff計數(shù)校正 衰變是原子核衰變的主要形式 衰變形成的子核一般都是處于激發(fā)態(tài)，會發(fā)出射線137Cs 源是衰變的產(chǎn)物 探測器對射線也會有響應(yīng)G-M，塑料閃爍體探測器計數(shù)率：n2Al112nfnn探測器計數(shù)率：n1+2) 2) 4 4 計數(shù)法計數(shù)法 流氣式流氣式4 正比計數(shù)器正比計數(shù)器；(適用于固態(tài)放射適用于固態(tài)放射源源) 內(nèi)充氣正比計數(shù)器內(nèi)充氣正比計數(shù)器和和液體閃爍計數(shù)器液體閃爍計數(shù)

9、器；(適用于適用于14C、3H等低能等低能 放射性測量，將放射性測量，將14C、3H混于工作介質(zhì)中混于工作介質(zhì)中) 將將源源移到計數(shù)管移到計數(shù)管內(nèi)部內(nèi)部，使計數(shù)管對源所，使計數(shù)管對源所張立體角為張立體角為，減小了，減小了散射散射、吸收吸收和和幾何幾何位置位置的影響。的影響。測量誤差小，可好于測量誤差小，可好于1。4、 射線強度的測量射線強度的測量 射線射線強度的測量強度的測量包括包括 輻射場輻射場測量和測量和 射線放射源活度射線放射源活度的測量。同樣可以用的測量。同樣可以用相對相對測量法測量法和和絕對測量法絕對測量法測量。測量。 如能獲得如能獲得，可利用，可利用 譜的譜的來來確定源活度確定源活

10、度， 對于對于 射線同位素放射射線同位素放射源絕對測量常用源絕對測量常用源峰效率源峰效率sp 得到源活度：得到源活度：光光子子數(shù)數(shù)放放射射源源放放出出的的全全能能峰峰的的計計數(shù)數(shù) spspbsnnA 符合方法符合方法： 用不同的探測器來判斷用不同的探測器來判斷兩個兩個或或兩個以上兩個以上事事件的件的的的同時性同時性或或相關(guān)性相關(guān)性的方法。的方法。60Co60Ni h h e e h h ： 兩個兩個或或兩個以上兩個以上在在的事件。的事件。1、符合方法的基本原理、符合方法的基本原理1) 符合符合(真符合真符合)用用符合電路符合電路來來選擇同時事件選擇同時事件 以以 符合裝置符合裝置為例：對一個放

11、射源同時放為例：對一個放射源同時放出的出的 和和 射線，用兩個探測器分別測量。射線，用兩個探測器分別測量。 An An 符合計數(shù)：符合計數(shù)：cnA 可得放射源的活度為：可得放射源的活度為：cnnnA 由于本底同時進(jìn)入兩個探測器的幾由于本底同時進(jìn)入兩個探測器的幾率很小；而級聯(lián)率很小；而級聯(lián)是相關(guān)事件，它們是相關(guān)事件，它們分別進(jìn)入兩個探測器的時刻一定是同分別進(jìn)入兩個探測器的時刻一定是同時的，則有：時的，則有：(2) 反符合反符合 用用反符合電路反符合電路來來消除同時事件消除同時事件 記錄記錄入射入射 射線在探測器中射線在探測器中能量全吸收能量全吸收的事件；的事件； 而而去除去除發(fā)生康普頓散射、并且

12、散射光子又發(fā)生發(fā)生康普頓散射、并且散射光子又發(fā)生逃逸的事件。逃逸的事件。h h e COINANTIBGOHPGeGate 為反符合電路的典型應(yīng)用，為反符合電路的典型應(yīng)用，可以有效提高可以有效提高（全能峰面積與譜全面積之比）（全能峰面積與譜全面積之比）多道分析器多道分析器反符合：反符合： 消除符合事件的信號消除符合事件的信號。HPGe成成形形BGO成成形形成成形形HPGeBGOOutput(3) 符合裝置的符合裝置的分辨時間分辨時間及及偶然符合偶然符合 ：符合裝置所能區(qū)分的最：符合裝置所能區(qū)分的最小時間間隔小時間間隔 s，符合電路兩輸入信號時間間隔只，符合電路兩輸入信號時間間隔只要要小于小于

13、s，就被認(rèn)為是，就被認(rèn)為是同時事件同時事件給出給出符合信號符合信號。 由于分辨時間的存在，引起偶由于分辨時間的存在，引起偶然計數(shù)：然計數(shù)：212nnnsrc 在偶然的情況下，同時到達(dá)符合電路的非關(guān)聯(lián)在偶然的情況下，同時到達(dá)符合電路的非關(guān)聯(lián)事件引起的符合稱為事件引起的符合稱為偶然符合偶然符合。(4) 延遲符合延遲符合 可以是可以是同時性同時性事件，也可以是事件，也可以是不同不同時性時性事件。事件。1D2Dd COIN1dD 例如：例如：飛行時間方法飛行時間方法(TOF)測量粒子的飛行時間。測量粒子的飛行時間。1DET 2DETCOINDELAY2符合測量裝置符合測量裝置1)、多道符合能譜儀、多道

14、符合能譜儀dn 加速器帶電粒子核反應(yīng)：加速器帶電粒子核反應(yīng)：34dHHen17.6MeV DET2DET12）、）、HPGe反康普頓反康普頓 譜儀譜儀用用HPGe反康反康普頓普頓 探測器探測器測得的測得的60Co 能譜能譜3）慢符合裝置及快慢）慢符合裝置及快慢符合裝置符合裝置慢符合裝置慢符合裝置1. 1. 能量的測量能量的測量 凡是輻射粒子的凡是輻射粒子的能量測量能量測量，探測器都，探測器都必須工作于必須工作于脈沖工作狀態(tài)脈沖工作狀態(tài)(電壓脈沖工作電壓脈沖工作狀態(tài)或電流脈沖工作狀態(tài)均可狀態(tài)或電流脈沖工作狀態(tài)均可)。在電壓。在電壓脈沖工作狀態(tài)時，脈沖幅度：脈沖工作狀態(tài)時，脈沖幅度：0CeNh 為

15、入射粒子在探測器為入射粒子在探測器靈敏體積內(nèi)靈敏體積內(nèi)產(chǎn)產(chǎn)生的生的信息載流子的數(shù)目信息載流子的數(shù)目。N1) 能譜能譜但實驗直接測得的是但實驗直接測得的是脈沖幅度譜脈沖幅度譜，即，即式中式中dN代表代表脈沖幅度脈沖幅度落在落在hh+dh的脈沖數(shù)，的脈沖數(shù)，dN/dh表示輸出脈沖幅度為表示輸出脈沖幅度為h的的單位幅度間隔單位幅度間隔內(nèi)的內(nèi)的脈沖數(shù)脈沖數(shù)。由于由于統(tǒng)計漲落統(tǒng)計漲落，即使對同一能量的帶電粒子，也，即使對同一能量的帶電粒子，也會產(chǎn)生會產(chǎn)生不同幅度的脈沖不同幅度的脈沖，形成，形成脈沖幅度分布脈沖幅度分布。脈。脈沖幅度分布的沖幅度分布的中心值中心值對應(yīng)對應(yīng)某一入射粒子的能量某一入射粒子的能量

16、。d/ d Nhh能譜的定義：能譜就是能譜的定義：能譜就是 的直方圖。的直方圖。d/ dNEE實測多采用實測多采用，給出：，給出：)()(道道址址計計數(shù)數(shù)率率ixxyi2) 譜儀的能量刻度和能量刻度曲線譜儀的能量刻度和能量刻度曲線 探測器輸出探測器輸出脈沖幅度脈沖幅度 與與入射粒子能量入射粒子能量E一般一般具有具有，這里的，這里的 指脈沖幅度分布的指脈沖幅度分布的中中心位置的幅度值心位置的幅度值。若輸出脈沖幅度與入射粒子。若輸出脈沖幅度與入射粒子能量具有良好的線性關(guān)系。則有：能量具有良好的線性關(guān)系。則有：hh21KhKE 而脈沖幅度分析器具有良好的線性，而脈沖幅度分析器具有良好的線性，hx 所

17、以：所以：0)(ExGxE 增益增益，單位，單位為為keV/ch零道址對應(yīng)的粒子零道址對應(yīng)的粒子能量，稱為能量，稱為零截零截E與與x的函數(shù)關(guān)系的函數(shù)關(guān)系E(x)，稱為能譜儀的稱為能譜儀的。借助于一組。借助于一組已知能量已知能量的輻射源進(jìn)行的輻射源進(jìn)行能量能量刻度刻度，而得到一條能量刻度曲線。橫坐標(biāo)為道，而得到一條能量刻度曲線。橫坐標(biāo)為道址址x，縱坐標(biāo)為入射粒子的能量，縱坐標(biāo)為入射粒子的能量E。xE0EG1E2E3E1x2x3x2. 2. 能譜的測量能譜的測量1) 能量分辨率能量分辨率以金硅面壘半導(dǎo)體探測器為例。以金硅面壘半導(dǎo)體探測器為例。232221EEEE 210Po的的E 5.3MeV，

18、E15.8keV%3 . 01098. 253008 .153 2) 能譜儀的能量刻度能譜儀的能量刻度 在測得輸出脈沖幅度譜后，必須進(jìn)行在測得輸出脈沖幅度譜后，必須進(jìn)行，才能確定，才能確定 粒子的能量。借助一組已知粒子的能量。借助一組已知能量的能量的 源進(jìn)行能量刻度，得到一條能量刻度源進(jìn)行能量刻度，得到一條能量刻度曲線。根據(jù)脈沖幅度分布的曲線。根據(jù)脈沖幅度分布的中心位置道址中心位置道址求出求出 粒子的能量粒子的能量。 對于對于 粒子能譜的測量，要考慮到粒子能譜的測量，要考慮到 粒子與粒子與物質(zhì)相互作用的特點物質(zhì)相互作用的特點，并盡量選擇，并盡量選擇能量分辨率能量分辨率較好較好及及使用較方便使用

19、較方便的探測器。的探測器。3) 探測器的選擇探測器的選擇 金硅面壘半導(dǎo)體探測器；屏柵電離室；帶金硅面壘半導(dǎo)體探測器；屏柵電離室；帶窗的正比計數(shù)器等。窗的正比計數(shù)器等。 由于由于 能譜是能譜是連續(xù)譜連續(xù)譜，僅存在，僅存在E max，給測量，給測量帶來困難。帶來困難。1）精確測定）精確測定 粒子能譜粒子能譜(如采用如采用磁譜儀磁譜儀)，用，用居居里描繪里描繪而求出而求出E max。也可用半導(dǎo)體探測器，。也可用半導(dǎo)體探測器，由于存在散射，會使譜形畸變，而影響測量結(jié)由于存在散射，會使譜形畸變，而影響測量結(jié)果。果。3. 3. 能譜的測量能譜的測量2）用）用吸收法吸收法測得測得 粒子的粒子的最大射程最大射

20、程，再根據(jù)，再根據(jù)經(jīng)經(jīng)驗公式驗公式求得其求得其最大能量最大能量。對。對 衰變伴有衰變伴有 射線發(fā)射線發(fā)射的樣品，一般都通過射的樣品，一般都通過 能譜的測量來確定核素能譜的測量來確定核素的含量。的含量。1. 1. 單能單能 能譜的分析能譜的分析1) 單晶單晶 譜儀譜儀常用常用NaI(Tl)，Cs(Tl)，Ge(Li)，HPGe等探測器等探測器 主過程主過程：全能峰全能峰光電效應(yīng)所有的累光電效應(yīng)所有的累計效應(yīng)；計效應(yīng)；多次康普頓散射、康普頓邊沿多次康普頓散射、康普頓邊沿及及平平臺臺；單、雙逃逸峰單、雙逃逸峰。2) 單能單能 射線的能譜射線的能譜 其他過程其他過程：和峰效應(yīng)和峰效應(yīng)；I(或或Ge)逃

21、逸峰逃逸峰；邊緣邊緣效應(yīng)效應(yīng)(次電子能量未完全損失在靈敏體積內(nèi)次電子能量未完全損失在靈敏體積內(nèi))。 屏蔽和結(jié)構(gòu)材料對屏蔽和結(jié)構(gòu)材料對 譜的影響譜的影響：散射散射及及反散射反散射峰峰；湮沒峰湮沒峰；特征特征X射線射線；軔致輻射軔致輻射。主過程主過程：全能峰全能峰光電效應(yīng)所有的累計效應(yīng)；光電效應(yīng)所有的累計效應(yīng)；多次康普頓散射多次康普頓散射、康普頓邊沿康普頓邊沿及及平臺平臺；單、雙逃單、雙逃逸峰逸峰。其他過程：其他過程：。和峰和峰其他過程：其他過程：。碘：碘：k = 28.6keVCo：k =6.9keV, k =7.7keVSi：k =1.74keVIn：k =24.0keVSnSn：k =25.

22、2keV其他過程：其他過程： 屏蔽和結(jié)構(gòu)材屏蔽和結(jié)構(gòu)材料對料對 譜的影響譜的影響：表面效應(yīng)表面效應(yīng)或或邊緣效應(yīng)邊緣效應(yīng) 正電子湮沒峰正電子湮沒峰屏蔽和結(jié)構(gòu)材屏蔽和結(jié)構(gòu)材料對料對 譜的影響譜的影響；。軔致輻射軔致輻射3) 能量特征峰能量特征峰 從從 射線能譜中可以看出，射線能譜中可以看出，全能峰全能峰、單逃逸峰單逃逸峰、雙逃逸峰雙逃逸峰的的峰位所對應(yīng)的能量峰位所對應(yīng)的能量與與 射線的能量射線的能量都都有確定的對應(yīng)關(guān)系，稱為有確定的對應(yīng)關(guān)系，稱為特征峰特征峰。即：。即： EEf 全能峰全能峰511keVsEE 單逃逸峰單逃逸峰1022keVdEE 雙逃逸峰雙逃逸峰(1) 峰位和能量刻度峰位和能量刻

23、度即特征峰的中心位置，代表即特征峰的中心位置，代表 射線的能量。射線的能量。：選一組能量已知的：選一組能量已知的 射線標(biāo)準(zhǔn)源，用射線標(biāo)準(zhǔn)源，用 譜儀得到特征峰的譜儀得到特征峰的與與 射線射線的關(guān)系，的關(guān)系，稱為對該稱為對該 譜儀的能量刻度。譜儀的能量刻度。(2) 峰寬與能量分辨率峰寬與能量分辨率峰函數(shù)峰函數(shù)：用高斯函數(shù)表示。：用高斯函數(shù)表示。222/)()()( piipeiyiy FWHM與與 的關(guān)系的關(guān)系：FWHM2.355 能量分辨率能量分辨率：FWHM100%pEhEhi 典型典型 能譜儀能量分辨率能譜儀能量分辨率55Fe 5.9keV137Cs 662keV60Co 1.33MeVS

24、i(Li)160220eV正比計數(shù)器正比計數(shù)器17%NaI(Tl)80%7-8%5-6%Ge(Li)或或HPGe1.32.2keV6.4keV5.9keV(3) 源峰探測效率源峰探測效率、峰面積峰面積、峰總比峰總比、峰康比峰康比源峰探測效率源峰探測效率(又稱又稱峰探測效率峰探測效率) sp峰面積峰面積 RLiipyNByNRLiip )1)(21 LRyyBRL或或峰總比：峰總比：譜的總面積譜的總面積特征峰面積特征峰面積 Tpf/峰康比：峰康比：康普頓平臺的峰值康普頓平臺的峰值全能峰的峰值全能峰的峰值 P閃爍探測器閃爍探測器半導(dǎo)體探測器半導(dǎo)體探測器2. 2. 譜儀裝置譜儀裝置1) 單晶單晶 譜

25、儀。譜儀。探測器探測器放大器放大器多道分析器多道分析器計算機計算機高壓高壓2) 全吸收反康普頓譜儀。全吸收反康普頓譜儀。主探測器主探測器符合環(huán)符合環(huán)前置放大前置放大反反符符合合帶帶門門控控的的多多道道前置放大前置放大控控制制信信號號測量信號測量信號用用HPGe反康普頓反康普頓 探測器測得的探測器測得的60Co 能譜能譜3) 康普頓譜儀康普頓譜儀(雙晶譜儀雙晶譜儀)。)cos1(120 cmhhheEhh 放大器放大器放大器放大器符合符合電路電路帶帶門門控控的的多多道道主探測器主探測器輔探測器輔探測器 h h測量信號測量信號門門控控信信號號201(1cos )ehEm ch 康普頓散射反沖電子能

26、量：康普頓散射反沖電子能量：4) 電子對譜儀電子對譜儀(三晶譜儀三晶譜儀)輔輔I輔輔II放大器放大器放大器放大器放大器放大器符符合合帶帶門門控控的的多多道道 e e測量信號測量信號門門控控信信號號3. 3. 復(fù)雜復(fù)雜 譜的解析譜的解析1) 標(biāo)準(zhǔn)譜法標(biāo)準(zhǔn)譜法 假定：混合假定：混合 能譜是樣品組成核素的標(biāo)準(zhǔn)能譜是樣品組成核素的標(biāo)準(zhǔn)譜按各自強度的譜按各自強度的線性疊加線性疊加。必須保證：。必須保證：標(biāo)準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)譜譜與與樣品譜樣品譜獲取獲取條件相同條件相同；譜儀響應(yīng)不隨計譜儀響應(yīng)不隨計數(shù)率而明顯變化數(shù)率而明顯變化。（1）剝譜法剝譜法（2）逆矩陣法逆矩陣法：樣品已知由：樣品已知由n種核素組成，種核素組成，求

27、每個核素的活度求每個核素的活度xj。(a) 確定確定特征道域即各特征道域即各全能峰全能峰，以，以i表示表示(b) 確定確定響應(yīng)函數(shù)響應(yīng)函數(shù)種成分的衰變率種成分的衰變率第第道造成的計數(shù)率道造成的計數(shù)率種成分在第種成分在第第第jijaij 通過標(biāo)準(zhǔn)譜得到通過標(biāo)準(zhǔn)譜得到(c) 混合樣品譜混合樣品譜第第i道的計數(shù)率道的計數(shù)率mi njjijixam1實驗測量得到實驗測量得到矩陣表示：矩陣表示：AXM A為為aij集合而成的矩陣，稱為譜儀的集合而成的矩陣，稱為譜儀的響應(yīng)矩陣響應(yīng)矩陣；X為未知量為未知量xj組成的矩陣；組成的矩陣； M為各道域計數(shù)率組成的列矩陣。為各道域計數(shù)率組成的列矩陣。(d) 解矩陣方程解矩陣方程MAX1 即：即： niiijjmax11可求出待測樣品的各組成核素的可求出待測樣品的各組成核素的含量含量。一般樣