匯頂、敦泰方案不良品分析

1、 匯頂、敦泰電性測(cè)試不良品分析2012.12.12目錄目錄n一一，匯頂測(cè)試常見(jiàn)問(wèn)題分析n二二，敦泰測(cè)試常見(jiàn)問(wèn)題分析一、匯頂測(cè)試常見(jiàn)問(wèn)題分析一、匯頂測(cè)試常見(jiàn)問(wèn)題分析目錄目錄 一.1 測(cè)試原始數(shù)據(jù)格式說(shuō)明測(cè)試原始數(shù)據(jù)格式說(shuō)明 一.2 測(cè)試原始數(shù)據(jù)與實(shí)物對(duì)應(yīng)關(guān)系測(cè)試原始數(shù)據(jù)與實(shí)物對(duì)應(yīng)關(guān)系 一.3 正常產(chǎn)品原始數(shù)據(jù)實(shí)例及分析正常產(chǎn)品原始數(shù)據(jù)實(shí)例及分析 一.4 常見(jiàn)不良問(wèn)題分析常見(jiàn)不良問(wèn)題分析 目前匯頂方案產(chǎn)品主要使用IC型號(hào)為GT813、GT818、GT868，本章以G813號(hào)IC（產(chǎn)品型號(hào)LCGZ045379）為例進(jìn)行數(shù)據(jù)分析，其它型號(hào)IC與其類(lèi)似。 1，匯頂測(cè)試軟件TP成品測(cè)試原始數(shù)據(jù)如下：一一.

2、 1 測(cè)試原始值數(shù)據(jù)格式說(shuō)明測(cè)試原始值數(shù)據(jù)格式說(shuō)明圖1 2，測(cè)試原始數(shù)據(jù)格式說(shuō)明 上述表格為11X20，因此行的方向?qū)?yīng)11條感應(yīng)通道，列方向?qū)?yīng)20（即19條驅(qū)動(dòng)通道+1條KEY驅(qū)動(dòng)通道）條驅(qū)動(dòng)通道。 每一個(gè)單元格對(duì)應(yīng)一個(gè)結(jié)點(diǎn)的采樣數(shù)據(jù)，該結(jié)點(diǎn)為表格上行列所在的感與驅(qū)動(dòng)相交而成。 因此： 同一行上數(shù)據(jù)表示該感應(yīng)線在不同驅(qū)動(dòng)產(chǎn)生激勵(lì)信號(hào)時(shí)采樣到的信號(hào)； 同一列上數(shù)據(jù)表示該驅(qū)動(dòng)產(chǎn)生激勵(lì)信號(hào)時(shí)，各感應(yīng)線上采樣到的信號(hào)。一一. 1 測(cè)試原始值數(shù)據(jù)格式說(shuō)明測(cè)試原始值數(shù)據(jù)格式說(shuō)明一一 . 2 測(cè)試原始值數(shù)據(jù)與實(shí)物對(duì)應(yīng)關(guān)系測(cè)試原始值數(shù)據(jù)與實(shí)物對(duì)應(yīng)關(guān)系 實(shí)物TP成品與測(cè)試原始數(shù)據(jù)對(duì)應(yīng)關(guān)系確定： 1、此對(duì)應(yīng)關(guān)

3、系由配置信息確定，通常情況下測(cè)試數(shù)據(jù)的行方向與實(shí)物上感應(yīng)通道有序?qū)?yīng)，測(cè)試數(shù)據(jù)的列方向與實(shí)物上的驅(qū)動(dòng)通道有序?qū)?yīng)： 如下為實(shí)物圖：圖2 如上述圖片，當(dāng)TP實(shí)物如圖擺放時(shí)，TP上驅(qū)動(dòng)從左至右與測(cè)試數(shù)據(jù)的列從左至右對(duì)應(yīng)；TP上的感應(yīng)從下至上與測(cè)試數(shù)據(jù)行從上至下對(duì)應(yīng)。 因此得出對(duì)應(yīng)關(guān)系后，當(dāng)測(cè)試數(shù)據(jù)某部分異常，即可確定是實(shí)物TP上哪個(gè)部位有異常。 2、對(duì)應(yīng)關(guān)系確定： 在“原始值”界面切換至查看差值模式，手指在操作面沿對(duì)角線（或分別沿水平和垂直）滑動(dòng)，觀看數(shù)據(jù)有變化區(qū)域的移動(dòng)軌跡和方向，即可確定實(shí)物與數(shù)據(jù)表格間的對(duì)應(yīng)關(guān)系。 一一 . 2 測(cè)試原始值數(shù)據(jù)與實(shí)物對(duì)應(yīng)關(guān)系測(cè)試原始值數(shù)據(jù)與實(shí)物對(duì)應(yīng)關(guān)系一一.

4、3 正常產(chǎn)品原始值實(shí)例及分析正常產(chǎn)品原始值實(shí)例及分析原始數(shù)據(jù)在最佳范圍內(nèi)的正常產(chǎn)品示例：原始數(shù)據(jù)在正常范圍內(nèi)的數(shù)據(jù)特征如下： 1、整屏數(shù)據(jù)離散性較小，全屏原始值較為均勻。 2、無(wú)論是同一行還是同一列，數(shù)據(jù)成一定規(guī)律逐漸增大或逐漸減小。圖3 一一 . 4 常見(jiàn)不良品問(wèn)題分析常見(jiàn)不良品問(wèn)題分析原始數(shù)據(jù)數(shù)據(jù)特征如下： 1，列方向（即同一條驅(qū)動(dòng)）對(duì)應(yīng)的數(shù)據(jù)明顯偏小，一般比正常相鄰據(jù)偏小400以上（如圖4、5），在差值界面觸摸對(duì)應(yīng)通道差值無(wú)變化。 2，請(qǐng)用萬(wàn)用表檢測(cè)或金相檢查，以進(jìn)行確認(rèn)是IC焊接開(kāi)路、FPC線路開(kāi)路、壓合不良、SENSOR走線開(kāi)路還是SENSOR走線劃傷。 3，若連續(xù)多條列方向（即連續(xù)

5、多條驅(qū)動(dòng)）對(duì)應(yīng)的數(shù)據(jù)明顯小（如圖6），在差值界面在差值界面觸摸對(duì)應(yīng)通道差值無(wú)變化，一般為SENSOR破片、SENSOR線路劃傷、壓合區(qū)撕裂、FPC撕裂等導(dǎo)致驅(qū)動(dòng)開(kāi)路。 4，驅(qū)動(dòng)與地短路其數(shù)據(jù)特征與驅(qū)動(dòng)開(kāi)路相同，因此僅憑數(shù)據(jù)無(wú)法確定是哪種不良，具體要用萬(wàn)用表檢測(cè)來(lái)確定。從實(shí)際經(jīng)驗(yàn)來(lái)看，開(kāi)路情況要多于短路。 問(wèn)題一：驅(qū)動(dòng)開(kāi)路、驅(qū)動(dòng)與地短路問(wèn)題一：驅(qū)動(dòng)開(kāi)路、驅(qū)動(dòng)與地短路圖4 一一 . 4 常見(jiàn)不良品問(wèn)題分析常見(jiàn)不良品問(wèn)題分析圖5 一一 . 4 常見(jiàn)不良品問(wèn)題分析常見(jiàn)不良品問(wèn)題分析圖6 一一 . 4 常見(jiàn)不良品問(wèn)題分析常見(jiàn)不良品問(wèn)題分析數(shù)據(jù)特征： 1、驅(qū)動(dòng)ITO線路蝕刻不良或當(dāng)發(fā)生斷裂性的損傷，列方向

6、（同一條驅(qū)動(dòng)方向）數(shù)據(jù)有部分正常，而從某個(gè)點(diǎn)以后就全都明顯偏小或幾乎沒(méi)有（如圖7、8）。 2、可能的原因?yàn)轵?qū)動(dòng)劃傷或ITO圖形蝕刻不良，導(dǎo)致驅(qū)動(dòng)ITO圖形損傷。 3、具體在金相下觀察，以確定問(wèn)題。 注：毛毛蟲(chóng)方案產(chǎn)品由于驅(qū)動(dòng)方式不同(即SENSOR上驅(qū)動(dòng)通道不共用，感應(yīng)通道共用)，ITO線路損傷、蝕刻不良測(cè)試現(xiàn)象為行方向連續(xù)幾個(gè)點(diǎn)或單個(gè)點(diǎn)原始值數(shù)據(jù)都明顯偏?。ㄈ鐖D9、10）。 問(wèn)題二：驅(qū)動(dòng)問(wèn)題二：驅(qū)動(dòng)ITO線路損傷、蝕刻不良線路損傷、蝕刻不良 一一 . 4 常見(jiàn)不良品問(wèn)題分析常見(jiàn)不良品問(wèn)題分析圖7 一一 . 4 常見(jiàn)不良品問(wèn)題分析常見(jiàn)不良品問(wèn)題分析圖8 一一 . 4 常見(jiàn)不良品問(wèn)題分析常見(jiàn)不良

7、品問(wèn)題分析 一一 . 4 常見(jiàn)不良品問(wèn)題分析常見(jiàn)不良品問(wèn)題分析圖9圖10原始數(shù)據(jù)特征如下： 1，行方向（即同一條感應(yīng)）對(duì)應(yīng)的單列或多列數(shù)據(jù)很小（為2，10等）或較大數(shù)據(jù)（如4095等），且多數(shù)數(shù)據(jù)相同（如圖11），在差值界面觸摸對(duì)應(yīng)通道差值無(wú)變化。 2，請(qǐng)用萬(wàn)用表檢測(cè)或金相檢查，以進(jìn)行確認(rèn)是IC焊接開(kāi)路、FPC線路開(kāi)路、壓合不良、SENSOR走線開(kāi)路還是SENSOR走線劃傷。 3，感應(yīng)與地短路其數(shù)據(jù)特征與感應(yīng)開(kāi)路相同，具體是哪種不良需用萬(wàn)用表測(cè)量加以確定。 問(wèn)題三：感應(yīng)通道開(kāi)路、感應(yīng)通道與地短路問(wèn)題三：感應(yīng)通道開(kāi)路、感應(yīng)通道與地短路 一一 . 4 常見(jiàn)不良品問(wèn)題分析常見(jiàn)不良品問(wèn)題分析圖11 一

8、一 . 4 常見(jiàn)不良品問(wèn)題分析常見(jiàn)不良品問(wèn)題分析 問(wèn)題三：接地端線路損傷、壓合不良問(wèn)題三：接地端線路損傷、壓合不良原始數(shù)據(jù)特征如下： 1，整屏數(shù)據(jù)離散性較小，全屏原始數(shù)據(jù)較為均勻,無(wú)論是同一行還是同一列，數(shù)據(jù)成一定規(guī)律逐漸增大或逐漸減小。 2，原始數(shù)據(jù)整體偏大，是正常數(shù)據(jù)的2倍及以上（如圖12）。 3，請(qǐng)用萬(wàn)用表檢測(cè)或金相檢查，以進(jìn)行確認(rèn)是FPC接地端線路線路開(kāi)路還是接地端壓合不良。 一一 . 4 常見(jiàn)不良品問(wèn)題分析常見(jiàn)不良品問(wèn)題分析圖12 一一 . 4 常見(jiàn)不良品問(wèn)題分析常見(jiàn)不良品問(wèn)題分析 問(wèn)題三：驅(qū)動(dòng)對(duì)驅(qū)動(dòng)短路、感應(yīng)對(duì)感應(yīng)短路問(wèn)題三：驅(qū)動(dòng)對(duì)驅(qū)動(dòng)短路、感應(yīng)對(duì)感應(yīng)短路原始數(shù)據(jù)特征如下： 1，整

9、屏數(shù)據(jù)離散性較小，全屏原始數(shù)據(jù)較為均勻，與正常產(chǎn)品原始數(shù)據(jù)相同（如圖13）。 2，在差值界面觸摸對(duì)應(yīng)通道差值變化量與其短路的通道差值變化量幾乎相同（如圖14）。 3，此類(lèi)不良品測(cè)試軟件只能在成品短路測(cè)試中檢出，在FPC測(cè)試、SENSOR測(cè)試、FOG半成品測(cè)試中均無(wú)法檢出。 4，請(qǐng)用萬(wàn)用表檢測(cè)或金相檢查，以進(jìn)行確認(rèn)是FPC線路短路、焊接短路、ITO線路短路、壓合短路。 一一 . 4 常見(jiàn)不良品問(wèn)題分析常見(jiàn)不良品問(wèn)題分析圖13 一一 . 4 常見(jiàn)不良品問(wèn)題分析常見(jiàn)不良品問(wèn)題分析圖14二、敦泰測(cè)試常見(jiàn)問(wèn)題分析二、敦泰測(cè)試常見(jiàn)問(wèn)題分析目錄目錄 一.1 測(cè)試數(shù)據(jù)格式說(shuō)明測(cè)試數(shù)據(jù)格式說(shuō)明 一.2 正常產(chǎn)品

10、測(cè)試數(shù)據(jù)實(shí)例及分析正常產(chǎn)品測(cè)試數(shù)據(jù)實(shí)例及分析 一.3 常見(jiàn)不良問(wèn)題分析常見(jiàn)不良問(wèn)題分析 目前敦泰方案產(chǎn)品主要使用IC型號(hào)為FT5206、FT5306、FT5406，本章以號(hào)ICFT5306（產(chǎn)品型號(hào)LCGU040594）為例進(jìn)行數(shù)據(jù)分析，其它型號(hào)IC與其相同。 1，敦泰測(cè)試軟件同一TP成品測(cè)試Raw Data數(shù)據(jù)及Vol Differ Value 變化量如下：一一. 1 測(cè)試數(shù)據(jù)格式說(shuō)明測(cè)試數(shù)據(jù)格式說(shuō)明Raw Data數(shù)據(jù) 圖15Vol Differ Value 變化量 圖162，測(cè)試數(shù)據(jù)與實(shí)物對(duì)應(yīng)關(guān)系由配置信息確定，通常情況下測(cè)試數(shù)據(jù)的行方向與實(shí)物上驅(qū)動(dòng)通道有序?qū)?yīng)，測(cè)試數(shù)據(jù)列方向與實(shí)物上的

11、感應(yīng)通道有序?qū)?yīng)，與實(shí)物對(duì)應(yīng)關(guān)系和匯頂方案基本相同（如圖2）。一一. 2 正常產(chǎn)品正常產(chǎn)品Raw Data數(shù)據(jù)實(shí)例及分析數(shù)據(jù)實(shí)例及分析Raw Data數(shù)據(jù)及及Vol Differ Value 變化量在最佳范圍內(nèi)的正常產(chǎn)品示例：圖17圖18Raw Data數(shù)據(jù)及及Vol Differ Value 變化量在正常范圍內(nèi)的數(shù)據(jù)特征如下： 1、Raw Data數(shù)據(jù)及及Vol Differ Value 變化量數(shù)據(jù)整體較為均勻。 2、無(wú)論是同一行還是同一列，數(shù)據(jù)離散性較小。 一.3 常見(jiàn)不良問(wèn)題分析常見(jiàn)不良問(wèn)題分析 問(wèn)題一：驅(qū)動(dòng)開(kāi)路、驅(qū)動(dòng)與地短路問(wèn)題一：驅(qū)動(dòng)開(kāi)路、驅(qū)動(dòng)與地短路 Raw Data數(shù)據(jù)及及Vol

12、 Differ Value 數(shù)據(jù)特征如下： 1，行方向（即同一條驅(qū)動(dòng)）對(duì)應(yīng)的Raw Data數(shù)據(jù)明顯偏大（如圖19），Vol Differ Value 數(shù)據(jù)明顯偏小（如圖20）。 2，請(qǐng)用萬(wàn)用表檢測(cè)或金相檢查，以進(jìn)行確認(rèn)是IC焊接開(kāi)路、FPC線路開(kāi)路、壓合不良、SENSOR走線開(kāi)路還是SENSOR走線劃傷。 3，若連續(xù)多條行方向（即連續(xù)多條驅(qū)動(dòng)）對(duì)應(yīng)的數(shù)據(jù)明顯小，一般為SENSOR破片、SENSOR線路劃傷、壓合區(qū)撕裂、FPC撕裂等導(dǎo)致驅(qū)動(dòng)開(kāi)路等。 4，驅(qū)動(dòng)與地短路其數(shù)據(jù)特征與驅(qū)動(dòng)開(kāi)路相同，因此僅憑數(shù)據(jù)無(wú)法確定是哪種不良，具體要用萬(wàn)用表檢測(cè)來(lái)確定。 Raw Data數(shù)據(jù) 圖19Vol Diff

13、er Value 數(shù)據(jù) 圖20 問(wèn)題二：感應(yīng)通道開(kāi)路、感應(yīng)通道與地短路問(wèn)題二：感應(yīng)通道開(kāi)路、感應(yīng)通道與地短路 一.3 常見(jiàn)不良問(wèn)題分析常見(jiàn)不良問(wèn)題分析Raw Data數(shù)據(jù)及及Vol Differ Value 數(shù)據(jù)特征如下： 1，列方向（即同一條感應(yīng)）對(duì)應(yīng)的Raw Data數(shù)據(jù)明顯偏大（如圖21），Vol Differ Value 數(shù)據(jù)明顯偏?。ㄈ鐖D22）。 2，請(qǐng)用萬(wàn)用表檢測(cè)或金相檢查，以進(jìn)行確認(rèn)是IC焊接開(kāi)路、FPC線路開(kāi)路、壓合不良、SENSOR走線開(kāi)路還是SENSOR走線劃傷。 3，感應(yīng)與地短路其數(shù)據(jù)特征與感應(yīng)開(kāi)路相同，具體是哪種不良需用萬(wàn)用表測(cè)量加以確定。Raw Data數(shù)據(jù) 圖21V

14、ol Differ Value 數(shù)據(jù) 圖22 一.3 常見(jiàn)不良問(wèn)題分析常見(jiàn)不良問(wèn)題分析 問(wèn)題三：?jiǎn)栴}三：SENSOR金屬橋不良、金屬橋不良、ITO蝕刻不良及損傷蝕刻不良及損傷Raw Data數(shù)據(jù)及及Vol Differ Value 數(shù)據(jù)特征如下： 1、當(dāng)SENSOR金屬橋蝕刻不良或當(dāng)發(fā)生斷裂性的損傷，列方向（同一條感應(yīng)方向）數(shù)據(jù)有部分正常，而從某個(gè)點(diǎn)以后Raw Data數(shù)據(jù)就全都明顯偏大（如圖23），Vol Differ Value 數(shù)據(jù)明顯偏?。ㄈ鐖D24）。 2、ITO圖形蝕刻不良導(dǎo)致驅(qū)動(dòng)與感應(yīng)短路時(shí)， Raw Data數(shù)據(jù)對(duì)應(yīng)的列方向與行方向均略大，其交點(diǎn)就是ITO短路的區(qū)域，Raw Da

15、ta數(shù)據(jù)在5500左右（如圖25）； Vol Differ Value 數(shù)據(jù)對(duì)應(yīng)的列方向明顯偏小，行方向略偏?。ㄈ鐖D25）。 3、具體在金相下觀察，以確定問(wèn)題。 一.3 常見(jiàn)不良問(wèn)題分析常見(jiàn)不良問(wèn)題分析Raw Data數(shù)據(jù) 圖25Vol Differ Value 數(shù)據(jù) 圖26Raw Data數(shù)據(jù) 圖23Vol Differ Value 數(shù)據(jù) 圖24 一.3 常見(jiàn)不良問(wèn)題分析常見(jiàn)不良問(wèn)題分析 問(wèn)題四：驅(qū)動(dòng)與驅(qū)動(dòng)短路、感應(yīng)與感應(yīng)短路問(wèn)題四：驅(qū)動(dòng)與驅(qū)動(dòng)短路、感應(yīng)與感應(yīng)短路Raw Data數(shù)據(jù)及及Vol Differ Value 數(shù)據(jù)特征如下： 1、 驅(qū)動(dòng)與驅(qū)動(dòng)短路； 行方向（即驅(qū)動(dòng)通道）兩行或多行Raw Data數(shù)據(jù)略比正常值略偏大（如圖27），其對(duì)應(yīng)的Vol Differ Value 數(shù)據(jù)出現(xiàn)相鄰兩行或多行變化量偏小，其中一行比其它行稍小（如圖28）。 2、 感應(yīng)與感應(yīng)短路： 列方向（即感應(yīng)通道）兩列或多列Raw Data數(shù)據(jù)略比正常值略偏大，其對(duì)應(yīng)的Vol Differ Value 數(shù)據(jù)出現(xiàn)相鄰兩列或多列變化量偏小，其中一列比其它列稍小。 3、驅(qū)動(dòng)與驅(qū)動(dòng)短路、感應(yīng)與感應(yīng)短路數(shù)據(jù)特征相同，具體哪種不良需用萬(wàn)用表及金相下確認(rèn)是哪種問(wèn)題。Raw Data數(shù)據(jù) 圖27Vol Differ Value 數(shù)據(jù) 圖28 問(wèn)題三：接地端線