整機可靠性測試手冊

1、 深深 圳圳 市市 世世 融融 通通 電電 子子 公公 司司產(chǎn)產(chǎn)品品測試測試手冊手冊編制部門： 品質(zhì)部 日期： 擬定： 日期： 審核： 日期： 批準： 日期： V1.0 整機測試手冊第 2 頁 共 11 頁版本時間修改內(nèi)容修改人 V1.0 整機測試手冊第 3 頁 共 11 頁目目 錄錄1 簡介.42. 整機測試項目 .52.1.電性能測試.52.2 ESD 測試.52.3 環(huán)境測試.52.4 壽命測試.42.5 機械強度測試.43.整機測試標準.63. 1 電性能測試標準.63. 2 ESD 靜電測試標準.53. 3 環(huán)境測試標準.73. 4 壽命測試標準.83. 5 機械強度測試標準.9 V

2、1.0 整機測試手冊第 4 頁 共 11 頁1 簡介1.1目的為了規(guī)范世融通公司產(chǎn)品測試的各項工作，使公司產(chǎn)品研發(fā)、品質(zhì)管理按照共同的測試項目和測試標準進行測試，以使項目各階段品質(zhì)保證能達到手機的測試要求，特制定本測試手冊。1.2適用范圍本手冊適用于本公司所有項目的整機測試。1.3責(zé)任公司產(chǎn)品研發(fā)、品質(zhì)保證都需按本測試手冊進行相關(guān)測試，對問題進行分析，確定責(zé)任部門，由責(zé)任部門提出改善對策。2 整機整機測試測試項目項目2.1 電性能測試按照產(chǎn)品檢驗規(guī)范和行業(yè)相關(guān)標準，測試手機的各項重要電性能指標；2.2 ESD 測試測試手機在靜電環(huán)境中的性能；2.3 環(huán)境測試模擬公司各產(chǎn)品使用的各種惡劣環(huán)境，測

3、試其性能是否達到要求；主要包括高/低溫試驗、濕熱試驗、防塵試驗等。2.4 壽命測試測試產(chǎn)品各易損部件的工作壽命是否達到規(guī)格要求；主要包括讀卡器，打印機，制票機等產(chǎn)品試驗。2.5 機械強度測試測試括讀卡器，打印機，制票機等機械結(jié)構(gòu)的強度；主要包含振動測試、跌落測試等。3.整機整機測試標準測試標準3.1 電性能測試標準依照公司規(guī)范、行業(yè)相關(guān)標準，測試公司產(chǎn)品的電性能。參考標準:1.公司的產(chǎn)品行業(yè)環(huán)境要求和試驗方法。2.公司產(chǎn)品根據(jù)公司可靠測試設(shè)備測試。 V1.0 整機測試手冊第 5 頁 共 11 頁3.根據(jù)公司可靠性設(shè)備進行安全要求和產(chǎn)品驗證進行試驗3.2 ESD 靜電測試標準產(chǎn)品在接充電器和不接

4、充電器的情況下，分別測試產(chǎn)品在常用使用狀態(tài)下的 ESD 性能，待機和運行狀態(tài)是必須要測試的狀態(tài)。接觸放電為6KV,對裸露的金屬件續(xù)放電各 10 次后對地放電,應(yīng)無數(shù)據(jù)丟失和功能損壞等；接觸放電每點每個測試電壓連續(xù)放電 10 次(加嚴測試20 次)；空氣放電10KV，主機底殼等處進行放電，被選點每點每個測試電壓放電 10 次(加嚴測試20 次)，每放電一次需對地放電，狀況應(yīng)良好，應(yīng)無數(shù)據(jù)丟失和功能損壞。注：測試后功能恢復(fù)正常，及外觀檢查應(yīng)良好（電鍍層不應(yīng)有掉鍍層等不良現(xiàn)象）。完成后作好記錄。所需手機數(shù)為 2 部。參考標準:行業(yè)可靠性技術(shù)要求和測試方法 ESD 實驗室環(huán)境要求:環(huán)境溫度： +15

5、+35相對濕度： ESD 實驗室濕度應(yīng)嚴格控制到 3060RH大氣壓力： 86106kPa 3.3 環(huán)境測試標準測試項目及條件：測試項目測試條件/參考標準主要測試階段數(shù)量注意事項低溫儲存試驗 T=-303，試驗時間 12 小時，回溫 2h后檢測功能、外觀、機械和電性能有無異常。 項目 PR1 階段，首次量產(chǎn)，重要元器件或元器件的供應(yīng)商，結(jié)構(gòu)材料變更；4試驗中手機帶電池關(guān)機狀態(tài)。低溫工作試驗T=-203，試驗時間 8 小時，測試過程中需進行中間檢測，觀察信號指示并進行撥打測試（或用儀器測試電性能），測試持續(xù)時間到后立即在該溫度下進行電性能和功能測試，最終檢測：將試驗樣品回溫2h 后檢測呼叫連接、

6、外觀、機械等應(yīng)正常。中間檢測及最終檢測均正常測試才為合格。 項目 PR1 階段，首次量產(chǎn)，更改重要元器件或元器件的供應(yīng)商，結(jié)構(gòu)材料變更；4試驗中手機處于待機狀態(tài)（如果 T=-203條件下電性能有異常情況，品質(zhì)可按照 T=-103的實驗條件作為最低出貨標準。若選擇觀測信號指示與被叫的方式，需將手機工作在帶 SIM 卡的標準用戶模式) V1.0 整機測試手冊第 6 頁 共 11 頁高溫儲存試驗T=652，試驗時間 12 小時，儲存時間到后立即檢測功能、外觀、機械和電性能應(yīng)正常。（可立即調(diào)低溫度至 552進行高溫工作試驗） 項目 PR1 階段，首次量產(chǎn)，更改重要元器件或元器件的供應(yīng)商，結(jié)構(gòu)材料變更；

7、4試驗中手機帶電池關(guān)機狀態(tài)。高溫工作試驗T=552，試驗時間 8 小時，測試過程中需進行中間檢測，進行主叫撥打測試（或用儀器測試電性能），測試持續(xù)時間到后在該溫度下進行電性能和功能測試，最終檢測：將試驗樣品回溫 2h 后進行功能、外觀、機械和電性能等檢測。中間檢測及最終檢測均正常測試才為合格。 項目 PR1 階段，首次量產(chǎn)，更改重要元器件或元器件的供應(yīng)商，結(jié)構(gòu)材料變更；4試驗中手機處于待機狀態(tài)。主叫可采用直接拔打 112的方式。恒定濕熱試驗T=402，RH=933%，試驗時間 48 小時，測試過程中需進行中間檢測，進行主叫撥打測試（或用儀器測試電性能），測試時間到后在該溫度下進行電性能和功能測

8、試，回溫 2h 后檢測呼叫連接、外觀、機械等應(yīng)正常。項目 PR1 階段，首次量產(chǎn)必須要測，更改重要元器件或元器件的供應(yīng)商，結(jié)構(gòu)材料變更4試驗中手機處于待機狀態(tài)。（翻蓋手機翻蓋處于打開狀態(tài)，使用大 LCD 也處于工作狀態(tài)，主叫采用撥打112 的方式）。濕熱循環(huán)試驗從室溫以不大于 1/MIN 速度變到 40，RH:933%，保持 1H；再以不大于 1/min速度變到-10，保持 1h；循環(huán) 13 次。循環(huán)期滿，回溫 2H 后檢測功能、外觀、機械和電性能應(yīng)正常。項目 PR1 階段，首次量產(chǎn)，更改重要元器件或元器件的供應(yīng)商，結(jié)構(gòu)材料變更；4試驗中手機處于待機狀態(tài) V1.0 整機測試手冊第 7 頁 共

9、11 頁鹽霧測試三個噴霧周期，每個2h，每個噴霧周期后有一個為期22h的濕熱儲存周期。噴霧條件為溫度為(1535)，濃度為(5.0 1)的氯化鈉溶液；儲存條件為(40 2),相對濕度為 9095項目 PR1 階段2手機帶電池關(guān)機狀態(tài)防塵試驗將手機放置在粉塵試驗箱內(nèi)，樣品體積綜合不得超過試驗箱有效空間的 1/3，底面積不得超過有效水平在積的 1/2；與實驗箱內(nèi)壁距離應(yīng)不小于 100mm。啟動粉塵試驗箱，使氣流能夠?qū)⒒覊m均勻緩慢地沉降在試驗樣品上，最大值不得超過 2m/s。測試時間到后，將手機在粉塵箱內(nèi)靜置 2H，進行功能、外觀及裝配檢測。（在儀器未到位前，也可采用袋子裝上少許灰塵，把手機裝進袋子

10、且用人手抖動袋子 1 分鐘方式）。 項目 PR1 階段，首次量產(chǎn)；2試驗中手機帶電池關(guān)機。 測試后的手機顯示區(qū)域內(nèi)、攝相頭區(qū)域內(nèi)不得有粉塵出現(xiàn)。 備注：對于本環(huán)境測試標準中未涉及的新工藝，新標準，可以根據(jù)具體情況采用行業(yè)標準來進行測試。備注：對于本環(huán)境測試標準中未涉及的新工藝，新標準，可以根據(jù)具體情況采用行業(yè)標準來進行測試。 * *防塵測試在沒有專用測試儀器的情況下，可以采用手動測試的方式代替。防塵測試在沒有專用測試儀器的情況下，可以采用手動測試的方式代替。 3.4 壽命測試標準 測試項目測試方法/標準主要測試階段數(shù)量注意事項以 4060 次/分鐘的速度翻動翻蓋，來回為1 次，要求翻蓋達到最大

11、轉(zhuǎn)動位置。每3000 次檢查 1 次。要求翻蓋最少測試 8 萬次。測試結(jié)束后首先對樣品進行功能、結(jié)構(gòu)檢測；然后拆機檢查鉸鏈周圍殼體以及FPC 有無外觀異常，并對 FPC 阻值進行測量。 第一次裝機，首次量產(chǎn)，轉(zhuǎn)軸供應(yīng)商變更；4翻/滑蓋壽命試驗以 4060 次/分鐘的速度滑動滑蓋，來回為1 次，要求滑動達到最大行程位置。每3000 次檢查 1 次。要求滑蓋最少測試 10萬次。測試結(jié)束后首先對樣品進行功能、結(jié)構(gòu)檢測；然后拆機檢查滑軌、FPC 外觀，并對 FPC 阻值進行測量。 第一次裝機，首次量產(chǎn)，轉(zhuǎn)軸供應(yīng)商變更；4測試中手機處于待機狀態(tài)；測試中手機應(yīng)無異常（關(guān)機，顯示亂等）；測試后手機應(yīng)無結(jié)構(gòu)松

12、動，響聲等，外觀無掉漆、裂痕；殼體無破裂，F(xiàn)PC 無破裂； V1.0 整機測試手冊第 8 頁 共 11 頁Speaker 壽命測試采用電池加旅充充電的供電方式或者直接用 4.2V 直流電源供電方式，將試驗樣機設(shè)置成長時間播放狀態(tài)（采用播放 MP3，循環(huán)連續(xù)播放），連續(xù)播放時間不少于120H，功能應(yīng)正常。 項目 PR1 階段，speaker 音頻參數(shù)調(diào)整，供應(yīng)商變更；6選用音頻較高的歌曲；測試中突然掉電不超過 1 分鐘可以累積測試時間，超過 1 分鐘必須重新計算。馬達振動壽命試驗將手機設(shè)置為馬達長時間振動狀態(tài)，試驗時間不少于 72H；對于單體馬達可采用：2 秒開 1 秒關(guān)為一個周期，循環(huán) 5萬次

13、以上，馬達功能應(yīng)正常。項目 PR1 階段，更換馬達供應(yīng)商；3單體振動周期選取參考手機實際使用定出，選取最接近的振動周期進行測試機械按鍵壽命測試以 4060 次/分鐘的速度，不小于 5N 的力度均勻按鍵，Dome：10 萬次；Switch：5萬次；導(dǎo)航鍵：6 萬次，每 2 萬次檢查 1次，試驗后功能應(yīng)正常。項目 PR1 階段，DOME 供應(yīng)商、按鍵設(shè)計變更；2手機處于關(guān)機狀態(tài)電池插拔測試裝上電池再取下電池。累計 2000 次以上。每插拔 100 次開機檢查一次，手機功能應(yīng)正常。項目 PR1 階段，電池連接器變更；2測試速度不超過 30 次/分（插入拔出算一次）SIM 卡插拔測試插入 SIM 卡再

14、取出，累計 1000 次。每插拔100 次開機檢查一次，手機不能有不識卡現(xiàn)象，測試完畢手機功能應(yīng)正常。（2 合一，3 合一卡座特殊處理）項目 PR1 階段，更換 SIM 卡座供應(yīng)商；2測試速度不超過 30 次/分（插入拔出算一次）外置內(nèi)存卡插拔試驗插入內(nèi)存卡再取出，累計 1000 次。不支持熱插拔的機型，每插拔 100 次開機檢查一次，支持熱插拔的機型必須在開機狀態(tài)下測試，每插拔 100 次檢查一次，要求測試后存儲卡結(jié)構(gòu)正常（不能破裂），手機無不識卡問題，內(nèi)存卡中的內(nèi)容不可丟失。項目 PR1 階段，更換 T 卡座供應(yīng)商；2插拔頻率不超過 30 次/分鐘。（插入拔出算一次）耳機插孔插拔試驗將耳機

15、垂直插入耳機孔后，再垂直拔出，如此反復(fù)，累計 3000 次。功能應(yīng)正常。項目 PR1 階段，更換耳機插孔供應(yīng)商；2插拔頻率不超過 3040 次/分鐘。（插入拔出算一次）若手機采用數(shù)據(jù)線、耳機、充電器三合一接口，需要采用三種配件對應(yīng)同一個母座各測試 3000 次。I/O 插拔測試插入數(shù)據(jù)線再拔下，累計 3000 次。每插拔100 次開機檢查一次，手機功能應(yīng)正常。項目 PR1 階段，更換 I/O 口供應(yīng)商；2插拔頻率不超過 30 次/分鐘。（插入拔出算一次）若手機采用數(shù)據(jù)線、耳機、充電器三合一接口，需要采用三種配件對應(yīng)同一個母座各測試 3000 次。 V1.0 整機測試手冊第 9 頁 共 11 頁

16、電池蓋插拔測試插上電池后蓋再拔下，累計 1000 次，外觀、功能應(yīng)正常。 項目 PR1 階段，更換電池蓋材料/供應(yīng)商；2插拔頻率不超過 30 次/分鐘 （插入拔出算一次）手寫筆插拔測試手寫筆垂直插入手機再拔出為一次，插拔10000 次，實驗中檢查手機與手寫筆的配合有無不順暢現(xiàn)象。測試完畢后手機與手寫筆外觀、結(jié)構(gòu)應(yīng)正常。（試驗速率：25 次/分鐘）項目 PR1 階段，更換手寫筆供應(yīng)商；210000次測試后，手機殼體卡扣彈片功能正常，無破裂；手寫筆可以鎖緊不會滑落，多段設(shè)計的手寫筆，拉出后應(yīng)為伸長狀態(tài)觸摸屏點擊試驗將手機固定在點擊測試儀器上，用固定在尖端的隨機手寫筆，加載 150g 的力，對觸摸屏

17、點擊 25 萬次，每 5 萬次對屏幕進行檢查并清潔；手機處于待機狀態(tài)；測試完畢后，觸摸屏表面無損傷，功能正常。點擊速率：約 1 次/秒第一次送樣，更換 TP、觸摸IC；或更換LCD 供應(yīng)商；2采用手機自帶手寫筆進行測試，同時驗證手寫筆的可靠性。觸摸屏劃線試驗將手機固定在劃線測試儀器上，用手機自帶的手寫筆沿觸摸屏的對角線進行劃線測試，劃線壓力為 150g 力，測試次數(shù) 10 萬次（反復(fù)來回為 2 次），每 1 萬次對觸摸屏功能、結(jié)構(gòu)和外觀進行檢測，并對觸摸屏進行清潔。測試結(jié)束后，觸摸屏功能應(yīng)正常，外觀無損傷（劃痕）。（劃線速度：約 30mm/秒）第一次送樣，更換 TP、觸摸IC，或更換LCD 供

18、應(yīng)商；2劃線測試距離不小于屏幕對角線距離的 1/3。備注：觸摸屏點擊劃線試驗為選作測試項目，只針對備注：觸摸屏點擊劃線試驗為選作測試項目，只針對 TP 的新供應(yīng)商樣品做驗證測試，標準屏不再安排此的新供應(yīng)商樣品做驗證測試，標準屏不再安排此項測試。項測試。3.5 機械強度測試標準測試項目測試方法/標準主要測試階段數(shù)量注意事項跌落試驗（單機）試驗樣機插 SIM 卡，并裝配電池，手機處于正常待機狀態(tài)。將樣品放置在垂直跌落試驗儀上，將高度調(diào)到 1.3m ，進行垂直跌落測試。每個面各測 2 次，共跌落 12 次。跌落測試后，首先對樣品進行外觀、功能，結(jié)構(gòu)檢測，記錄測試狀態(tài)后，再進行拆機檢測。 （2.8 的

19、屏適用 1.3 米，2.8的屏適用 1 米） 第一次裝機，項目 PR1，首次量產(chǎn)，電池、殼體、屏等大的器件變更及供應(yīng)商變更；4試驗從手機的最小面開始跌落，每個循環(huán)中LCD 面為最后跌落面；有翻蓋（滑蓋）的移動電話機應(yīng)將蓋合上；跌落后進行外觀檢查，磨損是可以的，但不應(yīng)有破裂以及裂痕；電池蓋易脫落，手寫筆易脫出，兩次以內(nèi)的掉卡或掉電以及膠塞拉出但未脫落等現(xiàn)象不作為不合格的判定依據(jù)。 拆機檢測：內(nèi)部殼體無破裂機變形，定位柱等無變 V1.0 整機測試手冊第 10 頁 共 11 頁形，確保主板定位良好，主板元器件無損傷。試驗中，若因為設(shè)計原因，無法滿足跌落后電池后蓋任然鎖緊狀態(tài)，可采用加貼膠紙的方式固定

20、電池蓋后再進行測試 撞擊試驗單體測試： 將單體顯示屏固定在剛性支撐面上，用 45g 鋼球，從 50cm 高處，以初速為 O 的狀態(tài)，垂直沖擊鏡片中心點位置共5 次。試驗結(jié)束后，對樣品進行外觀檢測。 整機測試：將試驗樣品裝上配套電池。不開機狀態(tài)下依靠在剛性的支撐面上，用 45g鋼球，從 50cm 高處，以初速為 O 的狀態(tài)，垂直沖擊中心位置共 5 次。試驗結(jié)束后，對樣品進行功能、外觀及裝配檢測。第一次裝機，改 LCD 組件或供應(yīng)商變更2單體測試試驗： 采用45g鋼球從50cm處垂直落下的方式進行。 單體測試后，顯示屏外觀無損傷，功能應(yīng)正常。 整機測試試驗： 采用45g鋼球從50cm處垂直落下的方式進行。 整機測試后，手機顯示應(yīng)無異常，觸摸屏外觀、功能應(yīng)正常。(不適用TP)微跌試驗樣機插 SIM 卡開機狀態(tài)，高度為 7cm 跌落到地面為 PVC（厚度 4m