超聲波探傷操作工藝規(guī)程

1、超聲波探傷操作工藝規(guī)程1 .主題內(nèi)容與適用范圍1.1 本規(guī)程規(guī)定了檢測人員資格、儀器探頭試塊、檢測范圍、方法和質(zhì)量分級等。1. 2本規(guī)程采用A型脈沖反射型超聲探傷儀器對鋼板、鍛件和焊縫進行檢測。1. 3本規(guī)程按JB4730.3-2005編制，符合容規(guī)和GB150-1998的要求。1.4檢測工藝卡是本規(guī)程的補充，必要時由III級人員按合同要求編制，其檢測參數(shù)規(guī)定的更具體。2引用標準JB4730-2005承壓設備無損檢測JB/T7913-1995超聲波檢測用鋼制對比試塊的制作與校驗方法JB/T9214-1999A型脈沖反射式超聲波探傷系統(tǒng)工作性能測試方法JB/T10061-1999A型脈沖反射式超

2、聲波探傷儀通用技術條件JB/T10062-1999超聲探傷用探頭性能測試方法JB/T10063-1999超聲探傷用1號標準試塊技術條件GB150-1998剛制壓力容器3檢測人員3.1從事承壓設備的原材料、零部件和焊接接頭無損檢測的人員，應按照特種設備無損檢測人員考核與監(jiān)督管理規(guī)則的要求取得相應無損檢測資格。3.2無損檢測人員資格級別分為川（高）級、U（中）級和1（初）級。取得不同無損檢測方法各資格級別的人員，只能從事與該方法和該資格級別相應的無損檢測工作，并負相應的技術責任。1.4儀器、探頭和試塊1.4.1儀器和探頭現(xiàn)使用儀器為汕頭超聲儀器廠生產(chǎn)的CTS-22和CTS-26型儀器以及CTS-2

3、000數(shù)字超聲探傷儀和武漢科聲超聲儀器廠生產(chǎn)KS-1030數(shù)字超聲探傷儀及探頭。a儀器和探頭的組合靈敏度：在達到所檢工件最大聲程時，其靈敏度余量應10dBb衰減器精度：80dB以上連續(xù)可調(diào)，步進級每檔不大于2dB精度為任意相鄰12dB誤差在土IdB以內(nèi)，最大累計誤差不大于IdB。c水平線性：水平線性誤差不大于1%。d垂直線性：在熒光屏滿刻度的80%范圍內(nèi)呈線性顯示，垂直線性誤差不大于5%oe探頭(1) 晶片面積一般不應大于5002mm且任一邊長原則上不大于25mm。(2) 單斜探頭聲束軸線水平偏離角不應大于2o,主聲束垂直方向不應有明顯的雙峰。f超聲探傷儀和探頭的系統(tǒng)性能(1) 在達到所探工件

4、的最大檢測聲程時，其有效靈敏度余量應不小于10dB(2) 儀器和探頭的組合頻率與公稱頻率誤差不得大于±10%。(3) 儀器和直探頭組合的始脈沖寬度(在基準靈敏度下)對于頻率為5MHz的探頭，寬度不大于10mm對于頻率為2.5MHz的探頭，寬度不大于15mm。(4)直探頭的遠場分辨力應不小于30dB斜探頭的遠場分辨力應不小于6dBo1.4.2試塊a試塊應采用與被檢工件相同或近似聲學性能的材料制成，該材料用直探頭檢測時，不得有大于©2mm平底孔當量直徑的缺陷。b標準試塊的其他制造要求應符合JB/T10063和JB/T7913-1995的規(guī)定。c現(xiàn)場檢測時，也可采用其他形式的等效

5、試塊。1.5檢測的一般方法1.5.1檢測復蓋率檢測時，探頭的每次掃查復蓋率應大于探頭直徑的15虬1.5.2探頭的移動速度探頭的掃查速度不應超過150mm/s。當采用自動報警裝置掃查時，不受此限。1.5.3掃查靈敏度掃查靈敏度通常不低于基準靈敏度。1.5.4耦合劑采用機油、漿糊、甘油和水等透聲性好，且不損傷檢測表面的耦合劑。1. 5.5檢測面a檢測面和檢測范圍的確定原則上應保證檢查到工件被檢部分的整個體積。對于鋼板和鍛件應檢查到整個工件；而對熔接焊縫則應檢查到整條焊縫。b檢測面應經(jīng)外觀檢查合格，所有影響超聲檢測的銹蝕、飛濺和污物都應予以清除，其表面粗糙度應符合檢測要求。1.6 校準校準應在基準試

6、塊上進行，校準中應使超聲主聲束垂直對準反射體的軸線,以獲得穩(wěn)定的和最大的反射信號。1.7 .1儀器校準在儀器開始使用時，應對儀器的水平線進行測定，測定方法按JB/T10061的規(guī)定進行。在使用過程中，每隔三個月至少應對儀器的水平線和垂直線性進行一次測定。1. 6.2探頭校準在探頭開始使用時，應對探頭進行一次全面的校準。測定方法按JB/T10062的有關規(guī)定進行。a斜探頭校準使用前，斜探頭至少應進行前沿距離、K值、主聲束偏離、靈敏度余量和分和辨力等的校準。使用過程中，每個工作日應校準前沿距離、K值和主聲束偏離。b直探頭校準直探頭的靈敏度余量和分辨力應每隔一個月檢查一次。1.6.3儀器和探頭系統(tǒng)的

7、復核a復核時機每次檢測前均應對掃描線，靈敏度進行復核，遇有下述情況應隨時對其進行重新核查：(1) 校準后的探頭，耦合劑和儀器調(diào)節(jié)旋紐發(fā)生改變時：(2) 開路電壓波動或者檢測者懷疑靈敏度有變化時；(3)連續(xù)工作4h以上時；(4)工作結(jié)束時；如果距離一波幅曲線上任意一點在掃描線上的偏移超過掃描讀數(shù)的10%,則掃描量程應予以修正，并在檢測記錄中加以說明。c距離一波幅曲線的復核復核時，校核應不少于3點。女口曲線上任何一點幅度下降2dB則應對上一次以來所有的檢測結(jié)果進行復驗；如幅度上升2dB,則應對所有的記錄信號進行重新評定。1. 7報告存檔按統(tǒng)一表樣由U級以上人員填寫報告，經(jīng)責任工程師認可。鋼板，鍛件

8、報告送委托人轉(zhuǎn)技術質(zhì)量部存檔；壓力容器焊縫檢測報告，與其它檢測報告一起交技術質(zhì)量部存檔。資料存檔不少于七年。2壓力容器鋼板超聲檢測2. 1檢測范圍和一般要求本條適用于板厚為6s250mm的鋼制壓力容器用板的超聲檢測和缺陷等級評定。奧氏體鋼板材的超聲檢測也可以參照本條執(zhí)行。2. 2探頭選用探頭的選用應按JB4730-2005表1的規(guī)定執(zhí)行。2. 3標準試塊2.3.1用雙晶直探頭檢測壁厚小于或等于20mm的鋼板時，采用標準試塊如JB4730-2005圖1所示CBI標準試塊。2.3.2用單直探頭檢測板厚大與20mm的鋼板時，標準試塊應符合JB4730-2005圖2和表2規(guī)定的CBII試塊。試塊厚度應

9、與被檢鋼板厚度相近。2.4檢測靈敏度2.4.1板厚小于或等于20mm時，用CBI試塊將工件等厚部位第一次底波高度調(diào)整到滿刻度的50%,再提高10dB作為檢測靈敏度。2.4.2板厚大于20mm時，應將CBII試塊5平底孔第一次反射波高調(diào)整到滿刻度的50%作為檢測靈敏度。2.4.3板厚不小于探頭的3倍近場區(qū)時，也可取鋼板無缺陷的完好部位的第一次底波來校準靈敏度。其結(jié)果應與2.4.2條的要求一致。2.5檢測方法2.5.1檢測面JB4730-2005表2試塊編號被檢鋼板厚度檢測面平底孔的距離S試塊厚度TCBII-1CBII-2CBII-3CBII-4CBII-5CBII-6>20-40>4

10、0-60>60-100>100-160>160-200>200-25015305090140190>20> 40> 65> 110> 170> 220可選鋼板的任一扎制平面進行檢測。若檢測人員認為需要或設計上有要求時，也可對鋼板的上下兩扎制平面分別進行檢測。2. 5.2掃查方式a探頭沿垂直于鋼板壓延方向，間距為100mm的平行線進行掃查。在鋼板坡口預定線兩側(cè)各50mm(當板厚超過100mm,以板厚的一半為準)內(nèi)應作100%掃查，掃查示意圖如JB4730-2005圖3所示。b根據(jù)合同，技術協(xié)議書或圖樣的要求，也可進行其它形式的掃查。3.

11、 6缺陷記錄4. 6.1在檢測過程中，發(fā)現(xiàn)下列三種情況之一者即作為缺陷：a缺陷第一次反射波(F1)波高大于或等于波刻度的50%,即Fl>503者。b當?shù)酌娴谝淮畏瓷洳?B1)波高未達到滿刻度，此時，缺陷第一次反射波(F1)波高與底面第一次反射波(B1)波高之比大于或等于50%,即B1V100%,而Fl/B1>50%c當?shù)酌娴谝淮畏瓷洳?B1)波高低于滿刻度的5波,即BlV50%者。2. 6.2缺陷的邊界或指示長度的測定方法a檢出缺陷后，應在它的周圍繼續(xù)進行檢測，以確定缺陷的延伸。b用雙晶直探頭確定缺陷的邊界或指示長度時，探頭的移動方向應與探頭的聲波分割面相垂直，并使缺陷波下降到檢測

12、靈敏度條件下熒光屏滿刻度的25%或使缺陷第一次反射波高與底面第一次反射波高之比為50%o此時，探頭中心的移動距離即為缺陷的指示長度，探頭中心點即為缺陷的邊界點。兩種方法測得的結(jié)果以較嚴重者為準。C用單直探頭確定缺陷的邊界或指示長度，移動探頭，使缺陷波第一次反射波高下降到檢測靈敏度條件下熒光屏滿刻度的25%或使缺陷第一次反射波與底面第一次反射波高之比為50%o此時，探頭中心移動距離即為缺陷的指示長度，探頭中心即為缺陷的邊界點，兩種方法測得的結(jié)果以較嚴重者為準。d確定2.6.1c條缺陷的邊界或指示長度時，移動探頭，使底面第一次反射波升高到熒光屏滿刻度的50%o止匕時，探頭中心移動距離即為缺陷的指示

13、長度，探頭中心點即為缺陷的邊界點。e當采用第二次缺陷波和第二次底波來評定缺陷時，檢測靈敏度應以相應的第二次反射波來校準。2.7缺陷的評定方法2. 7.1缺陷指示長度的評定方法-個缺陷按其指示的最大長度作為該缺陷的指示長度。2.7.2單個缺陷指示面積的評定規(guī)則a一個缺陷按其指示的最大面積作為該缺陷的單個指示面積，當其小于JB4730-2005表3的規(guī)定時，可不作記錄。b多個缺陷其相鄰間距小于100mm或間距小于相鄰小缺陷的指示長度（取其較大值）時，其各塊缺陷面積之和作為單個缺陷指示面積。2.7.3缺陷面積占有率的評定規(guī)則在任一ImK1m檢測面積內(nèi)，按缺陷面積所占的百分比來確定。2.8鋼板缺陷等級

14、評定2.8.1鋼板缺陷等級劃分見JB4730-2005表3。2.8.2在坡口預定線兩側(cè)各50mm（板厚大于100mm時，以板厚的一半為準）內(nèi)，缺陷的指示長度大于或等于50mm時，則應評為V級。2.9.3在檢測過程中，檢測人員如確認鋼板中有白點、裂紋等危害性缺陷存在時，應評為V級。JB4730-2005表3等級單個缺陷指示長度mm單個缺陷指示面積cm2在任一ImXlm檢測面積內(nèi)存在的缺陷面積百分比%以下單個缺陷指示面積不計cm2IIIIIIIV <80<100<120<150<25<50<100<100<3< 5< 10<

15、10<9<15<25<25V超過IV級者3.壓力容器鍛件超聲檢測本條適用于壓力容器用碳素鋼和低合金鋼鍛件的超聲檢測和缺陷等級評定。本條不適用于奧氏體鋼等粗晶材料的超聲檢測，也不適用于內(nèi)外半徑之比小于80%的環(huán)形和筒形鍛件的周向橫波檢測。3.2試塊應符合1.4.2.條的規(guī)定。1.1.1 2.1縱橫直探頭標準試塊試塊應采用CS1試塊,也可自行加工，其形狀和尺寸應按JB4730-2005表4和JB4730-2005圖4的規(guī)定。JB4730-2005表4縱橫直探頭采用的標準試塊尺寸L56100150200D506080801.1.2 縱波雙晶直探頭標準試塊a.工件檢測距離小于4

16、5niin時，應米用縱波雙晶直探頭標準試塊。b.縱波雙晶直探頭標準試塊的形狀和尺寸按JB4730-2005圖5和表5的規(guī)定。1.1.3 檢測面是曲面時，應米用CSIII對比試塊來測定由于曲率不同而引起的聲能損失,其形狀和尺寸按JB4730-2005圖6所示。3.3檢測時機原則上應安排在熱處理后，槽、孔、臺階加工前進行。若熱處理后鍛件形狀不適合超聲檢測時，也可在熱處理前進行，但在熱處理后仍應對鍛件進行盡可能完全的檢測。檢測面的表面粗糙度Ra為6.3Pm=3.4檢測方法鍛件一般應進行縱波檢測。對筒形鍛件還應增加橫波檢測，但掃查部位和驗收標準應由供需雙方商定。3.4.1橫波檢測應按JB4730-20

17、05附錄I(補充件)的要求進行。3.4.2縱波檢測a.原則上應從兩個相互垂直的方向進行檢測，盡可能地檢測到鍛件的全體積。主要檢測方向如JB4730-2005圖7所示。其它形狀的鍛件也可參照進行。b.鍛件厚度超過400nlm時，應從相對兩端面進行100%的掃查。3.5檢測靈敏度的確定3.5.1縱波直探頭檢測靈敏度的確定當被檢測部位的厚度大于或等于探頭的三倍近場區(qū)時，原則上可選用底波計算法確定檢測靈敏度。對由于幾何形狀所限，不能獲得底波或壁厚小于探頭的三倍近場區(qū)時，可直接采用CSI標準試塊確定基準靈敏度。3.5.2縱波雙晶直探頭檢測靈敏度的確定根據(jù)需要選擇CSH試塊，并依次測試一組不同檢測距離的3

18、mm平底孔(至少三個)。調(diào)節(jié)衰減器，使其中最高的回波幅度達到滿刻度的80%o不改變儀器的參數(shù)，測出其它平底孔回波的最高點，將其標在熒光屏上，連接這些點，即是對應于不同直徑平底孔的縱波雙晶直探頭的距離一波幅曲線，并以此作為檢測靈敏度。3.5.3檢測靈敏度一般不得低于最大檢測距離處的©2mm平底孔當量直徑.3.6工件材質(zhì)衰減系數(shù)的測定3. 6.1在工件無缺陷完好區(qū)域，選取三處檢測面與底面平行且有代表性的部位，調(diào)節(jié)儀器使第一次底面回波幅度(B1)為滿刻度的50%,記錄此時衰減器的讀數(shù)，再調(diào)節(jié)衰減器，使第二次底面回波幅度(B2)為滿刻度的50%,兩次衰減器讀數(shù)之差即為(B1-B2)的dB差值

19、。4. 6.2衰減系數(shù)的計算公式為；(1) 衰減系數(shù)計算公式(Tv3N,且滿足n>3N/T,m=2n)a=(Bn-Bm)-6/2(m-n)T(2) 衰減系數(shù)計算公式(T>3N)a=(B1-B2)-6/2T式中：a衰減系數(shù),dB/m(單程);(Bn-Bm)、(B1-B2)兩次衰減器的讀數(shù)之差，dB；T工件檢測厚度，mmN單直探頭近場區(qū)長度，mmmn底波反射次數(shù)。3. 6.3工件上三處衰減系數(shù)的平均值即作為該工件的衰減系數(shù)。3.7缺陷當量的確定3. 7.1采用AVG曲線及計算法確定缺陷當量。對于三倍近場區(qū)內(nèi)的缺陷，可采用單直探頭或雙晶直探頭的距離一波幅曲線來確定缺陷當量。也可采用其它等

20、效方法來確定。計算缺陷當量時，當材質(zhì)衰減系數(shù)超過4dB/m,應考慮修正。4. 8缺陷記錄5. 8.1記錄當量直徑超過©4mm的單個缺陷的波幅和位置。6. 8.2密集性缺陷：記錄密集性缺陷中最大當量缺陷的位置和分布。餅形鍛件應記錄大于或等于©4mm當量直徑的缺陷密集區(qū)，其它鍛件應記錄大于或等于©3mm當量直徑的缺陷密集區(qū)。缺陷密集區(qū)面積以50m材50mm的方塊作為最小量度單位，其邊界可由6dB法決定。應按JB4730-2005表6要求記錄底波降低量。3.8.3衰減系數(shù)：若供需雙方有規(guī)定時，應記錄衰減系數(shù)。3.9缺陷等級評定3.9.1單個缺陷的等級評定見JB4730-

21、2005表7。3.9.2底波降低量的等級評定見JB4730-2005表6。3.9.3密集區(qū)缺陷等級評定見JB4730-2005表8。3. 9.4JB4730-2008表6、表7和表8的等級應作為獨立的等級分別使用。4. 9.5如果被檢測人員判定為危險性缺陷時，鍛件質(zhì)量等級應評定為V級。5. 9.7鍛件修補后，應按本標準的要求進行檢測和評定。6. 鋼制壓力容器焊縫超聲檢測1 .1檢測范圍和一般要求本條規(guī)定了焊縫缺陷的超聲檢測方法及檢驗結(jié)果的等級評定。本條適用于母材厚度為8-400mm全焊透熔化焊對接焊縫和管座角焊縫的超聲檢測。本條不適用于鑄鋼及奧氏體鋼焊縫，外徑小于159nlm的鋼管對接焊縫，內(nèi)

22、徑小于或等于200mm的管座角焊縫，也不適用于外徑小于250mni或內(nèi)外徑之比小于80%的縱向焊縫檢測。2 .2超聲檢測技術等級超聲檢測技術等級分為A、B、C三個檢測級別。根據(jù)壓力容器產(chǎn)品的重要程度進行選用。(1)原則上A級檢測適用于承壓設備有關的支承件和結(jié)構(gòu)件焊縫檢測;A級用1種K值探頭；A級適用于母材厚度8mnr46mmA級為單面單側(cè)；對橫向缺陷的檢測，A級一般不需檢測橫向缺陷；3 2)B級檢測適用于一般承壓設備對接焊縫檢測；B級用1種或2種K值探頭；B級適用于母材厚度8mnrr400mm；B級為單面雙側(cè)或雙面雙側(cè)；B級應檢測橫向缺陷。4 3)C級檢測適用于重要承壓設備對接焊縫檢測；C級用

23、2種K值探頭；C級適用于母材厚度8mmr400mm；C級為單面雙側(cè)或雙面雙側(cè)；C級應檢測橫向缺陷(4)對焊接接頭余高的要求，A級、B級不要求將焊接接頭的余高磨平，而C級要求磨平。(5)對掃查區(qū)母材的檢測，C級要求用直探頭對斜探頭掃查經(jīng)過的母材區(qū)域進行檢測。A級和B級則不需要。4. 3試塊4.3. 1應符合1.4.2條的規(guī)定。4.3.2 采用的標準試塊為CSK-IA,CSK-nA、CSK-川A和CSK-IVA。其形狀和尺寸應分別符合JB4730-2005圖14'圖15、圖16、圖17和表17的規(guī)定。4.3.3 3.3CSK-IA,CSK-nA和CSK-mA試塊適用壁厚范圍為6T20mm的

24、焊縫，CSK-IA和CSK-IVA系列試塊適用于壁厚范圍大于120-400mm的焊縫。在滿足靈敏度要求時，也可采用其它形式的等效試塊。4.3.4 檢測曲面工件時，如檢測面曲率半徑R小于等于W2/4(W為探頭接觸面寬度，環(huán)縫檢測時為探頭寬度，縱縫檢測時為探頭長度)，應采用與檢測面曲率相同的對比試塊。4.4檢測準備4.4.1檢測面a壓力容器檢測一般采用K值探頭，利用一次反射法在焊縫的單面雙側(cè)對整個焊接接頭進行檢測。當母材厚度大于46mm時，采用雙面雙側(cè)直射波檢測。對于要求比較高的焊縫，根據(jù)實際需要也可將焊縫余高磨平，直接在焊縫上進行檢測。b檢測區(qū)的寬度應是焊縫本身，再加上焊縫兩側(cè)各相當于母材厚度3

25、0%的一段區(qū)域，這個區(qū)域最小5mm最大為10mm,見JB4730-2005圖18。c探頭移動區(qū)應清除焊接飛濺、鐵屑、油垢及其它雜質(zhì)。檢測表面應平整光滑，便于探頭的自由掃查，起表面粗糙度Ra應為6.3u叫一般應進行打磨。（1）采用一次反射法或串列式掃查檢測時，探頭移動區(qū)應不小于1.25P：P=2TK或P=2TtgB式中：P跨距，mmT母材厚度，mmK探頭K值（2）采用直射法檢測時，探頭移動區(qū)應不小于0.75P。d去除余高的焊縫，應將余高打磨到與鄰近母材平齊。保留余高的焊縫，如果焊縫表面有咬邊，較大的隆起和凹陷等也應進行適當?shù)男弈?，并作圓滑過渡，以免影響檢驗結(jié)果的評定.442探頭K值（角度）斜探頭

26、的K值（角度）選取可參照JB4730-2005表18的規(guī)定。條件允許時，應盡量采用較大K值探頭。4. 4.3母材的效驗a方法：接觸式脈沖反射法，采用頻率2-5MHz的直探頭，晶片直徑10-25mm；b靈敏度：將無缺陷處第二次底波調(diào)節(jié)為熒光屏滿刻度的100%。c記錄：凡缺陷信號幅度超過熒光屏滿刻度20%的部位，應在工件表面上作出標記，并予以記錄。4.5距離-波幅曲線的繪制4.5.1 距離一波幅曲線按所用探頭和儀器在試塊上實測的數(shù)據(jù)繪制而成，該曲線族由評定線、定量線和判廢線組成，評定線和定量線之間（包括評定線）為I區(qū)，定量線與判廢線之間（包括定量線）為II區(qū)，判廢線及其以上為III區(qū)。如JB473

27、0-2005圖19所示。4.5.2距離-波幅曲線的靈敏度選擇a壁厚為6-120mm的焊縫，其距離-波幅曲線的靈敏度按JB4730-2005表19的規(guī)定。b壁厚大于120-400mm的焊縫，其距離一波幅曲線靈敏度按JB4730-2005表20的規(guī)定。C檢測橫向缺陷時，應將各線靈敏度均提高6dB.d檢測面曲率半徑R小于或等于W2/4時、距離一波幅曲線的繪制應在曲面對比試塊上進行。e工件的表面耦合損失和材質(zhì)衰減應與試塊相同。f掃查靈敏度不低于最大聲程處的評定線靈敏度。4.6檢測方法4.6.1平板對接焊縫的檢測a為檢測縱向缺陷，斜探頭應垂直于焊縫中心線放置在檢測面上，做鋸齒型掃查，見JB4730-20

28、05圖20。探頭前后移動的范圍應保證掃查到全部焊縫截面，在保持探頭垂直焊縫做前后移動的同時，還應作10°-15°的左右轉(zhuǎn)動。不同檢測技術等級對縱向缺陷檢測技術的要求見4.2。b不同檢測技術等級對橫向缺陷檢測技術的要求見4.2oc對電渣焊縫還應增加與焊縫中心線成45°的斜向掃查。d為確定缺陷的位置、方向和形狀，觀察缺陷動態(tài)波形和區(qū)分缺陷信號或偽缺陷信號，可采用前后、左右、轉(zhuǎn)角、環(huán)繞等四種探頭基本掃查方式，見JB4730-2005圖21o4.6.2曲面工件對接焊縫的檢測a檢測面為曲面時，可盡量按平板對接焊縫的檢測方法進行檢測。對于受幾何形狀限制，無法檢測部分應予以記錄

29、。b縱縫檢測時，對比試塊的曲率半徑與檢測面曲率半徑之差小于10%。根據(jù)工件的曲率和材料的厚度選擇探頭K值，并考慮幾何臨界角的限制，確保聲束能掃查到整個焊縫。(2)探頭接觸面修磨后，應注意探頭入射點和K值的變化，并用曲率試塊做實際測定。當檢測面曲率半徑R大于W2/4且采用平面對比試塊調(diào)節(jié)儀器時，應注意到熒光屏指示的缺陷深度和水平距離與缺陷實際的徑向埋藏深度或水平距離弧長的差異，必要時應進行修正。c環(huán)縫檢測時，對比試塊的曲率半徑應為檢測面曲率半徑的0.9-1.5倍。4.6.3管座角焊縫的檢測a一般原則在選擇檢測面和探頭時應考慮到各種類型缺陷的可能性，并使聲束盡可能垂直于焊縫結(jié)構(gòu)中的主要缺陷。b檢測方式根據(jù)焊縫結(jié)構(gòu)形式，管座焊縫的檢測有如下五種探測方式，可選擇其中一種或幾種方式組合實施檢測。檢測方式的選擇應由合同雙方商定，并考慮主要檢測對象和幾何條件的限制。(JB4730-2005圖22、圖23)(1)在接管內(nèi)壁采用直探頭檢測，見JB4730-2005圖22位置1。(2)在容器內(nèi)壁采用直探頭檢測，見JB4730-2005圖23位置1。在容器內(nèi)壁采用斜探頭檢測，見JB4730-2005圖22位置4。(3)在接管外壁采用斜探頭檢測，見JB4730-2005圖23位置2。(4)在接管內(nèi)壁采用斜探頭檢測，見JB4730-2005圖22位置3和JB4730-2005圖23位置3。(5)在容器外