公差實(shí)驗(yàn)報(bào)告

1、第二章 常用幾何工程檢測(cè)第一節(jié)用內(nèi)徑百分表測(cè)量?jī)?nèi)徑、儀器名稱(chēng)及技術(shù)指標(biāo)：儀器名稱(chēng)儀器測(cè)量范圍百分表的示值范圍圖百分表的刻度值千分尺的量程 、被測(cè)件參數(shù)及要求：孔的根本尺寸 孔的最大極限尺寸 孔的最小極限尺寸 圓度圓柱度 千分尺或組合量塊尺寸 三、測(cè)量結(jié)果1 12 23 3最大最小形狀誤差I(lǐng) -1f 0=橫截面上讀數(shù)差最大值/2n -n川-川f lol-所有尺寸中最大 最小 /2IV-W最大頭際偏差:最小最大：最?。核?、思考題:第二節(jié)用立式光學(xué)計(jì)測(cè)量塞規(guī)、儀器名稱(chēng)及技術(shù)指標(biāo)：儀器名稱(chēng)儀器刻度值標(biāo)尺示值范圍儀器測(cè)量范圍 、被測(cè)件參數(shù)及要求：塞規(guī)根本尺寸所用量塊的尺寸 通端最大極限尺寸 通端最小極限

2、尺寸 止端最大極限尺寸止端最小極限尺寸 三、測(cè)量結(jié)果測(cè)量剖面方向儀器讀數(shù)(mm)實(shí)際尺寸(mm)測(cè)量示意圖1 1I - I通n n2 2I - In n圖端3 3I - In n止1 1I - In n端2 2I - I工件是否合格：n -n四、思考題:第三節(jié)用臥式側(cè)長(zhǎng)儀測(cè)套環(huán)、儀器名稱(chēng)及技術(shù)指標(biāo)：儀器名稱(chēng)顯微鏡刻度值 活動(dòng)分戈y板示值范圍 儀器測(cè)量范圍、被測(cè)件參數(shù)及要求：孔的根本尺寸孔的最大極限尺寸 孔的最小極限尺寸 示意圖圓度圓柱度三、測(cè)量結(jié)果1 -12 23 3最大最小形狀誤差I(lǐng) -1f (°)橫截面上讀數(shù)差最大n -n2川-川IV -Wf ( | I)所有尺寸中取大取小2最大

3、頭際偏差:最小最大：最?。核?、思考題:第四節(jié)箱體位置誤差測(cè)量、儀器名稱(chēng)及技術(shù)指標(biāo)：儀器名稱(chēng)游標(biāo)卡尺的測(cè)量范圍 游標(biāo)卡尺的刻度值 游標(biāo)卡尺的分度值 百分表的示值范圍 百分表的刻度值 、零件草圖及參數(shù)要求：檢測(cè)工程根本尺寸及位置公差mm測(cè)得尺寸位置誤差mm孔B軸線對(duì)底面的平行度Li =M c=Md =L2 =Lif = 一 |Mc- M|=L2/0.06A孔C軸線對(duì)孔B軸線的平行度Li =M a =M b =L2 =Lif -|Ma- M| - L2/0.06B孔C的軸線對(duì)側(cè)面的垂直度Li =M a =M b =L2 =Lif 丄-|Ma- M| -L2丄0.06DD箱體兩側(cè)面對(duì)底面A的垂直度f(wàn)i

4、 -丄0.04A三、測(cè)量結(jié)果四、思考題:/0.06A丄0.06DD丄0.04A第五節(jié)直線度誤差的測(cè)量、儀器名稱(chēng)及技術(shù)指標(biāo)：儀器名稱(chēng)儀器刻度值 被測(cè)件圖九校橋板跨距L實(shí)際使用時(shí)刻度值、被測(cè)工件參數(shù)及要求：被測(cè)件名稱(chēng)被測(cè)件的直線度三、測(cè)量結(jié)果測(cè)量序號(hào)相對(duì)讀數(shù)格相對(duì)讀數(shù)線值卩m累積線值卩m四、作圖用兩端連線和包容線作圖法評(píng)定直線度誤差，根據(jù)技術(shù)要求判斷其合格性第六節(jié)用光切顯微鏡測(cè)量外表粗糙度、儀器名稱(chēng)及技術(shù)指標(biāo)：儀器名稱(chēng)測(cè)量范圍Rz、被測(cè)工件參數(shù)及要求：Rz= 選用的取樣長(zhǎng)度選用的物鏡放大倍數(shù)儀器視場(chǎng)范圍三、測(cè)量結(jié)果-三峰值引H P1H P1H P1HHHHHHHHHHHHHH谷 值a)H wHvH

5、 wH V2H V2H V2HHvHH V4H V4H V4HHvHRzi = (hpi+hp2 + h p3 + h p4 + hp5)- ( h+h v2 + hv3 + hv4 + hv5)=51 5Rz= 一 ( Rz1 + Rz2 + Rz3)=3其中h=H/2N , N為物鏡實(shí)際放大倍數(shù)四、思考題:第七節(jié)用干預(yù)顯微鏡測(cè)量外表粗糙度、儀器名稱(chēng)及技術(shù)指標(biāo)：儀器名稱(chēng)測(cè)量范圍Rz、被測(cè)工件參數(shù)及要求：Rz=選用的取樣長(zhǎng)度 選用的取樣長(zhǎng)度儀器視場(chǎng)范圍 三、測(cè)量結(jié)果測(cè)量讀數(shù)(格)干預(yù)條紋彎曲量相鄰兩條干預(yù)條紋間距次序h峰h谷bi=Ni N2 =1bi=Ni N2 =2bi=Ni N2 =3ba

6、v= ( bi+b2 + b3)/3=45平均值測(cè)量結(jié)果l> aav Rz=-= bav 2四、思考題:第三章齒輪參數(shù)測(cè)量第一節(jié) 齒輪齒距偏差及齒距累積誤差的測(cè)量、儀器名稱(chēng)及技術(shù)指標(biāo)：儀器名稱(chēng)刻度值儀器測(cè)量范圍模數(shù)、被測(cè)齒輪參數(shù)及要求:模數(shù)m齒數(shù)z壓力角a變位系數(shù)x精度等級(jí)齒距極限偏差土 fpt 齒距累積公差 Fp三、測(cè)量結(jié)果：齒序i指示表示值 Pi齒距偏差厶fpti齒距偏差累積值厶fpiK=RZ i 1zR-K1i Fpif pti1123456789101112131415扌曰示表示值Pi齒距偏差厶fpti齒距偏差累積值厶fpi1617181920212223242526K=- Z

7、fpt 相對(duì)n 1實(shí)測(cè)齒距累積誤差Fp=實(shí)測(cè)齒距偏差fpt=四、作圖及思考題第五節(jié)齒輪齒厚偏差測(cè)量、儀器名稱(chēng)及技術(shù)指標(biāo):儀器名稱(chēng)刻度值測(cè)量范圍、被測(cè)齒輪參數(shù)及要求：模數(shù)m齒數(shù)z壓力角a變位系數(shù)x精度等級(jí)齒厚上偏差 Ess= 齒厚下偏差 Esi= Re= R e = S = h =三、測(cè)量結(jié)果:序號(hào)均布測(cè)量1234實(shí)測(cè)齒厚S mm齒厚偏差厶Es mm四、思考題及適用結(jié)論第六節(jié)齒輪公法線平均長(zhǎng)度偏差及公法線長(zhǎng)度變動(dòng)的測(cè)量、儀器名稱(chēng)及技術(shù)指標(biāo):儀器名稱(chēng)刻度值測(cè)量范圍、被測(cè)齒輪參數(shù)及要求：模數(shù)m齒數(shù)z壓力角a變位系數(shù)x精度等級(jí)公法線長(zhǎng)度公稱(chēng)值 W= 跨齒數(shù)n =公法線長(zhǎng)度變動(dòng)公差Fw公法線平均長(zhǎng)度極限偏差：上偏差 Ewms=EssCOsa 0.72F rSina=下偏差 Ewmi=Esicosa+ 0.72 F rsi na = 三、測(cè)量結(jié)果齒公法線長(zhǎng)度6