簡電法部分復習題及答案

1、考試復習題：第二篇 電法勘探1、 電法勘探的定義？ 電法勘探是以巖、礦石之間電學性質的差異為基礎，通過觀測和研究與這些差異有關的電場或電磁場在空間或時間上的分布特點和變化規(guī)律，來查明地下地質構造和尋找地下電性不均勻體(巖溶、風化層、滑坡體等)的一類勘查地球物理方法。一、電阻率法1、影響巖土介質電阻率的因素有哪些？怎樣影響？ 自然狀態(tài)下，巖土介質的電阻率除與介質組分有關外，還與巖石的結構、構造、孔隙度、濕度、礦化度及溫度等因素有關。介質組分：一般來說，當巖石中良導性礦物的體積含量高時，其電阻率通常較低。相反，當造巖礦物含量高時，巖石電阻率亦很高。結構和構造：在導電金屬礦物含量相同的條件下，巖石的

2、結構起著重要的作用。浸染狀結構巖石中良導性礦物被不導電礦物包圍，其電阻率要比良導性礦物彼此相連的細脈狀結構巖石為高。如對含針、片狀礦物，沿層理方向（縱向）電阻率小于垂直層理方向（橫向）電阻率，兩個方向間存在各向異性。濕度：濕度對巖石的電阻率有很大的影響，這是因為水的電阻率較小，含水巖石的電阻率遠比干燥的巖石低。礦化度：礦化度越高，電阻率越低。溫度：溫度的變化直接影響著巖石的電阻率。這是因為，溫度升高時，一方面巖石中水溶液的粘滯性減小，使溶液中離子的遷移率增大。另一方面，又使溶液的溶解度增加，礦化度提高，所以巖石的電阻率通常隨溫度的升高而下降。2、縱向電導和橫向電阻的含義及其公式表述形式？ 為了

3、研究層狀介質的導電特性，我們在層狀介質中取底面積為l、厚度為的六面巖柱體。水平均勻層狀介質模型當電流垂直于柱體底面流過時，所測得的電阻稱為橫向電阻，用符號表示。顯然，第i層的橫向電阻等于該電性層的厚度與電阻率的乘積，即：當六面巖柱體由厚度和電性不同的個巖層組成時，按串聯(lián)電路原理，其總橫向電阻為：電流平行于巖柱體底面流過時所測得的電導稱為縱向電導，用符號表示，單位為西門子。顯然，第i層的縱向電導等于該電性層厚度與電阻率的比值，即：若六面巖柱體由個厚度和電性不同的巖層組成時，其總縱向電導為：5、請說明電阻率是怎樣測定的？ 上式即為利用四極裝置測定電阻率的基本公式，即兩個供電電極之間測量一下電流，兩

4、個測量電極之間測量一下電位差，根據(jù)四個電極之間的相對位置測量裝置系數(shù)(或排列系數(shù))，代入上式求取即可。6、說明視電阻率和真電阻率的區(qū)別？ 真電阻率：電阻率是用來表征巖礦石電性好壞的參數(shù)。由材料性質決定。在數(shù)值上等于電流垂直流過單位橫截面積條件下，單位長度導體的電阻。用符號表示。電阻率越低，導電性越好；電阻率越高，導電性越差。視電阻率：在理想情況（地面為無限大的水平面，地下充滿了均勻各向同性的導電介質）下，利用電阻率的測量公式測得的是大地的真電阻率。然而實際情況是地形地質情況復雜，地形往往起伏不平，地下介質也不均勻，各種巖石相互重疊，斷層裂隙縱橫交錯，或有良導礦體、溶洞等等，電阻率往往不均勻。此

5、時利用電阻率的測量公式計算得到的電阻率稱為視電阻率，它不是某一巖層的真電阻率，而是該電場分布范圍內，地下各種電性不均勻體和地形起伏的一種綜合反映，以表示。視電阻率雖然不是巖石的真電阻率，但可以根據(jù)所測視電阻率的變化特點和規(guī)律去發(fā)現(xiàn)和探查地下的電性不均勻體，達到找礦和解決其它地質問題的目的。7、怎樣根據(jù)視電阻率反推地下低阻或高阻體的存在？寫出公式。并說明利用該公式反推地下低高阻時有哪些假設？為什么？ 根據(jù)視電阻率反推地下低阻或高阻體存在的公式為：，其中為MN電極間任意點沿MN方向的電流密度分量，為MN間正常場的電流密度，只決定于裝置的大小和類型，對于一定的裝置，可認為是已知的。為MN間任意點巖石

6、的電阻率。因此視電阻率是與介質真電阻率成正比的量，其比例系數(shù)為，這是測量電極間實際電流密度與假設地下為均勻各向同性介質時正常場電流密度之比。包含了在電場分布范圍內各種電性地質體的綜合影響，當?shù)叵掳肟臻g有低租不均勻體存在時，由于正常電流線被低阻體吸引，使地表MN處的實際電流密度減少，故<，<。相反，當?shù)叵掠懈咦璨痪鶆蝮w存在時，由于電流線被高阻體排斥，使地表MN處的電流密度增加，所以>，>。這樣，地表觀測視電阻率的變化，便可揭示地下電性不均勻地質體的存在與分布，這就是電阻率法能夠解決有關地質問題的基本物理依據(jù)。應用該公式時，有一個表土電性均勻的假設，即沿著測線移動變化很小，

7、否則將既取決于的變化，也取決于的變化，無法判斷視電阻率的變化到底是地表電性不均勻體引起的，還是地下電性不均勻體引起的。8、在非均勻介質中電流場具有什么特點？實質是什么？ 在非均勻介質中，電流線在不同介質的分界面會發(fā)生折射。總體上表現(xiàn)為：低阻體吸引電流線，致使大部分電流從它的內部流過；高阻體排斥電流線，致使電流線大部分從圍巖流過。介質中的電流總是按照所遇阻力最小的路徑流動，或者說總是自動地滿足電場做功最小的狀態(tài)。非均勻介質中的穩(wěn)定電流場實質上可以看成是由場源和界面上的積累電荷產(chǎn)生的。界面上積累電荷的密度與場源強度及界面兩側的電阻率差異成正比。吸引或排斥均為界面上積累電荷的作用。當電流由低阻體進入

8、高阻體時，界面上積累正電荷，與場源同符號。按同性相斥的原理，高阻體對來自場源的電流線起排斥作用。反之，若電流由高阻體進入低阻體時，界面上積累負電荷，與場源反號，按異性相吸的道理，低阻體對場源發(fā)出的電流線起吸引作用。9、研究電流密度隨深度的分布規(guī)律有怎樣的意義？影響探測深度的主要因素是什么？ 勘探深度是指在給定裝置條件下能產(chǎn)生可靠相對異常、可查明探側目標的最大深度。研究電流密度隨深度的變化規(guī)律，對電阻率法勘探有很大意義。因為，地面電阻率法是根據(jù)地表電流密度的變化來判斷地下電阻率有明顯差異的地質體的存在。集中于地表的電流越多，流入地下深處的電流就越少。當埋藏于深部的巖石中的電流密度很小時，巖石電阻

9、率的差異對地表附近電流密度的影響很小，因而能夠進行勘探的深度也就小了。要想增大勘探深度、只有增加供電極距。AB越大，勘探深度也越大。10、電阻率剖面法的總體特征是什么？有哪些分類？ 總體特征：供電極距不變，整個裝置沿觀測剖面線移動，逐點觀測視電阻率的變化。根據(jù)勘探深度和供電極距的關系，由于供電極距不變，勘探深度就保持在同一個范圍內。因此電阻率剖面法研究的是某個深度范圍以上橫向上電阻率的分布情況。主要可分為：聯(lián)合剖面法，適用于探測陡傾的低阻體；（復合）對稱四級剖面法，適用于面積性測量；中間梯度法，適用于探測陡傾的高阻體；偶極剖面法等。 11、聯(lián)系“聯(lián)合剖面法”方法的命名說明“聯(lián)合剖面法”的總體特

10、征及主要適用范圍？ 總體特征：聯(lián)合剖面法是用兩組三極裝置進行測量，這是“聯(lián)合”一詞的由來。每組三極裝置有一個無窮遠極。在同一測點上，兩組三極裝置各測一次。在低阻體上方有正交點存在，在高阻體上方有反交點存在。優(yōu)點：靈敏度高、分辨力強、異常幅度大。缺點：該測量方式工作效率低，因為一點測量兩次，裝置比較笨重，有笨重的無窮遠極存在。受地形和地表巖性不均勻的影響大，易使曲線發(fā)生畸變而出現(xiàn)假異常。適用范圍：主要用于尋找產(chǎn)狀陡傾的層狀或脈狀低阻體或斷裂破碎帶。12、聯(lián)系“中間梯度法”方法的命名說明“中間梯度法”的總體特征及主要適用范圍？ 這種方法的特點是供電電極A和B相距很遠且固定不動，測量電極M和N在A、

11、B之間的中部約(1/2-1/3)AB的范圍內同時移動，逐點進行測量。此外，MN還可以在平行于主剖面線AB的幾條相鄰測線中部移動，逐點進行測量。旁測線與主測線的最大垂直距離不超過1/6AB。由于中間梯度法布設一次供電電極可同時觀測數(shù)條測線，因此工作效率較高，且能最大限度地克服供電電極附近電性不均勻的影響。 中梯法中由于AB很大，在AB中部測量范圍內的電場可以認為是均勻電場，視電阻率曲線所反映的必然是MN電極附近地層電阻率的變化情況。用中梯法尋找高阻巖脈(如偉晶巖脈、石英巖脈等)可以取得顯著的效果。例如對直立高阻脈來說，其屏蔽作用明顯，排斥電流使其匯聚于覆蓋層。這將使jMN增大而使視電阻率曲線在高

12、阻脈上方出現(xiàn)突出的高峰。對于低阻的、不寬的斷層破碎帶等良導直立薄脈，由于水平電流線均垂直于它(電流密度的法向分量連續(xù)，切向分量為零)，使jMN變化不大，視電阻率異常不明顯。所以，在實際工作中常用此法追索高阻陡傾地質體。13、聯(lián)系“對稱四極剖面法”方法的命名說明“對稱四極剖面法”的總體特征及主要適用范圍？ 對稱四極剖面法，顧名思義，供電電極和測量電極分別相對于測量點對稱，在觀測過程中，四個電極保持相對位置不動，同時沿側線移動。從場的特點看，對稱四極剖面法是兩個異性點電流源的場，其位于供電電極的中部，故其正常場也是均勻場，且異常的特點與中間梯度法類似。但由于在對稱四極剖面中測量電極是與供電電極同時

13、移動的，故視電阻率曲線比中間梯度法復雜一些，生產(chǎn)效率也低一些。因而，一般能用中間梯度法解決的問題，就不用對稱四極剖面法解決。即：對于尋找高阻巖脈，對稱四極剖面法不如中間梯度法經(jīng)濟、效率高；對于探測良導薄脈，又不如聯(lián)合剖面法異常反映明顯。因此，對稱四極剖面法一般不用于尋找薄脈狀地質體，在工程、水文及環(huán)境地質調查中多用于面積性測量，探測淺部基巖起伏，尋找構造破碎帶，以及厚巖層等地質填圖和普查工作，在合適的條件下，還可以圈定巖溶的分布范圍及追索古河道等，應用較為廣泛。14、電阻率剖面法和電阻率測深法有什么區(qū)別？ 電阻率剖面法是采用固定極距的電極排列，沿剖面線逐點供電和測量，觀察視電阻率的變化規(guī)律。由

14、于電極距不變，勘探深度就保持在同一范圍內。因而視電阻率沿剖面的變化可以把地下某一深度以上具有不同電阻率的地質體沿剖面方向的分布情況反映出來。電阻率測深法是采用在同一測點上多次加大供電極距的方式，逐次測量視電阻率的變化，反映該測點下電阻率有差異的巖層或巖體在不同深度的分布狀況。18、聯(lián)合剖面法的兩條視電阻率與對稱四極剖面法的視電阻率曲線有什么關系？ 對稱四極剖面法的視電阻率曲線是聯(lián)合剖面法兩條視電阻率曲線的平均。19、什么叫復合對稱四極剖面法？它有哪些應用？ 在一條測線的每個測點上，用兩種不同供電電極距的對稱四級裝置進行測量。稱為復合對稱四極剖面法。常用復合對稱四極剖面法查明覆蓋層下基巖的起伏情

15、況。如基巖為高阻的凹槽，和基巖為低阻的隆起時。在上述兩種情況下曲線(大極距)都具有相同的特征都有一極小值出現(xiàn)，所以單憑一條曲線難以辨別基巖的起伏情況。若用復合對稱四極剖面法，則能較好地解決這個難題。因為（小極距）曲線可以確定淺部的電性情況，在基巖為高阻凹槽上，曲線低于；而在基巖為低阻隆起上，曲線位于曲線的上方。20、什么叫電阻率測深法？ 電阻率測深法亦可稱為“電阻率垂向測深法”，或簡稱為“電測深法”。它是研究指定地點近于水平產(chǎn)狀的巖層沿鉛垂方向分布情況的電阻率法。在這類方法中通常采用的是對稱四極裝置。對地面上某一點進行電測深法測量時，原則上保持測量電極距MN不變，而在同一測點使供電電極距AB按

16、一定的規(guī)律不斷增大；每改變一次極距，即測定一次電位差和電流。當AB很大，以致MN之間的電位差減少到不便于準確讀數(shù)時，可適當加大極距MN。由關于勘探深度的概念得知，加大供電電極距可以增加勘探深度。因此，在同一測點不斷加大供電電極距所測出的視電阻率值的變化，就反映測點下由淺到深的電阻率有差異的巖層在不同深度處的分布情況。21、畫圖說明兩層、三層、四層地電斷面的電測深曲線類型及其特點？ （1）、水平二層曲線類型當巖層按電阻率大小分為和兩層，而且第一層的厚度遠小于第二層厚度時，就構成水平二層地電斷面。相應的電測深曲線類型有兩類：當時稱為G型，當時稱為D型(圖6)。圖6 水平二層電測深曲線類型（2）、水

17、平三層曲線類型水平三層地電斷面的電測深曲線類型有四種：H、K、A、Q型。包括的參數(shù)有、5個，曲線的基本形態(tài)由三層電阻率的大小關系決定(圖7) H型：； A型：K型：； Q型：圖7 水平三層電測深曲線類型（3）、水平四層及多層曲線類型對于水平四層地電斷面，按、和之間的大小關系，可以構成八種曲線類型(圖8) HA型：; KH型：< HK型：； KQ型： AA型：； QH型： AK型：； QQ型；每一類型用兩個英文字母表示，前一個字母表示地電斷面中前三層電阻率、之間的關系，與三層曲線的命名法相同；后一個字母則表示除第一層外的、和三者之間的關系，命名法依然不變。因此，共有HA、HK、KH、KQ、

18、AA、AK、QH、QQ型八種。可見每多一層，測深曲線類型增加一倍。對于四層以上的多層斷面測深曲線命名方法仍按上述原則。例如地電斷面的電阻率關系為<><<的水平五層曲線類型為KHA型，以此類推。22、電測深曲線的首支、中段、尾支各有什么特點？ 首支：無論地電斷面為幾層，當AB/2較小時，電測深曲線的首支均出現(xiàn)以第一層電阻率為漸近線的水平直線。中段：為首支向尾支的過渡部分。對二層曲線，D型中段單調下降，G型中段單調上升。對三層曲線，H型中段有極小值，但由于底層電阻率的影響，此極小值大于第二層真正的電阻率值；K型中段有極大值，同樣由于底層電阻率的影響，此極大值小于第二層真正的

19、電阻率值；推而廣之，對于每層斷面，由于下層巖石的影響，其電測深曲線中段極小值或極大值的電阻率都不能達到對應中間層的電阻率值。尾支：有兩種形態(tài)，當?shù)讓与娮杪蕿橛邢拗禃r，尾支為與底層電阻率為漸近線的水平直線；當?shù)讓与娮杪蕿闊o窮大時，尾支與橫坐標軸成45度夾角。23、電測深曲線為什么會存在等價現(xiàn)象？根據(jù)勢場問題解的唯一性定理，一定層參數(shù)的地電斷面對應著唯一確定的電測深曲線，不同層參數(shù)的地電斷面對應著不同的電測深曲線。然而，在實際工作中，由于存在一定的測量誤差因此某些層參數(shù)不同的地電斷面所對應的電測深曲線，在觀測誤差范圍內，可被看成是“同一條”電測深曲線，這種現(xiàn)象稱為電測深曲線的等值現(xiàn)象。24、說明縱

20、向電導等價的原理？在什么類型的測深曲線中會出現(xiàn)？ 在H和A型這種中間層電阻率低于第三層電阻率的地電斷面中，會出現(xiàn)縱向電導等價。因為中間層相對第三層為低阻，因此電流線傾向于在中間層內平行層面通過，因此不管中間層內的層厚和電阻率怎樣組合，只要中間層的縱向電導不變，則中間層對電流的傳導能力不變，在地表測得的測深曲線也就不變。25、說明橫向電阻等價的原理？在什么類型的測深曲線中會出現(xiàn)？ T2等價現(xiàn)象在K型和Q型斷面中存在，對這兩種斷面類型而言，都是第二層電阻率大于第三層電阻率的情況，則電流趨向于在第二層內垂直層面流動，所以存在橫向電阻等價現(xiàn)象。以K型斷面為例。在、一定且的斷面中，若較小，則在定范圍內改

21、變和，只要保持T2值不變，則該層對電流的阻力不變，測深曲線形狀就不會變化。26、在縱向電導和橫向電阻等價中存在的一個前提條件是什么？ 中間層的厚度不夠大27、根據(jù)縱向電導圖可以知道什么信息？為什么？ 因為縱向電導在數(shù)值上等于層厚除以電阻率，當研究區(qū)域橫向電阻率比較均勻時，則縱向電導值就反映層厚度的變化。在S的剖面圖中，橫坐標是測點位置，縱坐標為縱向電導，則縱向電導的大小就反映高阻標準層的起伏。在S的平面等值線圖中，在縱橫坐標表示的研究區(qū)域內，等值線的值小表明高阻標準層的埋深淺，等值線的值大表明高阻標準層的埋深大。28、電測深曲線通常繪制在雙對數(shù)坐標系內，有什么優(yōu)點？ 測深曲線的極距AB/2由小

22、到大成倍增加，小自數(shù)米大到幾千米。如果用直角坐標表示，則無法選擇作圖比例尺。因為比例尺大時，圖紙?zhí)L；比例尺小時，小極距或淺層電阻率又表現(xiàn)不出來。而對數(shù)坐標的特點是：相差倍數(shù)相同的任意兩數(shù)之間距離相等，例如2和4、3和6、100和200皆差兩倍，每一組數(shù)在對數(shù)坐標上的距離都相同。故使用對數(shù)坐標，既能把小極距又能把大極距時的視電阻率變化表現(xiàn)清楚。29、比較電阻率剖面法和電阻率測深法的坐標系有什么不同？電阻率剖面法采用算術坐標，橫軸表示測點，縱軸表示視電阻率電阻率測深法采用雙對數(shù)坐標系，橫軸表示供電極距，縱軸表示視電阻率。30、在制作電測深曲線理論量板時，電阻率和距離都要進行歸一化，怎樣歸一化？這

23、樣做有什么好處？ 凡是電阻率均用規(guī)一化，凡是距離均用規(guī)一化。規(guī)一化后可將自變量的個數(shù)減少兩個，從而減少量板的數(shù)量。31、兩層電測深曲線怎樣解釋？ 首先應按實測曲線類型選用合適的量板。然后把繪于透明對數(shù)紙上的實測曲線蒙在選好的量板上，保持兩者坐標軸相互平行，上下左右移動實測曲線，使它與量板中某一條理論曲線重合。在透明紙上用“十”字標志描出量板的坐標原點位置，并在實測曲線坐標系中讀出這個十字點的縱、橫坐標值便是要求的、值。記下與實測曲線相重合的理論曲線的 ()值，便可計算出。32、三層電測深曲線怎樣解釋？ 三層曲線解釋的目的是求出各層的電阻率及一、二層的厚度?，F(xiàn)結合一條實測H型曲線來說明用三層量板

24、解釋二層曲線的步驟。（1）確定值。最好用電測井資料確定值，或是通過對巖石露頭、巖石標本實測確定。本例中已給出9。（2）選擇合適的量板。首先要正確判斷實測曲線類型。判定后，由曲線首部和尾部的漸近值讀出100，150，進而可求出：，。根據(jù)曲線類型和，值應選擇與這些參數(shù)最接近的量板： (圖)。（3）將實測曲線與量板對比，求出和值。在保證實測曲線與量板兩者縱橫坐標軸都彼此平行的條件下，上下左右移動透明紙(實測曲線)，找出與實測曲線重合最好的理論曲線(可以內插)，并記下其參數(shù)3。這時量板坐標原點在實測曲線橫坐標的對應位置即為40 m，于是可求出120m。（4）等價校正。當所選用的量板與實測曲線的，都一致

25、時，按上述方法求出的即為第二層的真實厚度，否則應作等價校正。對于H型和A型斷面，屬于等價性質，校正公式為： 對于K型和Q型斷面，屬于等價性質，校正公式為： 其中標有“”的表示斷面的真實參數(shù)，標有“”的為理論曲線參數(shù)。本例中120 m，再做等價校正33、在用量板法進行測深曲線解釋時，如果所選取的量板與實際不符，要根據(jù)縱向電導或橫向電阻等價原理進行校正。請舉兩例分別說明兩種等價現(xiàn)象的校正過程。 H型等價校正見上題。K型等價校正如下：假設已知，從實測曲線的首支和尾支漸近線知，則可判斷曲線的類型為K型，。由于在已有的K型量板中找不到與實際和相同的值，故選用與其值最接近的量板，假設為：,將實測曲線畫在透

26、明紙上，將透明紙蒙在選取的量板，保持縱橫軸坐標軸相互平行，移動透明紙直到量板上的某條理論曲線與實測曲線完全重合，記下（1）該曲線所對應的值，假設為2，（2）量板坐標原點在透明紙上的位置，該點與實測曲線坐標原點沿橫軸的距離即為，假設為3m，則可求得m。由于量板的和值與實際值存在偏差，所以要進行等價校正。對K型曲線，應做T等價，即：，其中上標表示真值，上標為理論值。這里有：，所以有：m34、請畫圖說明怎樣根據(jù)復合對稱四極剖面法判斷基巖的起伏情況及基巖相對上覆巖層電阻率的高低？ 圖 a基巖為高阻的凹槽，圖 b基巖為低阻的隆起。在上述兩種情況下曲線(大極距)都具有相同的特征都有一極小值出現(xiàn)，所以單憑一

27、條曲線難以辨別基巖的起伏情況。若用復合對稱四極剖面法，則能較好地解決這個難題。因為（小極距）曲線可以確定淺部的電性情況，在基巖為高阻凹槽上，曲線低于；而在基巖為低阻隆起上，曲線位于曲線的上方。圖 復合對稱四極曲線探測基巖起伏 (a)高阻凹槽；(b)低阻隆起 大極距曲線；小極距曲線從中可以看出：若大極距曲線在上，則基巖形狀與視電阻率曲線一致，否則相反。下層為高阻體時，視電阻率曲線與基巖形狀一致；否則相反。據(jù)此我們可反過來判斷地下的基巖起伏、以及高低阻情況。大小極距曲線相比，若大極距曲線在上，表示基巖為高阻體，對于高阻體其界面起伏形態(tài)與曲線形態(tài)一致。若大極距在下，表明基巖為低阻體，對于低阻體其界面

28、起伏形態(tài)與曲線形態(tài)相反。35、請說明充電法的基本原理。充電法是在天然的或人工揭露的導電性較好的地質體上，直接接上供電電極(A)，將另一個供電電極(B)置于“無窮遠”處接地。然后供電，這時充電導體相當于一個大電極，電流由充電體流入圍巖，形成特殊的人工穩(wěn)定電流場。用測量電極MN觀測充電點周圍電場的分布規(guī)律，以探查充電體的形態(tài)、大小和產(chǎn)狀等有關問題。37、充電法的應用條件？探測對象的電阻率應遠小于圍巖的電阻率，圍巖的巖性比較單一，地表介質電性均勻、穩(wěn)定，地形平坦，埋于地下的探測對象有天然露頭或人工露頭(井、鉆孔、探槽、坑道等)。38、充電法的曲線特點與探測地質體的關系？充電法中電位曲線的極大值點和電位梯度曲線的零值點對應地下良導低阻體的位置。40、怎樣利用充電法測定地下水的流速、流向？ 將食鹽或其它強電解質投入一口已穿透含水層的井中，鹽離子在水溶液中因濃度差及分子熱運動而擴散形成鹽暈。在投入食鹽的最初時刻，鹽暈成圓形。隨后，鹽暈隨地下水運動而向前運移，鹽暈的形態(tài)也隨之而變成橢圓?？蓪Ⅺ}暈看成等電位體，對其充電后，在地面上觀測到的等位線反映了鹽暈的形態(tài)，因而根據(jù)不同時間里地面等電位線形態(tài)的變化，可以了解地下水的流速和流向。地下水流向：等電位線圖中等位點移動最大的方向